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    • 30. 发明专利
    • 成形體、其製造方法、電子裝置用元件及電子裝置
    • 成形体、其制造方法、电子设备用组件及电子设备
    • TW201221668A
    • 2012-06-01
    • TW100126543
    • 2011-07-27
    • 琳得科股份有限公司
    • 岩屋涉近藤健
    • C23CB32B
    • C23C14/48B05D1/62B05D7/04B05D2252/02B29C59/14B29C2059/147C08J7/045C08J7/047C08J7/123C08J2367/02C08J2433/12C08J2483/16Y10T428/31667
    • 本發明係一種成形體、該成形體之製造方法、由前述成形體而組成之電子裝置用元件、以及包括該元件之電子裝置,本發明係具有氣體障蔽層之成形體,該氣體障蔽層係至少具有由包含碳原子、氧原子和矽原子之材料而構成之表層部,該表層部之碳原子相對於碳原子、氧原子、氮原子和矽原子之整體存在量之存在比例係超過0%而70%以下,氧原子之存在比例係10%以上而70%以下,氮原子之存在比例係0%以上而35%以下,矽原子之存在比例係20%以上而55%以下。本發明之成形體係具有良好之氣體障蔽性、透明性及耐彎曲性。如果藉由本發明之成形體之製造方法的話,則能夠以一製程,呈安全且簡便地製造前述成形體。本發明之電子裝置用元件係可以適度地使用於顯示器、太陽能電池等之電子裝置。
    • 本发明系一种成形体、该成形体之制造方法、由前述成形体而组成之电子设备用组件、以及包括该组件之电子设备,本发明系具有气体障蔽层之成形体,该气体障蔽层系至少具有由包含碳原子、氧原子和硅原子之材料而构成之表层部,该表层部之碳原子相对于碳原子、氧原子、氮原子和硅原子之整体存在量之存在比例系超过0%而70%以下,氧原子之存在比例系10%以上而70%以下,氮原子之存在比例系0%以上而35%以下,硅原子之存在比例系20%以上而55%以下。本发明之成形体系具有良好之气体障蔽性、透明性及耐弯曲性。如果借由本发明之成形体之制造方法的话,则能够以一制程,呈安全且简便地制造前述成形体。本发明之电子设备用组件系可以适度地使用于显示器、太阳能电池等之电子设备。