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11. 发明专利

TW201706672A 顯微鏡模組及顯微鏡裝置审中-公开
简体标题：显微镜模块及显微镜设备
公开(公告)号：TW201706672A
公开(公告)日：2017-02-16
申请号：TW105104128
申请日：2016-02-05
申请人：億觀生物科技股份有限公司 , AIDMICS BIOTECHNOLOGY CO., LTD.
发明人：林建明 , LIN, CHENG MING , 陳昌佑 , CHEN, CHANG YU , 林書聖 , LIN, SHU SHENG , 蔣存超 , CHIANG, TSUN CHAO
IPC分类号： G02B21/00 , G02B21/36 , G02B21/06
摘要：本發明揭露一種顯微鏡模組，與一影像擷取模組搭配使用。顯微鏡模組包括一殼體、一凸透鏡以及一導光元件。殼體具有一樣品觀察面，樣品觀察面位於殼體相對於影像擷取模組之一側。凸透鏡設置於殼體內部，且樣品觀察面至凸透鏡的最短距離介於0.1mm至3.0mm之間。導光元件設置於殼體的外部。導光元件具有一入光部及一出光部。出光部位於影像擷取模組及凸透鏡之間。入光部接收一光線，並由出光部出射至凸透鏡。光線由凸透鏡之一入光面入射，並由凸透鏡之一出光面出射至樣品觀察面。本發明更揭露一種顯微鏡裝置。
简体摘要：本发明揭露一种显微镜模块，与一影像截取模块搭配使用。显微镜模块包括一壳体、一凸透镜以及一导光组件。壳体具有一样品观察面，样品观察面位于壳体相对于影像截取模块之一侧。凸透镜设置于壳体内部，且样品观察面至凸透镜的最短距离介于0.1mm至3.0mm之间。导光组件设置于壳体的外部。导光组件具有一入光部及一出光部。出光部位于影像截取模块及凸透镜之间。入光部接收一光线，并由出光部出射至凸透镜。光线由凸透镜之一入光面入射，并由凸透镜之一出光面出射至样品观察面。本发明更揭露一种显微镜设备。

12. 发明专利

TW201640177A 用於分段及成像樣本之方法及裝置审中-公开
简体标题：用于分段及成像样本之方法及设备
公开(公告)号：TW201640177A
公开(公告)日：2016-11-16
申请号：TW105110099
申请日：2016-03-30
申请人：三斯坎公司 , 3SCAN, INC.
发明人：丹尼爾寇迪 , DANIEL, CODY , 古德曼馬修 , GOODMAN, MATTHEW , 寇克西恩 , KOLK, SEAN , 赫夫曼陶德 , HUFFMAN, TODD
IPC分类号： G02B21/00 , G01N1/06
CPC分类号： G01N1/06 , G01N1/14 , G01N1/28 , G01N1/286 , G01N1/4077 , G01N1/44 , G01N35/00009 , G01N35/00871 , G01N35/04 , G01N35/08 , G01N2001/066 , G01N2001/2873 , G01N2001/4088
摘要：本發明係關於用於分段及成像接著將經自動擷取以進行隨後分析之組織或其他樣本之方法及裝置。該裝置用作為用於序列分段顯微術之一切片擷取機構，其係以隨後介接二次顯微診查之方式或運用分子診斷工具處理之方式來實現。該等切片經空間索引以允許特定切片經由本文中描述之自動化處理技術自一儲存庫回復。
简体摘要：本发明系关于用于分段及成像接着将经自动截取以进行随后分析之组织或其他样本之方法及设备。该设备用作为用于串行分段显微术之一切片截取机构，其系以随后介接二次显微诊查之方式或运用分子诊断工具处理之方式来实现。该等切片经空间索引以允许特定切片经由本文中描述之自动化处理技术自一存储库回复。

13. 发明专利

TW201632944A 光學影像掃描組件以及顯微鏡裝置审中-公开
简体标题：光学影像扫描组件以及显微镜设备
公开(公告)号：TW201632944A
公开(公告)日：2016-09-16
申请号：TW104106693
申请日：2015-03-03
申请人：南方科技股份有限公司 , SOUTHPORT CORPORATION
发明人：李聿揚 , LEE, YU YANG , 李峯杰 , LI, FENG CHIEH
IPC分类号： G02B21/00
CPC分类号： G02B21/0048 , G02B26/101
摘要：本發明可提供一種光學影像掃描組件，適於接收顯微鏡裝置之光源提供的光線。光學影像掃描組件包括：第一掃描單元以及第二掃描單元。第一掃描單元具有第一掃描鏡，第一掃描鏡以第一共振頻率沿第一方向為軸轉動。第二掃描單元具有第二掃描鏡，第二掃描鏡以第二共振頻率沿第二方向為軸轉動，第一共振頻率與第二共振頻率不同。光線會入射至第一掃描鏡並被反射至第二掃描鏡，且光線會被第二掃描鏡反射，以入射至顯微鏡裝置的一物鏡模組。
简体摘要：本发明可提供一种光学影像扫描组件，适于接收显微镜设备之光源提供的光线。光学影像扫描组件包括：第一扫描单元以及第二扫描单元。第一扫描单元具有第一扫描镜，第一扫描镜以第一共振频率沿第一方向为轴转动。第二扫描单元具有第二扫描镜，第二扫描镜以第二共振频率沿第二方向为轴转动，第一共振频率与第二共振频率不同。光线会入射至第一扫描镜并被反射至第二扫描镜，且光线会被第二扫描镜反射，以入射至显微镜设备的一物镜模块。

14. 发明专利

TW201617680A 具有放大功能的檢測用裝置审中-公开
简体标题：具有放大功能的检测用设备
公开(公告)号：TW201617680A
公开(公告)日：2016-05-16
申请号：TW104110298
申请日：2015-03-30
申请人：呂慧菁 , LU, HUI CHING
发明人：呂慧菁 , LU, HUI CHING
IPC分类号： G02B21/00 , G02B21/34
CPC分类号： G01N21/0303 , G01N21/80 , G01N33/48778 , G01N2021/0389
摘要：一種具有放大功能的檢測用裝置，包括：載體，頂面具檢測體承載區域；蓋體，至少疊置於所述載體的所述檢測體承載區域上；至少一放大鏡部位，配置於所述蓋體，所述放大鏡部位的設置位置與所述載體的所述檢測體承載區域相對位；藉此，俾可提供一種結構極簡單、使用成本能夠大幅降低之簡易式檢測體放大檢測裝置。
简体摘要：一种具有放大功能的检测用设备，包括：载体，顶面具检测体承载区域；盖体，至少叠置于所述载体的所述检测体承载区域上；至少一放大镜部位，配置于所述盖体，所述放大镜部位的设置位置与所述载体的所述检测体承载区域相对位；借此，俾可提供一种结构极简单、使用成本能够大幅降低之简易式检测体放大检测设备。

15. 发明专利

TW201616179A 顯微鏡模組及顯微鏡裝置审中-公开
简体标题：显微镜模块及显微镜设备
公开(公告)号：TW201616179A
公开(公告)日：2016-05-01
申请号：TW103136848
申请日：2014-10-24
申请人：億觀生物科技股份有限公司 , AIDMICS BIOTECHNOLOGY CO., LTD.
发明人：林建明 , LIN, CHENG MING , 林書聖 , LIN, SHU SHENG , 陳昌佑 , CHEN, CHANG YU , 蔣存超 , CHIANG, TSUN CHAO
IPC分类号： G02B21/06 , G02B21/00
CPC分类号： H04N7/18 , G02B5/0278 , G02B6/0001 , G02B21/086 , G02B21/34 , G02B21/36
摘要：本發明揭露一種顯微鏡模組。顯微鏡模組包括一光源組件、一取樣組件以及一光擴散元件。光源組件具有一光源及一導光元件。光源鄰設於導光元件的入光端。取樣組件具有一蓋體及一基體。蓋體與基體結合以定義出一樣品容置空間，樣品容置空間位於導光元件的出光端。光擴散元件設置於光源與樣品容置空間之間，光源所發射出的光線穿過光擴散元件後，入射至樣品容置空間。本發明亦揭露一種顯微鏡裝置。
简体摘要：本发明揭露一种显微镜模块。显微镜模块包括一光源组件、一采样组件以及一光扩散组件。光源组件具有一光源及一导光组件。光源邻设于导光组件的入光端。采样组件具有一盖体及一基体。盖体与基体结合以定义出一样品容置空间，样品容置空间位于导光组件的出光端。光扩散组件设置于光源与样品容置空间之间，光源所发射出的光线穿过光扩散组件后，入射至样品容置空间。本发明亦揭露一种显微镜设备。

16. 实用新型

TWM520144U 發光裝置有权
简体标题：发光设备
公开(公告)号：TWM520144U
公开(公告)日：2016-04-11
申请号：TW104219966
申请日：2015-12-11
申请人：高準精密工業股份有限公司 , EVERREADY PRECISION IND. CORP.
发明人：陳志隆 , CHERN, JYH LONG , 顏智敏 , YEN, CHIH MING
IPC分类号： G02B21/00

17. 发明专利

TW201608275A 一種觀測一維奈米材料的方法及裝置审中-公开
简体标题：一种观测一维奈米材料的方法及设备
公开(公告)号：TW201608275A
公开(公告)日：2016-03-01
申请号：TW103132920
申请日：2014-09-24
申请人：鴻海精密工業股份有限公司 , HON HAI PRECISION INDUSTRY CO., LTD.
发明人：武文贇 , WU, WEN-YUN , 岳菁穎 , YUE, JING-YING , 林曉陽 , LIN, XIAO-YANG , 趙清宇 , ZHAO, QING-YU , 姜開利 , JIANG, KAI-LI , 范守善 , FAN, SHOU-SHAN
IPC分类号： G02B21/00 , G02B21/06 , G02B21/02
CPC分类号： G01N21/65 , B82B3/009 , G01N21/6458 , G01N2021/4792 , G02B21/33 , H01J2201/30469
摘要：本發明涉及一種原位觀測一維奈米材料的方法，包括以下步驟：S1, 提供一待測一維奈米材料；S2, 將所述一維奈米材料浸沒於耦合液中；S3, 提供一束具有連續光譜的白色入射光，所述一維奈米材料於該入射光的照射下發生共振瑞利散射；S4, 利用物鏡為水鏡的光學顯微鏡觀測該一維奈米材料，觀測時該水鏡浸沒於所述耦合液中。本發明還涉及一種利用該方法觀測一維奈米材料的裝置。
简体摘要：本发明涉及一种原位观测一维奈米材料的方法，包括以下步骤：S1, 提供一待测一维奈米材料；S2, 将所述一维奈米材料浸没于耦合液中；S3, 提供一束具有连续光谱的白色入射光，所述一维奈米材料于该入射光的照射下发生共振瑞利散射；S4, 利用物镜为水镜的光学显微镜观测该一维奈米材料，观测时该水镜浸没于所述耦合液中。本发明还涉及一种利用该方法观测一维奈米材料的设备。

18. 实用新型

TWM513361U 適用於手機之顯微鏡裝置有权
简体标题：适用于手机之显微镜设备
公开(公告)号：TWM513361U
公开(公告)日：2015-12-01
申请号：TW104211176
申请日：2015-07-10
申请人：吳錫揚 , 吳冠諭 , 吳冠諺 , 葉曉蒨
发明人：吳錫揚 , 吳冠諭 , 吳冠諺 , 葉曉蒨
IPC分类号： G02B21/00

19. 发明专利

TW201504677A 推移掃瞄式的數位顯微鏡审中-公开
简体标题：推移扫瞄式的数码显微镜
公开(公告)号：TW201504677A
公开(公告)日：2015-02-01
申请号：TW102125712
申请日：2013-07-18
申请人：謝基生 , HSIEH, CHI SHENG
发明人：謝基生 , HSIEH, CHI SHENG
IPC分类号： G02B21/00 , G02B21/36
摘要：將一種數位顯微鏡架設於一可調高度與傾斜角度的Z軸台上，再將此Z軸台架設於一可作X與Y二軸向平面位移的XY軸台上，使此數位顯微鏡具有可自XYZ三軸向多角度進行推移掃瞄的取像功能，其中其XY軸台上更架設有一LCD顯示器可顯示出其數位顯微鏡頭所攝取的影像；與一可提供其數位顯微鏡與其LCD顯示器所需電源的可充電電池，藉此，其數位顯微鏡可作行走掃瞄或選擇定點以進行低倍率放大的的顯微成像，適合教學與觀察之用途。
简体摘要：将一种数码显微镜架设于一可调高度与倾斜角度的Z轴台上，再将此Z轴台架设于一可作X与Y二轴向平面位移的XY轴台上，使此数码显微镜具有可自XYZ三轴向多角度进行推移扫瞄的取像功能，其中其XY轴台上更架设有一LCD显示器可显示出其数码显微镜头所摄取的影像；与一可提供其数码显微镜与其LCD显示器所需电源的可充电电池，借此，其数码显微镜可作行走扫瞄或选择定点以进行低倍率放大的的显微成像，适合教学与观察之用途。

20. 发明专利

TWI452335B 應用共聚焦顯微鏡結構的被測物圖像獲取方法及系統有权
简体标题：应用共聚焦显微镜结构的被测物图像获取方法及系统
公开(公告)号：TWI452335B
公开(公告)日：2014-09-11
申请号：TW100111603
申请日：2011-04-01
申请人： SNU精密股份有限公司 , SNU PRECISION CO., LTD.
发明人：金兌昱 , KIM, TAIWOOK
IPC分类号： G02B21/00 , G02F1/33
CPC分类号： G02B21/0052

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