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1. 发明专利

TWI563288B 光學影像掃描組件以及顯微鏡裝置有权
简体标题：光学影像扫描组件以及显微镜设备
公开(公告)号：TWI563288B
公开(公告)日：2016-12-21
申请号：TW104106693
申请日：2015-03-03
申请人：南方科技股份有限公司 , SOUTHPORT CORPORATION
发明人：李聿揚 , LEE, YU YANG , 李峯杰 , LI, FENG CHIEH
IPC分类号： G02B21/00
CPC分类号： G02B21/0048 , G02B26/101

2. 发明专利

TW202008025A 光學測量器與光學測量方法审中-公开
简体标题：光学测量器与光学测量方法
公开(公告)号：TW202008025A
公开(公告)日：2020-02-16
申请号：TW107125212
申请日：2018-07-20
申请人：南方科技股份有限公司 , SOUTHPORT CORPORATION
发明人：陳怡然 , CHEN, I JAN , 黃彥融 , HUANG, YEN JUNG , 李聿揚 , LEE, YU YANG
IPC分类号： G02B21/00 , G02B21/36 , G01N21/27
摘要：本發明提供一種光學測量器，用以執行光學測量方法，對一待測物進行測量，該光學測量器包括光源、掃描裝置與感光裝置，光源發出的光經由掃描裝置照射於待測物表面，再由感光裝置接收從待測物表面離開的光，其中在感光裝置接收從待測物表面離開的光的期間，掃描裝置會使光線於待測物表面移動，可避免待測物表面單一點受到過量的光線照射而發生光毒害或光漂白的現象，從而提高待測物的穩定性以及測量結果的正確性。
简体摘要：本发明提供一种光学测量器，用以运行光学测量方法，对一待测物进行测量，该光学测量器包括光源、扫描设备与感光设备，光源发出的光经由扫描设备照射于待测物表面，再由感光设备接收从待测物表面离开的光，其中在感光设备接收从待测物表面离开的光的期间，扫描设备会使光线于待测物表面移动，可避免待测物表面单一点受到过量的光线照射而发生光毒害或光漂白的现象，从而提高待测物的稳定性以及测量结果的正确性。

3. 发明专利

TW201632944A 光學影像掃描組件以及顯微鏡裝置审中-公开
简体标题：光学影像扫描组件以及显微镜设备
公开(公告)号：TW201632944A
公开(公告)日：2016-09-16
申请号：TW104106693
申请日：2015-03-03
申请人：南方科技股份有限公司 , SOUTHPORT CORPORATION
发明人：李聿揚 , LEE, YU YANG , 李峯杰 , LI, FENG CHIEH
IPC分类号： G02B21/00
CPC分类号： G02B21/0048 , G02B26/101
摘要：本發明可提供一種光學影像掃描組件，適於接收顯微鏡裝置之光源提供的光線。光學影像掃描組件包括：第一掃描單元以及第二掃描單元。第一掃描單元具有第一掃描鏡，第一掃描鏡以第一共振頻率沿第一方向為軸轉動。第二掃描單元具有第二掃描鏡，第二掃描鏡以第二共振頻率沿第二方向為軸轉動，第一共振頻率與第二共振頻率不同。光線會入射至第一掃描鏡並被反射至第二掃描鏡，且光線會被第二掃描鏡反射，以入射至顯微鏡裝置的一物鏡模組。
简体摘要：本发明可提供一种光学影像扫描组件，适于接收显微镜设备之光源提供的光线。光学影像扫描组件包括：第一扫描单元以及第二扫描单元。第一扫描单元具有第一扫描镜，第一扫描镜以第一共振频率沿第一方向为轴转动。第二扫描单元具有第二扫描镜，第二扫描镜以第二共振频率沿第二方向为轴转动，第一共振频率与第二共振频率不同。光线会入射至第一扫描镜并被反射至第二扫描镜，且光线会被第二扫描镜反射，以入射至显微镜设备的一物镜模块。

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