专利快速检索-快速检索全球专利，免费商用专利数据库-IPRDB

11. 发明专利

TWI435067B 利用被測量物之反射光的光學特性測量裝置以及測量方法有权
简体标题：利用被测量物之反射光的光学特性测量设备以及测量方法
公开(公告)号：TWI435067B
公开(公告)日：2014-04-21
申请号：TW097116628
申请日：2008-05-06
申请人：大塚電子股份有限公司 , OTSUKA ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：大川內真 , MAKOTO OKAWAUCHI , 水口勉 , TSUTOMU MIZUGUCHI , 川口史朗 , SHIRO KAWAGUCHI
IPC分类号： G01N21/55 , G01M11/02
CPC分类号： G01N21/55 , G01M11/005 , G01N21/8422

12. 发明专利

TWI400938B 動畫回應曲線之測定方法及裝置有权
简体标题：动画回应曲线之测定方法及设备
公开(公告)号：TWI400938B
公开(公告)日：2013-07-01
申请号：TW096106705
申请日：2007-02-27
申请人：大塚電子股份有限公司 , OTSUKA ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：江南世志 , YOSHI ENAMI , 古川善久 , YOSHIHISA FURUKAWA , 中本弘幸 , HIROYUKI NAKAMOTO , 水口勉 , TSUTOMU MIZUGUCHI
IPC分类号： H04N17/00
CPC分类号： H04N17/04 , H04N9/3117 , H04N9/3194

13. 发明专利

TW201317541A 光學特性測量裝置及光學特性測量方法审中-公开
简体标题：光学特性测量设备及光学特性测量方法
公开(公告)号：TW201317541A
公开(公告)日：2013-05-01
申请号：TW101124166
申请日：2012-07-05
申请人：大塚電子股份有限公司 , OTSUKA ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：山崎雄介 , YAMAZAKI, YUSUKE , 岡本宗大 , OKAMOTO, SOTA
IPC分类号： G01B11/06 , G01N21/21
CPC分类号： G01B11/06 , G01B11/0625 , G01B11/0641 , G01N21/211 , G01N2021/213
摘要：本發明之光學特性測量裝置(100)係包括：光源(10)；檢測器(40)；及資料處理部(50)。資料處理部(50)係包括：模型化部、解析部、及配適部。使複數個膜模型式聯立，並且使包含在複數個膜模型式之光學常數為相同進行特定運算，藉由進行將已算出之膜的膜厚及光學常數代入到膜模型式而得到的波形、及利用檢測器(40)取得之波長分析特性的波形之配適，判定包含在複數個膜模型式之光學常數為相同，而且利用解析部算出之膜的膜厚及光學常數為正確值。
简体摘要：本发明之光学特性测量设备(100)系包括：光源(10)；检测器(40)；及数据处理部(50)。数据处理部(50)系包括：模型化部、解析部、及配适部。使复数个膜模型式联立，并且使包含在复数个膜模型式之光学常数为相同进行特定运算，借由进行将已算出之膜的膜厚及光学常数代入到膜模型式而得到的波形、及利用检测器(40)取得之波长分析特性的波形之配适，判定包含在复数个膜模型式之光学常数为相同，而且利用解析部算出之膜的膜厚及光学常数为正确值。

14. 发明专利

TW201210916A 被搬送物旋轉裝置 TRANSFERRED OBJECT ROTATING DEVICE 审中-公开
简体标题：被搬送物旋转设备 TRANSFERRED OBJECT ROTATING DEVICE
公开(公告)号：TW201210916A
公开(公告)日：2012-03-16
申请号：TW100125080
申请日：2011-07-15
申请人：大塚電子股份有限公司 , 凸版印刷股份有限公司
发明人：濱尾保 , 田中亮 , 川田榮二 , 明石秀一 , 黑木廣幸
IPC分类号： B65G , H01L
CPC分类号： B65G47/244 , H01L21/67736 , H01L21/67748 , H01L21/67751
摘要：一種被搬送物旋轉裝置(1A)，包括具有與被搬送物(10)之形狀對應的開口部(21)且可從載置位置移動到旋轉位置的載置平板(22)、可以穿過上述旋轉位置上之載置平板(22)之開口部(21)之方式上升移動的上推部(34)及可在動力傳達軸(44)周圍旋轉的旋轉平板(41)。以塞住上述開口部(21)之方式使上述被搬送物(10)載置於載置平板(22)上之後，載置平板(22)移動至旋轉位置。藉由使上推部(34)上升移動，被搬送部(10)被提升上來，被搬送部(10)在被上推部(34)與旋轉平板(41)夾持的狀態下旋轉。在載置位置上，載置於載置平板(22)之被搬送物(10)可被載置平板(22)搬送至旋轉位置，在旋轉位置上被旋轉。
简体摘要：一种被搬送物旋转设备(1A)，包括具有与被搬送物(10)之形状对应的开口部(21)且可从载置位置移动到旋转位置的载置平板(22)、可以穿过上述旋转位置上之载置平板(22)之开口部(21)之方式上升移动的上推部(34)及可在动力传达轴(44)周围旋转的旋转平板(41)。以塞住上述开口部(21)之方式使上述被搬送物(10)载置于载置平板(22)上之后，载置平板(22)移动至旋转位置。借由使上推部(34)上升移动，被搬送部(10)被提升上来，被搬送部(10)在被上推部(34)与旋转平板(41)夹持的状态下旋转。在载置位置上，载置于载置平板(22)之被搬送物(10)可被载置平板(22)搬送至旋转位置，在旋转位置上被旋转。

15. 发明专利

TW201042242A 用於測定全光束之全光束測定裝置及全光束測定方法 APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING TOTAL LUMINOUS FLUX 审中-公开
简体标题：用于测定全光束之全光束测定设备及全光束测定方法 APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING TOTAL LUMINOUS FLUX
公开(公告)号：TW201042242A
公开(公告)日：2010-12-01
申请号：TW099113244
申请日：2010-04-27
申请人：大塚電子股份有限公司
发明人：大久保和明 , 三島俊介
IPC分类号： G01J
CPC分类号： G01J1/02 , G01J1/0219 , G01J1/0223 , G01J1/04 , G01J1/0403 , G01J1/0448 , G01J2001/0481
摘要：依據本實施型態之全光束測定裝置(100)中，在使對象物(OBJ)和該積分部(10)相對移動以使得對象物(OBJ)實際的所有發光面露出於積分部(10)的內部空間的情況下，依據由測定部(21)測得的照度測定結果，算出對象物(OBJ)放出的全光束。亦即，將對象物(OBJ)配置為從一邊的試料孔跨到另一邊的試料孔以貫穿積分部(10)之後，測定對象物(OBJ)位於積分部(10)內部空間的部分之光束，繼之，將積分部(10)對對象物(OBJ)相對移動，同樣地測定對象物(OBJ)位於積分部(10)內部空間的部分之光束。
简体摘要：依据本实施型态之全光束测定设备(100)中，在使对象物(OBJ)和该积分部(10)相对移动以使得对象物(OBJ)实际的所有发光面露出于积分部(10)的内部空间的情况下，依据由测定部(21)测得的照度测定结果，算出对象物(OBJ)放出的全光束。亦即，将对象物(OBJ)配置为从一边的试料孔跨到另一边的试料孔以贯穿积分部(10)之后，测定对象物(OBJ)位于积分部(10)内部空间的部分之光束，继之，将积分部(10)对对象物(OBJ)相对移动，同样地测定对象物(OBJ)位于积分部(10)内部空间的部分之光束。

16. 发明专利

TW201040513A 反射型液晶單元之傾斜角度測定方法及測定裝置审中-公开
简体标题：反射型液晶单元之倾斜角度测定方法及测定设备
公开(公告)号：TW201040513A
公开(公告)日：2010-11-16
申请号：TW099105436
申请日：2010-02-25
申请人：大塚電子股份有限公司
发明人：杉田一紘
IPC分类号： G01N
摘要：本發明係取出來自光源21之直線偏光成分之光，將該偏光成分之光，以該光之光軸B與反射型液晶單元23之法線呈傾斜之角度θ的方式，照射至反射型液晶單元23，根據經反射型液晶單元23之反射層23a反射後的光與偏光成分呈直角的方向之偏光成分之光強度，而求出光強度反射率Rc，並使用該光強度反射率Rc、液晶之尋常光折射率no與非尋常光折射率ne、角度θ、液晶之厚度d以及反射層23a之折射率nr，求出液晶之傾斜角β。本發明可測定反射型液晶單元之傾斜角度。
简体摘要：本发明系取出来自光源21之直线偏光成分之光，将该偏光成分之光，以该光之光轴B与反射型液晶单元23之法线呈倾斜之角度θ的方式，照射至反射型液晶单元23，根据经反射型液晶单元23之反射层23a反射后的光与偏光成分呈直角的方向之偏光成分之光强度，而求出光强度反射率Rc，并使用该光强度反射率Rc、液晶之寻常光折射率no与非寻常光折射率ne、角度θ、液晶之厚度d以及反射层23a之折射率nr，求出液晶之倾斜角β。本发明可测定反射型液晶单元之倾斜角度。

17. 发明专利

TW200928325A 用於測定由被測定光源產生之全光束的光束計、以及使用該光束計之全光束的測定方法 INTEGRATING PHOTOMETER FOR MEASURING TOTAL FLUX OF LIGHT GENERATED FROM LIGHT SOURCE TO BE MEASURED, AND METHOD FOR MEASURING TOTAL FLUX OF LIGHT THROUGH USE OF THE SAME 审中-公开
简体标题：用于测定由被测定光源产生之全光束的光束计、以及使用该光束计之全光束的测定方法 INTEGRATING PHOTOMETER FOR MEASURING TOTAL FLUX OF LIGHT GENERATED FROM LIGHT SOURCE TO BE MEASURED, AND METHOD FOR MEASURING TOTAL FLUX OF LIGHT THROUGH USE OF THE SAME
公开(公告)号：TW200928325A
公开(公告)日：2009-07-01
申请号：TW097138378
申请日：2008-10-06
申请人：大塚電子股份有限公司 OTSUKA ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：大久保和明 KAZUAKI OHKUBO
IPC分类号： G01J
CPC分类号： G01J1/04 , G01J1/08 , G01J2001/0481
摘要：在反射鏡(3)上形成可連通半球部(1)的內面側及外面側的光源窗(2)及照明窗(4)。光源窗(2)主要係用以安裝被測定光源(OBJ)的開口。照明窗(4)係用以將來自為了測定自我吸收被使用的補正光源(9)之光束朝向半球部(1)的內面照射的開口。被測定光源(OBJ)的自我吸收補正係數係基於在光源窗2上安裝非發光狀態的被測定光源(OBJ)時由補正光束產生的照度及在光源窗2上安裝校正用反射鏡時由補正光束產生的照度被算出。
简体摘要：在反射镜(3)上形成可连通半球部(1)的内面侧及外面侧的光源窗(2)及照明窗(4)。光源窗(2)主要系用以安装被测定光源(OBJ)的开口。照明窗(4)系用以将来自为了测定自我吸收被使用的补正光源(9)之光束朝向半球部(1)的内面照射的开口。被测定光源(OBJ)的自我吸收补正系数系基于在光源窗2上安装非发光状态的被测定光源(OBJ)时由补正光束产生的照度及在光源窗2上安装校正用反射镜时由补正光束产生的照度被算出。

18. 发明专利

TW200913411A 測量裝置审中-公开
简体标题：测量设备
公开(公告)号：TW200913411A
公开(公告)日：2009-03-16
申请号：TW097120574
申请日：2008-06-03
申请人：大塚電子股份有限公司 OTSUKA ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：北岸惠子 KEIKO KITAGISHI , 角田和之 KAZUYUKI SUMIDA
IPC分类号： H01S , G01N
摘要：第1兆赫波產生源(20)接收脈衝光(L5)(波長:780nm)並產生兆赫波(T1),第2兆赫波產生源(30)接收脈衝光(L3)(波長:1.56��m)並產生兆赫波(T2)。檢測部(40)係回應於以與脈衝光(L2、L5)共有的脈衝光光源(10)產生的脈衝光(L6),輸出對應於穿透測量對象(OBJ)之後的兆赫波(T1、T2)的强度之測量信號。
简体摘要：第1兆赫波产生源(20)接收脉冲光(L5)(波长:780nm)并产生兆赫波(T1),第2兆赫波产生源(30)接收脉冲光(L3)(波长:1.56��m)并产生兆赫波(T2)。检测部(40)系回应于以与脉冲光(L2、L5)共有的脉冲光光源(10)产生的脉冲光(L6),输出对应于穿透测量对象(OBJ)之后的兆赫波(T1、T2)的强度之测量信号。

19. 发明专利

TW200912281A 利用被測量物之反射光的光學測量裝置以及測量方法 OPTICAL CHARACTERISTIC MEASURING APPARATUS AND MEASURING METHOD USING LIGHT REFLECTED FROM OBJECT TO BE MEASURED 审中-公开
简体标题：利用被测量物之反射光的光学测量设备以及测量方法 OPTICAL CHARACTERISTIC MEASURING APPARATUS AND MEASURING METHOD USING LIGHT REFLECTED FROM OBJECT TO BE MEASURED
公开(公告)号：TW200912281A
公开(公告)日：2009-03-16
申请号：TW097116628
申请日：2008-05-06
申请人：大塚電子股份有限公司 OTSUKA ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：大川內真 MAKOTO OKAWAUCHI , 水口勉 TSUTOMU MIZUGUCHI , 川口史朗 SHIRO KAWAGUCHI
IPC分类号： G01N , G01M
CPC分类号： G01N21/55 , G01M11/005 , G01N21/8422
摘要：測量用光源(10)產生被用於測量被測量物的光學特性之測量光,測量光包含被測量物的光學特性之測量範圍的波長。觀察用光源(22)產生用以聚焦於被測量物並且確認測量位置的觀察光。如此,透過分別獨立地將測量光及觀察光經由共通的物鏡(40)照射被測量物,同時實現提升光學特性的測量精度及使得對被測量物聚焦變得容易。
简体摘要：测量用光源(10)产生被用于测量被测量物的光学特性之测量光,测量光包含被测量物的光学特性之测量范围的波长。观察用光源(22)产生用以聚焦于被测量物并且确认测量位置的观察光。如此,透过分别独立地将测量光及观察光经由共通的物镜(40)照射被测量物,同时实现提升光学特性的测量精度及使得对被测量物聚焦变得容易。

20. 发明专利

TW200847065A 動畫影像處理裝置及方法 MOTION PICTURE IMAGE PROCESSING SYSTEM AND MOTION PICTURE IMAGE PROCESSING METHOD 审中-公开
简体标题：动画影像处理设备及方法 MOTION PICTURE IMAGE PROCESSING SYSTEM AND MOTION PICTURE IMAGE PROCESSING METHOD
公开(公告)号：TW200847065A
公开(公告)日：2008-12-01
申请号：TW097109644
申请日：2008-03-19
申请人：大塚電子股份有限公司 OTSUKA ELECTRONICS CO., LTD.
发明人：江南世志 YOSHI ENAMI , 菊池正博 MASAHIRO KIKUCHI , 水口勉 TSUTOMU MIZUGUCHI , 佐野弘幸 HIROYUKI SANO
IPC分类号： G06T , H04N
CPC分类号： H04N17/04 , G09G3/006
摘要：使用電流攝影機(galvano camera)3a對在判定對象顯示器2之顯示畫面21移動之動畫影像進行多次之攝影。攝影資料由判定對象顯示器2之動畫移動方向之位置和在該等之各個時刻之顯示器之發光亮度之資訊構成。根據該資料進行目視之動畫追蹤模擬,以沿著該目視之追蹤方向之1個框架時間(frame time)之整數倍進行積分演算,用來求得判定對象顯示器2之動畫響應曲線。根據該動畫響應曲線可以進行動畫特性評估和動畫模糊評估。
简体摘要：使用电流摄影机(galvano camera)3a对在判定对象显示器2之显示画面21移动之动画影像进行多次之摄影。摄影数据由判定对象显示器2之动画移动方向之位置和在该等之各个时刻之显示器之发光亮度之信息构成。根据该数据进行目视之动画追踪仿真,以沿着该目视之追踪方向之1个框架时间(frame time)之整数倍进行积分演算,用来求得判定对象显示器2之动画响应曲线。根据该动画响应曲线可以进行动画特性评估和动画模煳评估。

你已经成功收藏专利！

检索式保存成功!

IPRDB

热门服务

关于我们

友情链接

联系方式