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    • 5. 发明专利
    • 半導體裝置
    • 半导体设备
    • TW201802810A
    • 2018-01-16
    • TW106107853
    • 2017-03-09
    • 半導體能源硏究所股份有限公司SEMICONDUCTOR ENERGY LABORATORY CO., LTD.
    • 黒川義元KUROKAWA, YOSHIYUKI
    • G11C11/405G11C11/56G06F12/00
    • G06F7/00G06F17/00G11C5/063
    • 本發明的目的之一是抑制能夠執行類比資料的算術處理的半導體裝置的電路規模。在該半導體裝置中,記憶單元生成對應於第一類比資料的第一電流並生成對應於第一類比資料及第二類比資料的第二電流,參考用記憶單元生成對應於參考資料的參考電流,第一電路在第一電流小於參考電流的情況下生成對應於第一電流與參考電流之差分的第三電流並保持第三電流,第二電路在第一電流大於參考電流的情況下生成對應於第一電流與參考電流之差分的第四電流並保持第四電流,並且,第一電路和第二電路中的一個生成對應於第三類比資料的第五電流。
    • 本发明的目的之一是抑制能够运行模拟数据的算术处理的半导体设备的电路规模。在该半导体设备中,记忆单元生成对应于第一模拟数据的第一电流并生成对应于第一模拟数据及第二模拟数据的第二电流,参考用记忆单元生成对应于参考数据的参考电流,第一电路在第一电流小于参考电流的情况下生成对应于第一电流与参考电流之差分的第三电流并保持第三电流,第二电路在第一电流大于参考电流的情况下生成对应于第一电流与参考电流之差分的第四电流并保持第四电流,并且,第一电路和第二电路中的一个生成对应于第三模拟数据的第五电流。