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1. 发明专利

TW201411110A 漏洩檢測裝置及具備此裝置的流體控制器审中-公开
简体标题：漏泄检测设备及具备此设备的流体控制器
公开(公告)号：TW201411110A
公开(公告)日：2014-03-16
申请号：TW102125859
申请日：2013-07-19
申请人：富士金股份有限公司 , FUJIKIN INCORPORATED
发明人：土肥亮介 , 篠原努 , 西野功二 , 銅敏男 , 池田信一 , 山路道雄
IPC分类号： G01M3/24
CPC分类号： G01M3/24 , G01M3/243
摘要：提供一種漏洩檢測裝置及具備此裝置的流體控制器，其可達成小型化且常時安裝於流體控制器等之漏洩檢測對象構件，藉此，可常時監視流體之漏洩。流體控制器1係由流體控制器本體2、及安裝於流體控制器本體2之漏洩檢測裝置3所構成。在流體控制器本體2設有用以檢測漏洩之漏洩口16。漏洩檢測裝置3具備：安裝於流體控制器本體2之感測器保持體21；以與漏洩口16對向之方式保持於感測器保持體21之超音波感測器22；設於超音波感測器22之感測面與漏洩口16之間的超音波通道23；及對由超音波感測器22所獲得之超音波進行處理之處理電路24。
简体摘要：提供一种漏泄检测设备及具备此设备的流体控制器，其可达成小型化且常时安装于流体控制器等之漏泄检测对象构件，借此，可常时监视流体之漏泄。流体控制器1系由流体控制器本体2、及安装于流体控制器本体2之漏泄检测设备3所构成。在流体控制器本体2设有用以检测漏泄之漏泄口16。漏泄检测设备3具备：安装于流体控制器本体2之传感器保持体21；以与漏泄口16对向之方式保持于传感器保持体21之超音波传感器22；设于超音波传感器22之传感面与漏泄口16之间的超音波信道23；及对由超音波传感器22所获得之超音波进行处理之处理电路24。

2. 发明专利

TW201716761A 製冷迴圈的冷媒洩漏檢測裝置审中-公开
简体标题：制冷循环的冷媒泄漏检测设备
公开(公告)号：TW201716761A
公开(公告)日：2017-05-16
申请号：TW105108271
申请日：2016-03-17
申请人：難波股份有限公司 , NANBA CO., LTD.
发明人：難波俊輔 , NANBA, SHUNSUKE , 難波昇一 , NANBA, SYOICHI
IPC分类号： G01M3/24
CPC分类号： F25B49/02 , G01M3/04 , G01M3/24 , G01N29/032
摘要：本發明是以提供一種不論有無承液槽皆可採用，並可以簡易的構成廉價且容易進行後述的設置，且無需停止設備的運轉即可檢測有無洩漏的構成，具有檢測洩漏不導致設備運轉率降低之實用性優異的劃時代的製冷迴圈的冷媒洩漏檢測裝置為目的。該製冷迴圈的冷媒洩漏檢測裝置，係由：預定頻率之超音波送訊用的超音波送訊部(1)；該超音波送訊部(1)送訊後之超音波收訊用的超音波收訊部(2)；判斷該超音波送訊部(1)送訊後的超音波是否被超音波收訊部(2)收訊的超音波收訊判斷部(3)；及超音波收訊判斷部(3)在判斷超音波送訊部(1)送訊後的超音波未被超音波收訊部(2)收訊時對外部告知發生洩漏的洩漏告知部(4)所構成。
简体摘要：本发明是以提供一种不论有无承液槽皆可采用，并可以简易的构成廉价且容易进行后述的设置，且无需停止设备的运转即可检测有无泄漏的构成，具有检测泄漏不导致设备运转率降低之实用性优异的划时代的制冷循环的冷媒泄漏检测设备为目的。该制冷循环的冷媒泄漏检测设备，系由：预定频率之超音波送讯用的超音波送讯部(1)；该超音波送讯部(1)送讯后之超音波收讯用的超音波收讯部(2)；判断该超音波送讯部(1)送讯后的超音波是否被超音波收讯部(2)收讯的超音波收讯判断部(3)；及超音波收讯判断部(3)在判断超音波送讯部(1)送讯后的超音波未被超音波收讯部(2)收讯时对外部告知发生泄漏的泄漏告知部(4)所构成。

3. 发明专利

TWI548283B 密封驗證方法、密封偵測裝置以及密封品質測量系統有权
简体标题：密封验证方法、密封侦测设备以及密封品质测量系统
公开(公告)号：TWI548283B
公开(公告)日：2016-09-01
申请号：TW103143427
申请日：2014-12-12
申请人：緯創資通股份有限公司 , WISTRON CORP.
发明人：路易斯伊恩 , LEWIS, IAN
IPC分类号： H04N9/00 , H04R29/00
CPC分类号： G01M3/007 , G01M3/24 , G01N29/09 , G01N29/14 , G01N29/4427 , G01N29/46 , G01N2291/018

4. 发明专利

TWI583935B 漏洩檢測裝置及具備此裝置的流體控制器有权
简体标题：漏泄检测设备及具备此设备的流体控制器
公开(公告)号：TWI583935B
公开(公告)日：2017-05-21
申请号：TW102125859
申请日：2013-07-19
申请人：富士金股份有限公司 , FUJIKIN INCORPORATED
发明人：土肥亮介 , 篠原努 , 西野功二 , 銅敏男 , 池田信一 , 山路道雄
IPC分类号： G01M3/24
CPC分类号： G01M3/24 , G01M3/243

5. 发明专利

TWI364531B 液體儲存槽之洩漏檢查裝置 APPARATUS FOR TESTING A LIQUID STORAGE TANK FOR LEAKS 有权
简体标题：液体存储槽之泄漏检查设备 APPARATUS FOR TESTING A LIQUID STORAGE TANK FOR LEAKS
公开(公告)号：TWI364531B
公开(公告)日：2012-05-21
申请号：TW094121580
申请日：2005-06-28
申请人：富山檢查股份有限公司
发明人：中野幸長
IPC分类号： G01M
CPC分类号： G01M3/3245 , G01M3/24 , G01M3/2892
摘要：本發明提供一種液體儲存槽之洩漏檢查裝置，係即便液體儲存槽中儲存有液體，仍可容易且正確地執行槽洩漏檢查。
本發明之液體儲存槽之洩漏檢查裝置具備有在液體儲存槽2的周圍之至少一部分浸漬於水中的狀態，對此液體儲存槽2内部施行減壓的減壓裝置32。並且設有：插通於液體儲存槽2内的桿部24；嵌合於桿部24，並漂浮於液體儲存槽2内的液體表面上，依照液面之位置變化而沿桿部24進行移動的浮動子25。同時具備有：設置於浮動子25上的可動磁鐵21；固定於桿部24下部且位於液體儲存槽2内的基準磁鐵23；分別檢測可動磁鐵21與基準磁鐵23之位置的本體探針部27；以及利用來自本體探針部27的信號，求取可動磁鐵21相對於基準磁鐵23之位置的計測裝置26。
简体摘要：本发明提供一种液体存储槽之泄漏检查设备，系即便液体存储槽中存储有液体，仍可容易且正确地运行槽泄漏检查。本发明之液体存储槽之泄漏检查设备具备有在液体存储槽2的周围之至少一部分浸渍于水中的状态，对此液体存储槽2内部施行减压的减压设备32。并且设有：插通于液体存储槽2内的杆部24；嵌合于杆部24，并漂浮于液体存储槽2内的液体表面上，依照液面之位置变化而沿杆部24进行移动的浮动子25。同时具备有：设置于浮动子25上的可动磁铁21；固定于杆部24下部且位于液体存储槽2内的基准磁铁23；分别检测可动磁铁21与基准磁铁23之位置的本体探针部27；以及利用来自本体探针部27的信号，求取可动磁铁21相对于基准磁铁23之位置的计测设备26。

6. 发明专利

TW200606411A 液體儲存槽之洩漏檢查裝置 APPARATUS FOR TESTING A LIQUID STORAGE TANK FOR LEAKS 审中-公开
简体标题：液体存储槽之泄漏检查设备 APPARATUS FOR TESTING A LIQUID STORAGE TANK FOR LEAKS
公开(公告)号：TW200606411A
公开(公告)日：2006-02-16
申请号：TW094121580
申请日：2005-06-28
申请人：富山檢查股份有限公司 TOYAMA INSPECTION CO., LTD.
发明人：中野幸長 NAKANO YUKINAGA
IPC分类号： G01M
CPC分类号： G01M3/3245 , G01M3/24 , G01M3/2892
摘要：本發明提供一種液體儲存槽之洩漏檢查裝置，係即便液體儲存槽中儲存有液體，仍可容易且正確地執行槽洩漏檢查。本發明之液體儲存槽之洩漏檢查裝置具備有在液體儲存槽2的周圍之至少一部分浸漬於水中的狀態，對此液體儲存槽2內部施行減壓的減壓裝置32。並且設有：插通於液體儲存槽2內的桿部24；嵌合於桿部24，並漂浮於液體儲存槽2內的液體表面上，依照液面之位置變化而沿桿部24進行移動的浮動子25。同時具備有：設置於浮動子25上的可動磁鐵21；固定於桿部24下部且位於液體儲存槽2內的基準磁鐵23；分別檢測可動磁鐵21與基準磁鐵23之位置的本體探針部27；以及利用來自本體探針部27的信號，求取可動磁鐵21相對於基準磁鐵23之位置的計測裝置26。
简体摘要：本发明提供一种液体存储槽之泄漏检查设备，系即便液体存储槽中存储有液体，仍可容易且正确地运行槽泄漏检查。本发明之液体存储槽之泄漏检查设备具备有在液体存储槽2的周围之至少一部分浸渍于水中的状态，对此液体存储槽2内部施行减压的减压设备32。并且设有：插通于液体存储槽2内的杆部24；嵌合于杆部24，并漂浮于液体存储槽2内的液体表面上，依照液面之位置变化而沿杆部24进行移动的浮动子25。同时具备有：设置于浮动子25上的可动磁铁21；固定于杆部24下部且位于液体存储槽2内的基准磁铁23；分别检测可动磁铁21与基准磁铁23之位置的本体探针部27；以及利用来自本体探针部27的信号，求取可动磁铁21相对于基准磁铁23之位置的计测设备26。

7. 发明专利

TW451060B 鍋爐管裂縫之電磁聲波換能器(EMAT)之檢視失效
简体标题：锅炉管裂缝之电磁声波换能器(EMAT)之视图
公开(公告)号：TW451060B
公开(公告)日：2001-08-21
申请号：TW089118618
申请日：2000-09-11
申请人：拜布考克.魏考克斯公司 , 麥多摩技術股份有限公司
发明人：吉米漢卡克 , 丹尼爾麥可勞赤倫 , 拉夫墨非
IPC分类号： G01N
CPC分类号： G01N29/2412 , G01M3/24 , G01N29/0645 , G01N29/223 , G01N2291/0423 , G01N2291/2634
摘要：一種使用表面聲波之管表面裂縫之非破壞性檢查之 EMAT裝置包含一脈波磁鐵，具有一作用表面面對欲檢查之管之表面。一接收EMAT線圈在作用表面上，及一發射 EMAT線圈在接收EMAT線圈之相對表面上。發射EMAT線圈具有一掃描表面，用以掃描管表面上。設有用以產生及發射RF信號至發射EMAT線圈之裝置，用以產生發射之聲波信號於管上，發射之聲波如遇到管中之裂縫，產生反射之聲波，反射之聲波產生反射信號於接收EMAT線圈中。一接收機連接至接收EMAT線圈，用以接收反射信號。數位電腦裝置連接至接收機，用以接收及處理反射信號；及一顯示器顯示有關管裂縫之資訊，裂縫產生反射聲波，並造成反射信號。
简体摘要：一种使用表面声波之管表面裂缝之非破坏性检查之 EMAT设备包含一脉波磁铁，具有一作用表面面对欲检查之管之表面。一接收EMAT线圈在作用表面上，及一发射 EMAT线圈在接收EMAT线圈之相对表面上。发射EMAT线圈具有一扫描表面，用以扫描管表面上。设有用以产生及发射RF信号至发射EMAT线圈之设备，用以产生发射之声波信号于管上，发射之声波如遇到管中之裂缝，产生反射之声波，反射之声波产生反射信号于接收EMAT线圈中。一接收机连接至接收EMAT线圈，用以接收反射信号。数码电脑设备连接至接收机，用以接收及处理反射信号；及一显示器显示有关管裂缝之信息，裂缝产生反射声波，并造成反射信号。

8. 发明专利

TW308639B 超音波測定用方法及裝置失效
简体标题：超音波测定用方法及设备
公开(公告)号：TW308639B
公开(公告)日：1997-06-21
申请号：TW084109096
申请日：1995-08-31
申请人： U.S.測試公司
发明人：史提芬P.朗處 , 薩彌爾W.貝瑞瓦伊
IPC分类号： G01F , G01S
CPC分类号： G01S7/527 , G01F23/2962 , G01F23/2968 , G01F25/0061 , G01M3/24 , G01S7/52004 , G01S7/521 , G01S15/88 , G01S2007/52014 , Y10S367/902 , Y10S367/908
摘要：本發明係提供一被用在一超音波測距系統中之超音波探測器，該超音測距系統是用來決定在一地下貯存容槽中之流體體積及／或流體泄漏，和監視流體存量，其中，該超音波探測器係有以下的特徵：該超音波探測裝置具有校準反射器，其係放置放來使由該超音波探測器之該校榫反射器所形成之每一個二次回音信號包絡線是埋入在另一個校榫反射器之一一次回音信號包絡線之前沿上，或是當該變能器已偵測到一相關於該流體表面之一次回音信號包絡線後來造成該校榫反射器之二次回音包絡線來被該變能器所偵測到，（ｉｉ）該每一個校榫反射器是被置來垂直於該探測器主體之縱長軸線和偏置離開該縱長軸線一距離，（ｉｉｉ）一個超音波阻尼元件是被固定地置放在該探測器主體中而介於該變能器總成和該容桶底部之間，該超音波阻尼元件係有一表面面向該變該器總成，其中，該表面是被構建來在該音波自該表面上被反射前來對撞擊在該表面上之音波產生阻尼作用，或（ｉｖ）該變能器總成係包括有一變能器主體，在主體中係被裝設有一壓電晶體被導向來垂直於該探測器主體之縱長軸線，其中，該變能器主體是被構造來阻尼自該晶體上發射而出之特定超音波。
简体摘要：本发明系提供一被用在一超音波测距系统中之超音波探测器，该超音测距系统是用来决定在一地下贮存容槽中之流体体积及／或流体泄漏，和监视流体存量，其中，该超音波探测器系有以下的特征：该超音波探测设备具有校准反射器，其系放置放来使由该超音波探测器之该校榫反射器所形成之每一个二次回音信号包络线是埋入在另一个校榫反射器之一一次回音信号包络线之前沿上，或是当该变能器已侦测到一相关于该流体表面之一次回音信号包络线后来造成该校榫反射器之二次回音包络线来被该变能器所侦测到，（ｉｉ）该每一个校榫反射器是被置来垂直于该探测器主体之纵长轴线和偏置离开该纵长轴线一距离，（ｉｉｉ）一个超音波阻尼组件是被固定地置放在该探测器主体中而介于该变能器总成和该容桶底部之间，该超音波阻尼组件系有一表面面向该变该器总成，其中，该表面是被构建来在该音波自该表面上被反射前来对撞击在该表面上之音波产生阻尼作用，或（ｉｖ）该变能器总成系包括有一变能器主体，在主体中系被装设有一压晶体管被导向来垂直于该探测器主体之纵长轴线，其中，该变能器主体是被构造来阻尼自该晶体上发射而出之特定超音波。

9. 发明专利

TW249280B 檢查由薄合成樹脂或橡膠膜作成的袋狀製品之有無針孔的方法及裝置失效
简体标题：检查由薄合成树脂或橡胶膜作成的袋状制品之有无针孔的方法及设备
公开(公告)号：TW249280B
公开(公告)日：1995-06-11
申请号：TW083100095
申请日：1994-01-07
申请人： MEC股份有限公司
发明人：渡部悠次
IPC分类号： G01M , G01N
CPC分类号： G01M3/24
摘要：本發明係提供檢查由薄合成樹脂或橡膠膜作成的袋狀製品有無針孔的方法及裝置。其主要係把需要檢查缺陷的由薄合成樹脂或橡膠膜作成的袋狀製品以空氣使其膨脹，並檢出連同自針孔噴出的氣流而發生的超音波。依此，能夠提供自動化容易、檢查不必經由人手，不必依賴人的感覺，能夠自動地而且客觀地判定製品的良否，信賴性高，可以在短時間內完成檢，檢查後不須經由洗淨等工程，因此經濟性良好，而在衛生方面，也能令人滿意的檢查方法及裝置。
简体摘要：本发明系提供检查由薄合成树脂或橡胶膜作成的袋状制品有无针孔的方法及设备。其主要系把需要检查缺陷的由薄合成树脂或橡胶膜作成的袋状制品以空气使其膨胀，并检出连同自针孔喷出的气流而发生的超音波。依此，能够提供自动化容易、检查不必经由人手，不必依赖人的感觉，能够自动地而且客观地判定制品的良否，信赖性高，可以在短时间内完成检，检查后不须经由洗净等工程，因此经济性良好，而在卫生方面，也能令人满意的检查方法及设备。

10. 发明专利

TW201708820A 檢測系統、檢測方法以及程式审中-公开
简体标题：检测系统、检测方法以及进程
公开(公告)号：TW201708820A
公开(公告)日：2017-03-01
申请号：TW105115273
申请日：2016-05-18
申请人：日本電氣股份有限公司 , NEC CORPORATION
发明人：船田純一 , HUNADA, JUNICHI
IPC分类号： G01N35/00
CPC分类号： G01M3/02 , G01M3/24 , G01N21/84 , G01N21/954 , G01N29/22 , G01N29/265 , G05D1/0088
摘要：本發明的課題為提供使用可自主移動裝置之新穎的缺陷檢測技術。本發明為解決此課題而提供檢測系統(10)，包括驅動控制部(15)，當基於設置在基座部(11)的感測器部(13)所收集的資訊而既定的檢測對像被檢測時，控制使基座部(11)移動的驅動部(12)；以及，第2檢測部(16)，基於感測器部(13)所收集的資訊而檢測既定的缺陷。
简体摘要：本发明的课题为提供使用可自主移动设备之新颖的缺陷检测技术。本发明为解决此课题而提供检测系统(10)，包括驱动控制部(15)，当基于设置在基座部(11)的传感器部(13)所收集的信息而既定的检测对像被检测时，控制使基座部(11)移动的驱动部(12)；以及，第2检测部(16)，基于传感器部(13)所收集的信息而检测既定的缺陷。

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