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1. 发明专利

TWI608222B 光學測定裝置有权
简体标题：光学测定设备
公开(公告)号：TWI608222B
公开(公告)日：2017-12-11
申请号：TW104101581
申请日：2015-01-16
申请人：日本先鋒公司 , PIONEER CORPORATION , 先鋒自動化設備股份有限公司 , PIONEER FA CORPORATION
发明人：望月學 , MOCHIZUKI, MANABU , 藤森昭一 , FUJIMORI, SHOICHI
IPC分类号： G01J1/00 , G01J1/04
CPC分类号： G01J1/0242 , G01J3/0254 , G01J3/0289 , G01J3/505 , G01J2001/4252

2. 发明专利

TWI567369B 半導體發光元件之光測定裝置有权
简体标题：半导体发光组件之光测定设备
公开(公告)号：TWI567369B
公开(公告)日：2017-01-21
申请号：TW104111152
申请日：2015-04-07
申请人：日本先鋒公司 , PIONEER CORPORATION , 先鋒自動化設備股份有限公司 , PIONEER FA CORPORATION
发明人：新野尊嗣 , NIINO, TAKATSUGU , 望月學 , MOCHIZUKI, MANABU , 藤森昭一 , FUJIMORI, SHOICHI
IPC分类号： G01J1/02 , G01M11/00
CPC分类号： G01J1/0403 , G01J2001/4247

3. 发明专利

TW201538935A 半導體發光元件之光測定裝置审中-公开
简体标题：半导体发光组件之光测定设备
公开(公告)号：TW201538935A
公开(公告)日：2015-10-16
申请号：TW104111152
申请日：2015-04-07
申请人：日本先鋒公司 , PIONEER CORPORATION , 先鋒自動化設備股份有限公司 , PIONEER FA CORPORATION
发明人：新野尊嗣 , NIINO, TAKATSUGU , 望月學 , MOCHIZUKI, MANABU , 藤森昭一 , FUJIMORI, SHOICHI
IPC分类号： G01J1/02 , G01M11/00
CPC分类号： G01J1/0403 , G01J2001/4247
摘要：本發明提供一種能夠使半導體發光元件確實地通電，正確且穩定地測定半導體發光元件之發光量的半導體發光元件之光測定裝置。半導體發光元件之光測定裝置100具備：一探針300，其供給電力至LED20A；一光測定部120，其測定自LED發出的光之光量；以及一吸附基礎部200，其具有探針300，吸附基礎部200用以吸引LED。
简体摘要：本发明提供一种能够使半导体发光组件确实地通电，正确且稳定地测定半导体发光组件之发光量的半导体发光组件之光测定设备。半导体发光组件之光测定设备100具备：一探针300，其供给电力至LED20A；一光测定部120，其测定自LED发出的光之光量；以及一吸附基础部200，其具有探针300，吸附基础部200用以吸引LED。

4. 发明专利

TWI590362B 拾取裝置有权
简体标题：十取设备
公开(公告)号：TWI590362B
公开(公告)日：2017-07-01
申请号：TW104135782
申请日：2015-10-30
申请人：日本先鋒公司 , PIONEER CORPORATION , 日本先鋒自動化公司 , PIONEER FA CORPORATION
发明人：清水壽治 , SHIMIZU, HISAHARU , 望月學 , MOCHIZUKI, MANABU , 藤森昭一 , FUJIMORI, SHOICHI , 小西環 , KONISHI, TAMAKI , 市川美穗 , ICHIKAWA, MIHO
IPC分类号： H01L21/67 , B65G49/07

5. 发明专利

TW201407139A 光量測定裝置及光量測定方法审中-公开
简体标题：光量测定设备及光量测定方法
公开(公告)号：TW201407139A
公开(公告)日：2014-02-16
申请号：TW102127881
申请日：2013-08-02
申请人：日本先鋒公司 , PIONEER CORPORATION , 先鋒自動化設備股份有限公司 , PIONEER FA CORPORATION
发明人：藤森昭一 , FUJIMORI, SHOICHI , 望月學 , MOCHIZUKI, MANABU
IPC分类号： G01J1/00 , H01L33/00
CPC分类号： G01J1/0242 , G01J1/0266 , G01J1/0414 , G01J2001/4252
摘要：本發明提供一種構造簡單、能實現高速且高精度測定之光量測定裝置。光量測定裝置3具有：一載置桌103，其係用以載置一發光二極體101，發光二極體101發出的光呈放射狀；一探針109，其係供給電力至發光二極體101，使發光二極體101發光；以及一受光模組1，其係接收由發光二極體101發出的光，並測定其光量，其中，載置桌103具有一反射板103b，其形成為大致均勻的平板狀並具備正反射面之反射平面，發光二極體101載置於反射板103b的反射平面上。
简体摘要：本发明提供一种构造简单、能实现高速且高精度测定之光量测定设备。光量测定设备3具有：一载置桌103，其系用以载置一发光二极管101，发光二极管101发出的光呈放射状；一探针109，其系供给电力至发光二极管101，使发光二极管101发光；以及一受光模块1，其系接收由发光二极管101发出的光，并测定其光量，其中，载置桌103具有一反射板103b，其形成为大致均匀的平板状并具备正反射面之反射平面，发光二极管101载置于反射板103b的反射平面上。

6. 发明专利

TW200621410A 雷射熔接裝置及雷射熔接方法审中-公开
简体标题：激光熔接设备及激光熔接方法
公开(公告)号：TW200621410A
公开(公告)日：2006-07-01
申请号：TW094137103
申请日：2005-10-24
申请人：日本先鋒公司 PIONEER CORPORATION , 日本先鋒自動化公司 PIONEER FA CORPORATION
发明人：星野要二 YOHJI HOSHINO
IPC分类号： B23K
摘要：本發明之目的是提供不會使作業時間延遲，對工件可以以良好之熱平衡進行雷射熔接裝置及雷射熔接方法。本發明之解決手段是一種雷射熔接裝置，對多個工件照射雷射射束用來進行熔接，具備有：雷射射束射出手段，以指定之脈波週期射出雷射射束；和照射位置變更手段，用來變更對工件照射雷射射束之位置；照射位置變更手段變更照射射束之位置，成為連續進行之雷射照射對不同之工件進行，亦即，不會對同一工件連續照射雷射射束。利用此種方式，因為雷射熔接裝置可以使1個工件之每單位時間之雷射射束之照射次數減少，所以對工件可以進行熱平衡良好之熔接。另外，雷射射束之脈波週期不會變長，對1個工件照射雷射射束之次數可以減少，該照射次數減少之部份因為可以對其他之工件照射，所以熔接作業所需要之時間不會延遲。
简体摘要：本发明之目的是提供不会使作业时间延迟，对工件可以以良好之热平衡进行激光熔接设备及激光熔接方法。本发明之解决手段是一种激光熔接设备，对多个工件照射激光射束用来进行熔接，具备有：激光射束射出手段，以指定之脉波周期射出激光射束；和照射位置变更手段，用来变更对工件照射激光射束之位置；照射位置变更手段变更照射射束之位置，成为连续进行之激光照射对不同之工件进行，亦即，不会对同一工件连续照射激光射束。利用此种方式，因为激光熔接设备可以使1个工件之每单位时间之激光射束之照射次数减少，所以对工件可以进行热平衡良好之熔接。另外，激光射束之脉波周期不会变长，对1个工件照射激光射束之次数可以减少，该照射次数减少之部份因为可以对其他之工件照射，所以熔接作业所需要之时间不会延迟。

7. 发明专利

TW201625908A 測定裝置及控制方法审中-公开
简体标题：测定设备及控制方法
公开(公告)号：TW201625908A
公开(公告)日：2016-07-16
申请号：TW104128621
申请日：2015-08-31
申请人：日本先鋒公司 , PIONEER CORPORATION , 日本先鋒自動化公司 , PIONEER FA CORPORATION
发明人：望月學 , MOCHIZUKI, MANABU , 藤森昭一 , FUJIMORI, SHOICHI
IPC分类号： G01J1/02 , G01J3/02
摘要：提供一種可容易執行測量時之遮光部的位置調整之測定裝置。測定裝置100具有支撐部1、導光部2、探針3、工作台4、遮光部6及彈簧7。於工作台4上相鄰接地載置有複數之LED晶片5。探針3係對複數之LED晶片5中的、測定對象晶片供給電力而使該測定對象晶片之LED52發光。於探針3對測定對象晶片供給電力之情況，遮光部6圍繞該測定對象晶片。支撐部1及導光部2係使遮光部6朝Z軸方向移動。彈簧7設於導光部2與遮光部6之間。並且，於探針3對測定對象晶片供給電力之前，支撐部1將遮光部6朝彈簧7收縮之方向壓入。
简体摘要：提供一种可容易运行测量时之遮光部的位置调整之测定设备。测定设备100具有支撑部1、导光部2、探针3、工作台4、遮光部6及弹簧7。于工作台4上相邻接地载置有复数之LED芯片5。探针3系对复数之LED芯片5中的、测定对象芯片供给电力而使该测定对象芯片之LED52发光。于探针3对测定对象芯片供给电力之情况，遮光部6围绕该测定对象芯片。支撑部1及导光部2系使遮光部6朝Z轴方向移动。弹簧7设于导光部2与遮光部6之间。并且，于探针3对测定对象芯片供给电力之前，支撑部1将遮光部6朝弹簧7收缩之方向压入。

8. 发明专利

TW201531673A 光學測定裝置审中-公开
简体标题：光学测定设备
公开(公告)号：TW201531673A
公开(公告)日：2015-08-16
申请号：TW104101581
申请日：2015-01-16
申请人：日本先鋒公司 , PIONEER CORPORATION , 先鋒自動化設備股份有限公司 , PIONEER FA CORPORATION
发明人：望月學 , MOCHIZUKI, MANABU , 藤森昭一 , FUJIMORI, SHOICHI
IPC分类号： G01J1/00 , G01J1/04
CPC分类号： G01J1/0242 , G01J3/0254 , G01J3/0289 , G01J3/505 , G01J2001/4252
摘要：本發明提供一種能以簡單的構造實現高精度測定之發光元件之光學測定裝置。光學測定裝置具備：受光元件，其檢測與其他發光元件相鄰排列的一發光元件所發出的光，受光元件檢測藉由供給電力至該一發光元件而使一發光元件所發出的光，且不檢測一發光元件所發出的光造成之其他發光元件所發出的光，以及一發光元件所發出的光之中的從其他發光元件反射的光。
简体摘要：本发明提供一种能以简单的构造实现高精度测定之发光组件之光学测定设备。光学测定设备具备：受光组件，其检测与其他发光组件相邻排列的一发光组件所发出的光，受光组件检测借由供给电力至该一发光组件而使一发光组件所发出的光，且不检测一发光组件所发出的光造成之其他发光组件所发出的光，以及一发光组件所发出的光之中的从其他发光组件反射的光。

9. 发明专利

TW201530102A 光學測定裝置审中-公开
简体标题：光学测定设备
公开(公告)号：TW201530102A
公开(公告)日：2015-08-01
申请号：TW104101580
申请日：2015-01-16
申请人：日本先鋒公司 , PIONEER CORPORATION , 先鋒自動化設備股份有限公司 , PIONEER FA CORPORATION
发明人：望月學 , MOCHIZUKI, MANABU , 藤森昭一 , FUJIMORI, SHOICHI
IPC分类号： G01J1/04
CPC分类号： G01J3/50 , G01J1/0228 , G01J1/4228 , G01J2001/4252
摘要：本發明提供一種構造簡單、在發光元件的光學特性之測定上能得到可靠度高的測定結果之光學測定裝置。光學測定裝置具備：一光衰減器，其衰減發光元件所發出的光；一測定器，其測定該光衰減器所衰減的光之光學特性；以及一控制部，其根據該發光元件所發出的光之光量，設定該光衰減器的衰減量。
简体摘要：本发明提供一种构造简单、在发光组件的光学特性之测定上能得到可靠度高的测定结果之光学测定设备。光学测定设备具备：一光衰减器，其衰减发光组件所发出的光；一测定器，其测定该光衰减器所衰减的光之光学特性；以及一控制部，其根据该发光组件所发出的光之光量，设置该光衰减器的衰减量。

10. 发明专利

TW201405106A 光量測定裝置及光量測定方法审中-公开
简体标题：光量测定设备及光量测定方法
公开(公告)号：TW201405106A
公开(公告)日：2014-02-01
申请号：TW102127493
申请日：2013-07-31
申请人：日本先鋒公司 , PIONEER CORPORATION , 先鋒自動化設備股份有限公司 , PIONEER FA CORPORATION
发明人：望月學 , MOCHIZUKI, MANABU , 藤森昭一 , FUJIMORI, SHOICHI
IPC分类号： G01J1/42
CPC分类号： H01L25/0753 , G01J1/0242 , G01J1/0266 , G01J1/0407 , G01J1/0411 , G01J1/06 , G01J1/28 , G01J2001/061 , G01J2001/068 , G01J2001/4252 , H01L2924/0002 , H01L2924/00
摘要：本發明提供一種構造簡單、能實現高精度測定之發光二極體的光量測定裝置。光量測定裝置3具備：一受光模組1，其係與LED101相向配置，接收從LED101所發出之放射狀的光，並測定其光量；一探針109，其係供給電力至LED101，以使LED101發光；以及一受光範圍設定機構，其係根據相對於LED101的發光中心軸LCA之角度θ，對從LED101發出的光之中使受光模組1受光之光範圍即受光範圍進行設定。在一切割片103b上排列有多個LED101。受光範圍設定機構在受光模組1接收由多個排列之LED101所發出的光時，將受光範圍設定為不論LED101的排列形態為何，使接收到的光之光量的測定誤差在規定比率以下。
简体摘要：本发明提供一种构造简单、能实现高精度测定之发光二极管的光量测定设备。光量测定设备3具备：一受光模块1，其系与LED101相向配置，接收从LED101所发出之放射状的光，并测定其光量；一探针109，其系供给电力至LED101，以使LED101发光；以及一受光范围设置机构，其系根据相对于LED101的发光中心轴LCA之角度θ，对从LED101发出的光之中使受光模块1受光之光范围即受光范围进行设置。在一切割片103b上排列有多个LED101。受光范围设置机构在受光模块1接收由多个排列之LED101所发出的光时，将受光范围设置为不论LED101的排列形态为何，使接收到的光之光量的测定误差在规定比率以下。

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