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1. 发明专利

TWI590362B 拾取裝置有权
简体标题：十取设备
公开(公告)号：TWI590362B
公开(公告)日：2017-07-01
申请号：TW104135782
申请日：2015-10-30
申请人：日本先鋒公司 , PIONEER CORPORATION , 日本先鋒自動化公司 , PIONEER FA CORPORATION
发明人：清水壽治 , SHIMIZU, HISAHARU , 望月學 , MOCHIZUKI, MANABU , 藤森昭一 , FUJIMORI, SHOICHI , 小西環 , KONISHI, TAMAKI , 市川美穗 , ICHIKAWA, MIHO
IPC分类号： H01L21/67 , B65G49/07

2. 发明专利

TWI573990B 測定裝置及控制方法有权
简体标题：测定设备及控制方法
公开(公告)号：TWI573990B
公开(公告)日：2017-03-11
申请号：TW104128621
申请日：2015-08-31
申请人：日本先鋒公司 , PIONEER CORPORATION , 日本先鋒自動化公司 , PIONEER FA CORPORATION
发明人：望月學 , MOCHIZUKI, MANABU , 藤森昭一 , FUJIMORI, SHOICHI
IPC分类号： G01J1/02 , G01J3/02

3. 发明专利

TW201701388A 拾取裝置审中-公开
简体标题：十取设备
公开(公告)号：TW201701388A
公开(公告)日：2017-01-01
申请号：TW104135782
申请日：2015-10-30
申请人：日本先鋒公司 , PIONEER CORPORATION , 日本先鋒自動化公司 , PIONEER FA CORPORATION
发明人：清水壽治 , SHIMIZU, HISAHARU , 望月學 , MOCHIZUKI, MANABU , 藤森昭一 , FUJIMORI, SHOICHI , 小西環 , KONISHI, TAMAKI , 市川美穗 , ICHIKAWA, MIHO
IPC分类号： H01L21/67 , B65G49/07
摘要：本發明之課題在於以使黏著劑等不殘留於電子零件之背面之方式，自薄片拾取電子零件。作為上述課題之解決手段，在拾取裝置中，以使元件位於開口上之方式使薄片被配置於第1工作台上，並藉由第2工作台而自薄片之下側支撐元件。由於第2工作台之載置面較元件小，因此成為元件之一部分由第2工作台所支撐，而上述一部分以外之區域則未被支撐之狀態。而且，藉由對薄片施加壓力，而使薄片自元件被局部地剝離。於該狀態下，吸著噴嘴係抽吸元件而進行拾取。
简体摘要：本发明之课题在于以使黏着剂等不残留于电子零件之背面之方式，自薄片十取电子零件。作为上述课题之解决手段，在十取设备中，以使组件位于开口上之方式使薄片被配置于第1工作台上，并借由第2工作台而自薄片之下侧支撑组件。由于第2工作台之载置面较组件小，因此成为组件之一部分由第2工作台所支撑，而上述一部分以外之区域则未被支撑之状态。而且，借由对薄片施加压力，而使薄片自组件被局部地剥离。于该状态下，吸着喷嘴系抽吸组件而进行十取。

4. 发明专利

TW201625908A 測定裝置及控制方法审中-公开
简体标题：测定设备及控制方法
公开(公告)号：TW201625908A
公开(公告)日：2016-07-16
申请号：TW104128621
申请日：2015-08-31
申请人：日本先鋒公司 , PIONEER CORPORATION , 日本先鋒自動化公司 , PIONEER FA CORPORATION
发明人：望月學 , MOCHIZUKI, MANABU , 藤森昭一 , FUJIMORI, SHOICHI
IPC分类号： G01J1/02 , G01J3/02
摘要：提供一種可容易執行測量時之遮光部的位置調整之測定裝置。測定裝置100具有支撐部1、導光部2、探針3、工作台4、遮光部6及彈簧7。於工作台4上相鄰接地載置有複數之LED晶片5。探針3係對複數之LED晶片5中的、測定對象晶片供給電力而使該測定對象晶片之LED52發光。於探針3對測定對象晶片供給電力之情況，遮光部6圍繞該測定對象晶片。支撐部1及導光部2係使遮光部6朝Z軸方向移動。彈簧7設於導光部2與遮光部6之間。並且，於探針3對測定對象晶片供給電力之前，支撐部1將遮光部6朝彈簧7收縮之方向壓入。
简体摘要：提供一种可容易运行测量时之遮光部的位置调整之测定设备。测定设备100具有支撑部1、导光部2、探针3、工作台4、遮光部6及弹簧7。于工作台4上相邻接地载置有复数之LED芯片5。探针3系对复数之LED芯片5中的、测定对象芯片供给电力而使该测定对象芯片之LED52发光。于探针3对测定对象芯片供给电力之情况，遮光部6围绕该测定对象芯片。支撑部1及导光部2系使遮光部6朝Z轴方向移动。弹簧7设于导光部2与遮光部6之间。并且，于探针3对测定对象芯片供给电力之前，支撑部1将遮光部6朝弹簧7收缩之方向压入。

5. 发明专利

TW201407139A 光量測定裝置及光量測定方法审中-公开
简体标题：光量测定设备及光量测定方法
公开(公告)号：TW201407139A
公开(公告)日：2014-02-16
申请号：TW102127881
申请日：2013-08-02
申请人：日本先鋒公司 , PIONEER CORPORATION , 先鋒自動化設備股份有限公司 , PIONEER FA CORPORATION
发明人：藤森昭一 , FUJIMORI, SHOICHI , 望月學 , MOCHIZUKI, MANABU
IPC分类号： G01J1/00 , H01L33/00
CPC分类号： G01J1/0242 , G01J1/0266 , G01J1/0414 , G01J2001/4252
摘要：本發明提供一種構造簡單、能實現高速且高精度測定之光量測定裝置。光量測定裝置3具有：一載置桌103，其係用以載置一發光二極體101，發光二極體101發出的光呈放射狀；一探針109，其係供給電力至發光二極體101，使發光二極體101發光；以及一受光模組1，其係接收由發光二極體101發出的光，並測定其光量，其中，載置桌103具有一反射板103b，其形成為大致均勻的平板狀並具備正反射面之反射平面，發光二極體101載置於反射板103b的反射平面上。
简体摘要：本发明提供一种构造简单、能实现高速且高精度测定之光量测定设备。光量测定设备3具有：一载置桌103，其系用以载置一发光二极管101，发光二极管101发出的光呈放射状；一探针109，其系供给电力至发光二极管101，使发光二极管101发光；以及一受光模块1，其系接收由发光二极管101发出的光，并测定其光量，其中，载置桌103具有一反射板103b，其形成为大致均匀的平板状并具备正反射面之反射平面，发光二极管101载置于反射板103b的反射平面上。

6. 发明专利

TWI480523B 光量測定裝置及光量測定方法有权
简体标题：光量测定设备及光量测定方法
公开(公告)号：TWI480523B
公开(公告)日：2015-04-11
申请号：TW102127881
申请日：2013-08-02
申请人：日本先鋒公司 , PIONEER CORPORATION , 先鋒自動化設備股份有限公司 , PIONEER FA CORPORATION
发明人：藤森昭一 , FUJIMORI, SHOICHI , 望月學 , MOCHIZUKI, MANABU
IPC分类号： G01J1/00 , H01L33/00
CPC分类号： G01J1/0242 , G01J1/0266 , G01J1/0414 , G01J2001/4252

7. 发明专利

TWI608222B 光學測定裝置有权
简体标题：光学测定设备
公开(公告)号：TWI608222B
公开(公告)日：2017-12-11
申请号：TW104101581
申请日：2015-01-16
申请人：日本先鋒公司 , PIONEER CORPORATION , 先鋒自動化設備股份有限公司 , PIONEER FA CORPORATION
发明人：望月學 , MOCHIZUKI, MANABU , 藤森昭一 , FUJIMORI, SHOICHI
IPC分类号： G01J1/00 , G01J1/04
CPC分类号： G01J1/0242 , G01J3/0254 , G01J3/0289 , G01J3/505 , G01J2001/4252

8. 发明专利

TWI567369B 半導體發光元件之光測定裝置有权
简体标题：半导体发光组件之光测定设备
公开(公告)号：TWI567369B
公开(公告)日：2017-01-21
申请号：TW104111152
申请日：2015-04-07
申请人：日本先鋒公司 , PIONEER CORPORATION , 先鋒自動化設備股份有限公司 , PIONEER FA CORPORATION
发明人：新野尊嗣 , NIINO, TAKATSUGU , 望月學 , MOCHIZUKI, MANABU , 藤森昭一 , FUJIMORI, SHOICHI
IPC分类号： G01J1/02 , G01M11/00
CPC分类号： G01J1/0403 , G01J2001/4247

9. 发明专利

TW201538935A 半導體發光元件之光測定裝置审中-公开
简体标题：半导体发光组件之光测定设备
公开(公告)号：TW201538935A
公开(公告)日：2015-10-16
申请号：TW104111152
申请日：2015-04-07
申请人：日本先鋒公司 , PIONEER CORPORATION , 先鋒自動化設備股份有限公司 , PIONEER FA CORPORATION
发明人：新野尊嗣 , NIINO, TAKATSUGU , 望月學 , MOCHIZUKI, MANABU , 藤森昭一 , FUJIMORI, SHOICHI
IPC分类号： G01J1/02 , G01M11/00
CPC分类号： G01J1/0403 , G01J2001/4247
摘要：本發明提供一種能夠使半導體發光元件確實地通電，正確且穩定地測定半導體發光元件之發光量的半導體發光元件之光測定裝置。半導體發光元件之光測定裝置100具備：一探針300，其供給電力至LED20A；一光測定部120，其測定自LED發出的光之光量；以及一吸附基礎部200，其具有探針300，吸附基礎部200用以吸引LED。
简体摘要：本发明提供一种能够使半导体发光组件确实地通电，正确且稳定地测定半导体发光组件之发光量的半导体发光组件之光测定设备。半导体发光组件之光测定设备100具备：一探针300，其供给电力至LED20A；一光测定部120，其测定自LED发出的光之光量；以及一吸附基础部200，其具有探针300，吸附基础部200用以吸引LED。

10. 发明专利

TW201531673A 光學測定裝置审中-公开
简体标题：光学测定设备
公开(公告)号：TW201531673A
公开(公告)日：2015-08-16
申请号：TW104101581
申请日：2015-01-16
申请人：日本先鋒公司 , PIONEER CORPORATION , 先鋒自動化設備股份有限公司 , PIONEER FA CORPORATION
发明人：望月學 , MOCHIZUKI, MANABU , 藤森昭一 , FUJIMORI, SHOICHI
IPC分类号： G01J1/00 , G01J1/04
CPC分类号： G01J1/0242 , G01J3/0254 , G01J3/0289 , G01J3/505 , G01J2001/4252
摘要：本發明提供一種能以簡單的構造實現高精度測定之發光元件之光學測定裝置。光學測定裝置具備：受光元件，其檢測與其他發光元件相鄰排列的一發光元件所發出的光，受光元件檢測藉由供給電力至該一發光元件而使一發光元件所發出的光，且不檢測一發光元件所發出的光造成之其他發光元件所發出的光，以及一發光元件所發出的光之中的從其他發光元件反射的光。
简体摘要：本发明提供一种能以简单的构造实现高精度测定之发光组件之光学测定设备。光学测定设备具备：受光组件，其检测与其他发光组件相邻排列的一发光组件所发出的光，受光组件检测借由供给电力至该一发光组件而使一发光组件所发出的光，且不检测一发光组件所发出的光造成之其他发光组件所发出的光，以及一发光组件所发出的光之中的从其他发光组件反射的光。

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