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1. 发明公开

KR1020170132912A 선형 검사 시스템 审中-实审
公开(公告)号：KR1020170132912A
公开(公告)日：2017-12-04
申请号：KR1020177034162
申请日：2015-06-03
申请人： 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드
发明人： 슈레진저,아사프 , 총,성데
IPC分类号： G01N21/95 , G01N21/64 , G01R31/26 , H02S50/10 , H02S50/15
CPC分类号： G01N21/9501 , G01N21/64 , G01N21/6489 , G01N21/95 , G01N2201/0612 , G01R31/2601 , G01R31/44 , H02S50/00 , H02S50/10 , H02S50/15
摘要： 본개시내용의실시예들은일반적으로, 포괄적인, 확장가능한기판검사시스템들에관한것이다. 검사시스템들은, 두께, 비저항, 소우마크(saw mark)들, 기하형상, 스테인(stain)들, 칩(chip)들, 마이크로크랙(micro crack)들, 결정프랙션(crystal fraction), 및포토루미네선스(photoluminescence)를포함하는, 기판의하나또는그 초과의특성들을검사, 검출, 또는측정하도록적응된다수의계측유닛들을포함한다. 검사시스템들은, 기판을태양전지로프로세싱하기전에, 기판들상의결함들을식별하고, 기판으로생산되는태양전지의태양전지효율성을추정하기위해활용될수 있다. 기판들은트랙또는컨베이어상에서계측유닛들사이의검사시스템을통해이송된다음, 검사데이터에기반하여소팅될수 있다.

2. 发明公开

KR1020170107095A 태양전지 검사장치 및 방법 审中-实审
公开(公告)号：KR1020170107095A
公开(公告)日：2017-09-22
申请号：KR1020177025433
申请日：2012-05-21
申请人： 더 보잉 컴파니
发明人： 정워스,더글라스알. , 퀘자다,에밀리오 , 캠벨,그레고리에이. , 에르머,제임스에이치. , 존스,러셀케이.
IPC分类号： H02S50/15 , G01N21/88 , G01N21/95 , G01N21/25
CPC分类号： G01N21/9501 , G01N21/66 , H02S50/10 , H02S50/15 , G01N21/25 , G01N21/8806 , G01N21/8851 , G01N21/95
摘要： 태양전지검사장치(200)는검사중인태양전지(204) 상으로빛 에너지를겨냥하기위한조명기(202)를포함할수 있다. 태양전지검사장치는또한태양전지의성능의측정및 임의의결함들의검출중의적어도하나를위하여검사중인태양전지와조명기사이의광 경로에복수의필터들의상이한필터들을선택적으로배치하기위한디바이스(214)를포함할수 있다. 복수의필터들은제1 세트의필터들(216a) 및제2 세트의필터들(216b)을포함할수 있다. 제1 세트의필터들의각각의필터는조명기로부터의빛 에너지의강도의미리결정된퍼센트를검사중인태양전지상으로통과시키도록적용된다. 제2 세트의필터들은빛의상이한스펙트럼들하에서태양전지를검사하도록적용된다.

3. 发明公开

KR1020170106504A 태양전지 검사장치 및 방법 审中-实审
标题翻译：太阳能电池检查设备和方法
公开(公告)号：KR1020170106504A
公开(公告)日：2017-09-20
申请号：KR1020177025440
申请日：2012-05-21
申请人： 더 보잉 컴파니
发明人： 정워스,더글라스알. , 퀘자다,에밀리오 , 캠벨,그레고리에이. , 에르머,제임스에이치. , 존스,러셀케이.
IPC分类号： H02S50/15
CPC分类号： G01N21/9501 , G01N21/66 , H02S50/10 , H02S50/15 , G01N21/255 , G01N21/27 , G01N21/8806 , G01N21/8851 , G01N21/95
摘要： 태양전지검사장치(200)는검사중인태양전지(204) 상으로빛 에너지를겨냥하기위한조명기(202)를포함할수 있다. 태양전지검사장치는또한태양전지의성능의측정및 임의의결함들의검출중의적어도하나를위하여검사중인태양전지와조명기사이의광 경로에복수의필터들의상이한필터들을선택적으로배치하기위한디바이스(214)를포함할수 있다. 복수의필터들은제1 세트의필터들(216a) 및제2 세트의필터들(216b)을포함할수 있다. 제1 세트의필터들의각각의필터는조명기로부터의빛 에너지의강도의미리결정된퍼센트를검사중인태양전지상으로통과시키도록적용된다. 제2 세트의필터들은빛의상이한스펙트럼들하에서태양전지를검사하도록적용된다.
摘要翻译：太阳能电池检查设备200可以包括照明器202，用于将光能引导到正在检查的太阳能电池204上。太阳能电池还包括用于将多个滤光器的不同滤光器选择性地放置在被测太阳能电池的光路中的装置（214），并且该照明器用于太阳能电池性能的测量和任何缺陷的检测中的至少一个你可以包括它。多个滤波器可以包括第一组滤波器216a和第二组滤波器216b。第一组滤光器中的每个滤光器适于将来自照明器的预定百分比的光能传递到待测太阳能电池上。应用第二套滤光片在不同的银光谱下检查太阳能电池。

4. 发明公开

KR1020170018080A 선형 검사 시스템 有权
标题翻译：线性检测系统
公开(公告)号：KR1020170018080A
公开(公告)日：2017-02-15
申请号：KR1020177002452
申请日：2015-06-03
申请人： 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드
发明人： 슈레진저,아사프 , 총,성데
IPC分类号： G01N21/95 , G01N21/64 , G01R31/26 , H02S50/10 , H02S50/15
CPC分类号： G01N21/9501 , G01N21/64 , G01N21/6489 , G01N21/95 , G01N2201/0612 , G01R31/2601 , G01R31/44 , H02S50/00 , H02S50/10 , H02S50/15
摘要： 본개시내용의실시예들은일반적으로, 포괄적인, 확장가능한기판검사시스템들에관한것이다. 검사시스템들은, 두께, 비저항, 소우마크(saw mark)들, 기하형상, 스테인(stain)들, 칩(chip)들, 마이크로크랙(micro crack)들, 결정프랙션(crystal fraction), 및포토루미네선스(photoluminescence)를포함하는, 기판의하나또는그 초과의특성들을검사, 검출, 또는측정하도록적응된다수의계측유닛들을포함한다. 검사시스템들은, 기판을태양전지로프로세싱하기전에, 기판들상의결함들을식별하고, 기판으로생산되는태양전지의태양전지효율성을추정하기위해활용될수 있다. 기판들은트랙또는컨베이어상에서계측유닛들사이의검사시스템을통해이송된다음, 검사데이터에기반하여소팅될수 있다.
摘要翻译：本公开的实施例一般涉及综合的，可扩展的基板检查系统。检查系统包括适于检查，检测或测量衬底的一个或多个特性的多个测量单元，包括厚度，电阻率，锯痕，几何形状，污渍，芯片，微裂纹，晶体分数和光致发光。在将衬底加工成太阳能电池之前，可以使用检查系统来识别衬底上的缺陷并估计由衬底制造的太阳能电池的太阳能电池效率。基板可以通过轨道或传送带上的计量单元之间的检查系统传送，然后根据检查数据进行分类。

5. 发明授权

KR101088261B1 태양전지의 검사장치 및 검사방법 有权
标题翻译：太阳能电池的检查装置和方法
公开(公告)号：KR101088261B1
公开(公告)日：2011-11-30
申请号：KR1020090046910
申请日：2009-05-28
申请人： (주)원우시스템즈
发明人： 권기청 , 우원균 , 차성덕 , 박인규
IPC分类号： H02S50/15 , G01J1/08 , G01N21/66 , G01N21/956 , H01L31/04
摘要： 본 발명은 태양전지 검사장치 및 그 방법에 관한 것으로, 태양전지 검사장치에 있어서, 외부의 광을 차단하는 암상자; 상기 암상자 내부에 태양전지를 지지하는 투명 지지대; 상기 투명 지지대 하부에서 상기 태양전지에 적외선을 조사하는 근 적외선 광원; 상기 태양전지 상부에 위치하여 상기 태양전지에서 방출되는 광을 검출하는 검출장치; 및 상기 태양전지에 전압을 인가하는 외부 전원장치를 포함한다.
이와 같은 본 발명을 제공하면, 태양전지 제품원가를 절감할 수 있고 제품 수율 향상 및 제품 불량최소화를 이룰 수 있게 되며, 육안이 아닌 전계발광과 근적외광 투과에 의해 발생된 광이 적외선 카메라에 의해 검출되고 검출된 데이터를 외부의 분석시스템에 의해 비교 및 분석함으로써, 제품의 효율 및 특성/품질에 따라 분류하여 제품을 출하할 수 있어서 태양전지 효율을 향상시키는 역할이 가능하게 된다.
태양전지, 검사장치, 근적외선(Near Infrared ray), 전계발광

6. 发明公开

KR1020060056518A 염료감응 태양전지, 이의 제조 방법 및 이의 전기 광학특성 측정 시스템 및 측정 방법 有权
标题翻译：透明的太阳能电池，其制造方法和系统及其测量电光特性的方法
公开(公告)号：KR1020060056518A
公开(公告)日：2006-05-25
申请号：KR1020040095632
申请日：2004-11-22
申请人： 한양대학교 산학협력단
发明人： 김낙중 , 윤수정 , 김도영
IPC分类号： H01L31/04 , H02S50/15
CPC分类号： Y02E10/542 , H01L31/04 , H02S50/15
摘要： 본 발명은 염료감응 태양전지 및 이의 제조 방법 및 이의 전기 광학 특성 측정 시스템 및 측정 방법에 관한 것으로, 반도체 전극과, 대향 전극과, 상기 반도체 전극과 상기 대향전극 사이에 형성된 전해질/액정 혼합물층 및 상기 반도체 전극과 상기 대향 전극을 봉지하는 몰딩부를 포함하는 염료감응 태양 전지 태양전지를 제공하고, 상기 태양전지에 제 1 광을 인가하는 제 1 광원부 및 상기 태양전지를 통해 전송된 빛을 검출하는 검출수단을 포함하되, 상기 제 1 광원부가 레이저인 염료감응 태양전지의 전기 광학 측정 시스템을 제공한다.
이로써 태양에너지를 직접 전기에너지로 변환할 수 있는 소자인 태양 전지를 응용하여 새로운 액정 광학 소자를 제조할 수 있다. 또한, 염료감응 태양 전지에 액정을 포함시켜 셀을 제조한 뒤 셀에 광선을 통과시키면 태양 전지의 광기전력효과에 의해 액정을 구동시킬 수 있으며, 새로운 전기 광학 소자로 앞으로 광학, 전자 재료로서의 응용 범위를 넓힐 수 있고, 제 1 및 제 2 광원을 이용한 측정 시스템을 사용하여 태양전지의 광기전력과 전기 광학 특성을 측정할 수 있다.
염료감응, 태양전지, 액정, 전기광학, 측정 방법, 시스템

7. 发明授权

KR100350861B1 태양전지의특성을측정하기위한측정방법및장치 失效
标题翻译：测量太阳能电池特性的测量方法和设备
公开(公告)号：KR100350861B1
公开(公告)日：2002-11-18
申请号：KR1019980025487
申请日：1998-06-30
申请人： 캐논 가부시끼가이샤
发明人： 요시노다께히또 , 오쯔까다까시
IPC分类号： H02S50/15 , G01R31/26 , G01J1/42
摘要： 태양 전지의 수광면의 선정된 영역이 조사되어, 전압 대 전류 특성이 측정된다. 조사되지 않은 나머지 수광면은 암 영역이라 한다. 다음에, 수광면이 조사되지 않은 암 상태에서, 태양 전지의 암 특성이 측정된다. 이와 같이 얻어진 암 특성에 수광면의 면적에 대한 암 영역 면적의 비가 승산됨으로써, 암 영역의 암 특성이 계산된다. 다음에, 측정된 전압 대 전류 특성과 암 영역의 암 특성 간의 특성차가 계산된다. 이 특성차에 조사된 부분의 면적에 대한 수광면의 면적의 비가 승산됨으로써, 수광면의 전체 면적이 한 번에 조사되는 것에 대응하는 상태에서의 태양 전지의 전압 대 전류 특성이 얻어진다.

8. 发明公开

KR1020220092389A 태양전지 패널 검사 장치 및 이를 이용한 태양전지 패널 관리 시스템 审中-实审
公开(公告)号：KR1020220092389A
公开(公告)日：2022-07-01
申请号：KR1020210180643
申请日：2021-12-16
IPC分类号： H02S50/15 , G06T7/00 , G06T7/70 , G01N21/88
摘要： 본발명은태양전지패널검사장치및 이를이용한태양전지패널관리시스템에관한것으로서, 본발명에따른태양전지패널검사장치는, 태양전지패널의이미지를촬영하는이미지촬영부; 및상기이미지촬영부에서촬영된이미지를분석하여태양전지패널의결함을판단하는이미지분석부;를포함하는것을특징으로한다. 이러한본 발명에따라, 태양전지패널을용이하고효율적인관리할수 있다.

9. 发明授权

KR102139218B1 선형 검사 시스템 有权
公开(公告)号：KR102139218B1
公开(公告)日：2020-07-29
申请号：KR1020177034162
申请日：2015-06-03
申请人： 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드
发明人： 슈레진저,아사프 , 총,성데
IPC分类号： G01N21/95 , G01N21/64 , G01R31/26 , H02S50/10 , H02S50/15

10. 发明授权

KR101987911B1 이동형 태양광 패널 검사 장치 및 검사 방법 有权
公开(公告)号：KR101987911B1
公开(公告)日：2019-06-12
申请号：KR1020170146790
申请日：2017-11-06
申请人： 주식회사 맥사이언스
发明人： 배상순 , 안용석 , 설명헌 , 백진호
IPC分类号： H02S50/15 , H01L31/042 , F21W131/403

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