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    • 3. 发明公开
    • 반도체 테스트 소켓 및 그 제조방법
    • 半导体测试插座及其制造方法
    • KR1020170107598A
    • 2017-09-26
    • KR1020160030683
    • 2016-03-15
    • 주식회사 이노글로벌
    • 이은주신광수
    • G01R1/04G01R31/26G01R3/00B21D22/02C23F1/00C25D3/12C25D3/48
    • 본발명은반도체테스트소켓및 그제조방법에관한것이다. 본발명의실시예에따른반도체테스트소켓은탄성을갖는절연성재질의절연성본체와, 상기절연성본체내부에상호전기적으로절연된상태로각각상하방향으로도전라인을형성하는복수의도전패턴부를포함하고, 하나의상기도전패턴부는가로방향으로상호이격된한 쌍의제1 도전핀과, 상기제1 도전핀과깊이방향으로이격되고가로방향으로상호이격된한 쌍의제2 도전핀을포함하고; 한쌍의상기제1 도전핀은상기가로방향으로휘어진형상을가지며; 한쌍의상기제2 도전핀은상기가로방향으로휘어진형상을가지되, 상기제1 도전핀과반대방향으로휘어진형상을갖는것을특징으로한다. 이에따라, 휘어진형상의한 쌍씩의제1 도전핀과한 쌍씩의제2 도전핀이하나의도전패턴부를형성하여상하방향으로하나의도전라인을형성하고, 이를실리콘과같은탄성재질이절연성본체를형성함으로써, 상하방향으로보다안정적인도전라인을형성할수 있게된다.
    • 本发明涉及一种半导体测试插座及其制造方法。 半导体测试插座在根据本发明的一个实施方式,具有绝缘材料的弹性的绝缘单元,并且包括在所述绝缘主体内的绝缘的状态在一个相互电的多个导电图案的每一个,以形成在上下方向上部分的导电线, 包括一对从彼此在所述第一导电销的横向方向间隔开的导电图案部和所述第一导电销和一对在深度方向以及在横向上相互间隔开的所述第二导电销; 其中,所述一对第一导电针脚具有横向翘曲的形状; 一对第二导电销可以具有在横向方向上弯曲的形状和沿与第一导电销的方向相反的方向弯曲的形状。 因此,形成为弯曲形状的一对第一导电销和一对第二导电销形成一个导电图案部分以在垂直方向上形成一个导电线,并且诸如硅的弹性导电材料形成绝缘体 可以在垂直方向上形成更稳定的导线。