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1. 发明公开

KR1020150127697A 인쇄회로기판 테스트 장치용 크로스멤버 유닛 및 이를 가지는 테스트 장치 有权
标题翻译：用于印刷电路板的测试装置的交叉单元和具有所述交叉单元的测试装置
公开(公告)号：KR1020150127697A
公开(公告)日：2015-11-17
申请号：KR1020157028439
申请日：2014-03-11
申请人： 엑세라 코포레이션
发明人： 로마노브빅터 , 오트베른트-울리히
IPC分类号： G01R31/28 , G01R1/067
CPC分类号： G01R1/06705 , G01R1/06794 , G01R1/07392 , G01R31/2806 , G01R31/2808
摘要： 본발명은인쇄회로기판용테스트장치(1)를위한크로스멤버유닛(2)에관한것으로, 상기크로스멤버유닛(2)은테스트될회로기판이놓일수 있는테스트영역을가로지르는적어도하나의크로스멤버(9)를가지며, 직선상에서횡단가능한방식으로테스트핑거용포지셔닝유닛을지지하여, 테스트핑거들이상기테스트영역의적어도일부를스캔할수 있도록설계된다. 본발명에따르면, 상기크로스멤버유닛(2)은상기적어도하나의포지셔닝유닛(6)을각각가이드하기위한서로독립적인적어도 2개의리니어가이드(5)를지지하도록설계된다. 또한, 본발명은적어도하나의상기크로스멤버유닛(2)을갖는테스트장치(1)에관한것이다.
摘要翻译：本发明涉及一种用于印刷电路板的测试设备（1）的交叉构件单元（2），其中，横向构件单元（2）具有至少一个横梁（9），跨越测试区域，其中印刷电路板被测试可以被布置，并且被设计成以可线性移动的方式接收用于测试指（8）的定位单元（6），使得测试指（8）可以扫描测试区域的至少一部分。根据本发明，交叉构件单元（2）被设计成容纳至少两个彼此独立的直线导轨（5），用于在每种情况下引导至少一个定位单元（6）。本发明还涉及具有这种类型的至少一个交叉构件单元（2）的测试装置（1）。

2. 发明授权

KR101170287B1 프로브의 정렬을 제공하기 위한 장치 및 방법과, 테스트 샘플의 특정 위치 상의 전기적 특성을 테스트하기 위한 테스트 장치 有权
标题翻译：用于提供探针对准的装置和方法以及用于在试验样品的特定位置测试电特性的测试装置
公开(公告)号：KR101170287B1
公开(公告)日：2012-07-31
申请号：KR1020077001344
申请日：2005-06-21
申请人： 카프레스 에이/에스
发明人： 니엘센페터폴머 , 페터센페터알.이. , 한센제스퍼에르드만
IPC分类号： G01R3/00 , G01R1/067
CPC分类号： G01R1/07392 , G01R1/06727 , G01R3/00 , G01R31/2887 , Y10T29/49204 , Y10T29/49222
摘要： 지지 기판에 대한 프로브의 정렬을 제공하기 위한 방법은, 평탄 표면 및 모서리를 한정하며, 제1 결정면을 더 한정하는 지지 기판을 제공하는 단계와, 모서리에서 표면 상의 제1 노출 구역을 한정하는 제1 마스크를, 지지 기판의 표면에 제공하는 단계와, 특정 에칭 시약을 제공하는 단계를 포함하고, 리세스가 제1 노출 구역을 에칭하는 에칭 시약에 의해 형성되고, 리세스는 제1 측벽, 대향 제2 측벽, 모서리로부터 이격된 단부 벽, 및 바닥벽을 한정한다. 방법은 평탄 표면 및 제1 결정면과 동일한 제2 결정면을 한정하는 프로브 기판을 제공하는 단계와, 특정 에칭 시약을 사용하여 프로브 기판으로부터 프로브를 형성할 때, 제1 및 제2 결정면들이 동일하게 위치되도록 프로브 기판을 위치 설정하는 단계를 포함하고, 프로브는 제1 측벽 및 제2 측벽과 합동인 표면들을 한정한다.
테스트 샘플, 프로브, 지지 기판, 리세스, 에칭, 마스크

3. 发明授权

KR100911650B1 PROBE UNIT BLOCK AND MANUFACTURING METHOD OF THE SAME 无效
标题翻译：探针单元块及其制造方法
公开(公告)号：KR100911650B1
公开(公告)日：2009-08-10
申请号：KR20090000339
申请日：2009-01-05
申请人： AONEMECHA CO LTD
发明人： OH HYEONG GEUN
IPC分类号： G01R1/073
CPC分类号： G01R1/073 , G01R1/07392 , G01R3/00 , G01R31/2879 , G01R31/2886
摘要： A probe unit block and a manufacturing method of the same are provided to improve product yield by removing the necessity of exchange of all probe block according to product model change. A probe(100) comprises a probe frame(200) and probe head(300), and a linear guide(250) is installed between the probe frame and the probe head. A probe block(400) is arranged at the lower part of the probe head, and a fixing unit(350) is engaged between the probe head and the probe block. A main block comprises a protrusion in which an accommodating groove of a leg shape is formed, and a ceramic bar facilitates the combination of the slit guide plate and the main block.
摘要翻译：提供探针单元块及其制造方法，以通过根据产品型号变化去除所有探针块的交换的必要性来提高产量。探针（100）包括探针框架（200）和探针头（300），并且在探针框架和探头之间安装有线性引导件（250）。探针块（400）布置在探针头的下部，并且固定单元（350）接合在探针头和探针块之间。主块包括其中形成有腿形容纳槽的突起，并且陶瓷杆有助于狭缝引导板和主块的组合。

4. 发明公开

KR1020070045196A 프로브의 정렬을 제공하기 위한 장치 및 방법과, 테스트 샘플의 특정 위치 상의 전기적 특성을 테스트하기 위한 테스트 장치 有权
标题翻译：提供探测器对准的方法
公开(公告)号：KR1020070045196A
公开(公告)日：2007-05-02
申请号：KR1020077001344
申请日：2005-06-21
申请人： 카프레스 에이/에스
发明人： 니엘센페터폴머 , 페터센페터알.이. , 한센제스퍼에르드만
IPC分类号： G01R3/00 , G01R1/067
CPC分类号： G01R1/07392 , G01R1/06727 , G01R3/00 , G01R31/2887 , Y10T29/49204 , Y10T29/49222
摘要： 지지 기판에 대한 프로브의 정렬을 제공하기 위한 방법은, 평탄 표면 및 모서리를 한정하며, 제1 결정면을 더 한정하는 지지 기판을 제공하는 단계와, 모서리에서 표면 상의 제1 노출 구역을 한정하는 제1 마스크를, 지지 기판의 표면에 제공하는 단계와, 특정 에칭 시약을 제공하는 단계를 포함하고, 리세스가 제1 노출 구역을 에칭하는 에칭 시약에 의해 형성되고, 리세스는 제1 측벽, 대향 제2 측벽, 모서리로부터 이격된 단부 벽, 및 바닥벽을 한정한다. 방법은 평탄 표면 및 제1 결정면과 동일한 제2 결정면을 한정하는 프로브 기판을 제공하는 단계와, 특정 에칭 시약을 사용하여 프로브 기판으로부터 프로브를 형성할 때, 제1 및 제2 결정면들이 동일하게 위치되도록 프로브 기판을 위치 설정하는 단계를 포함하고, 프로브는 제1 측벽 및 제2 측벽과 합동인 표면들을 한정한다.
테스트 샘플, 프로브, 지지 기판, 리세스, 에칭, 마스크

5. 发明授权

KR101856325B1 리플 전류 센싱 모터 제어 장치 및 방법 有权
公开(公告)号：KR101856325B1
公开(公告)日：2018-05-09
申请号：KR20160063024
申请日：2016-05-23
IPC分类号： G01R31/34 , G01R1/20 , G01R19/00 , G01R19/10 , G01R19/165 , G01R23/165 , H02K11/21 , H02K11/30
CPC分类号： H02P7/0094 , G01R1/07364 , G01R1/07392 , G01R19/04
摘要： 본발명은리플전류센싱모터제어장치및 방법에대하여개시한다. 본발명의일면에따른리플전류센싱모터제어장치는, 그일단이모터의일단과연결되고, 그타단이그라운드에연결되는제1 션트저항; 그일단이상기모터의타단과연결되고, 그타단이상기그라운드에연결되는제2 션트저항; 상기모터의일단으로부터의제1신호를증폭하는제1 증폭회로; 상기모터의타단으로부터의제2신호를증폭하는제2 증폭회로; 및상기제1 증폭회로로부터의제1 감지신호및 상기제2 증폭회로로부터의제2 감지신호의전압변화를이용하여상기모터의회전량및 회전방향을검출하는검출부를포함하는것을특징으로한다.

6. 发明公开

KR1020110055171A 검침 장치 失效
标题翻译：计量装置
公开(公告)号：KR1020110055171A
公开(公告)日：2011-05-25
申请号：KR1020090112087
申请日：2009-11-19
申请人： 최필선
发明人： 최필선
IPC分类号： G01R1/06 , G01R15/12
CPC分类号： G01R15/12 , G01R1/07307 , G01R1/07392
摘要： PURPOSE: A metering device is provided to easily meter a device under bad conditions. CONSTITUTION: An insulating metering rod(12a) includes a metering pin(14a) which is electrically conductive. A metering unit(10a) is electrically connected to the metering pin of the insulating metering rod through a lead line(16a). A main body(30) is electrically connected to the lead line of the metering unit. The main body receives and processes an electrical signal which is received from the lead line. A metering rod receiving unit(50) is placed on one side of the main body of the metering device. Winding drums(70a,70c) automatically wind one or all of the lead lines.
摘要翻译：目的：提供一种计量装置，用于在恶劣条件下轻松测量设备。构成：绝缘计量棒（12a）包括导电的计量销（14a）。计量单元（10a）通过引线（16a）与绝缘计量棒的计量管电连接。主体（30）电连接到计量单元的引线。主体接收并处理从引线接收的电信号。计量杆接收单元（50）被放置在计量装置的主体的一侧上。卷绕鼓（70a，70c）自动缠绕一条或全部引线。

7. 发明授权

KR101005197B1 컴포넌트화되어 있지 않은 인쇄 회로 기판의 검사를 위한 핑거 테스터 및 핑거 테스터로 컴포넌트화되어 있지 않은 인쇄 회로 기판을 검사하는 방법 有权
标题翻译：用于非分压印刷电路板测试的指纹测试仪和用手指测试仪测试非分辨印刷电路板的方法
公开(公告)号：KR101005197B1
公开(公告)日：2010-12-31
申请号：KR1020087021981
申请日：2006-11-15
申请人： 에이티지 루터 엔드 맬저 게엠바하
发明人： 로마노프빅토르
IPC分类号： G01R1/073
CPC分类号： G01R1/06794 , G01R1/07392 , G01R31/2805 , G01R31/2808
摘要： 본 발명은, 적어도 두 개의 테스트 핑거(test finger, 1)를 사용하는, 컴퍼넌트화되어 있지 않은 인쇄 회로 기판의 검사를 위한 핑거 테스터(finger tester)이고, 테스트 핑거의 각각은 테스트 프로브(test probe, 2)를 가지고 있고, 테스트 프로브(2) 상에, 테스트 프로브(2)의 적어도 하나의 접촉 팁(contact tip)의 위치를 광학적으로 검출하기 위한 검출 장치(20)가 구비되어 있는 핑거 테스터에 관한 것이다. 두 개 또는 그 이상의 테스트 핑거(1)의 검출 장치(20)는 검사되는 회로 기판의 측정 포인트로부터의 거리가 다른 평면에 배열되어, 적어도 테스트 프로브(2) 상에 위치되어 있는 검출 장치의 영역들이, 하나가 다른 하나 위에 위치되어, 접촉없이 수직으로 정렬되어 있다.
테스트 핑거, 핑거 테스터, 테스트 프로브, 검출 장치, 접촉 팁

8. 发明授权

KR100951717B1 프로브 블럭 失效
标题翻译：探测块
公开(公告)号：KR100951717B1
公开(公告)日：2010-04-07
申请号：KR1020090056764
申请日：2009-06-25
申请人： 주식회사 한택
发明人： 이동국 , 류승호
IPC分类号： G01R1/073 , G02F1/133 , H01L21/66
CPC分类号： G01R1/07364 , G01R1/07392 , G01R31/2879 , G01R31/2887 , G02F1/133
摘要： PURPOSE: By adding a same pressure to a probe pin arranged as the minute pitch the probe block minimizes the damage of the probe pin through the error prevention of the checking procedure. CONSTITUTION: A housing block(110) is attachable and detachably combined in the lower part of the joint plate. The first aligning hole is formed in the center area of the housing block, the front alignment block(120) is combined in the shear of the housing block. A plurality of first slits is formed in the front alignment block into the regular interval. The rearward alignment block(130) is combined in the backend of the housing block. The shear of the probe pin is inserted into the first slit. The backend of the probe pin is inserted into the second slit. In the fixed bar is the lower of the probe pin, the probe pin is fixed by pressurizing the probe pin.
摘要翻译：目的：通过为以微小间距排列的探针提供相同的压力，探头块通过检查程序的错误防止将探针的损坏最小化。构成：壳体块（110）可连接并可拆卸地组合在接合板的下部。第一对准孔形成在壳体块的中心区域中，前对准块（120）组合在壳体块的剪切中。在正向对准块中形成多个第一狭缝，形成规则间隔。后对准块（130）组合在壳体块的后端中。探针的剪切被插入到第一狭缝中。探针的后端插入第二个狭缝。固定杆是探针的下端，探针通过加压探头固定。

9. 发明授权

KR101691361B1 인쇄회로기판 테스트 장치용 크로스멤버 유닛 및 이를 가지는 테스트 장치 有权
标题翻译：用于打印电路板的测试装置的交叉单元和具有该交叉单元的测试装置
公开(公告)号：KR101691361B1
公开(公告)日：2016-12-30
申请号：KR1020157028439
申请日：2014-03-11
申请人： 엑세라 코포레이션
发明人： 로마노브빅터 , 오트베른트-울리히
IPC分类号： G01R31/28 , G01R1/067
CPC分类号： G01R1/06705 , G01R1/06794 , G01R1/07392 , G01R31/2806 , G01R31/2808
摘要： 본발명은인쇄회로기판용테스트장치(1)를위한크로스멤버유닛(2)에관한것으로, 상기크로스멤버유닛(2)은테스트될회로기판이놓일수 있는테스트영역을가로지르는적어도하나의크로스멤버(9)를가지며, 직선상에서횡단가능한방식으로테스트핑거용포지셔닝유닛을지지하여, 테스트핑거들이상기테스트영역의적어도일부를스캔할수 있도록설계된다. 본발명에따르면, 상기크로스멤버유닛(2)은상기적어도하나의포지셔닝유닛(6)을각각가이드하기위한서로독립적인적어도 2개의리니어가이드(5)를지지하도록설계된다. 또한, 본발명은적어도하나의상기크로스멤버유닛(2)을갖는테스트장치(1)에관한것이다.
摘要翻译：本发明涉及一种用于印刷电路板的测试设备（1）的交叉构件单元（2），其中，横向构件单元（2）具有至少一个横梁（9），跨越测试区域，其中印刷电路板被测试可以被布置，并且被设计成以可线性移动的方式接收用于测试指（8）的定位单元（6），使得测试指（8）可以扫描测试区域的至少一部分。根据本发明，交叉构件单元（2）被设计成容纳至少两个彼此独立的直线导轨（5），用于在每种情况下引导至少一个定位单元（6）。本发明还涉及具有这种类型的至少一个交叉构件单元（2）的测试装置（1）。

10. 发明公开

KR1020150066018A ＡＭＯＬＥＤ 패널 검사를 위한 표시 패널 검사 장치 및 그 방법 审中-实审
标题翻译：显示面板测试装置和测试AMOLED面板的方法
公开(公告)号：KR1020150066018A
公开(公告)日：2015-06-16
申请号：KR1020130150960
申请日：2013-12-05
申请人： 주식회사 이엘피
发明人： 이재혁 , 한윤기
IPC分类号： G01R31/02 , H01L51/56
CPC分类号： G01R31/2886 , G01R1/07392 , G09G3/006 , G09G3/32 , G09G2360/147
摘要： AMOLED 패널검사를위한표시패널장치및 그방법이개시된다. 본발명의실시예에따른표시패널검사장치는, 표시패널검사를위한작업테이블에설치되는본체; 상기본체에고정된베이스상에조립되는서포터의연장된길이방향을따라순차적으로설치되는복수의클램프를포함하며, 상기복수의클램프의하부에각각컨택터를장착하고지렛대형태의레버가상기클램프를들어올리거나내려상기컨택터를대응되는표시패널에접촉시키는팔레트; 상기본체상에서수직및 수평으로의이동이가능한이동체에장착되며입력되는신호에따라하강또는상승하여상기레버를작동시키는레버푸시부; 및복수의컨택터에연결된각 채널별로전기적신호를인가하여각 표시패널에대한에이징작업및 점등검사를수행하는제어부를포함한다.
摘要翻译：公开了用于AMOLED面板测试的显示面板测试装置及其装置。根据本发明的显示面板测试装置包括：安装在显示面板测试工作台上的主体; 以及托盘，其包括沿着从组装在固定在主体上的基座上的支撑件延伸的纵向方向依次安装的多个夹具。托盘包括安装在夹具下侧的接触器。托盘通过使用杠杆提升或取下夹具，并将接触器与显示面板接触。显示面板测试装置还包括：杠杆推动单元，其安装在能够在垂直和水平方向上在主体上移动的移动物体上，并且根据输入的信号上升和下降来操作杠杆; 以及控制单元，其通过对连接到多个接触器的每个通道施加电信号来对每个显示面板执行老化工作和照明测试。根据本发明，可以根据待测试物体的尺寸，将用于测试小型显示面板的托盘应用于多个通道，从而可以减少测试时间。

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