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1. 发明公开

KR1020060058085A 나노위스커를 통합하는 프로브 구조체, 그 제조 방법, 및나노위스커를 형성하는 방법 无效
标题翻译：纳入纳米器件的探针结构及其生产方法及其制备方法NANOWHISKERS
公开(公告)号：KR1020060058085A
公开(公告)日：2006-05-29
申请号：KR1020067000419
申请日：2004-01-07
申请人： 큐나노 에이비
发明人： 사무엘슨라르스이바르 , 올슨뵈른요나스
IPC分类号： G01Q60/48 , B82Y35/00
CPC分类号： D01F9/08 , G01Q60/54 , G01Q70/12
摘要： A probe structure for a scanning probe microscope comprises a nanowhisker (16,34) projecting from a free end of an upstanding tip member (4,26), and being formed integrally with the tip member. In another embodiment, a data storage medium comprises an array of nanowhiskers (54), each nanowhisker being formed from magnetic material, the diameter of the nanowhisker being such that a single ferromagnetic domain exists within the nanowhisker, preferably having a diameter not greater than about 25 nm and more preferably not greater than about 10 nm, and a read/write structure comprising the probe structure for injecting a stream of spin-polarised electrons into a selected nanowhisker of the array, either for sensing the direction of magnetisation in the nanowhisker, or for forcing the nanowhisker into a desired direction of magnetisation. When the probe nanowhisker is formed by a VLS process using a catalytic particle melt, the whisker may be formed with a sacrificial segment to allow for removal of the catalytic material by selective etching of the segment.
摘要翻译：用于扫描探针显微镜的探针结构包括从直立尖端构件（4,26）的自由端突出并与尖端构件一体地形成的纳米晶须（16,34）。在另一个实施方案中，数据存储介质包括纳米晶须阵列（54），每个纳米晶须由磁性材料形成，纳米晶须的直径使得纳米晶须内存在单个铁磁畴，优选具有不大于约 25nm，更优选不大于约10nm;以及读/写结构，其包括用于将自旋极化电子流注入所述阵列的选定纳米晶须中的探针结构，用于感测纳米晶须中的磁化方向，或迫使纳米晶须进入所需的磁化方向。当通过使用催化颗粒熔体的VLS工艺形成探针纳米晶须时，晶须可以形成有牺牲段，以允许通过选择性蚀刻该段去除催化材料。

2. 发明授权

KR100456369B1 주사형 자기검출장치 및 주사형 자기검출장치용 탐침 失效
标题翻译： 주사형자기검출장치및주사형자기검출장치용탐침
公开(公告)号：KR100456369B1
公开(公告)日：2004-11-10
申请号：KR1020020011393
申请日：2002-03-04
申请人： 홋카이도 유니버시티
发明人： 무카사코이치 , 사와무라마코토 , 수에오카카주히사 , 히로타에이치
IPC分类号： H01J37/256
CPC分类号： G01Q60/54 , G01R33/0385 , Y10S977/865
摘要： 신규한 주사형 자기검출장치 및 이것에 이용되는 탐침을 제공한다.
본 발명의 주사형 자기검출장치는 전기전도성의 스핀편극을 가진 단결정상 고체로부터 탐침을 만든다. 그리하여 이 탐침을 자성시료 표면에 근접시켜서 상기 탐침과 상기 자성시료의 표면과의 사이에 발생하는 터널전류로부터 상기 자성시료 표면의 상태를 검출한다.
摘要翻译：扫描磁检测器包括由具有自旋极化和导电性的单晶固体材料制成的探针。探针接近给定的磁性物质，通过测量探针和磁性物质表面之间的隧道电流来检测磁性物质的表面状态。

3. 发明公开

KR1020060103299A 반금속 산화크롬이 코팅된 원자현미경 탐침 无效
标题翻译： HALF-METAL CRO2涂层原子力显微镜提示
公开(公告)号：KR1020060103299A
公开(公告)日：2006-09-28
申请号：KR1020060076264
申请日：2006-08-11
申请人： 조진형
发明人： 조진형 , 손종역 , 김철환 , 문학범
IPC分类号： G01Q70/16 , G01Q70/14 , G01Q60/40 , G01Q60/54
CPC分类号： G01Q70/16 , G01Q60/40 , G01Q60/54 , G01Q70/14
摘要： 본 발명은 원자현미경에 사용되는 소모품인 탐침의 강도를 높이고 기능성을 갖게 하기 위한 코팅에 관한 것이다.
종래에는 탐침의 강도를 높이기 위해서 다이아몬드 등의 경도가 높은 물질의 코팅을 사용하며, 전도측정을 위해서 금, 백금과 같은 금속의 코팅을 많이 사용하며, 자성 측정을 위해서 아철산염과 같은 자성체의 코팅을 사용하고 있다. 그러나 이 기술로는 탐침의 강도를 높이는 동시에 원자현미경, 자기력현미경(magnetic force microscope)과 전도원자현미경(conducting atomic force micoscope)에 동시에 할 수 없었으나, 본 발명은 탐침의 코팅을 위해 반금속(half-metal) CrO
2 를 사용하므로 탐침의 강도를 높일 수 있는 동시에 원자현미경, 자기력현미경(magnetic force microscope), 전도원자현미경(conducting atomic force micoscope)에 사용 가능한 탐침을 제공한다. 또한 종래에는 원자현미경에 의한 원자현미경, 자기력현미경(magnetic force microscope), 전도원자현미경(conducting atomic force micoscope) 측정 시 용도에 맞게 탐침을 교환하였지만, 본 발명에서 반금속(half-metal) CrO
2 를 코팅한 탐침은 원자현미경, 자기력현미경(magnetic force microscope), 전도원자현미경(conducting atomic force micoscope) 측정에 모두 사용될 수 있으며, 탐침의 경도가 우수하기 때문에 긴 수명을 보이므로 원자현미경의 사용에 있어서 소모품인 탐침에 대한 경제성이 제공된다.
원자현미경, 코팅 탐침, 반금속(half-metal) CrO2 코팅, 높은 강도의 탐침, 전도측정, 자성 측정

4. 发明授权

KR100474844B1 로렌츠력 현미경 및 로렌츠력을 이용한 자구 측정방법 失效
标题翻译：洛仑兹力显微镜和利用洛伦兹力测量磁畴的方法
公开(公告)号：KR100474844B1
公开(公告)日：2005-03-08
申请号：KR1020010077578
申请日：2001-12-08
申请人： 삼성전자주식회사
发明人： 홍승범 , 전종업 , 신현정
IPC分类号： G02B21/00
CPC分类号： G01Q60/54 , G01R33/0385
摘要： 로렌츠력 현미경 및 로렌츠력을 이용한 자구(magnetic domain) 측정방법이 개시된다. 개시된 로렌츠력 현미경은, 자성매체의 자계와 자계내 인가되는 전류의 상호작용에 의한 로렌츠력에 의해 구동되는 도전성 탐침과, 자성매체의 일측에 마련되어 자성매체를 대전시키는 하부전극과, 하부전극이 마련된 자성매체를 지지하며 자성매체를 구동하여 자성매체의 기록면에 대응하는 도전성 탐침이 접촉 또는 비접촉 상태로 자성매체의 기록면을 스캔하도록 하는 스캐너 및, 스캐너를 제어하며 도전성 탐침의 운동성분으로부터 자성매체의 자화에 대한 정보를 검출하는 정보검출부를 구비한다. 본 발명은 도전성 탐침과 자성매체가 접촉 또는 비접촉한 상태에서 탐침에 미치는 로렌츠력의 방향을 감지하여 자구의 자화방향을 검출하므로 해상도가 향상된 자구분포도를 얻을 수 있다.

5. 发明公开

KR1020030004070A 스캐닝 프로브 현미경 无效
标题翻译：扫描探针显微镜
公开(公告)号：KR1020030004070A
公开(公告)日：2003-01-14
申请号：KR1020020036052
申请日：2002-06-26
申请人： 홋카이도 유니버시티
发明人： 고이찌무까사 , 카주히사수에오까 , 나오끼카모 , 히로타카호소이 , 마코또사와무라
IPC分类号： G01Q60/10 , B82Y15/00
CPC分类号： G01Q60/54 , G01Q70/12 , G01Q70/18 , Y10S977/838 , Y10S977/869 , Y10S977/876
摘要： PURPOSE: To provide a scanning probe microscope of novel arrangement applicable to various fields, e.g. biochemical field, for measuring various physical properties. CONSTITUTION: At the forward end part of a probe 2 in the scanning probe microscope, a carbon nanotube 3 having a conductive armchair type crystal structure or a carbon nanotube 3 having a forward end part modified chemically with a specified modifier molecule is provided.
摘要翻译：目的：提供适用于各种领域的新颖布置的扫描探针显微镜，例如生物化学领域，用于测量各种物理性质。构成：在扫描探针显微镜中的探针2的前端部，设置具有导电性扶手椅型晶体结构的碳纳米管3或具有通过特定的改性分子化学改性的前端部的碳纳米管3。

6. 发明公开

KR1020030094034A 자성 나노튜브 无效
标题翻译：磁性纳米管
公开(公告)号：KR1020030094034A
公开(公告)日：2003-12-11
申请号：KR1020030034635
申请日：2003-05-30
申请人： 가부시끼가이샤 히다치 세이사꾸쇼
发明人： 스즈키슈이치 , 히다카키시오 , 하야시바라미츠오
IPC分类号： B82B3/00 , B82Y25/00 , C01B31/02 , G01N13/22
CPC分类号： H01F1/0072 , C01B32/16 , C01B32/168 , C01B2202/02 , C01B2202/06 , C01B2202/20 , G01Q60/54 , G01Q70/12 , G11B5/127 , G11B5/1278 , G11B5/187 , G11B9/1409 , G11B2005/0002 , Y10S428/90 , Y10S977/742 , Y10S977/838 , Y10T428/2933 , Y10T428/2958 , Y10T428/2991 , Y10T428/30 , Y10T428/31 , B82B3/00 , B82Y25/00 , C01B32/05
摘要： 본 발명은, 강자성 금속을 부여할 필요없이 강자성을 발현하고, 또한 높은 열적 안정성을 가지는 카본 나노튜브를 제공하는 것을 목적으로 한다.
이를 위하여 카본 나노튜브에 탄소와 가전자가 다른 원소인 질소를 도핑하고, 한쪽 끝부에 띠형상으로 질소를 편석시키는 것을 특징의 하나로 하고, 이에 의하여 전자밀도의 차를 일으켜, 강자성을 발현시킬 수 있다. 이에 의하여 반드시 자성금속을 설치하는 일 없이 강자성을 가지는 카본 나노튜브를 얻을 수 있다.

7. 发明公开

KR1020020071464A 주사형 자기검출장치 및 주사형 자기검출장치용 탐침 失效
标题翻译：扫描磁性探测器和扫描磁性探测器探测器
公开(公告)号：KR1020020071464A
公开(公告)日：2002-09-12
申请号：KR1020020011393
申请日：2002-03-04
申请人： 홋카이도 유니버시티
发明人： 무카사코이치 , 사와무라마코토 , 수에오카카주히사 , 히로타에이치
IPC分类号： H01J37/256
CPC分类号： G01Q60/54 , G01R33/0385 , Y10S977/865
摘要： PURPOSE: To provide a novel scanning magnetic detector, and a probe used therefor. CONSTITUTION: This detector of the present invention is provided with the probe comprising an electric-conductive single-cystal-like solid having spin polarization. The probe is approached to a surface of a magnetic sample to detect a condition of the surface of the sample based on a tunnel current generated between the probe and the surface of the sample.
摘要翻译：目的：提供一种新型的扫描磁检测器，以及用于其的探针。构成：本发明的检测器具有包含具有自旋极化的导电性单晶状固体的探针。探针接近磁性样品的表面，以根据在探针和样品表面之间产生的隧道电流来检测样品表面的状况。

8. 发明授权

KR100263528B1 교환 상호 작용력의 측정 장치 失效
标题翻译：用于测量交换力的装置
公开(公告)号：KR100263528B1
公开(公告)日：2000-08-01
申请号：KR1019980013437
申请日：1998-04-15
申请人： 홋까이도 유니버시티
发明人： 무까사고이찌 , 하야까와가즈노부 , 스에오까가즈히사 , 나까무라고지 , 다즈께유이찌 , 하세가와히데오 , 오구찌다미오
IPC分类号： G01B7/34
CPC分类号： G01Q60/08 , G01Q60/32 , G01Q60/38 , G01Q60/54 , Y10S977/852
摘要： 시료와 탐침 사이의 교환 상호 작용력을 측정하기 위한 장치에 있어서, 상기 시료와 탐침은 근접 거리로 또는 도전 전자운이 서로 중첩되기 시작하는 거리로부터 국지적으로 존재하는 전자운이 실질적으로 서로 중첩되지 않는 거리까지의 RKKY형 교환 상호 작용 영역만큼 서로 떨어져서 대향된다. 시료와 탐침 사이의 힘만큼 탐침이 시료로 끌리는 것을 방지하기 위해서, 압전 소자가 캔틸레버에 제공되고, 압전 소자로 공급되는 제어 신호가 캔틸레버의 스프링 상수를 제어하기 위해서 캔틸레버의 변위에 따라 생성된다. 시료와 탐침 사이의 교환 상호 작용력은 압전 소자로 공급되는 제어 신호로부터 연산된다.

9. 发明公开

KR1020050093962A 탄소나노튜브 카트리지 제조장치 失效
标题翻译：碳纳米管盒制造单元
公开(公告)号：KR1020050093962A
公开(公告)日：2005-09-26
申请号：KR1020040017847
申请日：2004-03-17
申请人： 한국과학기술원
发明人： 최재성 , 이준석 , 강경수 , 김수현
IPC分类号： B82B3/00 , B82Y15/00
CPC分类号： C01B32/158 , B82Y15/00 , C01B32/16 , G01Q60/16 , G01Q60/38 , G01Q60/54 , G01Q70/12
摘要： 본 발명은 탄소나노튜브 카트리지 제조장치에 있어서, 특히 탄소나노튜브 현탁액과 나이프 에지를 전기적 접촉을 가하여 탄소나노튜브를 탐침의 끝단에 부착하는 탄소나노튜브 팁의 제작에 유용한 탄소나노튜브 카트리지 제조장치에 관한 것으로,
중앙에 일정깊이로 사각형태의 홈을 형성한 Si 기판과; 상기 Si 기판의 상부 및 홈을 따라 일정두께의 절연재료로 도포되는 절연층과; 상기 절연층 상부에 일정두께로 증착되어 유(U)자 형태의 마이크로 채널을 형성하는 도전성 금속전극층과; 상기 도전성 금속 전극층의 상부에 형성되는 마이크로 채널에 채워지며, 내부에 다수개의 탄소나노튜브들이 섞인 탄소나노튜브 현탁액과; 상기 탄소나노튜브 현탁액과 접촉되어 탄소나노튜브를 끝단에 부착하는 나이프와; 상기 도전성 금속 전극층과 나이프를 전기적으로 접속하여 나이프에 탄소나노튜브가 부착되도록 하는 전원공급장치를 포함하는 것이 특징이다.

10. 发明授权

KR100398276B1 전자장치의 표면신호조작용 프로우브 및 그 제조방법 有权
标题翻译： 전자장치의표면신호조작용프로우브및그제조방
公开(公告)号：KR100398276B1
公开(公告)日：2003-09-19
申请号：KR1020007005559
申请日：1999-11-12
申请人： 다이켄카가쿠 코교 가부시키가이샤 , 나카야마 요시카즈
发明人： 나카야마요시카즈 , 아키타세이지 , 하라다아키오
IPC分类号： G01Q70/16
CPC分类号： G01Q60/16 , G01Q60/38 , G01Q60/54 , G01Q70/12 , Y10S977/869 , Y10S977/873 , Y10S977/876
摘要： 주사형 프로우브현미경에 사용할 수 있는 고분해능인 고강성ㆍ고벤딩탄성의 프로우브를 실현하고, 표면원자상을 고분해능으로 촬상할 수 있도록 한다. 또한, 고정밀도의 자기정보처리장치에 사용할 수 있는 고정밀도의 입출력용 프로우브를 실현한다.
이 목적을 달성하기 위하여, 본 발명에 따른 전자장치의 표면신호조작용 프로우브는 나노튜브(24)와, 이 나노튜브(24)를 유지하는 홀더(2A)와, 상기 나노튜브(24)의 선단부(24a)를 돌출시킨 상태에서 그 기단부(24b)를 홀더면에 고착시키는 고정수단으로 구성되고, 상기 나노튜브(24)의 선단부(24a)를 탐침으로 사용한다. 또한, 고정수단의 일예로서 나노튜브(24)의 기단부(24b)를 피복하는 코팅막(24)을 형성한다. 또한, 선단부의 근원측의 중간부(24c)에도 코팅막(30)을 형성하면, 또한 탐침강도와 분해능이 증가한다. 고정수단의 다른 예로서 기단부(24b)를 홀더면에 융착시킨다. 기단부(24b)의 전체 또는 일부가 융착부로 이루어져 나노튜브(24)가 홀더에 강고하게 고착한다.
나노튜브에는 카본나노튜브(CNT), BCN계 나노튜브, BN계 나노튜브 등의 일반의 나노튜브를 사용할 수 있다. 나노튜브는 선단곡률반경이 작기 때문에 고분해능으로 신호를 조작할 수 있고, 또한 강성이나 벤딩탄성이 높기 때문에 매우 파손하기 어려워 수명이 길다. 그리고, 원료값이 싸기 때문에, 고성능의 프로우브를 싼값에 제공할 수 있다. 또한, 이 프로우브를 예컨대, 주사형 터널현미경이나 원자간력현미경의 탐침으로서 사용할 수 있고, 자기디스크장치의 자기헤드로 대체하는 입출력용 프로우브로서도 사용할 수 있다.
摘要翻译：本发明实现了具有高分辨率，高刚性和高弯曲弹性的探针，其可用于扫描探针显微镜并且使得可以以高分辨率拾取表面原子的图像。此外，还实现了可用于高密度磁信息处理设备的高精度输入输出探针。为了实现该目的，本发明的电子设备表面信号操作探针由纳米管24，保持该纳米管24的保持器2a以及将纳米管24的基端部分24b紧固到保持器的表面使得纳米管24的末端部分24a突出; 并且纳米管24的末端部分24a用作探针。此外，作为紧固部件的一个例子，形成覆盖纳米管24的基端部24b的涂膜29。如果在前端部的根部侧的中间部分24c上也形成涂膜30，则探针强度和分辨率进一步提高。作为紧固装置的另一个例子，纳米管24的基端部分24b被熔焊到保持器表面。基部端部24b的全部或一部分形成熔焊部分，使得纳米管24牢固地紧固到保持器。诸如碳纳米管（CNT），BCN型纳米管或BN型纳米管等常见纳米管可以用作上述纳米管。由于纳米管具有较小的尖端曲率半径，信号可以高分辨率操作。此外，由于纳米管具有高刚性和弯曲弹性，因此它们具有极强的抗损伤性并具有长的使用寿命。而且，由于原材料便宜，可以廉价地获得高性能探针。此外，这些探针可以用作扫描隧道显微镜或原子力显微镜中的探针，或者用作磁盘驱动器中磁头的输入输出探针。＆lt;图像＆GT;

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