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热词
    • 4. 发明公开
    • 다중-표준 기저대역 수신기
    • 多标准基带接收机
    • KR1020090130265A
    • 2009-12-21
    • KR1020097025209
    • 2002-08-30
    • 퀄컴 인코포레이티드
    • 펠루소빈센조필립안드레바자르자니세이폴라샤피터이반자페제임스
    • H04W88/06H04B1/40
    • H04B1/16
    • Techniques for processing incoming signals conforming to a plurality of standards or communication formats with a single baseband receive section (220) are disclosed. In one aspect, a plurality of analog processing components are adjusted in response to a format select signal (230), set according to one of a plurality of supported formats or standards. In another aspect, the operating mode of an A/D converter (316)is tuned in response to the format select signal (230). In yet another aspect, the response characteristics of a jammer filter (314) are tuned in response to the format select signal(230). In yet another aspect, the adjustment of the plurality of analog processing components is carried out by varying the frequency of a sample clock (336) in response to the format select signal (230). Various other aspects are also presented. These aspects have the benefit of allowing a single baseband receive section (220) to be deployed to process analog signals conforming to a plurality of communications standards or formats, in a power and area efficient manner.
    • 公开了用于处理符合多个标准或通信格式的输入信号与用于单个基带接收部分(220)的技术。 在一个方面,响应于根据多种支持的格式或标准之一设置的格式选择信号(230)来调整多个模拟处理组件。 在另一方面,A / D转换器(316)的操作模式响应于格式选择信号(230)被调谐。 在另一方面,响应于格式选择信号(230)来调谐干扰滤波器(314)的响应特性。 在另一方面,通过响应于格式选择信号(230)改变采样时钟(336)的频率来执行多个模拟处理组件的调整。 还提出了各种其他方面。 这些方面具有允许单个基带接收部分(220)以功率和区域有效的方式部署以处理符合多个通信标准或格式的模拟信号的好处。
    • 7. 发明公开
    • 금속 산화물 반도체 회로의 설계 및 동작 방법
    • 金属氧化物半导体电路设计及其操作方法
    • KR1020090127432A
    • 2009-12-11
    • KR1020097022736
    • 2008-03-27
    • 퀄컴 인코포레이티드
    • 마오궈칭바자르자니세이폴라
    • H03F1/14B82Y40/00H03F1/52H03F3/45
    • H03F1/14H03F1/523H03F3/45183
    • Complimentary Metal-Oxide-Semiconductor (CMOS) circuits made with core transistors are capable of reliable operation from an IO power supply with voltage that exceeds the reliability limit of the transistors. In embodiments, biasing of an operational amplifier is changed in part to a fixed voltage corresponding to the reliability limit. In embodiments, switched capacitor networks are made with one or more amplifiers and switches including core transistors, but without exposing the core transistors to voltages in excess of their reliability limit. In embodiments, operational transconductance amplifiers (OTAs) include core transistors and operate from IO power supplies. Level shifters for shifting the levels of a power down signal may be used to avoid excessive voltage stress of the OTAs' core transistors during turn-off. Non-level shifting means may be used to clamp output voltages and selected internal voltages of the OTAs, also avoiding excessive voltage stress of the core transistors during turn-off.
    • 由核心晶体管制成的免费金属氧化物半导体(CMOS)电路能够从具有超过晶体管可靠性限制的电压的IO电源进行可靠的工作。 在实施例中,运算放大器的偏置部分地改变为对应于可靠性极限的固定电压。 在实施例中,开关电容器网络由包括核心晶体管的一个或多个放大器和开关制成,但是不将核心晶体管暴露于超过其可靠性限制的电压。 在实施例中,运算跨导放大器(OTA)包括核心晶体管并且从IO电源操作。 用于移动掉电信号电平的电平移位器可以用于避免在关断期间OTAs的核心晶体管的过大的电压应力。 可以使用非电平转换装置来钳位OTA的输出电压和选定的内部电压,同时也避免在关断期间核心晶体管的过大的电压应力。
    • 9. 发明公开
    • 다중 샘플링 시그마-델타 아날로그 디지털 변환기
    • 다중샘플링시그마 - 델타아날로그디지털기
    • KR1020030045073A
    • 2003-06-09
    • KR1020037003917
    • 2001-09-18
    • 퀄컴 인코포레이티드
    • 바자르자니세이폴라
    • H03M1/12
    • H03M3/47H03M3/406H03M3/418H03M3/43H03M3/454
    • 대역통과 은 단일-루프 또는 MASH 아키텍쳐를 사용하며, 공진기는 지연 셀 공진기, 지연 셀 기초 공진기, 포워드-오일러 공진기, 2-경로 인터리빙된 공진기, 또는 4-경로 인터리빙된 공진기중 어느 것으로 구현된다. 공진기는, 능동-RC, gm-C, MOSFET-C, 스위치드 커패시터, 또는 스위치드 전류와 같은 아날로그 회로 기술로 합성될 수 있다. 단일-샘플링, 이중-샘플링, 또는 다중-샘플링 회로를 사용하여, 스위치드 커패시터 또는 스위치드 전류를 설계할 수 있다. 스위치드 커패시터 회로를 사용하는 의 비강제적 조건으로 ADC 은 비용을 최소화하며 소비전력을 감소시키기 위해 CMOS 프로세스로 구현된다. 이중-샘플링 회로는 개량된 정합 및 개량된 내구성을 샘플링 클록 지터에 제공한다. 특히, 대역통과 MASH 4-4 은 CDMA 애플리케이션에 32 의 오버샘플링 비에서 85㏈ 의 시뮬레이팅된 신호-대-잡음비를 제공한다. 또한, 대역통과
    • 使用单环或MASH架构的带通SIGMADELTA ADC,其中谐振器被实现为延迟单元谐振器,基于延迟单元的谐振器,前向欧拉谐振器,双路交错谐振器或四路径 交错谐振器。 谐振器可以用模拟电路技术(如有源RC,gm-C,MOSFET-C,开关电容或开关电流)合成。 开关电容或开关电流电路可以使用单采样,双采样或多采样电路进行设计。 采用开关电容电路的SIGMADELTA ADC的非严格要求允许ADC在CMOS工艺中实现,以最大限度地降低成本并降低功耗。 双采样电路提供了改进的匹配和提高了采样时钟抖动的容限。 具体而言,带通MASH 4-4 SIGMADELTA ADC在CDMA应用的过采样率为32时提供85 dB的模拟信噪比。 带通SIGMADELTA ADC也可以与欠采样一起使用以提供频率下变频。