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1. 发明授权

KR102064381B1 메인 보드 리버스 인터커넥션을 통한 메모리 모듈의 실장 테스트에 사용되고 메모리 소켓의 탈부착이 가능한 메모리 모듈을 수납하는 메인 보드 有权
公开(公告)号：KR102064381B1
公开(公告)日：2020-01-09
申请号：KR1020180130563
申请日：2018-10-30
申请人： 주식회사 우리비전 , 주식회사이은 , 김 건
发明人： 김건
IPC分类号： G01R31/28 , G01R1/04

2. 发明授权

KR102029035B1 메인 보드 리버스 인터커넥션을 통한 메모리 모듈의 실장 테스트에 사용되는 메모리 모듈을 수납하는 메인 보드 有权
公开(公告)号：KR102029035B1
公开(公告)日：2019-10-07
申请号：KR1020180086978
申请日：2018-07-26
申请人： 주식회사 우리비전 , 주식회사이은 , 김 건
发明人： 김건
IPC分类号： G01R1/04 , G01R1/02 , G01R31/28 , G11C29/56

3. 发明授权

KR102012509B1 메모리의 마더보드 실장 테스트용 테스트 장비, 이의 제조 방법 및 이를 포함하는 테스트 시스템 有权
公开(公告)号：KR102012509B1
公开(公告)日：2019-08-20
申请号：KR1020180036110
申请日：2018-03-28
申请人： 주식회사 우리비전 , 주식회사이은 , 김 건
发明人： 김건
IPC分类号： G01R31/28 , G06F11/22

4. 发明公开

KR1020170039845A 다품종 대응형 2차전지 극성변환 충방전장치 有权
公开(公告)号：KR1020170039845A
公开(公告)日：2017-04-12
申请号：KR1020150138890
申请日：2015-10-02
申请人： 김용주 , 주식회사 우리비전 , 김 건 , 주식회사 더센
发明人： 김용주 , 강병혁 , 김건
IPC分类号： H02J7/00 , H01M10/48
摘要： 본발명은다품종대응형 2차전지극성변환충방전장치에관한것으로, 하부배터리탭감지센서가구비되며하부승하강부재가결합된하부접속단자; 상부배터리탭감지센서가구비되며상부승하강부재가결합된상부접속단자; 상기하부및 상부접속단자와일면에결합된승하강부재; 상기승하강부재를좌우이동시키도록연결설치된좌우이동부재; 그리고, 상기좌우이동부재와연결되며, 회전에따라상기좌우이동부재를좌우이동시키는수치제어모터;를포함할수 있다. 또한, 하부및 상부접촉단자에의해 2차전지의극성을확인하여불필요한작업을없이 2차전지를테스트함으로써 2차전지충방전공정에서의생산효율성을높일수 있다.

5. 发明公开

KR1020170038391A 2차전지 충방전 시스템의 프로브 극성 변환 방법 无效
标题翻译：二次电池充放电系统探头极性的转换方法
公开(公告)号：KR1020170038391A
公开(公告)日：2017-04-07
申请号：KR1020150137702
申请日：2015-09-30
申请人： 강병혁 , 김용주 , 주식회사 우리비전 , 김 건
发明人： 강병혁 , 김용주 , 김건
IPC分类号： H02J7/00
摘要： 본발명은 2차전지의극성에구속되지않고프로브를접속시켜 2차전지를충방전시킬수 있는 2차전지충방전시스템의프로브극성변환방법에관한것으로, 제어부를이용하여 2차전지의품종을저장된데이터와비교하는 1차확인작업과센싱에의한 2차확인작업을통해접속된프로브가전압을안정적으로공급함으로써전류량의측정오차와측정정밀도를높이는목적이있다.
摘要翻译：本发明通过连接所述探针未结合于所述极性手指第二腿部的二次电池涉及sikilsu充电和放电的第二站地层放电系统的探针极性转换方法，使用该控制单元，用于与存储在各种手指第二腿部数据比较其目的在于通过一次检查操作和感测通过二次检查操作通过连接的探针稳定地供应电压来增加电流量的测量误差和测量准确度。

6. 发明授权

KR101791883B1 다품종 대응형 2차전지 극성변환 충방전장치 有权
标题翻译：多产品型二次电池极性充放电装置
公开(公告)号：KR101791883B1
公开(公告)日：2017-10-31
申请号：KR1020150138890
申请日：2015-10-02
申请人： 김용주 , 주식회사 우리비전 , 김 건 , 주식회사 더센
发明人： 김용주 , 강병혁 , 김건
IPC分类号： H02J7/00 , H01M10/48
摘要： 본발명은다품종대응형 2차전지극성변환충방전장치에관한것으로, 하부배터리탭감지센서가구비되며하부승하강부재가결합된하부접속단자; 상부배터리탭감지센서가구비되며상부승하강부재가결합된상부접속단자; 상기하부및 상부접속단자와일면에결합된승하강부재; 상기승하강부재를좌우이동시키도록연결설치된좌우이동부재; 그리고, 상기좌우이동부재와연결되며, 회전에따라상기좌우이동부재를좌우이동시키는수치제어모터;를포함할수 있다. 또한, 하부및 상부접촉단자에의해 2차전지의극성을확인하여불필요한작업을없이 2차전지를테스트함으로써 2차전지충방전공정에서의생산효율성을높일수 있다.
摘要翻译：本发明多样化响应二次电池的极性设置在下片电池传感器和连接到电荷的底部的下升降部件的组合和放电端子单元; 上部连接端子，其设置有上部电池抽头检测传感器并与上部上升/下降部件连接; 提升构件，联接到下连接端子和上连接端子的一个表面; 左右移动部件，为了使上下部件向左右方向移动而连接; 数控马达连接到左右移位构件，并且根据该旋转在左右移位构件的左右方向上移动。另外，通过利用下部和上部接触端子检查二次电池的极性并且在没有不必要的工作的情况下测试二次电池，可以提高二次电池放电过程中的生产效率。

7. 发明公开

KR1020110126305A 어드레스 변환을 이용한 반도체 소자 테스트 장치 및 이를 이용한 테스트 방법 无效
标题翻译：用于使用地址转换来测试半导体器件的装置和方法
公开(公告)号：KR1020110126305A
公开(公告)日：2011-11-23
申请号：KR1020100045906
申请日：2010-05-17
申请人： 주식회사이은 , (주)케이디티엘
发明人： 이상식 , 김선환 , 김건
IPC分类号： G01R31/3183 , G01R31/28
摘要： PURPOSE: A semiconductor device testing apparatus using address translation and a testing method using the same are provided to test the booting domain of an object semiconductor device using a signal which includes an offset address. CONSTITUTION: A signal for testing an object semiconductor device is captured(S110). The signal is captured from the main board or the mother board of a mounting tester which performs a mounting test. The object semiconductor device is tested using the signal which is captured(S130). Offset is established by considering the size of a booting domain(S150). An address which is captured by applying the offset is changed into an offset address(S170). The object semiconductor device is tested according to the offset address(S190).
摘要翻译：目的：提供使用地址转换的半导体器件测试装置和使用其的测试方法，以使用包括偏移地址的信号来测试对象半导体器件的引导域。构成：捕获用于测试物体半导体器件的信号（S110）。该信号从执行安装测试的安装测试器的主板或母板捕获。使用捕获的信号测试对象半导体器件（S130）。通过考虑启动域的大小建立偏移量（S150）。通过应用偏移来捕获的地址被改变为偏移地址（S170）。对象半导体器件根据偏移地址进行测试（S190）。

8. 发明公开

KR1020110032410A 테스트 소켓 리사이클링 방법 无效
标题翻译：回收测试插座的方法
公开(公告)号：KR1020110032410A
公开(公告)日：2011-03-30
申请号：KR1020090089885
申请日：2009-09-23
申请人： 주식회사이은 , (주)케이디티엘
发明人： 이상식 , 김건
IPC分类号： G01R31/26 , H01L21/66
CPC分类号： G01R31/2863 , G01R1/0466 , G01R31/01 , G01R31/2886
摘要： PURPOSE: A method for recycling a test socket is provided to remove contaminants accumulated in the uneven sections of a contact by removing the contaminants of the test socket with a rotation brush and an abrasive. CONSTITUTION: In a method for recycling a test socket, a test socket mounted on a mounting tester is separated from a mounting tester(S100). A fixing guide is installed around a test socket(S110). The surface of the test socket is etched by a rotation brush and an abrasive(S120). Contaminants attached to the test socket are removed(S130). The contact of the test socket is plated(S140). The fixing guide is removed(S150).
摘要翻译：目的：提供一种回收测试插座的方法，通过用旋转刷和研磨剂去除测试插座的污染物，以去除积聚在接触不平坦部分中的污染物。规定：在回收测试插座的方法中，安装在安装测试仪上的测试插座与安装测试仪分离（S100）。固定导轨安装在测试插座周围（S110）。通过旋转刷和研磨剂来蚀刻测试插座的表面（S120）。附着在测试插座上的污染物被去除（S130）。测试插座的触点电镀（S140）。拆下固定导板（S150）。

9. 发明公开

KR1020100025088A 기준 ＤＵＴ 보드 및 이를 이용한 반도체 소자의 실장 테스터 失效
标题翻译：测试板下的参考设备和使用该测试板的半导体器件应用测试仪
公开(公告)号：KR1020100025088A
公开(公告)日：2010-03-09
申请号：KR1020080083707
申请日：2008-08-27
申请人： 주식회사이은
发明人： 이상식 , 이인엽 , 함병구 , 이인철 , 이유용 , 김건
IPC分类号： G01R31/3187 , G01R31/26 , H01L21/66
CPC分类号： G01R31/2601 , G01R1/0433 , G01R31/2801 , G01R31/2851 , H01L22/30
摘要： PURPOSE: A reference DUT(Device Under Test) board and a semiconductor device application tester using the same are provided to test a plurality of DUTs quickly without an interference of an external signal by distributing record data and reference data to a test performing unit through a test signal distributer. CONSTITUTION: A reference DUT board(100) is installed on the rear side of a motherboard. A reference DUT is equipped. A controller(200) records log data in the reference DUT. The reference date saved in the standards DUT is deciphered. A test signal division unit(300) distributes record data received a message from controller and the reference date which controller deciphered. A test run part(400) receives the record data and the reference date. A plurality of DUTs are tested.
摘要翻译：目的：提供参考DUT（被测设备）板和使用其的半导体器件应用测试仪，通过将测试执行单元分配记录数据和参考数据通过一个测试信号分配器。规定：在主板背面安装参考DUT板（100）。配备了参考DUT。控制器（200）将参考DUT中的日志数据记录下来。保存在标准DUT中的参考日期被解密。测试信号分割单元（300）分配从控制器接收到的消息的记录数据和解密的控制器的参考日期。测试运行部分（400）接收记录数据和参考日期。测试了多个DUT。

10. 发明公开

KR1020100118827A 메모리 반도체 소자의 검사 모듈 无效
标题翻译：半导体存储器件的测试模块
公开(公告)号：KR1020100118827A
公开(公告)日：2010-11-08
申请号：KR1020090037727
申请日：2009-04-29
申请人： 주식회사이은
发明人： 이상식 , 김건
IPC分类号： G01R31/26 , H01L21/66
CPC分类号： G01R31/2863 , G01R1/0466 , G01R31/2879 , G01R31/2884 , G01R31/2896
摘要： PURPOSE: A test module for semiconductor memory device is provided to inspect a memory device on a mother board of an application tester by including a housing for securing a memory module printed circuit board and a cover. CONSTITUTION: A memory module printed circuit board(1) is installed with a socket contacting a memory semiconductor device. A housing(2) secures the memory module printed circuit board. The housing comprises a front housing(30) positioned on the front side of the printed circuit board and a rear housing(20).
摘要翻译：目的：提供一种用于半导体存储器件的测试模块，用于通过包括用于固定存储器模块印刷电路板和盖子的外壳来检查应用测试仪的母板上的存储器件。构成：存储器模块印刷电路板（1）安装有与存储器半导体器件接触的插座。外壳（2）固定内存模块印刷电路板。壳体包括位于印刷电路板的前侧上的前壳体（30）和后壳体（20）。

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