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1. 发明公开

KR1020070056098A 시험 장치 및 시험 방법 失效
标题翻译：测试设备和测试方法
公开(公告)号：KR1020070056098A
公开(公告)日：2007-05-31
申请号：KR1020077006327
申请日：2005-07-20
申请人： 주식회사 아도반테스토
发明人： 도이마사루
IPC分类号： G01R31/28 , G01R31/3183
CPC分类号： G11C29/36 , G01R31/31917 , G01R31/3193 , G11C16/0483 , G11C29/56 , G11C2029/2602 , G11C2029/3602
摘要： 복수의 피시험 디바이스를 시험하는 시험 장치에 있어서, 복수의 피시험 디바이스에 공통인 시험 신호의 패턴을 발생시키는 공통 패턴 발생부와, 피시험 디바이스마다 설치되며, 출력되는 결과 신호와 기준 전압의 비교 결과가 기대치와 일치하는가 아닌가를 판정하는 논리 비교부와, 비교 결과가 기대치와 일치하는 경우 및 일치하지 않는 경우의 각각에 있어서, 공통 패턴에 부가하여야 할 부가 패턴을 미리 격납하고 있는 부가 패턴 격납부와, 피시험 디바이스마다 설치되며, 비교 결과가 기대치와 일치하는가 아닌가에 기초하여, 당해 피시험 디바이스에 개별적인 부가 패턴을 독출하고, 공통 패턴에 부가하여 피시험 디바이스에 제공하는 개별 패턴 부가부를 포함하는 시험 장치를 제공한다.
시험, 에뮬레이션, 시뮬레이션, 반도체 디바이스

2. 发明公开

KR1020050065569A 멀티 스트로브 장치, 시험 장치 및 조정 방법 有权
标题翻译：多级设备，测试设备和调整方法
公开(公告)号：KR1020050065569A
公开(公告)日：2005-06-29
申请号：KR1020057005608
申请日：2003-09-22
申请人： 주식회사 아도반테스토
发明人： 사토신야 , 수도우사토시 , 도이마사루
IPC分类号： G01R31/28
CPC分类号： G01R31/31932
摘要： a driver comparator capable of generating an adjustment signal at a timing when each of strobes is generated; a strobe generation circuit for generating strobes; and an adjustment section for adjusting the timing when each of the strobes is generated by the strobe generation circuit according to the adjustment signal.
摘要翻译：驱动器比较器，其能够在产生每个选通脉冲的定时产生调整信号; 用于产生频闪的选通发生电路; 以及调整部分，用于根据调节信号调整每个选通脉冲由选通发生电路产生的定时。

3. 发明公开

KR1020040074982A 시험장치 有权
公开(公告)号：KR1020040074982A
公开(公告)日：2004-08-26
申请号：KR1020047006942
申请日：2002-11-07
申请人： 주식회사 아도반테스토
发明人： 도이마사루 , 사토신야
IPC分类号： G01R31/28
CPC分类号： G11C29/56004 , G01R31/31922 , G01R31/31928 , G01R31/31937 , G11C29/56
摘要： 전자 디바이스를 시험하는 시험 장치에 있어서, 전자 디바이스를 시험하기 위한 시험 패턴을 발생시키는 패턴 발생부와, 기준 클록을 발생시키는 기준 클록 발생부와, 타이밍을 발생시키는 타이밍 발생기와, 전자 디바이스가 상기 시험 패턴에 기초하여 출력하는 출력 신호를 타이밍 발생기가 발생시킨 타이밍으로 샘플링하는 출력 신호 샘플링 회로를 포함하되, 타이밍 발생기는 기준 클록을 수취하여 기준 클록을 지연시켜 출력하는 가변 지연 회로부와, 가변 지연 회로부에 있어서의 지연량을 제어하는 지연 제어부를 포함하며, 지연 제어부는 기본 타이밍 데이터와 기본 타이밍 데이터보다 작은 가변 지연량에 기초하여 지연량을 제어한다.

4. 发明授权

KR101162793B1 시험 장치 및 시험 방법 失效
标题翻译：测试设备和测试方法
公开(公告)号：KR101162793B1
公开(公告)日：2012-07-05
申请号：KR1020077006327
申请日：2005-07-20
申请人： 주식회사 아도반테스토
发明人： 도이마사루
IPC分类号： G01R31/28 , G01R31/3183
CPC分类号： G11C29/36 , G01R31/31917 , G01R31/3193 , G11C16/0483 , G11C29/56 , G11C2029/2602 , G11C2029/3602
摘要： 복수의 피시험 디바이스를 시험하는 시험 장치에 있어서, 복수의 피시험 디바이스에 공통인 시험 신호의 패턴을 발생시키는 공통 패턴 발생부와, 피시험 디바이스마다 설치되며, 출력되는 결과 신호와 기준 전압의 비교 결과가 기대치와 일치하는가 아닌가를 판정하는 논리 비교부와, 비교 결과가 기대치와 일치하는 경우 및 일치하지 않는 경우의 각각에 있어서, 공통 패턴에 부가하여야 할 부가 패턴을 미리 격납하고 있는 부가 패턴 격납부와, 피시험 디바이스마다 설치되며, 비교 결과가 기대치와 일치하는가 아닌가에 기초하여, 당해 피시험 디바이스에 개별적인 부가 패턴을 독출하고, 공통 패턴에 부가하여 피시험 디바이스에 제공하는 개별 패턴 부가부를 포함하는 시험 장치를 제공한다.
시험, 에뮬레이션, 시뮬레이션, 반도체 디바이스

5. 发明公开

KR1020050074473A 시험장치 및 시험방법 失效
标题翻译：测试设备和测试方法
公开(公告)号：KR1020050074473A
公开(公告)日：2005-07-18
申请号：KR1020057005786
申请日：2003-09-30
申请人： 주식회사 아도반테스토
发明人： 타나카코우이치 , 도이마사루 , 사토신야
IPC分类号： G01R31/28
CPC分类号： G01R31/31928 , G01R31/31922
摘要： a timing generation section for successively generating a plurality of timing signals indicating different timings during a test of a setup test or a hold test according to a first offset value given before start of the setup test or the hold test; a pattern generation section for generating a clock signal and a data signal; a waveform shaping section for successively shifting a data signal phase for a clock signal according to the timing signal successively generated and successively supplying the clock signal and the phase-shifted data signal to the device to be tested; and a judgment section for calculating the setup time or hold time of the device to be tested according to the storage data containing the data signal stored by the device to be tested.
摘要翻译：定时产生部分，用于在建立测试或保持测试的测试期间根据在建立测试或保持测试开始之前给出的第一偏移值连续生成指示不同定时的多个定时信号; 用于产生时钟信号和数据信号的模式产生部分; 波形整形部分，用于根据连续生成的定时信号连续地移位数据信号相位，并将时钟信号和相移数据信号依次提供给被测器件; 以及判断部分，用于根据包含被测试装置存储的数据信号的存储数据来计算待测试装置的建立时间或保持时间。

6. 发明授权

KR101052458B1 시험장치 및 시험방법 失效
标题翻译：测试仪器和测试方法
公开(公告)号：KR101052458B1
公开(公告)日：2011-07-28
申请号：KR1020057005786
申请日：2003-09-30
申请人： 주식회사 아도반테스토
发明人： 타나카코우이치 , 도이마사루 , 사토신야
IPC分类号： G01R31/28
CPC分类号： G01R31/31928 , G01R31/31922
摘要： 셋업 시험 또는 홀드 시험의 개시 전에 미리 인가된 제1 오프셋 값에 기초해서, 다른 타이밍을 나타내는 복수의 타이밍 신호를, 셋업 시험 또는 홀드 시험의 시험 중에 순차 생성하는 타이밍 발생부와, 클록 신호 및 데이터 신호를 생성하는 패턴 발생부와, 클록 신호에 대한 데이터 신호의 위상을, 순차 생성된 타이밍 신호에 따라 순차 시프트하고, 클록 신호 및 위상 시프트된 데이터 신호를 피시험 디바이스에 순차 공급하는 파형 정형부, 및 피시험 디바이스가 상기 데이터 신호를 기억한 기억 데이터에 기초해서, 피시험 디바이스의 셋업 타임 또는 홀드 타임을 산출하는 판정부를 포함하는 시험장치를 제공한다.
셋업 타임, 홀드 타임, 오프셋 값, 전자 디바이스
摘要翻译：设置测试或预施加的第一偏移值的保持测试开始前的基础上，其他的指示的定时，建立测试或保持测试发生器，该时钟信号的检查的顺序产生定时和所述数据信号的多个时序信号的和图案生成单元，用于生成用于所述时钟信号中的数据信号的相位，顺序移位的波形，并且顺序地提供时钟信号和所述相移的数据按照生成的定时信号整形单元序列下测试信号提供给设备，并以及确定单元，用于基于所存储的数据来计算被测设备的设置时间或保持时间，其中被测设备存储数据信号。

7. 发明授权

KR100910669B1 시험장치 有权
标题翻译：测试仪器
公开(公告)号：KR100910669B1
公开(公告)日：2009-08-04
申请号：KR1020047006942
申请日：2002-11-07
申请人： 주식회사 아도반테스토
发明人： 도이마사루 , 사토신야
IPC分类号： G01R31/28
CPC分类号： G11C29/56004 , G01R31/31922 , G01R31/31928 , G01R31/31937 , G11C29/56
摘要： 전자 디바이스를 시험하는 시험 장치에 있어서, 전자 디바이스를 시험하기 위한 시험 패턴을 발생시키는 패턴 발생부와, 기준 클록을 발생시키는 기준 클록 발생부와, 타이밍을 발생시키는 타이밍 발생기와, 전자 디바이스가 상기 시험 패턴에 기초하여 출력하는 출력 신호를 타이밍 발생기가 발생시킨 타이밍으로 샘플링하는 출력 신호 샘플링 회로를 포함하되, 타이밍 발생기는 기준 클록을 수취하여 기준 클록을 지연시켜 출력하는 가변 지연 회로부와, 가변 지연 회로부에 있어서의 지연량을 제어하는 지연 제어부를 포함하며, 지연 제어부는 기본 타이밍 데이터와 기본 타이밍 데이터보다 작은 가변 지연량에 기초하여 지연량을 제어한다.

시험, 장치, 클록, 지터

8. 发明授权

KR100860647B1 타이밍 발생기 및 시험 장치 有权
标题翻译：定时发生器和测试仪器
公开(公告)号：KR100860647B1
公开(公告)日：2008-09-26
申请号：KR1020047006943
申请日：2002-11-07
申请人： 주식회사 아도반테스토
发明人： 도이마사루 , 사토신야
IPC分类号： G01R31/3183
CPC分类号： G01R31/31709 , G01R31/31922 , G01R31/31937 , G11C29/12015 , G11C29/14 , G11C29/50012
摘要： 기준 클록을 출력하는 기준 클록 발생부와, 기준 클록을 지연시킨 제1 지연 신호를 출력하는 제1 가변 지연 회로부와, 기준 클록을 지연시킨 제2 지연 신호를 출력하는 제2 가변 지연 회로부와, 제1 가변 지연 회로부 및 제2 가변 지연 회로부에 있어서의 지연량을 제어하는 지연 제어부와, 제1 지연 신호와 제2 지연 신호에 기초하여 타이밍 신호를 생성하는 타이밍 생성부를 포함하되, 지연 제어부는 제1 가변 지연 회로부 및 제2 가변 지연 회로부에 있어서의 지연량을 기준 클록 발생부가 기준 클록을 발생시킬 때마다, 증가 또는 감소시키는 것을 특징으로 하는 타이밍 발생기를 제공한다.

타이밍, 발생, 시험

9. 发明公开

KR1020070053775A 시험 장치, 및 시험 방법 无效
标题翻译：测试仪器和测试方法
公开(公告)号：KR1020070053775A
公开(公告)日：2007-05-25
申请号：KR1020077006506
申请日：2005-07-26
申请人： 주식회사 아도반테스토
发明人： 도이마사루
IPC分类号： G01R31/3183
CPC分类号： G01R31/31919 , G01R31/319 , G01R31/31932
摘要： 반도체 디바이스를 시험하는 시험 장치에 있어서, 반도체 디바이스를 시험하기 위한 파형 정보를 순차적으로 독출하여 출력하는 패턴 발생부와, 패턴 발생부가 순차적으로 출력하는 파형 정보로부터 파형을 형성하는 파형 발생부와, 패턴 발생부가 출력하는 매치 검출 요구 사이클에 따라, 반도체 디바이스가 출력하는 출력 신호와, 기대값 패턴이 일치하는지를 검출하는 매치 검출부와, 출력 신호와 기대값 패턴이 일치한 경우에, 매치 검출 요구 사이클을 종료시키고, 패턴 발생부로 하여금 다음의 파형 정보의 발생을 행하도록 하는 인터럽트부를 포함하는 시험 장치를 제공한다.
시험 장치, 반도체 디바이스, 파이프 라인, 기대값 패턴, 매치, 주기

10. 发明公开

KR1020050095632A 검출 장치, 검출 방법, 및 프로그램 有权
标题翻译：检测装置，检测方法和程序
公开(公告)号：KR1020050095632A
公开(公告)日：2005-09-29
申请号：KR1020057013899
申请日：2004-02-04
申请人： 주식회사 아도반테스토
发明人： 도이마사루
IPC分类号： G01R31/319
CPC分类号： G01R31/31932 , G01R31/31922 , G01R31/31924
摘要： a change point detection section for receiving an output signal from an electronic device and detecting a change point; a timing comparison section for detecting a signal level of the output signal before or after the change point in the output signal; and a correction section for correcting the timing of the change point detected by the change point detection section according to the signal level of the output signal detected by the timing comparison section.
摘要翻译：变化点检测部分，用于接收来自电子设备的输出信号并检测变化点; 定时比较部分，用于检测在输出信号中的变化点之前或之后的输出信号的信号电平; 以及校正部分，用于根据由定时比较部分检测到的输出信号的信号电平来校正由变化点检测部分检测到的变化点的定时。

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