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热词
    • 1. 发明授权
    • 양방향 촬상 광학장치
    • KR101127886B1
    • 2012-03-22
    • KR1020100048067
    • 2010-05-24
    • 주식회사 쎄크
    • 류기웅이태영박덕수
    • H01L21/60H04N5/225
    • 본 발명은 동축 조명을 조사하여 하우징에 설치된 프리즘, 한 쌍의 미러 및 한 쌍의 렌즈유닛을 통해 입사된 서브스트레이트의 표면과 다이 표면의 패턴을 동시에 촬영하는 한 쌍의 카메라유닛을 구비하는 양방향 촬상 광학장치에 관한 것이다.
      상기 본 발명은 상기 하우징이 상면부와 상기 상면부에서 연장된 전방/후방/좌측/우측 측벽을 가지며, 상기 상면부의 내측면에는 상기 한 쌍의 미러를 지지하는 한 쌍의 미러 지지블록과, 상기 한 쌍의 렌즈유닛의 전단부를 조정 가능하게 지지하는 한 쌍의 제1 및 제2 조정블록이 각각 장착되며, 상기 전방 측벽의 내측면에는 상기 프리즘을 지지하는 프리즘 지지블록이 장착되고, 상기 후방 측벽의 외측면에는 상기 한 쌍의 렌즈유닛의 후단부를 고정하기 위한 한 쌍의 클램프가 장착되며, 상기 상면부의 내측면이 상면부의 외측면에 대하여 평행하게 형성되고, 상기 전방 측벽의 내측면과 후방 측벽의 외측면이 상기 상면부의 외측면에 대하여 각각 수직을 이루며, 상기 전방 측벽의 내측면과 후방 측벽의 외측면은 상호 평행을 이루는 것을 특징으로 한� ��.
    • 3. 发明公开
    • 인라인 CT 검사시스템 및 그 검사방법
    • 内联计算机检查系统及其使用方法
    • KR1020110088139A
    • 2011-08-03
    • KR1020100007902
    • 2010-01-28
    • 주식회사 쎄크
    • 김영만김선택최광남윤여송박병준오현명류기웅김종현
    • G01B11/24H05K13/08
    • PURPOSE: Inline CT inspection system and method are provided to reduce inspection hours by partial scanning of a target and parallel processing of partial image data taken through the scanning by a plurality of cores in a parallel processing unit. CONSTITUTION: An inline CT inspection system comprises a CT unit(30), an image processing unit(95), a loading unit(10), an unloading unit(70) and a control unit(90). The CT unit takes CT images of a target, an electronic part, such as semiconductor. The image processing unit parallel-processes a plurality of partial image data taken by the CT unit, with a plurality of cores in a parallel processing unit. The image processing unit re-organizes the parallel-processed data as tomography images. The image processing unit corrects slope of the tomography image, compares the images with pre-stored standard images and determines quality of the target.
    • 目的:提供在线CT检查系统和方法,以通过对目标进行部分扫描来减少检查时间,并且通过并行处理单元中的多个核心对通过扫描拍摄的部分图像数据进行并行处理。 构成:在线CT检查系统包括CT单元(30),图像处理单元(95),加载单元(10),卸载单元(70)和控制单元(90)。 CT单元接收靶的CT图像,半导体等电子部件。 图像处理单元将并行处理单元中的多个核并行处理由CT单元取得的多个部分图像数据。 图像处理单元将并行处理的数据重新组织为断层图像。 图像处理单元校正断层摄影图像的斜率,将图像与预先存储的标准图像进行比较并确定目标的质量。
    • 4. 发明公开
    • 반도체 칩 반전장치
    • 用于半导体芯片的移动装置和使用它的方法
    • KR1020110019160A
    • 2011-02-25
    • KR1020090076764
    • 2009-08-19
    • 주식회사 쎄크
    • 류기웅박덕수이상률
    • H01L21/677H01L21/52H01L23/12
    • H01L21/67144H01L21/52H01L21/67721H01L21/67754H01L21/6838H01L23/12H05K13/0408
    • PURPOSE: A semiconductor chip flipping device and a flipping method using the same are provided to implement flip and non-flip operations by including a flip unit and a non-flip unit in a single device. CONSTITUTION: A flip unit(10) absorbs a semiconductor chip from a wafer and inverts the semiconductor chip with 180 degrees. A non-flip unit(30) absorbs the semiconductor chip inverted by the flip unit and inverts the semiconductor chip again. A pickup unit(50) includes a vertical picker which absorbs the semiconductor chip from the flip unit or non-flip unit. The pickup unit settles the semiconductor chip on the bus for the transfer to the semiconductor chip mounter absorbed by the vertical picker. The semiconductor chip inverted by the flip unit is selectively inverted again by the non-flip unit.
    • 目的:提供半导体芯片翻转装置和使用其的翻转方法,以通过在单个装置中包括翻转单元和非翻转单元来实现翻转和非翻转操作。 构成:翻转单元(10)从晶片吸收半导体芯片并使半导体芯片以180度反转。 非翻转单元(30)吸收由翻转单元反相的半导体芯片,并再次反转半导体芯片。 拾取单元(50)包括垂直拾取器,其从翻转单元或非翻转单元吸收半导体芯片。 拾取单元将半导体芯片放置在总线上,用于传送到由垂直拾取器吸收的半导体芯片安装器。 由翻转单元反相的半导体芯片由非翻转单元再次选择性地反转。
    • 6. 发明公开
    • 엑스-레이 검사장치
    • X光检查仪
    • KR1020150040096A
    • 2015-04-14
    • KR1020130118677
    • 2013-10-04
    • 주식회사 쎄크
    • 류기웅박덕수서태호
    • G01N23/04
    • G01N23/043G01N2223/1016G01N2223/3307G01N2223/501G01N2223/6113H04N5/32
    • 본발명은엑스-레이검사장치에관한것으로서, 엑스-레이를차폐하는캐비넷; 상기캐비넷의내부에설치되며, 피검사대상물을파지하고상기피검사대상물의위치를변화시키는위치이동유닛; 상기피검사대상물의하측에설치되며, 상기피검사대상물에엑스-레이를조사하는엑스-레이발생장치; 상기피검사대상물의상측에설치되며, 상기피검사대상물을투과한상기엑스-레이를검출하여상기피검사대상물의영상을촬상하는복수개의엑스-레이디텍터; 및상기위치이동유닛, 상기엑스-레이발생장치, 및상기복수개의엑스-레이디텍터를제어하는제어부;를포함한다.
    • 本发明涉及一种包括屏蔽X射线的机壳的X射线检查装置, 安置在所述机壳内的位置移动单元,以抓住检查目标物体并改变所述检查对象物体的位置; 安装在检查对象物体下方的X射线发生器,将X射线发射到检查对象物体上; 多个X射线检测器,其安装在检查对象物体上方,检测穿过检查对象物体的X射线并拍摄检查对象物的图像; 以及用于控制位置移动单元,X射线发生器和多个X射线检测器的控制部分。
    • 7. 发明公开
    • 릴 장치 및 이를 이용한 필름로딩장치
    • 使用该装置的卷纸装置和胶片装载装置
    • KR1020100088312A
    • 2010-08-09
    • KR1020090007452
    • 2009-01-30
    • 주식회사 쎄크
    • 류기웅이상률
    • B65H18/04B65H18/02H01L21/00
    • B65H18/28B65H2301/4127
    • PURPOSE: A reel apparatus and a film loading device using the same are provided to minimize a pause interval by continuously supplying wound films to the other supply reel. CONSTITUTION: A reel apparatus comprises a supply reel(210), a winding reel(230), and a driving unit. A film is wound around the supply reel. The winding reel is arranged in the supply reel, and a protective film separated from the film is wound around the winding reel. The driving unit powers the supply reel and the winding reel. The protective film is transferred from the supply reel to the winding reel. Multiple guide rollers are arranged near the supply reel.
    • 目的:提供一种卷轴装置和使用该卷筒装置的胶片装载装置,通过将缠绕膜连续地供应到另一个供应卷轴来最小化暂停间隔。 构成:卷轴装置包括供带盘(210),卷绕卷轴(230)和驱动单元。 电影卷绕在供应卷轴周围。 卷绕卷轴布置在供带盘上,并且与卷膜分离的保护膜缠绕在卷绕卷轴上。 驱动单元为供带盘和卷绕卷轴供电。 保护膜从供带盘传送到卷绕卷轴。 供应卷轴附近布置有多个导辊。
    • 9. 发明授权
    • SMT 인라인용 자동 엑스선 검사장치
    • 自动X射线检测仪表面贴装技术在线
    • KR101181845B1
    • 2012-09-11
    • KR1020110139909
    • 2011-12-22
    • 주식회사 쎄크
    • 김종현김만석류기웅류기준
    • G01N23/04G01B15/00
    • G01N23/046G01N2223/419H01J37/18
    • PURPOSE: An automatic X-ray inspection device for an SMT inline is provided to use a flat cable or comprises a slip ring and an umklappen blush, thereby minimizing interferences with respect to the rotation of a stage unit. CONSTITUTION: An automatic X-ray inspection device for an SMT inline comprises a stage unit(50), an X-ray vacuum tube(10), and a detector(30). The stage unit supports an object to be attached/detached. Coplanar movements to an X-axis and Y-axis and the rotation of the stage unit is possible. The Z-ray vacuum is arranged in the lower part of the stage unit and irradiates X-rays to the object set on the stage unit. The detector is arranged to be detoured toward one side on the upper part of the stage unit. The detector detects the X-rays transmitted through the object.
    • 目的:提供用于SMT在线的自动X射线检查装置,以使用扁平电缆或包括滑环和umklappen腮红,从而最小化相对于平台单元的旋转的干扰。 构成:用于SMT在线的自动X射线检查装置包括台单元(50),X射线真空管(10)和检测器(30)。 舞台单元支持要附接/分离的对象。 对X轴和Y轴的平面运动以及平台单元的旋转是可能的。 Z射线真空设置在舞台装置的下部,并将X射线照射到舞台装置上的物体上。 检测器被布置成朝着舞台单元的上部的一侧弯曲。 检测器检测透过物体的X射线。