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    • 3. 发明公开
    • 반도체 소자 및 이의 제조 방법
    • 半导体装置及其制造方法
    • KR1020160122908A
    • 2016-10-25
    • KR1020150052551
    • 2015-04-14
    • 삼성전자주식회사
    • 박수혜김윤해배덕한장재란전휘찬
    • H01L29/423H01L29/66
    • H01L27/088H01L21/823475H01L23/485H01L27/0207H01L27/092
    • 본발명은전계효과트랜지스터를포함하는반도체소자에관한것으로, 보다구체적으로그의상부에활성패턴들을포함하는기판; 상기활성패턴들을가로지르며상기기판의상면에평행한제1 방향으로연장되는게이트전극들; 상기게이트전극들사이의상기활성패턴들의상부들에각각형성된소스/드레인영역들; 상기게이트전극들사이에서상기소스/드레인영역들과각각전기적으로연결되는제1 콘택들및 제2 콘택들을포함할수 있다. 이때, 각각의상기제1 콘택들의콘택중심선은, 상기각각의제1 콘택들과대응하는게이트중심선과제1 거리만큼이격되고, 각각의상기제2 콘택들의콘택중심선은, 상기각각의제2 콘택들과대응하는게이트중심선과제2 거리만큼이격되며, 상기제1 거리와상기제2 거리는서로다를수 있다.
    • 包括场效应晶体管的半导体器件技术领域本发明涉及一种包括场效应晶体管的半导体器件,并且更具体地,涉及一种包括衬底的半导体器件, 栅电极,在第一方向上延伸穿过有源图案并平行于衬底的上表面; 各自形成在栅电极之间的有源图案的顶部上的源极/漏极区; 并且第一和第二触点分别电连接到栅电极之间的源/漏区。 此时,每一个所述第一接触的接触中心线间隔开的由与相应的第一接触,每个所述每个第二触头的第二接触的接触中心线对应栅极中心线任务1的距离 第一距离和第二距离可以彼此不同。