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    • 예시적인실시예들에따른광학측정시스템은검사대상체의표면에입사시키기위한평행광을생성하고평행광의파장을가변할수 있는평행광생성부, 평행광의경로상에위치하여소정의회전각으로회전가능하도록구비되어평행광의파장및 회전각에따라검사대상체의표면에대한평행광의입사각및 입사위치를각각변경할수 있는회전격자, 및회전격자를통과한평행광이입사각및 입사위치로검사대상체의표면에입사및 반사하여생성되는반사광을수집하는수집부를포함할수 있다. 파장을가변하고회전격자를회전시켜검사대상체의표면에대한평행광의입사각및 입사위치를변경할수 있기때문에, 빠른속도로검사대상체의표면을검사할수 있다. 광학측정시스템의결점검출효율이높일수 있고반도체생산공정의전체효율및 생산성을높일수 있다.
    • 根据本发明的实施例的光学测量系统可以包括:平行光产生部分,其产生入射到待测试物体的表面的平行光,并且可以改变平行光的波长; 旋转光栅,其可以根据旋转角度和平行光的波长相对于待测试物体的表面改变平行光的入射角和入射位置,被配置为可以以固定的旋转角度旋转 同时位于平行光的路径上; 并且收集通过经过旋转光栅的平行光产生的反射光的收集部分入射到入射角和入射位置的待测试物体表面并从其反射。 光学测量系统可以快速测试被测物体的表面,因为光学测量系统可以通过改变波长来改变平行光相对于待测物体表面的入射角和入射位置, 旋转旋转光栅。 此外,本发明可以提高光学测量系统的缺陷检测效率,并且可以提高半导体生产过程的总效率和生产率。