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1. 发明授权

KR102090159B1 표시 패널 및 이의 제조 방법 有权
公开(公告)号：KR102090159B1
公开(公告)日：2020-03-18
申请号：KR1020130142570
申请日：2013-11-22
申请人： 삼성디스플레이 주식회사
发明人： 홍지윤 , 김준걸 , 이진원 , 김기원
IPC分类号： G02F1/136 , G09F9/35 , G02F1/1345

2. 发明公开

KR1020150142902A 디스플레이 패널의 리페어 장치 및 디스플레이 패널의 리페어 방법 审中-实审
标题翻译：用于显示装置的修理装置和修复装置的修复方法
公开(公告)号：KR1020150142902A
公开(公告)日：2015-12-23
申请号：KR1020140071490
申请日：2014-06-12
申请人： 삼성디스플레이 주식회사
发明人： 김준걸
IPC分类号： H01L27/32 , H01L21/268 , H01L21/324 , H01L21/66
CPC分类号： H01L51/56 , C23C16/48 , H01L27/3244 , H01L2251/556 , H01L2251/568
摘要： 본발명은디스플레이패널의리페어장치및 디스플레이패널의리페어방법을개시한다. 본발명은, 디스플레이패널의결함부위및 상기결함부위의주변에레이저를분사하여상기결함부위및 상기결함부위의주변을식각하는레이저분사유닛과, 상기레이저분사유닛과대향하도록배치되어상기결함부위의온도및 상기결함부위의주변의온도중 적어도하나를조절하는가이드유닛을포함한다.
摘要翻译：本发明公开了一种显示面板的修理装置及显示面板的修理方法。本发明包括：将激光照射到显示面板的缺陷部分和缺陷部分的周边部分并蚀刻缺陷部分和周边部分的激光照射部分; 以及与激光照射部对置并控制缺陷部的温度和缺陷部的周边温度之一的引导部。

3. 发明公开

KR1020150062186A 박막 트랜지스터 표시판 및 그 제조 방법 审中-实审
标题翻译：薄膜晶体管板及其制造方法
公开(公告)号：KR1020150062186A
公开(公告)日：2015-06-08
申请号：KR1020130145937
申请日：2013-11-28
申请人： 삼성디스플레이 주식회사
发明人： 최영주 , 김준걸 , 정승호 , 조강문
IPC分类号： H01L29/786 , H01L21/336 , G02F1/1368
CPC分类号： H01L29/7869 , H01L27/1225 , H01L27/124 , H01L27/1259 , H01L29/45 , H01L29/66742 , H01L29/66969 , H01L29/78618 , H01L29/78696 , G02F1/1368 , H01L29/41733 , H01L29/78606
摘要： 본발명의일 실시예에따른박막트랜지스터표시판은절연기판, 절연기판위에배치되어있으며, 게이트전극을포함하는게이트선, 절연기판위에배치되어있으며, 게이트선과분리되어있고, 확장부를포함하는기준전극선, 절연기판, 게이트선및 기준전극선위에배치되어있는제1 게이트절연막, 제1 게이트절연막위에배치되어있으며, 게이트전극과중첩하는반도체층, 반도체층및 제1 게이트절연막위에배치되어있으며, 반도체층을노출하는반도체개구부를포함하는제2 게이트절연막, 제2 게이트절연막및 반도체층위에배치되어있으며, 소스전극을포함하는데이터선및 소스전극과마주하는드레인전극, 데이터선, 드레인전극및 제2 게이트절연막위에배치되어있는제1 보호막, 제1 보호막위에배치되어있는제2 보호막, 제2 보호막위에배치되어있는제1 전기장생성전극, 제1 전기장생성전극위에배치되어있는제3 보호막, 제1 보호막, 제2 보호막및 제3 보호막에배치되어있고, 드레인전극의일부를드러내는제1 접촉구멍, 그리고제3 보호막위에배치되어있으며, 제1 접촉구멍을통하여드레인전극과연결되어있는제2 전기장생성전극을포함하고, 반도체층은산화물반도체층및 산화물반도체층위에배치되어있으며, 서로분리되어있는제1 보조층및 제2 보조층을포함하고, 드레인전극의가장자리는제1 보조층의가장자리의안쪽에배치되어있고, 소스전극의가장자리는제2 보조층의가장자리의안쪽에배치되어있다.
摘要翻译：根据本发明实施例的薄膜晶体管显示面板包括：绝缘基板; 设置在所述绝缘基板上并具有栅电极的栅极线; 设置在所述绝缘基板上的参考电极线，与所述栅极线分离，并具有延伸单元; 设置在所述绝缘基板，所述栅极线和所述参考电极线上的第一栅极绝缘膜; 半导体层，设置在所述第一栅极绝缘膜上并与所述栅电极重叠; 设置在所述半导体层上的第二栅极绝缘膜和所述第一栅极绝缘膜，并且设置有半导体开口部分以暴露所述半导体层; 设置在所述第二栅极绝缘膜上的漏电极和所述半导体层，以面向包括源电极和所述源电极的数据线; 设置在数据线上的第一保护膜，漏电极和第二栅绝缘膜; 设置在第一保护膜上的第二保护膜; 设置在所述第二保护膜上的第一电场产生电极; 设置在第一电场产生电极上的第三保护膜; 设置在所述第一保护膜上的第一接触孔，所述第二保护膜和所述第三保护膜，以暴露所述漏电极的一部分; 以及第二电场产生电极，设置在第三保护膜上并通过第一接触孔连接到漏电极。半导体层设置在氧化物半导体层和氧化物半导体层上，并且包括彼此分离的第一辅助层和第二辅助层。漏电极的边缘设置在第一辅助层的边缘的内侧，源电极的边缘设置在第二辅助层的边缘的内侧。

4. 发明公开

KR1020130102666A 박막 트랜지스터 기판 및 그 제조 방법 审中-实审
标题翻译：薄膜晶体管基板及其制造方法
公开(公告)号：KR1020130102666A
公开(公告)日：2013-09-23
申请号：KR1020120023610
申请日：2012-03-07
申请人： 삼성디스플레이 주식회사
发明人： 최영주 , 김준걸 , 김도현 , 이우근
IPC分类号： G02F1/136 , G02F1/1343
CPC分类号： G02F1/13439 , G02F1/1362 , G02F1/136286 , G02F2001/136231 , G02F2001/136295
摘要： PURPOSE: A thin film transistor substrate and a method for manufacturing the same are provided to prevent damage to a semiconductor pattern by forming an etch stopper. CONSTITUTION: A semiconductor pattern (340) is arranged on a gate electrode. A source electrode (350) is arranged on the semiconductor pattern. A drain electrode (355) is arranged on the semiconductor pattern. A pixel electrode (370) is connected to the drain electrode. At least one part of a common electrode part (345) is overlapped with the pixel electrode.
摘要翻译：目的：提供薄膜晶体管基板及其制造方法，以通过形成蚀刻停止件来防止对半导体图案的损坏。构成：半导体图案（340）布置在栅电极上。源电极（350）布置在半导体图案上。漏电极（355）布置在半导体图案上。像素电极（370）连接到漏电极。公共电极部（345）的至少一部分与像素电极重叠。

5. 发明授权

KR102134634B1 프로브 핀 고정 블록을 포함하는 회로 기판 검사 장치 및 회로 기판 검사 장치의 프로브 핀 교체 방법 有权
公开(公告)号：KR102134634B1
公开(公告)日：2020-07-17
申请号：KR1020140008221
申请日：2014-01-23
申请人： 삼성디스플레이 주식회사
发明人： 김준걸
IPC分类号： G01R1/067 , G01R1/073 , G01R31/28

6. 发明公开

KR1020170121788A 셀의 리페어 및 검사 복합 장치 및 이를 이용한 셀의 리페어 및 검사 복합 방법 审中-实审
标题翻译：使用它的细胞的复杂修理和检查和细胞的复杂修理和检查
公开(公告)号：KR1020170121788A
公开(公告)日：2017-11-03
申请号：KR1020160050334
申请日：2016-04-25
申请人： 삼성디스플레이 주식회사
发明人： 김희선 , 김시준 , 김준걸 , 우현주 , 이경철 , 한세광
IPC分类号： G02F1/13
摘要： 셀의리페어및 검사복합장치는테이블, 리페어유닛및 리페어검사유닛을포함한다. 상기테이블은불량이발생한제1 셀및 불량이발생한제2 셀을포함한다. 상기리페어유닛은상기기판상에제공되고, 상기제1 셀및 상기제2 셀을각각리페어한다. 상기리페어검사유닛은상기기판상에제공되고, 상기리페어된제1 셀및 상기리페어된제2 셀각각의리페어여부를검출한다. 상기제1 셀은상기리페어유닛에의해리페어되고, 상기리페어검사유닛에의해리페어여부가검사되고, 상기제2 셀은상기제1 셀의리페어여부가검사된후, 상기리페어유닛에의해리페어된다.
摘要翻译：该单元的修理和检查复合装置包括工作台，修理单元和修理检查单元。该表包括发生缺陷的第一单元和发生缺陷的第二单元。修复单元设置在装置板上以分别修复第一电池和第二电池。修理检查单元被提供在设备板上并且检测第一修理单元和第二修理单元是否被修理。第一单元由修复单元修复，修复检查单元检查修复是否被执行，并且在检查第一单元的修复之后修复单元修复第二单元。

7. 发明公开

KR1020150086969A 액정 표시 장치 및 이의 제조 방법 审中-实审
标题翻译：液晶显示器及其制造方法
公开(公告)号：KR1020150086969A
公开(公告)日：2015-07-29
申请号：KR1020140007256
申请日：2014-01-21
申请人： 삼성디스플레이 주식회사
发明人： 최영주 , 정승호 , 김준걸 , 조강문
IPC分类号： G02F1/136 , G02F1/1362 , G02F1/1368
CPC分类号： H01B1/026 , G02F1/133345 , G02F1/134363 , G02F1/13439 , G02F1/13458 , G02F2001/134318 , G02F2001/13629 , G02F2001/136295 , H01L2924/0002 , H01L2924/00
摘要： 액정표시장치및 이의제조방법이제공된다. 본발명의일 실시예에따른액정표시장치는기판, 기판상에형성되는게이트패드, 게이트전극및 게이트라인을포함하는게이트배선, 게이트배선상에배치되는게이트절연막, 게이트절연막상에배치되어게이트패드와전기적으로연결되는연결전극, 게이트전극상에배치되는소스/드레인전극및 드레인전극과전기적으로연결되는화소전극을포함하는제1 전극패턴, 게이트전극상에배치되는반도체층, 소스전극상에반도체층과일정간격이격되어배치되는제1 보조배선및 게이트라인과중첩되는제2 보조배선을포함한다.
摘要翻译：提供一种液晶显示器及其制造方法。根据本发明实施例的液晶显示器包括：基板; 形成在基板上的栅极焊盘; 栅极线，其包括栅电极和栅极线; 栅极绝缘层，布置在栅极线上; 第一电极图案，包括布置在栅极绝缘层上并连接到栅极焊盘的连接电极，布置在栅电极上的源/漏电极和电连接到漏电极的像素电极; 布置在栅电极上的半导体层; 第一辅助线，其与源电极上的半导体层分开一定距离，以及第二辅助线。

8. 发明公开

KR1020150066690A 박막 트랜지스터 기판 및 그 제조 방법 审中-实审
标题翻译：薄膜晶体管基板及其制造方法
公开(公告)号：KR1020150066690A
公开(公告)日：2015-06-17
申请号：KR1020130152015
申请日：2013-12-09
申请人： 삼성디스플레이 주식회사
发明人： 조강문 , 김준걸 , 정승호 , 최영주
IPC分类号： H01L29/786 , H01L21/336
CPC分类号： H01L27/1259 , H01L27/1225 , H01L27/124 , H01L29/786 , H01L29/78618
摘要： 개시된박막트랜지스터기판은, 제1 방향으로연장되는게이트라인, 상기게이트라인과전기적으로연결되는게이트전극, 상기제1 방향과다른제2 방향으로연장되며, 상기게이트라인과동일한층에배치되는제1 데이터연결패턴, 상기게이트전극과중첩하는액티브패턴, 상기액티브패턴과전기적으로연결되는소스전극, 상기소스전극과이격되는드레인전극, 및상기소스전극과동일한층에배치되며, 상기소스전극및 상기제1 데이터연결패턴과전기적으로연결되는제2 데이터연결패턴을포함한다.
摘要翻译：所公开的薄膜晶体管衬底包括沿第一方向延伸的栅极线; 电连接到栅极线的栅电极; 第一数据连接图案，沿与第一方向不同的第二方向延伸，并且布置在与栅极线相同的层上; 与栅电极重叠的有源图案; 电连接到所述有源图案的源电极; 与源电极分离的漏电极; 以及电连接到第一数据连接图案和源电极的第二数据连接图案，并且布置在与源电极相同的层上。

9. 发明公开

KR1020160120394A 박막 트랜지스터 표시판 및 그 제조 방법 审中-实审
标题翻译：薄膜晶体管阵列及其制造方法
公开(公告)号：KR1020160120394A
公开(公告)日：2016-10-18
申请号：KR1020150049113
申请日：2015-04-07
申请人： 삼성디스플레이 주식회사
发明人： 이현준 , 김기원 , 김윤호 , 김준걸 , 이두형
IPC分类号： G02F1/136 , G02F1/1368 , H01L29/786
CPC分类号： H01L29/7869 , H01L21/44 , H01L27/1225 , H01L27/124 , H01L27/1244 , H01L27/1259 , H01L29/22 , H01L29/24 , H01L29/42384 , H01L29/45 , H01L29/66969 , H01L29/78618
摘要： 본발명의일 실시예에따른박막트랜지스터표시판은기판위에위치하고, 게이트전극을포함하는게이트선, 상기게이트전극위에위치하는게이트절연막, 상기기판위에위치하는산화물반도체로형성된반도체층, 상기기판위에위치하고, 상기게이트선과교차하는데이터선, 상기데이터선에연결되어있는소스전극및 상기소스전극과마주보는드레인전극을포함하는데이터선층, 상기소스전극및 상기드레인전극을덮는보호막을포함하고, 상기데이터선층은구리또는구리합금을포함하고, 상기반도체층은구리가도핑된산화물반도체를포함하며, 상기산화물반도체에도핑된구리의함량은 0.2% 내지 0.82%이다.
摘要翻译：薄膜晶体管阵列面板包括设置在基板上的栅极线，栅极线包括栅极电极，设置在栅电极上的栅极绝缘层，设置在基板上的半导体层，包括氧化物半导体的半导体层，数据线，设置在基板上并且与栅极线交叉;数据线层，包括连接到数据线的源电极和面对源电极的漏极，以及覆盖源电极和漏电极的钝化层。数据线层包括铜或铜合金，并且半导体层包括掺铜氧化物半导体。氧化物半导体上掺杂的铜的含量为0.2〜0.82％。

10. 发明公开

KR1020150087967A 프로브 핀 고정 블록을 포함하는 회로 기판 검사 장치 및 회로 기판 검사 장치의 프로브 핀 교체 방법 审中-实审
标题翻译：具有探针引脚固定块的电路板的测试装置及其相同引脚的替换方法
公开(公告)号：KR1020150087967A
公开(公告)日：2015-07-31
申请号：KR1020140008221
申请日：2014-01-23
申请人： 삼성디스플레이 주식회사
发明人： 김준걸
IPC分类号： G01R1/073 , G01R31/28
摘要： 프로브핀 고정블록은제1 방향에배치되는제1 개구및 상기제1 방향과반대되는제2 방향에배치되는제2 개구를포함하는케이스부재, 상기케이스부재내에장착되고, 상기제2 개구를통하여상기제2 방향으로노출된제1 프로브핀 및상기케이스부재내에상기제1 프로브핀 상에상기제1 방향으로적층되도록장착된적어도하나의제2 프로브핀을포함할수 있다.
摘要翻译：探针固定块可以包括：壳体构件，其包括沿第一方向布置的第一孔和布置在与第一方向相反的第二方向的第二孔; 第一探针，其安装在所述壳体构件中，并且通过所述第二孔暴露于所述第二方向; 以及至少第二探针，其安装成沿着第一方向堆叠在壳体构件中的第一探针上。

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