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1. 发明授权

KR101702323B1 세포 전기 천공을 위한 탐침 제조 방법 및 이를 위한 홀더 有权
标题翻译：电容器电容器的制造方法和CANTILEVER的保持器
公开(公告)号：KR101702323B1
公开(公告)日：2017-02-03
申请号：KR1020150051889
申请日：2015-04-13
申请人： 명지대학교 산학협력단
发明人： 강치중 , 이태성 , 박미라
IPC分类号： B05C13/02 , B05C3/02 , B05D1/24 , C12M1/42 , C12N13/00 , C12N15/87
摘要： 본발명은세포전기천공을위한탐침제조방법및 탐침제조를위한홀더에관한것으로서, SPM 탐침에선택적나노입자코팅을수행하는홀더로서, 상기 SPM 탐침의프로브팁과캔틸레버상측을거치하는캔틸레버거치부; 상기 SPM 탐침의지지대상측을거치하는지지대거치부; 및상기지지대거치부의일측에연결되어상기나노입자가분산된분산액에서상기 SPM 탐침의위치를변화시키는홀더암을포함하는탐침홀더를제공한다.

2. 发明授权

KR101263367B1 전기천공 및 근접장 초음파 기법을 이용한 주사탐침 현미경 장치 有权
标题翻译：使用电子和近场声波扫描探测显微镜
公开(公告)号：KR101263367B1
公开(公告)日：2013-05-21
申请号：KR1020110045529
申请日：2011-05-16
申请人： 명지대학교 산학협력단
发明人： 강치중 , 유재우 , 최영진
IPC分类号： G01Q60/00
摘要： 전기천공및 근접장초음파기법을이용한주사탐침현미경장치에관한발명이다. 본발명의전기천공및 근접장초음파기법을이용한주사탐침현미경장치는, 하부를형성하는 ITO 전극과, 상기 ITO 전극의상부에부착되고상면에서개별세포가배양되는압전진동소자(PZT)를구비하는시료부; 상기시료부의상부에배치되며, 상기시료부와의미리결정된거리를유지하는탐침을구비하는캔틸레버검출기; 및상기탐침과상기시료부사이에상기개별세포의천공을위한펄스를인가하거나상기개별세포에대한이미지스캔을위하여진동파를발생시키도록컨트롤하는컨트롤러를포함한다.

3. 发明公开

KR1020110014272A 에디 전류 측정법을 이용한 고속 주사탐침 현미경 有权
标题翻译：使用EDDY电流测量的高速扫描探测显微镜
公开(公告)号：KR1020110014272A
公开(公告)日：2011-02-11
申请号：KR1020090069677
申请日：2009-07-29
申请人： 명지대학교 산학협력단
发明人： 강치중 , 최영진 , 유재우
IPC分类号： G01N27/72 , G01Q60/00 , G02B21/00
CPC分类号： G01Q20/04
摘要： PURPOSE: A high-speed scanning probe microscope using eddy current measurement is provided to ensure high resolution in high-speed scanning and improve the measurement reliability. CONSTITUTION: A high-speed scanning probe microscope using eddy current measurement comprises a magnetic field generator(200) and a cantilever detector(110). The magnetic field generator is fixed to the bottom of a sample holding part(120). The cantilever detector, coated with metal, comprises a cantilever support and a cantilever which is formed with a coil located above a sample. The high-speed scanning probe microscope measures changes in magnetic field created by eddy current created according to the movement of the cantilever detector while maintaining uniform distance between the sample and the cantilever detector probe, and thereby high-speed scanning the sample.
摘要翻译：目的：提供使用涡流测量的高速扫描探针显微镜，以确保高分辨率的高速扫描，提高测量可靠性。构成：使用涡流测量的高速扫描探针显微镜包括磁场发生器（200）和悬臂检测器（110）。磁场发生器固定在样品保持部件（120）的底部。用金属涂覆的悬臂检测器包括悬臂支撑件和悬臂，其形成有位于样品上方的线圈。高速扫描探针显微镜测量根据悬臂检测器的运动产生的涡流产生的磁场变化，同时保持样品和悬臂检测器探头之间的均匀距离，从而高速扫描样品。

4. 发明授权

KR102092656B1 탐침장치 및 이를 포함하는 광학현미경 有权
公开(公告)号：KR102092656B1
公开(公告)日：2020-03-25
申请号：KR1020180136692
申请日：2018-11-08
申请人： 명지대학교 산학협력단
发明人： 강치중 , 이태성
IPC分类号： G02B21/36

5. 发明授权

KR102070659B1 나노소자 손상 방지용 프로브스테이션의 광학 현미경 및 이를 이용한 나노소자의 전기적 특성 측정 방법 有权
公开(公告)号：KR102070659B1
公开(公告)日：2020-03-02
申请号：KR1020180115959
申请日：2018-09-28
申请人： 명지대학교 산학협력단
发明人： 강치중 , 이태성
IPC分类号： G01Q10/04 , G01Q60/24

6. 发明公开

KR1020140094755A 니켈 나노콘 패턴 형성방법 无效
标题翻译：硝化镍纳米粉体的制备方法
公开(公告)号：KR1020140094755A
公开(公告)日：2014-07-31
申请号：KR1020130007067
申请日：2013-01-22
申请人： 명지대학교 산학협력단
发明人： 최영진 , 이규왕 , 강치중 , 심이레
IPC分类号： C25D3/02 , C25D5/02 , C25D21/12
CPC分类号： C25D7/123 , B82B3/00 , C25D3/12 , C25D5/022
摘要： The present invention relates to a method for forming nickel nanocones to have a selected pattern, including the steps of: forming a seed layer, with the surface being exposed to have a specific shape, on a substrate; and forming nickel nanocones on the surface, which is exposed to have the specific shape, of the seed layer by performing an electroplating process in which a nickel electrode serves as an anode in an electrolyte, wherein the seed layer is made of a metal material of a face centered cubic (FCC) structure. Since the nickel nanocones are directly formed to have the specific pattern only by a quick and simple photolithographic process and the electroplating process, the costs required to form the nickel nano-structure is remarkably reduced. Also, since the nickel nanocones are formed in the pattern of the specific shape, the nanocone forming process of the present invention can be applied to a part of the conventional semiconductor process. The connection in the whole semiconductor process is increased, and the efficiency of the fabricated device is improved. In addition, since the process costs are not expensive, the nickel nanocone structure can be applied to a new field which is not used at present.
摘要翻译：本发明涉及一种用于形成具有选定图案的镍纳米酮的方法，包括以下步骤：在基材上形成表面暴露于具有特定形状的种子层; 以及通过进行电解工艺中的镍电极作为电解质中的阳极而形成种子层的暴露于特定形状的表面上的镍纳米酮，其中种子层由金属材料制成面心立方（FCC）结构。由于仅通过快速且简单的光刻工艺和电镀工艺直接形成具有特定图案的镍纳米骨，因此形成镍纳米结构所需的成本显着降低。此外，由于镍纳米酮以特定形状的图案形成，所以本发明的纳米骨形成方法可以应用于常规半导体工艺的一部分。整个半导体工艺中的连接增加，并且制造的器件的效率提高。此外，由于工艺成本不昂贵，镍纳米结构可以应用于目前未使用的新领域。

7. 发明授权

KR101382111B1 탐침의 이동이 가능한 주사전자현미경의 시료 스테이지 및 그 주사전자현미경 有权
标题翻译：用于扫描电子显微镜的扫描电子显微镜及其扫描电子显微镜的示例
公开(公告)号：KR101382111B1
公开(公告)日：2014-04-09
申请号：KR1020120067294
申请日：2012-06-22
申请人： 명지대학교 산학협력단
发明人： 강치중 , 최영진 , 유은지
IPC分类号： H01J37/20 , H01J37/28
摘要： 본 발명은 주사전자현미경의 시료 스테이지에 관한 것으로, 본 발명의 주사전자현미경의 시료 스테이지는, 시료의 특성을 분석하는 주사전자현미경 내에 배치되는 것으로서, 시료가 장착되는 시료부; 상기 시료부에 장착된 시료의 특성을 확인하기 위해 시료와 접촉하는 탐침부; 및 일 측이 상기 시료부에 고정되고, 타 측이 상기 탐침부와 결합되며, 상기 시료부에 대한 상기 탐침부의 위치를 조절하는 위치조절부를 포함하는 것을 특징으로 한다. 본 발명에 의하면, 주사전자현미경에 탐침의 위치를 국소적으로 이동시킬 수 있어 기계적 또는 전기적 특성을 동시에 확인할 수 있는 효과가 있다.

8. 发明公开

KR1020120127807A 나노입자가 부착된 탐침을 가지는 주사탐침 현미경 및 그 보정방법 无效
标题翻译：具有纳米尺度的探针的扫描探针显微镜及其校准方法
公开(公告)号：KR1020120127807A
公开(公告)日：2012-11-26
申请号：KR1020110045530
申请日：2011-05-16
申请人： 명지대학교 산학협력단
发明人： 강치중 , 이남주 , 최영진
IPC分类号： G01Q40/00 , G01Q70/12
CPC分类号： G01Q40/02 , G01Q20/04 , G01Q70/12
摘要： PURPOSE: A scanning probe microscopy having a probe with nanoparticles and a calibration method thereof are provided to improve measurement reliability by using a piezolever connected with a Wheastone bridge to precisely define a coefficient of elasticity. CONSTITUTION: A probe(113) is prepared in a cantilever detector(110). Nanoparticles(113a) are adhered to the end of the probe. A gap between a sample and the probe is made to be uniform by using the nanoparticles in image scanning of the sample. A piezolever(101) is connected with a Wheastone bridge(103) for calculating resistance and determining flexion of the piezolever.
摘要翻译：目的：提供具有纳米颗粒探针和其校准方法的扫描探针显微镜，以通过使用与Wheastone桥连接的压电式搅拌器来精确地定义弹性系数来提高测量可靠性。构成：在悬臂检测器（110）中制备探针（113）。纳米颗粒（113a）粘附到探针的末端。通过在样品的图像扫描中使用纳米颗粒使得样品和探针之间的间隙是均匀的。压电机（101）与Wheastone桥（103）连接，用于计算电阻并确定压电式变压器的弯曲。

9. 发明授权

KR100922765B1 분자탐지 장치 有权
标题翻译：分子检测装置
公开(公告)号：KR100922765B1
公开(公告)日：2009-10-21
申请号：KR1020070048821
申请日：2007-05-18
申请人： 명지대학교 산학협력단
发明人： 김재완 , 김용상 , 강치중 , 최영진
IPC分类号： G01B11/00 , G01N33/48
摘要： 본 발명은 광섬유에 형성되는 원통형 캔틸레버의 수용체와 유동체 내의 타깃 분자의 결합에 의해 원통형 캔틸레버에 가해지는 표면 응력 또는 원통형 캔틸레버의 진동 주파수의 변동을 이용하여 유동체 내의 타깃 분자를 탐지하는 분자탐지 장치에 관한 것으로, 제1코어와 상기 제1코어를 보호하는 클래딩으로 이루어진 제1광섬유; 상기 제1광섬유와 일직선상에 위치하고 소정 간격으로 이격된, 제2코어와 상기 제2코어를 보호하는 클래딩으로 이루어진 제2광섬유; 및 상기 제1광섬유와 상기 제2광섬유 사이의 이격된 공간에 상기 제2코어로부터 연장된 원통형 캔틸레버를 포함하여 이루어지고, 상기 원통형 캔틸레버의 외주면에 적어도 일부에 유동체 내의 타깃 분자를 결합시키기 위한 수용체가 고정되는 것을 특징으로 한다.
본 발명에 따른 광섬유 기반의 분자탐지 장치에 의하면, 직육면체 캔틸레버를 채용하는 종래의 분자 탐지 장치보다 정확하고 뛰어난 감도를 가지면서도, 내구성이 좋고, 구조가 보다 간단하며 보다 작은 스케일로 제작 가능하고, 광원과 광 검출기에 일체형으로 부착할 수 있어 재위치설정의 필요가 없는 광섬유 기반의 분자 탐지 장치를 제공할 수 있다.
분자 탐지, 광섬유, 수용체, 인공코

10. 发明公开

KR1020140141234A 힘 상수 보정 주사탐침 현미경 및 그의 보정 방법 有权
标题翻译：具有校准力的扫描探针显微镜及其校准方法
公开(公告)号：KR1020140141234A
公开(公告)日：2014-12-10
申请号：KR1020130062740
申请日：2013-05-31
申请人： 명지대학교 산학협력단
发明人： 강치중 , 최영진 , 박미라
IPC分类号： G01Q40/00
CPC分类号： G01Q40/02 , G01N33/5735 , G01Q60/52 , G01R1/06727 , H01J37/20
摘要： 본 발명은 힘 상수 보정 주사탐침 현미경 및 그 보정 방법에 관한 것으로, 이러한 목적을 달성하기 위하여 본 발명의 주사탐침 현미경은, 시료가 고정되는 시료 고정대; 상기 시료 고정대의 상부에 배치고 탐침이 부착된 캔틸레버 검출기; 및 상기 탐침이 상기 시료에 접촉할 때 상기 캔틸레버 검출기의 공명진동수를 이용하여 상기 탐침에 의해 상기 시료에 가해지는 힘의 크기를 보정할 수 있는 힘 상수를 산출하는 산출부를 포함하는 것을 특징으로 한다. 본 발명에 의하면, 주사탐침 현미경을 이용하여 단분자 측정을 위한 힘-거리 측정에서 탐침과 시료와의 접촉 면적이 가장 큰 변수 중 하나로 적용되는데, 이를 위해 탐침이 부착된 캔틸레버 검출기의 공명진동수를 이용하여 시료에 가해지는 힘의 힘 상수를 산출하여 이를 캔틸레버 검출기에 적용하여 더욱 정확하게 시료를 스캔할 수 있는 효과가 있다.
摘要翻译：本发明涉及用于校正恒定力的扫描探针显微镜及其校准方法。根据本发明，扫描探针显微镜包括：固定有样本的样本固定支架; 布置在具有探针的样本固定支架的上侧的悬臂检测器; 计算部，当所述探针接触所述检体时，使用所述悬臂检测器的共振频率来计算恒定力，所述恒定力能够校准由所述探针施加到所述检体的力的大小。根据本发明，当通过扫描探针显微镜对探针和样品之间的接触面积作为对单分子测量进行的力距离测量中的一个主要变量应用时，扫描探针显微镜能够计算使用悬臂检测器与探头的共振频率施加到试样的力的力距离，并且能够将恒定力施加到悬臂检测器; 从而更准确地扫描样品。

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