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1. 发明授权

KR101702323B1 세포 전기 천공을 위한 탐침 제조 방법 및 이를 위한 홀더 有权
标题翻译：电容器电容器的制造方法和CANTILEVER的保持器
公开(公告)号：KR101702323B1
公开(公告)日：2017-02-03
申请号：KR1020150051889
申请日：2015-04-13
申请人： 명지대학교 산학협력단
发明人： 강치중 , 이태성 , 박미라
IPC分类号： B05C13/02 , B05C3/02 , B05D1/24 , C12M1/42 , C12N13/00 , C12N15/87
摘要： 본발명은세포전기천공을위한탐침제조방법및 탐침제조를위한홀더에관한것으로서, SPM 탐침에선택적나노입자코팅을수행하는홀더로서, 상기 SPM 탐침의프로브팁과캔틸레버상측을거치하는캔틸레버거치부; 상기 SPM 탐침의지지대상측을거치하는지지대거치부; 및상기지지대거치부의일측에연결되어상기나노입자가분산된분산액에서상기 SPM 탐침의위치를변화시키는홀더암을포함하는탐침홀더를제공한다.

2. 发明公开

KR1020160121971A 광학 현미경과 이온 전류 측정을 이용한 전기 천공 방법 및 전기 천공 장치 有权
标题翻译：电子穿孔法和使用光学显微镜和离子电流测量的电穿孔装置
公开(公告)号：KR1020160121971A
公开(公告)日：2016-10-21
申请号：KR1020150051893
申请日：2015-04-13
申请人： 명지대학교 산학협력단
发明人： 강치중 , 이홍기 , 이태성 , 박미라
IPC分类号： C12M1/42 , G01N27/26 , G02B21/00
摘要： 본발명은광학현미경과이온전류측정을이용한전기천공법및 전기천공장치에관한것으로서, 시료및 탐침의위치를확인하는광학현미경; 상기시료에전압을인가하고 DNA를주입하는제1 탐침및 제2 탐침; 상기제1 탐침및 상기제2 탐침을각각고정하는제1 탐침홀더및 제2 탐침홀더; 및상기제1 탐침및 상기제2 탐침에전류를인가하는전류제어기를포함하는전기천공장치를제공한다. 또한전기천공장치에의한전기천공방법을제공한다.
摘要翻译：本发明涉及使用光学显微镜和离子电流测量的电穿孔方法和电穿孔装置，并且更具体地涉及用于确认样品和探针的位置的光学显微镜; 第一探针和第二探针，用于向样品施加电压并注射DNA; 第一探头支架和第二探头支架，用于分别固定第一探头和第二探头; 以及用于将电流施加到第一探针和第二探针的电流控制器。还提供了一种通过电冲孔装置进行电穿孔的方法。

3. 发明授权

KR101492575B1 힘 상수 보정 주사탐침 현미경 및 그의 보정 방법 有权
标题翻译：具有校准力的扫描探针显微镜及其校准方法
公开(公告)号：KR101492575B1
公开(公告)日：2015-02-11
申请号：KR1020130062740
申请日：2013-05-31
申请人： 명지대학교 산학협력단
发明人： 강치중 , 최영진 , 박미라
IPC分类号： G01Q40/00
摘要： 본 발명은 힘 상수 보정 주사탐침 현미경 및 그 보정 방법에 관한 것으로, 이러한 목적을 달성하기 위하여 본 발명의 주사탐침 현미경은, 시료가 고정되는 시료 고정대; 상기 시료 고정대의 상부에 배치고 탐침이 부착된 캔틸레버 검출기; 및 상기 탐침이 상기 시료에 접촉할 때 상기 캔틸레버 검출기의 공명진동수를 이용하여 상기 탐침에 의해 상기 시료에 가해지는 힘의 크기를 보정할 수 있는 힘 상수를 산출하는 산출부를 포함하는 것을 특징으로 한다. 본 발명에 의하면, 주사탐침 현미경을 이용하여 단분자 측정을 위한 힘-거리 측정에서 탐침과 시료와의 접촉 면적이 가장 큰 변수 중 하나로 적용되는데, 이를 위해 탐침이 부착된 캔틸레버 검출기의 공명진동수를 이용하여 시료에 가해지는 힘의 힘 상수를 산출하여 이를 캔틸레버 검출기에 적용하여 더욱 정확하게 시료를 스캔할 수 있는 효과가 있다.

4. 发明授权

KR101672399B1 광학 현미경과 이온 전류 측정을 이용한 전기 천공 방법 및 전기 천공 장치 有权
标题翻译：使用离子电流测量的光学显微镜进行本地化电泳的方法和用于本地化电气的器件
公开(公告)号：KR101672399B1
公开(公告)日：2016-11-03
申请号：KR1020150051893
申请日：2015-04-13
申请人： 명지대학교 산학협력단
发明人： 강치중 , 이홍기 , 이태성 , 박미라
IPC分类号： C12M1/42 , G01N27/26 , G02B21/00
摘要： 본발명은광학현미경과이온전류측정을이용한전기천공법및 전기천공장치에관한것으로서, 시료및 탐침의위치를확인하는광학현미경; 상기시료에전압을인가하고 DNA를주입하는제1 탐침및 제2 탐침; 상기제1 탐침및 상기제2 탐침을각각고정하는제1 탐침홀더및 제2 탐침홀더; 및상기제1 탐침및 상기제2 탐침에전류를인가하는전류제어기를포함하는전기천공장치를제공한다. 또한전기천공장치에의한전기천공방법을제공한다.

5. 发明公开

KR1020160121970A 세포 전기 천공을 위한 탐침 제조 방법 및 이를 위한 홀더 有权
标题翻译：电容器电容器的制造方法和CANTILEVER的保持器
公开(公告)号：KR1020160121970A
公开(公告)日：2016-10-21
申请号：KR1020150051889
申请日：2015-04-13
申请人： 명지대학교 산학협력단
发明人： 강치중 , 이태성 , 박미라
IPC分类号： B05C13/02 , B05C3/02 , B05D1/24 , C12M1/42 , C12N13/00 , C12N15/87
摘要： 본발명은세포전기천공을위한탐침제조방법및 탐침제조를위한홀더에관한것으로서, SPM 탐침에선택적나노입자코팅을수행하는홀더로서, 상기 SPM 탐침의프로브팁과캔틸레버상측을거치하는캔틸레버거치부; 상기 SPM 탐침의지지대상측을거치하는지지대거치부; 및상기지지대거치부의일측에연결되어상기나노입자가분산된분산액에서상기 SPM 탐침의위치를변화시키는홀더암을포함하는탐침홀더를제공한다.

6. 发明公开

KR1020140141234A 힘 상수 보정 주사탐침 현미경 및 그의 보정 방법 有权
标题翻译：具有校准力的扫描探针显微镜及其校准方法
公开(公告)号：KR1020140141234A
公开(公告)日：2014-12-10
申请号：KR1020130062740
申请日：2013-05-31
申请人： 명지대학교 산학협력단
发明人： 강치중 , 최영진 , 박미라
IPC分类号： G01Q40/00
CPC分类号： G01Q40/02 , G01N33/5735 , G01Q60/52 , G01R1/06727 , H01J37/20
摘要： 본 발명은 힘 상수 보정 주사탐침 현미경 및 그 보정 방법에 관한 것으로, 이러한 목적을 달성하기 위하여 본 발명의 주사탐침 현미경은, 시료가 고정되는 시료 고정대; 상기 시료 고정대의 상부에 배치고 탐침이 부착된 캔틸레버 검출기; 및 상기 탐침이 상기 시료에 접촉할 때 상기 캔틸레버 검출기의 공명진동수를 이용하여 상기 탐침에 의해 상기 시료에 가해지는 힘의 크기를 보정할 수 있는 힘 상수를 산출하는 산출부를 포함하는 것을 특징으로 한다. 본 발명에 의하면, 주사탐침 현미경을 이용하여 단분자 측정을 위한 힘-거리 측정에서 탐침과 시료와의 접촉 면적이 가장 큰 변수 중 하나로 적용되는데, 이를 위해 탐침이 부착된 캔틸레버 검출기의 공명진동수를 이용하여 시료에 가해지는 힘의 힘 상수를 산출하여 이를 캔틸레버 검출기에 적용하여 더욱 정확하게 시료를 스캔할 수 있는 효과가 있다.
摘要翻译：本发明涉及用于校正恒定力的扫描探针显微镜及其校准方法。根据本发明，扫描探针显微镜包括：固定有样本的样本固定支架; 布置在具有探针的样本固定支架的上侧的悬臂检测器; 计算部，当所述探针接触所述检体时，使用所述悬臂检测器的共振频率来计算恒定力，所述恒定力能够校准由所述探针施加到所述检体的力的大小。根据本发明，当通过扫描探针显微镜对探针和样品之间的接触面积作为对单分子测量进行的力距离测量中的一个主要变量应用时，扫描探针显微镜能够计算使用悬臂检测器与探头的共振频率施加到试样的力的力距离，并且能够将恒定力施加到悬臂检测器; 从而更准确地扫描样品。

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