专利快速检索-快速检索全球专利，免费商用专利数据库-IPRDB

1. 发明授权

KR101087989B1 전해방전가공을 이용한 광섬유 프로브 제조장치 및 방법 有权
标题翻译：使用E.C.D.M.制造光纤的制造装置及其方法
公开(公告)号：KR101087989B1
公开(公告)日：2011-12-02
申请号：KR1020100071313
申请日：2010-07-23
申请人： 경북대학교 산학협력단
发明人： 이호 , 이상원 , 최상훈 , 김창환 , 손익부
IPC分类号： G02B6/25 , A61B1/07 , A61N5/067
CPC分类号： G02B6/3624 , A61B5/0066 , A61B18/22 , B23K26/06 , G02B6/25
摘要： PURPOSE: A device for manufacturing an optical fiber probe by electrochemical discharge machining and a method thereof are provided to precisely adjust the location between a processing tool and an optical fiber probe, thereby effectively controlling the processing depth and the shape of a processed object. CONSTITUTION: An alignment plate(100) can move in a 3 axial direction. A reaction bath(200) is supported by the alignment plate. An electrode is dipped in an electrolyte. The reaction bath includes the electrolyte. A processing tool(410) processes an optical fiber probe by electrochemical discharge machining. A processing tool holder(400) fixes the processing tool. A photographing unit(710) provides image signals of the processing tool and the optical fiber probe.
摘要翻译：目的：提供一种用于通过电化学放电加工制造光纤探针的装置及其方法，以精确地调节处理工具和光纤探针之间的位置，从而有效地控制加工对象的处理深度和形状。构成：对准板（100）可沿3轴向移动。反应槽（200）由对准板支撑。将电极浸入电解液中。反应槽包括电解质。处理工具（410）通过电化学放电加工来处理光纤探针。处理工具架（400）固定加工工具。拍摄单元（710）提供处理工具和光纤探针的图像信号。

2. 发明授权

KR101577355B1 핀홀 자동 교체 장치, 공간 필터 자동 교체 장치, 공초점 현미경 및 이들의 제조 방법 有权
标题翻译：自动更换装置，空间过滤器自动更换装置，共焦显微镜及其制造方法
公开(公告)号：KR101577355B1
公开(公告)日：2015-12-14
申请号：KR1020140119922
申请日：2014-09-11
申请人： 경북대학교 산학협력단
发明人： 이호 , 최상훈 , 김창환 , 이영중
IPC分类号： G02B21/00
摘要： 핀홀자동교체장치는, 관찰하고자하는시료를거친광 중에서핀홀을통과한광만을광 검출기로검출하여상기시료를관찰하는공초점현미경에사용되는핀홀자동교체장치로서, 상기핀홀이복수개 형성되어있는핀홀플레이트및 상기핀홀플레이트에부착되어상기핀홀플레이트를이동시킴으로써, 상기복수의핀홀내에서상기시료를거친광이통과하는핀홀을교체하는피에조구동기를포함한다.
摘要翻译：本发明提供一种自动针孔更换装置，自动空间过滤器更换装置，共焦显微镜及其制造方法; 其不需要根据使用目的替换针孔时伴随的对准过程和位置控制反馈处理。自动针孔更换装置是在共聚焦显微镜上使用的装置，其中共聚焦显微镜是通过在通过要观察的样品的光中检测穿过具有光检测器的针孔的光来观察样品，并且包括：在其上形成有多个针孔的针孔板; 以及附着在针孔板上并移动针孔板的压电致动器，从而通过其中光穿过样品的压电致动器来更换针孔，从而在针孔中渗透。

3. 发明公开

KR1020120111023A 이광자현미경 장치 有权
标题翻译：两个光子显微镜和扫描方法
公开(公告)号：KR1020120111023A
公开(公告)日：2012-10-10
申请号：KR1020110029265
申请日：2011-03-31
申请人： 경북대학교 산학협력단
发明人： 이호 , 이상인 , 이상원 , 김위한 , 박민규 , 최상훈
IPC分类号： G02B21/26 , G02B21/00 , G01N21/00
CPC分类号： G02B21/26 , G02B21/0024 , G02B21/0036
摘要： PURPOSE: A two-photon microscope apparatus and a scan method thereof are provided to simply form an optical path by performing scanning in the state where a laser light source unit radiating two-photon microscope laser beam is fixed. CONSTITUTION: A Z-sage(110) performs linear movement in a Z-direction about a base stage. A Y-stage(120) is installed on the Z-stage and performs linear movement in a Y-direction which is at right angle to a progressive direction of the Z-stage. An X-stage(130) is installed on the Y-stage and forms a sample stand in which a sample is fixed. A piezoelectric element actuator straightly moves the Z-stage, the Y-stage, and the X-stage. A gap control unit precisely revises a gap between the piezoelectric element actuator and the stages when mounting the piezoelectric element actuator. [Reference numerals] (400) Laser light source unit; (600) Light detector; (700) ADC card; (800) Controller; (AA) Object lens; (BB) Emitted light source; (CC) Reflected light source
摘要翻译：目的：提供双光子显微镜装置及其扫描方法，以在固定发光双光子显微镜激光束的激光光源单元的状态下进行扫描来简单地形成光路。构成：Z-sage（110）围绕基座在Z方向上进行线性运动。 Y档（120）安装在Z档上，并且在与Z档的行进方向成直角的Y方向上进行线性移动。 X台（130）安装在Y台上，并形成样品架，样品架固定在样品架上。压电元件致动器直接移动Z级，Y级和X级。当安装压电元件致动器时，间隙控制单元精确地修改压电元件致动器和级之间的间隙。（附图标记）（400）激光光源单元; （600）光检测器; （700）ADC卡; （800）控制器; （AA）物镜; （BB）发射光源; （CC）反射光源

4. 发明授权

KR101281649B1 이광자현미경 장치 有权
标题翻译：两个光子显微镜
公开(公告)号：KR101281649B1
公开(公告)日：2013-07-03
申请号：KR1020110029265
申请日：2011-03-31
申请人： 경북대학교 산학협력단
发明人： 이호 , 이상인 , 이상원 , 김위한 , 박민규 , 최상훈
IPC分类号： G02B21/26 , G02B21/00 , G01N21/00
摘要： 스캐닝에 필요한 광경로를 간단히 하고 시료의 스캔시 정밀한 스캔 조정이 가능한 광자현미경 장치 및 그 스캔방법이 소개된다. 이 중에서, 광자현미경 장치는, Z스테이지, Y스테이지, X스테이지, 압전소자 액츄에이터 및 간극 조절유닛을 포함하는 구성으로, 광원이 고정된 상태에서 시료가 위치한 스테이지를 XYZ방향으로 미세하게 구동하여 스캔한다.

5. 发明公开

KR1020110121497A ＰＺＴ 스테이지를 이용한 공초점 현미경 시스템 및 그 스캔방법 无效
标题翻译：使用PZT阶段和扫描方法的共焦显微系统
公开(公告)号：KR1020110121497A
公开(公告)日：2011-11-07
申请号：KR1020100041109
申请日：2010-04-30
申请人： 경북대학교 산학협력단
发明人： 이호 , 김지현 , 이상원 , 최상훈 , 정영대 , 박민규 , 이상인
IPC分类号： G02B21/26 , G02B21/24 , G02B21/00 , G01B9/04
CPC分类号： G02B21/0032 , G02B21/008 , G02B21/26 , H01J2237/20228 , H01J2237/20264
摘要： PURPOSE: A confocal microscope system and a scanning method thereof are provided to improve performance and resolution of a confocal microscope through minute control and fast movement by an electric signal. CONSTITUTION: A sample stage(30) is able to be minutely operated to one direction among XYZ directions for scanning a sample. A frame grabber(50) changes an analog signal which is detected from an optical detector into a digital signal. A PC(60) analyzes the digital signal and makes the digital signal as image. A sample holding stage is minutely operated to an XY direction by a piezo actuator. A controller establishes a scan region and transmits an electric signal.
摘要翻译：目的：提供共聚焦显微镜系统及其扫描方法，以通过微小的控制和通过电信号快速移动来提高共聚焦显微镜的性能和分辨率。构成：样品台（30）能够在XYZ方向上的一个方向上精细地操作，用于扫描样品。帧捕获器（50）将从光学检测器检测到的模拟信号改变为数字信号。 PC（60）分析数字信号并使数字信号成为图像。样品保持台通过压电致动器精确地操作到XY方向。控制器建立扫描区域并发送电信号。

你已经成功收藏专利！

检索式保存成功!

IPRDB

热门服务

关于我们

友情链接

联系方式