基本信息:
- 专利标题： 이광자현미경 장치
- 专利标题（英）：Two photon microscope
- 专利标题（中）：两个光子显微镜
- 申请号：KR1020110029265 申请日：2011-03-31
- 公开(公告)号：KR101281649B1 公开(公告)日：2013-07-03
- 发明人： 이호 , 이상인 , 이상원 , 김위한 , 박민규 , 최상훈
- 申请人： 경북대학교 산학협력단
- 申请人地址： 대구광역시 북구 대학로 ** (산격동, 경북대학교)
- 专利权人： 경북대학교 산학협력단
- 当前专利权人： 경북대학교 산학협력단
- 当前专利权人地址： 대구광역시 북구 대학로 ** (산격동, 경북대학교)
- 代理人： 특허법인 신세기
- 主分类号： G02B21/26
- IPC分类号： G02B21/26 ; G02B21/00 ; G01N21/00
摘要：
스캐닝에 필요한 광경로를 간단히 하고 시료의 스캔시 정밀한 스캔 조정이 가능한 광자현미경 장치 및 그 스캔방법이 소개된다. 이 중에서, 광자현미경 장치는, Z스테이지, Y스테이지, X스테이지, 압전소자 액츄에이터 및 간극 조절유닛을 포함하는 구성으로, 광원이 고정된 상태에서 시료가 위치한 스테이지를 XYZ방향으로 미세하게 구동하여 스캔한다.
摘要（英）：
Simply the optical path required for the scanning of the sample and when scanning the scan precision adjustable photon microscope apparatus and a scanning method is introduced. Among this, photon microscope apparatus, Z stage, Y stage, and X-stage, in a configuration that includes a piezoelectric element actuator and the gap adjusting unit, and locate the sample stage to finely driven in the XYZ direction on the light source is fixed to the scan .
公开/授权文献:
- KR1020120111023A 이광자현미경 장치 公开/授权日：2012-10-10
信息查询:
EspacenetIPC结构图谱:
| G | 物理 |
| --G02 | 光学 |
| ----G02B | 光学元件、系统或仪器 |
| ------G02B21/00 | 显微镜 |
| --------G02B21/18 | .具有多光路的布置，例如，用于比较两个试样 |
| ----------G02B21/26 | ..平台；其调节装置 |