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1. 发明公开

KR1020140014408A 시험장치용 전원장치 및 이를 이용한 시험장치 有权
标题翻译：用于测试设备的电源设备，以及使用设备的测试设备
公开(公告)号：KR1020140014408A
公开(公告)日：2014-02-06
申请号：KR1020120016077
申请日：2012-02-16
申请人： 가부시키가이샤 어드밴티스트
发明人： 시미즈,타카히코 , 데가와,카츠히코
IPC分类号： G01R31/28
CPC分类号： G01R31/2839 , G01R31/30 , G01R31/31721 , G01R31/3173
摘要： The present invention provides a power apparatus for performing the most optimal control for overload or parasitic impedance. In order to solve the problem, a first Analog-to-Digital (A/D) converter (22) converts an analog value (S2') which is supplied to a power source terminal (P1) of a Device under Test (DUT) (1) corresponding to the analog value (S2') to a digital value (S3). A digital signal processing circuit (24) is produced by a digital operation process of a control value (S4) which is to be adjusted to match a reference value Ref to the digital value (S3). A first Digital-to-Analog (D/A) converter (26) provides an analog source signal (S1) obtained from converting a control value (S4) from digital to analog to start a power supply line (4) to the power source terminal (P1) of DUT (1). A load estimator (40) authorizes a test signal (S7) which includes some of frequency components that provides the supply line (4) to a node (N1) of which the power source terminal (P1) needs to be connected to, and it generates a control parameter (S8) of the digital signal processing circuit (24) corresponding to the test signal (S7) and the analog value of an observation signal (S2'). [Reference numerals] (48) Calculation unit
摘要翻译：本发明提供一种用于对过载或寄生阻抗执行最佳控制的电力设备。为了解决该问题，第一模数（A / D）转换器（22）转换提供给被测器件（DUT）的电源端子（P1）的模拟值（S2'），（1）对应于模拟值（S2'）到数字值（S3）。数字信号处理电路（24）通过数字操作处理产生控制值（S4），该控制值（S4）将被调整以匹配参考值Ref与数字值（S3）。第一数模（D / A）转换器（26）提供通过将控制值（S4）从数字转换为模拟而获得的模拟源信号（S1），以将电源线（4）启动到电源 DUT（1）的端子（P1）。负载估计器（40）授权测试信号（S7），其包括将电源线（4）提供给电源端子（P1）需要连接到的节点（N1）的一些频率分量，并且产生对应于测试信号（S7）的数字信号处理电路（24）和观测信号（S2'）的模拟值的控制参数（S8）。（附图标记）（48）计算单元

2. 发明公开

KR1020120064627A 전원장치, 그 제어방법 및 이들을 이용한 시험장치 审中-实审
标题翻译：电源装置及其控制方法以及使用装置和方法的测试装置
公开(公告)号：KR1020120064627A
公开(公告)日：2012-06-19
申请号：KR1020110130047
申请日：2011-12-07
申请人： 가부시키가이샤 어드밴티스트
发明人： 시미즈,타카히코 , 데가와,카츠히코
IPC分类号： G05F1/565 , G05F1/10
CPC分类号： H02M3/156 , G01R31/40 , H02M2003/1566
摘要： PURPOSE: A power supply apparatus, a control method thereof, and a testing apparatus using the same are provided to stably supply power to a semiconductor device by including a nonlinear controller. CONSTITUTION: A current detector(30) detects an output current outputted from a power supply apparatus. A nonlinear controller(20) controls output quantity. A quantity of charge charged/discharged during a second period is become equal to a quantity of charge charged/discharged in a capacitor during a first period. The first period is a period between a first time point and a second time point. A load current flowing into a power source terminal is changed at the first time point. The load current and the output current are matched at the second time point. The second time period is a period between the second time point and a third time point. The nonlinear controller finishes a control operation at the third time point.
摘要翻译：目的：提供电源装置，其控制方法和使用该电源装置的测试装置，以通过包括非线性控制器来稳定地向半导体器件供电。构成：电流检测器（30）检测从电源装置输出的输出电流。非线性控制器（20）控制输出量。第二期间的充放电量与第一期间的电容器的充放电量相等。第一时段是第一时间点和第二时间点之间的周期。流入电源端子的负载电流在第一时间点变化。负载电流和输出电流在第二时间点匹配。第二时间段是第二时间点和第三时间点之间的时间段。非线性控制器在第三个时间点完成控制操作。

3. 发明授权

KR101421333B1 시험장치용 전원장치 및 이를 이용한 시험장치 有权
标题翻译：用于测试设备的电源设备，以及使用设备的测试设备
公开(公告)号：KR101421333B1
公开(公告)日：2014-07-18
申请号：KR1020120016077
申请日：2012-02-16
申请人： 가부시키가이샤 어드밴티스트
发明人： 시미즈,타카히코 , 데가와,카츠히코
IPC分类号： G01R31/28
CPC分类号： G01R31/2839 , G01R31/30 , G01R31/31721 , G01R31/3173
摘要： 부하나 기생 임피던스에 상응한 최적 제어를 할 수 있는 전원장치를 제공한다.

제 1 A/D 컨버터(22)는 DUT(1)의 전원 단자(P1)에 공급되는 전원 신호(S2)에 상응한 아날로그 관측값(S2')을 디지털 관측값(S3)으로 변환한다. 디지털 신호 처리 회로(24)는, 디지털 관측값(S3)이 소정의 기준값 Ref와 일치하도록 조절되는 제어값(S4)을 디지털 연산 처리에 의해 생성한다. 제 1 D/A 컨버터(26)는 제어값(S4)을 디지털/아날로그 변환하여 얻어지는 아날로그 전원 신호(S1)를, 전원 라인(4)을 개재하여 DUT(1)의 전원 단자(P1)에 공급한다. 부하 추정부(40)는, 전원 단자(P1)가 접속되어야 하는 노드(N1)에, 전원 라인(4)을 개재하여 소정의 주파수 성분을 포함하는 시험 신호(S7)를 인가하고, 시험 신호(S7) 및 관측 신호(S2')에 상응하여, 디지털 신호 처리 회로(24)의 제어 파라미터(S8)를 생성한다.

4. 发明授权

KR101450459B1 시험 장치용의 전원 장치 및 이를 이용한 시험 장치 有权
标题翻译：用于测试装置和测试装置的电源装置
公开(公告)号：KR101450459B1
公开(公告)日：2014-10-14
申请号：KR1020130073858
申请日：2013-06-26
申请人： 가부시키가이샤 어드밴티스트
发明人： 시미즈,타카히코 , 데가와,카츠히코
IPC分类号： G05F1/10 , G01R31/26
CPC分类号： G05F1/625 , G05F1/575
摘要： [과제]
검출 저항의 저항값의 변경시에, 글리치를 제어한다.
[해결과제]
메인 목표값 설정부(10)는 전원 전압(V
DD )의 목표 레벨을 나타내는 전압 목표값(D
REF_V )을 생성한다. 디지털 연산부(30)는, 현재의 전원 전압(V
DD )의 전압 레벨을 나타내는 디지털 전압 관측값(D
M_V )이 전압 목표값(D
REF_V )과 일치하도록 조절되는 메인 제어값(D
OUT )을 디지털 연산 처리에 의해 생성한다. 메인 D/A 컨버터(40)는 메인 제어값(D
OUT )을 아날로그의 전원 신호(S
PS )로 변환하고, 전원 라인(4)을 통해 DUT(1)의 전원 단자로 공급한다. 보조 전류원(60)은 전원 라인(4)과는 다른 서브 경로(8)에서, DUT(1)의 전원 단자로 보조전류(I
SUB )를 공급한다.

5. 发明公开

KR1020140004009A 시험 장치용의 전원 장치 및 이를 이용한 시험 장치 有权
标题翻译：用于测试装置和测试装置的电源装置
公开(公告)号：KR1020140004009A
公开(公告)日：2014-01-10
申请号：KR1020130073858
申请日：2013-06-26
申请人： 가부시키가이샤 어드밴티스트
发明人： 시미즈,타카히코 , 데가와,카츠히코
IPC分类号： G05F1/10 , G01R31/26
CPC分类号： G05F1/625 , G05F1/575
摘要： [Task] A glitch is controlled when a resistance value of detection resistance is changed. [Task solution] A main target value setting part (10) produces a voltage target value (D_REF_V) showing a target level of power voltage (V_DD). A digital calculation part (30) produces a main control value (D_OUT) which is controlled so that a digital voltage measurement value (D_M_V), which indicates the voltage level of the current power voltage (V_DD), corresponds to the voltage target value (D_REF_V) through digital calculation processing. A main D/A converter (40) changes the main control value (D_OUT) into an analog power signal (S_PS) and supplies it to a power terminal of a DUT (1) through a power line (4). An auxiliary current source (60) supplies auxiliary current (I_SUB) to the power terminal of the DUT (1) through an auxiliary bath (8) different from the power line (4).
摘要翻译： [任务]当检测电阻的电阻值改变时，毛刺被控制。 [任务解决方案]主目标值设定部（10）产生表示目标电平电平（V_DD）的电压目标值（D_REF_V）。数字计算部分（30）产生主控制值（D_OUT），其被控制使得指示当前电源电压（V_DD）的电压电平的数字电压测量值（D_M_V）对应于电压目标值（ D_REF_V）通过数字计算处理。主D / A转换器（40）将主控制值（D_OUT）改变为模拟功率信号（S_PS），并通过电力线（4）将其提供给DUT（1）的电源端子。辅助电流源（60）通过不同于电力线（4）的辅助电池（8）向DUT（1）的电源端子提供辅助电流（I_SUB）。

6. 发明授权

KR101858258B1 전원장치, 그 제어방법 및 이들을 이용한 시험장치 有权
公开(公告)号：KR101858258B1
公开(公告)日：2018-06-28
申请号：KR1020110130047
申请日：2011-12-07
申请人： 가부시키가이샤 어드밴티스트
发明人： 시미즈,타카히코 , 데가와,카츠히코
IPC分类号： G05F1/565 , G05F1/10
CPC分类号： H02M3/156 , G01R31/40 , H02M2003/1566
摘要： 반도체디바이스에안정적으로전원공급을할 수있는전원장치를제공한다. DUT(1)의전원단자에는부하용량(C)이접속된다. 전류검출부(30)는전원장치(100)에서출력되는출력전류(I)를검출한다. 비선형제어부(20)는 DUT(1)의전원단자에흘러드는부하전류(I)가변동하는제 1 타이밍에서부하전류(I)와출력전류(I)가일치한제 2 타이밍까지의제 1 기간에부하용량(CL)에충/방전되는전하량과, 제 2 타이밍에서제어를종료하는제 3 타이밍까지의제 2 기간에부하용량(C)에충/방전되는전하량이균일해지도록, 그출력량(S)을제어한다.

7. 发明授权

KR101450458B1 전원 장치 및 이를 사용한 시험 장치 有权
标题翻译：电源装置和测试装置
公开(公告)号：KR101450458B1
公开(公告)日：2014-10-14
申请号：KR1020130073856
申请日：2013-06-26
申请人： 가부시키가이샤 어드밴티스트
发明人： 시미즈,타카히코 , 데가와,카츠히코
IPC分类号： G05F1/10 , G01R31/26
CPC分类号： H02M3/157 , G01R1/00 , G05F1/00 , H02M1/00 , H02M3/04 , H02M2001/0012 , H02M2001/0025
摘要： [과제]
부하를 포함하는 계(系)의 변동시에 고속으로 전원 신호를 안정화한다.
[해결수단]
전원 장치(100)는, 전원 라인(4)을 통해 디바이스의 전원 단자에 전원 신호(S
PS )를 공급한다. A/D 컨버터(20)는 디바이스의 전원 단자에 공급되는 전원 신호(S
PS )에 따른 아날로그 관측값(V
M )을 피드백 라인(6)을 통해 받고, 디지털 관측값(D
M )으로 변환한다. 디지털 연산부(30)는 A/D 컨버터(20)로부터의 디지털 관측값(D
M )이 소정의 기준값(Ref)과 일치하도록 조절되는 제어값(D
OUT )을 디지털 연산 처리에 의해 생성한다. D/A 컨버터(40)는 제어값(D
OUT )을 디지털/아날로그 변환하고, 아날로그의 전원 신호(S
PS )를 전원 라인(4)을 통해 디바이스의 전원 단자로 공급한다. 귀환율 산출부(50)는 제어값(D
OUT )과 디지털 관측값(D
M )의 비를 산출한다. 디지털 연산부(30)는 귀환율 산출부(50)가 계산한 비에 근거하여, 그 연산 처리의 내용이 변경가능하도록 구성된다.

8. 发明公开

KR1020140004008A 전원 장치 및 이를 사용한 시험 장치 有权
标题翻译：电源装置和测试装置
公开(公告)号：KR1020140004008A
公开(公告)日：2014-01-10
申请号：KR1020130073856
申请日：2013-06-26
申请人： 가부시키가이샤 어드밴티스트
发明人： 시미즈,타카히코 , 데가와,카츠히코
IPC分类号： G05F1/10 , G01R31/26
CPC分类号： H02M3/157 , G01R1/00 , G05F1/00 , H02M1/00 , H02M3/04 , H02M2001/0012 , H02M2001/0025
摘要： [Task] A power signal is stabilized at a high speed when a system including load is changed. [Task solution] A power supply device (100) supplies a power signal (S_PS) to a power terminal of a device through a power line (4). An A/D converter (20) receives an analog observation value (V_M) according to the power signal (S_PS) supplied to the power terminal of the device through a feedback line (6) and converts the analog observation value into a digital observation value (D_M). A digital calculation part (30) produces a control value (D_OUT) which is controlled so that the digital observation value (D_M) from the A/D converter (20) corresponds to a predetermined reference value (Ref) with digital calculation processing. A D/A converter (40) performs digital/ analog conversion of the control value (D_OUT) and supplies an analog power signal (S_PS) to the power terminal of the device through the power line (4). A returning rate calculation part (50) calculates a ratio of the control value (D_OUT) and the digital observation value (D_M). The digital calculation part (30) is formed so that contents of calculation processing can be changed based on the ratio calculated by the returning rate calculation part (50). [Reference numerals] (50) Feedback ratio calculation part
摘要翻译： [任务]当包含负载的系统发生变化时，电源信号以高速稳定。 [任务解决方案]电源装置（100）通过电力线（4）向电力终端提供电力信号（S_PS）。 A / D转换器（20）根据通过反馈线（6）提供给器件的电源端子的功率信号（S_PS）接收模拟观测值（V_M），并将模拟观测值转换为数字观测值（D_M）。数字计算部分（30）产生控制值（D_OUT），控制值（D_OUT）被控制，使得来自A / D转换器（20）的数字观测值（D_M）与数字计算处理对应于预定的参考值（Ref）。 D / A转换器（40）执行控制值（D_OUT）的数字/模拟转换，并且通过电力线（4）将模拟功率信号（S_PS）提供给设备的电源端子。返回率计算部（50）计算控制值（D_OUT）和数字观测值（D_M）的比例。数字计算部（30）形成为能够根据由返回率计算部（50）计算的比率来改变计算处理的内容。（附图标记）（50）反馈比计算部

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