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1. 发明授权

KR101071675B1 전기적 접속장치 有权
标题翻译：电气连接装置
公开(公告)号：KR101071675B1
公开(公告)日：2011-10-11
申请号：KR1020097006082
申请日：2007-08-06
申请人： 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스
发明人： 나리타,히사오 , 야마구치,노부유키
IPC分类号： G01R1/067 , G01R1/073 , G01R31/26 , H01L21/66
CPC分类号： G01R31/2889 , G01R1/07342 , G01R1/0735
摘要： 선택도: 도3

2. 发明授权

KR101042514B1 프로브 카드 有权
标题翻译：探头卡
公开(公告)号：KR101042514B1
公开(公告)日：2011-06-17
申请号：KR1020080118297
申请日：2008-11-26
申请人： 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스
发明人： 나리타,사토시 , 나리타,히사오 , 야마구치,노부유키
IPC分类号： H01L21/66
CPC分类号： G01R1/07364 , G01R1/07342
摘要： 본 발명의 목적은, 서로 어긋나 있는 3개 이상의 열(列)에 복수의 전극을 배치한 전자 디바이스의 각 전극에 1개의 프로브의 침선을, 나란히 인접해 있는 프로브끼리 서로 접촉하지 않고, 각 전극에 일대일의 형태로 확실히 접촉시키는데 있다. 본 발명의 프로브 카드는, 기판의 한쪽 면 쪽에 배치된 복수의 프로브를 포함한다. 이들 프로브는, 피검사체의 제1 전극열의 전극에 접촉하는 복수의 프로브를 포함하는 제1 프로브 그룹과, 피검사체의 제2 전극열의 전극에 접촉하는 복수의 프로브를 포함하는 제2 프로브 그룹과, 피검사체의 중간 전극열의 전극에 번갈아 접촉하는 복수의 프로브를 포함하는 제3 및 제4 프로브 그룹에, 각각 속해 있다.
프로브 카드, 프로브, 베이스부(針元部, probe base portion), 본체부(針主體部, probe main body portion), 침선부(針先部, probe tip portion), 니들 홀더(針押, needle holder)

3. 发明公开

KR1020090057902A 프로브 카드 有权
标题翻译：探针卡
公开(公告)号：KR1020090057902A
公开(公告)日：2009-06-08
申请号：KR1020080118297
申请日：2008-11-26
申请人： 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스
发明人： 나리타,사토시 , 나리타,히사오 , 야마구치,노부유키
IPC分类号： H01L21/66
CPC分类号： G01R1/07364 , G01R1/07342
摘要： A probe card is provided to prevent a contact between probes by alternately positioning probe tips of a third probe group and a fourth probe group. A plurality of connection parts is arranged on a bottom surface of a substrate. A first probe group, a second probe group, a third probe group, and a fourth probe group(46a-46d) include base parts connected to the connection parts and main body parts extended from a bottom end of the base parts to a right and left direction. A probe tip part is extended from a front end of the main body part to a bottom side. The main body part of the probe of the first probe group and the third probe group is extended from a bottom end of the base part to a probe side of the second probe group and the fourth probe group. The main body part of the probe of the second probe group and the fourth probe group is extended from a bottom end of the base part to a probe side of the first probe group and the third probe group.
摘要翻译：提供探针卡以通过交替地定位第三探针组和第四探针组的探针尖来防止探针之间的接触。多个连接部件布置在基板的底表面上。第一探针组，第二探针组，第三探针组和第四探针组（46a-46d）包括连接到连接部的基部和从基部的底端向右延伸的主体部，以及左方向探针尖端部分从主体部分的前端延伸到底侧。第一探针组和第三探针组的探针的主体部分从基部的底端延伸到第二探针组和第四探针组的探针侧。第二探针组和第四探针组的探针的主体部分从基部的底端延伸到第一探针组和第三探针组的探针侧。

4. 发明公开

KR1020090045385A 전기적 접속장치 有权
标题翻译：电气连接装置
公开(公告)号：KR1020090045385A
公开(公告)日：2009-05-07
申请号：KR1020097006082
申请日：2007-08-06
申请人： 가부시키가이샤 니혼 마이크로닉스
发明人： 나리타,히사오 , 야마구치,노부유키
IPC分类号： G01R1/067 , G01R1/073 , G01R31/26 , H01L21/66
CPC分类号： G01R31/2889 , G01R1/07342 , G01R1/0735
摘要： 전기적 접속장치는, 지지기판과, 상기 지지기판에 배치된 판스프링과, 상기 판스프링을 지지기판에 부착하는 부착장치와, 아래쪽을 향하는 설치면을 갖는 블록과, 복수의 접촉자가 배치된 가요성 회로기판을 포함한다. 블록은, 회로기판을 설치하는 설치면이 지지기판보다 아래쪽으로 돌출되어 있다. 판스프링은, 적어도 블록을 설치하고 있는 중앙 영역이 위쪽을 향해 힘이 가해진 상태로 초기 하중을 받고 있다. 이에 의해, 오버드라이브 양을 크게 하지 않고, 양호한 전기적 접촉 상태를 얻을 수 있다.
선택도: 도3

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