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    • 1. 发明授权
    • 반도체장치
    • 用于低电压运行的大规模集成电路
    • KR100174818B1
    • 1999-04-01
    • KR1019980014893
    • 1998-04-27
    • 가부시끼가이샤 히다치 세이사꾸쇼히다치초엘에스아이 엔지니어링가부시키가이샤
    • 에토쥰이토기요오가와지리요시키나카고메요시노부구메에이지다나카히토시
    • G11C11/21
    • 광범위한 전원전압과 전원의 종류에 대응할 수 있는 전압변환회로가 미세한 소자로 구성된 고집적의 반도체장치에 관한 것으로서, 넓은 범위의 전원전압의 변동에 대해서도 일정한 동작속도로 동작하는 대규모 집적회로를 제공하기 위해, 제1 전압에서 동작하는 제1 회로블럭과 제1 전압보다 큰 제2 전압에서 동작하는 제2 회로블럭을 갖고, 제2 회로블럭은 여러개의 논리회로를 포함하고, 여러개의 논리회로의 각각은 2 전압 사이에 소오스-드레인경로가 직렬로 접속된 제1 도전형의 제1 MISFET, 제1 도전형의 제2 MISFET, 제2 도전형의 제3 MISFET 및 제2 도전형의 제4 MISFET를 포함하고, 제2 MISFET의 게이트에는 제2 전압의 하이레벨보다 작은 레벨을 갖는 제1 바이어스전압이 공급됨과 동시에 제3 MISFET의 게이트에는 제2 전압의 로우레벨보다 큰 레벨을 갖는 제2 바� �어스전압이 공급되는 구성으로 한다.
      이러한 구성으로 하는 것에 의해, 보다 낮은 전원전압에서도 속도성능을 현저하게 저해하지 않고 동작하는 메모리회로를 제공할 수 있어 배터리백업을 메모리나 전지동작용 메모리로서 사용할 수 있고, 또 센스앰프에 한정되지 않고, 회로의 용도에 따라서 적당하게 사용하는 것에 의해 고속이고 저소비전력의 LSI를 제공할 수 있다는 효과가 얻어진다.
    • 4. 发明授权
    • 저전원전압으로 동작하는 반도체장치
    • 低电压工作的半导体器件
    • KR100266425B1
    • 2000-09-15
    • KR1020000004825
    • 2000-02-01
    • 가부시끼가이샤 히다치 세이사꾸쇼히다치초엘에스아이 엔지니어링가부시키가이샤
    • 이토기요오다나카히토시와타나베야스시구메에이지우치기리다츠미이소다마사노리야마사키에이지나카고메요시노부
    • G11C11/409
    • G11C5/147G11C5/145G11C8/08G11C11/4074G11C11/4085
    • PURPOSE: A semiconductor device operated at a low supply voltage is provided to perform stably an operation at the low voltage without increasing the chip area by sharing an adjacent memory cell. CONSTITUTION: In the circuit, inverters(I5-I8), resistor(R2), capacitor(C2), NAND gate(NA2), and NOR gate(NO1) constitute a circuit to prevent overlapping of(PA,PA;I2,I3,R1,C1) constitute a circuit to determine a fall delay time of PA and PB; I9-I13 and NA3 constitute a circuit to generate a fall delay of PA and PB; and I14-I25, a buffer inverter. The number of buffer inverter stages is optional as long as it is odd or it is even when required. The number of inverter stages is only required to be adjusted in accordance with the magnitude of the load. The present circuit is characterized by selection of the time constant of RC which is sufficiently large compared to the delay time of the inverter in order to suppress fluctuations of the oscillating frequency due to fluctuations of the supply voltage. Therefore, the oscillating frequency is stabilized even if the ratio of VT of the transistors to the supply voltage is 1/3 or more and the delay time of the inverter greatly depends on the supply voltage.
    • 目的:提供以低电源工作的半导体器件,以便在低电压下稳定地进行操作,而不通过共享相邻的存储单元来增加芯片面积。 构成:在电路中,逆变器(I5-I8),电阻器(R2),电容器(C2),与非门(NA2)和和非门(NO1)构成一个电路,以防止(PA,PA; I2, ,R1,C1)构成确定PA和PB的下降延迟时间的电路; I9-I13和NA3构成产生PA和PB的下降延迟的电路; 和I14-I25,缓冲逆变器。 缓冲逆变器级的数量是可选的,只要它是奇数或甚至在需要时。 逆变器级数仅需要根据负载的大小进行调整。 本电路的特征在于选择与逆变器的延迟时间相比足够大的RC的时间常数,以便抑制由于电源电压的波动引起的振荡频率的波动。 因此,即使晶体管的VT与电源电压的比例为1/3以上,反相器的延迟时间大大取决于电源电压,振荡频率也稳定。