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热词
    • 1. 发明授权
    • 반도체 검사 장치로부터 트레이를 반출하기 위한 장치
    • 从半导体检查装置取出托盘的设备
    • KR101814702B1
    • 2018-01-04
    • KR1020160123242
    • 2016-09-26
    • 허경삼강명길
    • 허경삼강명길
    • H01L21/677G01R31/26
    • H01L21/67721G01R31/26H01L21/6773H01L21/67763H01L21/6779
    • 본발명은반도체검사장치로부터트레이를반출하기위한장치에관한것으로, 이러한본 발명은길이방향으로왕복운동력을제공하는실린더와, 상기실린더를고정지지하는고정플레이트와, 상기고정플레이트의일 측에서제1 슬라이드부재를통해연결되며, 상기실린더의운동력에따라초기위치로부터상기반도체검사장치내측인소정길이전방으로이동하거나소정길이전방으로부터상기초기위치로복귀하는메인플레이트와, 상기메인플레이트상부에서제2 슬라이드부재를통해연결되며, 외력에의해초기위치로부터상기반도체검사장치외측인소정길이후방으로이동하거나소정길이후방에서상기초기위치로복귀하는슬라이드플레이트와, 상기슬라이드플레이트상에배치되어트레이를수납하는스토커플레이트를포함하는스토커유닛과복수의스토커유닛을포함하는스토커장치를제공한다.
    • 本发明涉及一种用于从半导体检查装置执行托盘的设备,该设备包括用于在纵向方向上提供往复运动的缸体,用于固定地支撑缸体的固定板, 主板,其通过一个滑动构件连接并且从半导体测试设备内的初始位置向前移动到预定长度或者根据气缸的移动力从初始位置从预定长度返回到初始位置; 滑动板,其经由滑动构件连接并且通过外力从初始位置向后移动到半导体检查设备外部的预定长度或从预定长度返回到初始位置; 储料器单元包括储料器板和包括多个储料器单元的储料器单元 提供价值。
    • 4. 发明授权
    • 이중관 구조의 냉매가스 분사관 및 이를 이용한 핸들러 장치
    • 具有双管结构的制冷剂注射管,并与之同时处理
    • KR101360159B1
    • 2014-02-13
    • KR1020120091279
    • 2012-08-21
    • 허경삼
    • 권오석
    • H01L21/66G01R31/26
    • Disclosed is a refrigerant gas injection tube having a double-tube structure for a handler. The injection tube includes a dry air tube injecting/discharging dry air; a refrigerant gas tube having an external diameter which is smaller than the inner diameter of the dry air tube and arranged in the dry air tube; and a refrigerant gas injection hole penetrating the dry air tube and the refrigerant gas tube. The refrigerant gas injection hole may be formed to spray the refrigerant gas injected to the refrigerant gas injection tube to the outside of the dry air tube without spraying the refrigerant gas into the dry air tube.
    • 公开了一种具有用于处理器的双管结构的制冷剂气体注入管。 注射管包括注入/排放干燥空气的干燥空气管; 制冷剂气体管,其外径小于所述干燥空气管的内径,并布置在所述干燥空气管中; 以及贯穿干燥空气管和制冷剂气体管的制冷剂气体注入孔。 制冷剂气体注入孔可以形成为将喷射到制冷剂气体注入管的制冷剂气体喷射到干燥空气管的外部,而不将制冷剂气体喷射到干燥空气管中。
    • 7. 发明公开
    • 트레이 내 반도체 칩을 점검하기 위한 장치, 이를 위한 방법 및 이 방법을 수행하는 응용 프로그램이 기록된 컴퓨터 판독 가능한 기록매체
    • 用于检查托盘方法中的半导体芯片的设备和存储执行该方法的程序的计算机可记录介质
    • KR20180026045A
    • 2018-03-12
    • KR20160112920
    • 2016-09-02
    • 허경삼강명길
    • HER KYONG SAMKANG MYUNG KIL
    • G01R31/28G01R31/308
    • G01R31/2893G01R31/2867G01R31/308G06T7/0002G06T2207/30148
    • 본발명은트레이내 반도체칩을점검하기위한장치, 이를위한방법및 이방법을수행하는응용프로그램이기록된컴퓨터판독가능한기록매체에관한것이다. 이러한본 발명은바닥면에관통홀이형성된복수의포켓을가지는트레이가세트플레이트에안착되면상기세트플레이트를촬영하는카메라부와, 상기카메라부의촬영시 상기세트플레이트를조명하는조명부와, 상기세트플레이트를촬영한영상에서트레이영역영상을추출한후, 상기트레이영역영상으로부터상기관통홀영역의조도를통해상기복수의포켓각각에반도체칩이존재하는지여부를판별하는제어부를포함하는것을특징으로하는트레이내 반도체칩을점검하기위한장치와, 이를위한방법및 이방법을수행하는응용프로그램이기록된컴퓨터판독가능한기록매체를제공한다.
    • 本发明涉及一种设备,该申请是执行该方法,并且该方法为此记录用于将半导体芯片托盘的检查的计算机可读记录介质。 本发明,并且在固定到所述固定板,用于照亮该组板的照明部的底表面上形成具有通孔的多个凹坑的托盘时拍摄组板的照相机单元,当摄像机单元时,该固定板 在捕获图像中提取托盘区域图像之后,从托盘区域图像托盘;以及确定控制单元是否在半导体芯片存在于每个所述多个凹穴的通过通孔的区域内的粗糙度 提供了一种用于检查半导体芯片的装置,其方法和记录有用于执行该方法的应用程序的计算机可读记录介质。