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    • 42. 发明公开
    • 연상 메모리 셀들을 갖는 반도체 메모리 장치 및그 장치의 탐색 방법
    • KR1019990040860A
    • 1999-06-15
    • KR1019970061350
    • 1997-11-20
    • 삼성전자주식회사
    • 이광진
    • G11C15/00
    • 본 발명은 반도체 메모리 장치에 관한 것으로서, 더 구체적으로는 연상 메모리 셀을 갖는 반도체 메모리 장치의 데이터 탐색 방법에 관한 것으로서, 복수 개의 연상 메모리 셀을 구비하는 연상 메모리 셀 어레이와 랜덤 억세스 메모리 셀을 갖고, 상기 연상 메모리 셀을 통해 랜덤 억세스 메모리 셀에 저장된 데이터와 외부로부터 인가되는 탐색 데이터를 비교하여 매치 여부를 판단하는 방법에 있어서, 비교되는 탐색 데이터와 랜덤 억세스 메모리 셀에 저장된 데이터가 전달되는 매치 라인을 프리챠지하는 단계와; 비트 라인을 프리챠지하는 단계와; 비트 라인에 탐색 데이터를 입력하는 단계와; 상기 탐색 데이터를 비트 라인을 통해 입력받는 단계와; 상기 탐색 데이터와 랜덤 억세스 메모리 셀에 저장된 데이터를 비교하여 출력하는 단계를 포함한다. 이와 같은 방법에 의해서, 매치 라인이 프리챠지하는 구간에서 탐색 데이터가 들어와도 안정적인 탐색 동작을 수행하고, 매치 라인으로 인해 전류 소모 양도 줄일 수 있다.
    • 44. 发明公开
    • 반도체 집적회로
    • KR1019980702846A
    • 1998-08-05
    • KR1019970706253
    • 1996-03-18
    • 가부시끼가이샤 히다치 세이사꾸쇼
    • 히구치히사유키다치바나스구루이시바시고이치로우에하라게이지로
    • G11C15/00
    • 반도체 집적회로에 관한 것으로서, 풀어소시에이티브방식의 TLB를 사용해서 고속이고 저소비전력의 고속데이타 일치검출회로 및 그것을 사용한 TLB를 제공하기 위한 것으로서, 반도체 집적회로가 입력된 다비트의 데이타신호와 기억된 데이타를 비교하고 일치일 때 비도통, 불일치일 때 도통으로 되고 비교하는 입력신호의 수와 동일 갯수의 전계효과형 트랜지스터, 이 전계효과형 트랜지스터의 드레인이 병렬로 접속되고 또한 소오스가 소정전위를 공급하고 병렬로 접속되고 또한 적어도 데이타신호와 데이타가 비교가 실행되는 기간에는 전류가 공급되는 일치검출 신호선을 갖는 구성으로 하였다.
      이렇게 하는 것에 의해, 연상메모리의 일치신호 검출신호선으로 소정의 전류를 공급해서 신호선의 전위의 변화를 조사하여 데이타의 일치/불일치를 검출하는 것에 의해 검출회로의 동작을 고속화하고 또 회로를 간단화할 수 있으며, 또한 시간적으로 또 공간적으로 전력을 집중적으로 공급하여 고속동작을 손상시키는 일 없이 저소비 전력화를 달성할 수 있다는 효과가 얻어진다.
    • 49. 发明公开
    • 멤리스터 기반 내용 지정 메모리
    • 基于MEMRISTOR的内容可寻址内存
    • KR20180011016A
    • 2018-01-31
    • KR20170092234
    • 2017-07-20
    • G11C15/00G06F17/30G11C11/16
    • G11C15/046G11C13/0002G11C13/0007G11C15/04
    • 예시적인내용어드레스지정가능메모리. 메모리의비트셀은제 1 데이터라인과제 2 데이터라인사이에서직렬로연결된멤리스터및 스위칭트랜지스터를포함할수 있다. 또한, 비트셀은매치라인과레일사이에연결된매치라인트랜지스터를포함할수 있다. 매치라인트랜지스터의게이트는멤리스터및 스위칭트랜지스터의공통노드에연결될수 있다. 스위칭트랜지스터는, 온일때의채널저항값이멤리스터의저저항상태와연관된저항값과멤리스터의고저항상태와연관된저항값사이에있도록크기가정해질수 있다.
    • 示例内容可寻址内存。 存储器的位单元可以包括串联连接在第一数据线和第二数据线之间的忆阻器和开关晶体管。 位单元还可以包括连接在匹配线和轨道之间的匹配线晶体管。 匹配线晶体管的栅极可以连接到忆阻器和开关晶体管的公共节点。 开关晶体管的大小可以使得其导通时的沟道电阻在与忆阻器的低电阻状态相关的电阻和与忆阻器的高电阻状态相关的电阻之间。