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    • 7. 发明专利
    • 赤外線検知装置
    • 红外探测器
    • JP2016133305A
    • 2016-07-25
    • JP2015005882
    • 2015-01-15
    • 富士通株式会社
    • 松倉 祐輔
    • G01J1/02G01J1/42G01J5/48H04N5/33H04N5/365H03M1/10H03M1/06G01J1/44
    • 【課題】読出回路の入出力特性の非線形性を考慮して、同一強度の赤外線が入射した場合に同一の電気信号が得られるようにする。 【解決手段】赤外線検知装置を、入射した赤外線に応じて電気信号を生成する赤外線検知素子10と、赤外線検知素子に生成された電気信号を読み出す読出回路3Aと、読出回路から出力される電気信号の実測値と理論予測値との対応関係に基づいて、読出回路から出力される電気信号を較正する信号処理部4とを備えるものとする。 【選択図】図1
    • 要解决的问题:考虑到读取电路的输入/输出特性的非线性,提供一种可以获得具有相同强度的红外线获得相同电信号的红外检测器。解决方案:红外检测器包括:红外检测元件 10,用于根据入射的红外线产生电信号; 用于读取由红外线检测元件产生的电信号的读取电路3A; 以及信号处理部分4,用于根据读取电路输出的电信号的测量值和理论预测值之间的对应关系来校准由读取电路输出的电信号。选择的图示:图1
    • 8. 发明专利
    • 半導体装置
    • 半导体器件
    • JP2016046617A
    • 2016-04-04
    • JP2014168171
    • 2014-08-21
    • ルネサスエレクトロニクス株式会社
    • 矢山 浩輔
    • G01K7/24G01K7/01H03M1/06
    • G01K15/005G01K7/01
    • 【課題】アプリケーションに対応した所望の出力特性を得ることが可能な半導体装置を提供することができる。 【解決手段】半導体装置10は、温度に応じたアナログのアナログ検知信号を生成する温度検知部11と、温度変化率を調整する温度変化率調整信号に基づいて、アナログ検知信号を調整された温度変化率に応じたデジタルのデジタル出力信号に変換するAD変換部12と、を備えるものである。温度変化率は、デジタル出力信号のビット当たりの検出温度の変化である。 【選択図】図1
    • 要解决的问题:提供能够获得与应用相对应的期望输出特性的半导体器件。解决方案:半导体器件10包括:温度检测器11,其根据温度产生模拟检测信号; 以及AD转换器12,其基于用于调节温度变化率的温度变化率调整信号,根据调节的温度变化率将模拟检测信号转换为数字输出信号。 温度变化率表示数字输出信号每位检测温度的变化。图1:
    • 10. 发明专利
    • アナログ信号処理装置
    • 模拟信号处理器
    • JP2015041808A
    • 2015-03-02
    • JP2013170678
    • 2013-08-20
    • 株式会社東芝Toshiba Corp
    • YONEMOTO GO
    • H03F1/52H03F3/45H03M1/06H03M1/12
    • 【課題】放射線の照射があっても、簡単な構成で測定誤差を軽減することが可能なアナログ信号処理回路を提供する。【解決手段】実施形態のアナログ信号処理装置のアナログ信号処理部は、オペアンプを含み、入力信号の信号処理を行って出力する。これと並行して、加熱部は、アナログ信号処理部のうち、少なくともオペアンプを含む所定の加熱対象回路を加熱し、当該加熱対象回路の温度を上昇させて所定温度範囲に保持する。【選択図】図1
    • 要解决的问题:提供一种模拟信号处理电路,即使在受到辐射时也能以简单的结构降低测量误差。解决方案:模拟信号处理器包括具有运算放大器的模拟信号处理部分,该运算放大器处理输入信号 输出相同。 同时,加热部分加热至少包括模拟信号处理部分中的运算放大器的预定加热目标电路,以升高加热目标电路的温度以将温度保持在预定温度范围内。