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1. 发明专利

JPWO2020184626A1 赤外線検出装置、赤外線検出方法、コンピュータに実行させるためのプログラムおよびプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体审中-公开
公开(公告)号：JPWO2020184626A1
公开(公告)日：2021-12-16
申请号：JP2020010609
申请日：2020-03-11
申请人：シャープ株式会社
发明人：北澤田鶴子
IPC分类号： G01J5/60 , G01J5/10 , G01J5/28
摘要：赤外線検出装置(10)は、検出ユニット(1)と、算出ユニット(3)とを備える。検出ユニット(1)は、特定の波長範囲である第1の波長範囲の赤外線を検出する。算出部(3)は、検出ユニット(1)の検出値に基づいて検出ユニット1が検出する光信号成分と赤外線が検出ユニット(1)に入射したときの温度上昇による熱信号の変化分である熱信号成分とを算出し、その算出した光信号成分および熱信号成分に基づいて測定対象物(30)の温度を算出する。

2. 发明专利

JP2018503815A 高温測定のための完全差動増幅审中-公开
公开(公告)号：JP2018503815A
公开(公告)日：2018-02-08
申请号：JP2017533527
申请日：2015-12-28
申请人：アドバンスト・エナジー・インダストリーズ・インコーポレイテッド , Advanced Energy Industries, Inc.
发明人：マレー, ドナルドエフ.
IPC分类号： G01J5/30 , G01J5/28
CPC分类号： G01J5/24 , G01J1/44 , G01J2001/4406 , G01J2001/446
摘要：本開示は、信号対雑音比を改良し、サンプリング速度を増加させ、増幅部への改良を介して、高温計のダイナミックレンジを増加させるためのシステム、方法、および装置を説明する。特に、単段非差動増幅器は、雑音の比例増加を伴わずに利得を増加させる、差動増幅器回路と置換され得る。差動増幅器回路は、差動電流を光検出器から受信し、それに応答して、トランスコンダクタンス利得を有する差動電圧出力を生成する並列に配置された一対のトランスインピーダンス増幅器回路を備えていることができる。

3. 发明专利

JP2015014509A 赤外線検知装置有权
标题翻译：红外探测器
公开(公告)号：JP2015014509A
公开(公告)日：2015-01-22
申请号：JP2013140961
申请日：2013-07-04
申请人：富士通株式会社 , Fujitsu Ltd
发明人： MATSUKURA YUSUKE
IPC分类号： G01J1/44 , G01J1/02 , G01J5/10 , G01J5/28 , H04N5/232
摘要：【課題】実際の赤外線検知素子の入出力特性に応じて、赤外線検知素子から出力される電気信号を精度良く補正できるようにする。【解決手段】赤外線検知装置1を、入射した赤外線に応じた電気信号を出力する赤外線検知素子10と、赤外線強度の温度に対する依存性に関する部分に、定数ではなく、温度の関数を含む関係式に基づいて、赤外線検知素子10から出力される電気信号を補正する信号処理部4とを備えるものとする。【選択図】図1
摘要翻译：要解决的问题：使得能够根据红外线检测元件的实际输入/输出特性来精确地校正从红外线检测元件输出的电信号。解决方案：红外检测器1包括：红外线检测元件10，其输出响应于入射的红外线的电信号; 以及信号处理单元4，其基于在与红外线强度对温度的依赖关系有关的部分中不包括常数但温度函数的关系式来校正从红外线检测元件10输出的电信号。

4. 发明专利

JP2014081204A Infrared sensor device and far or near determination device 有权
标题翻译：红外传感器装置和近距离确定装置
公开(公告)号：JP2014081204A
公开(公告)日：2014-05-08
申请号：JP2012227092
申请日：2012-10-12
申请人： Asahi Kasei Electronics Co Ltd , 旭化成エレクトロニクス株式会社
发明人： NISHIDA SOUSUKE , KATO AI
IPC分类号： G01J1/06 , G01J1/02 , G01J5/08 , G01J5/28 , H01L31/0232
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an infrared sensor device capable of performing far or near determination in a proximity distance even if an opening of a visual field restriction part is narrowed.SOLUTION: An infrared sensor device includes: an infrared sensor element 310 having a photoelectric conversion unit; an opening 321; and a visual field restriction part 320 covering a portion of a visual field of the infrared sensor element. One portion of a surface forming the opening 321 in the visual field restriction part 320 is covered with a reflection film 322 having higher reflectance than that of the other surface of the visual field restriction part 320. Also, of the surface forming the opening 321 in the visual field restriction part 320, the surface on the side of an external space is configured so as not to be covered with the reflection film 322 having the higher reflectance.
摘要翻译：要解决的问题：提供即使视场限制部的开口变窄也能够在近距离地进行远近测定的红外线传感器装置。解决方案：红外线传感器装置包括：红外线传感器元件310，其具有光电转换单元; 开口321; 以及覆盖红外线传感器元件的视野的一部分的视野限制部320。在视场限制部分320中形成开口321的表面的一部分被具有比视野限制部分320的另一个表面的反射率更高的反射率的反射膜322覆盖。而且，形成开口321的表面视野限制部320，外部空间侧的表面被配置为不被具有较高反射率的反射膜322覆盖。

5. 发明专利

JP4447752B2 Radiation detector 有权
公开(公告)号：JP4447752B2
公开(公告)日：2010-04-07
申请号：JP2000235874
申请日：2000-08-03
申请人：浜松ホトニクス株式会社
发明人：卓也本目 , 敏雄高林
IPC分类号： G01T1/20 , G01J5/28 , G01T1/29
CPC分类号： G01T1/2018 , Y10T29/49007

6. 发明专利

JP2009002688A Temperature calibration method for infrared detector and specific heat capacity measuring method 有权
标题翻译：红外探测器温度校准方法及特殊热容量测量方法
公开(公告)号：JP2009002688A
公开(公告)日：2009-01-08
申请号：JP2007161537
申请日：2007-06-19
申请人： Ulvac-Riko Inc , アルバック理工株式会社
发明人： TSUJIMOTO AKIHIRO , SHIMADA KENJI , ISHIKAWA JUNICHI , TAKASAKI YOICHI
IPC分类号： G01J5/00 , G01J5/28 , G01N25/18
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a temperature calibration method for infrared detectors, and a method for measuring a specific heat capacity by using a temperature-calibrated infrared detector, without using a thermocouple. SOLUTION: One surface of a standard sample is irradiated with laser pulse light, and a temperature change of the other surface is measured with a thermocouple for a predetermined period of time, and simultaneously an output change corresponding to the temperature change of the sample is measured with the infrared detector; exponential attenuation regions of these temperature and output changes are determined; and from a measured temperature with the thermocouple corresponding to a measured output with the infrared detector at a predetermined point of time in these regions, a temperature conversion coefficient for the measured output with the infrared detector is found. After the incident energy of the laser pulse light to the standard sample is found, one surface of a measuring sample is irradiated with laser pulse light; a temperature change of the other surface is measured with the temperature-calibrated infrared detector for the predetermined period of time; from the temperature change a maximum temperature rise value of the measuring sample on the occasion of the irradiation of the laser pulse light is found; and the specific heat capacity of the measuring sample is found from the incident energy and the weight of the measuring sample. COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT
摘要翻译：要解决的问题：提供用于红外检测器的温度校准方法，以及通过使用温度校准的红外检测器来测量比热容的方法，而不使用热电偶。
解决方案：用激光脉冲光照射标准样品的一个表面，并用热电偶测量另一表面的温度变化预定时间段，同时输出对应于温度变化的变化用红外探测器测量样品; 确定这些温度和输出变化的指数衰减区域; 在与这些区域中的预定时间点的红外线检测器的测量输出对应的热电偶的测量温度下，发现用红外线检测器测量的输出的温度转换系数。在入射到标准样品的激光脉冲光能量后，用激光脉冲光照射测量样品的一个表面; 用温度校准的红外检测器测量另一表面的温度变化达预定时间段; 从温度变化可以看出，在照射激光脉冲光的情况下，测量样品的最大温度上升值被发现; 并根据测量样品的入射能量和重量求出测量样品的比热容。版权所有（C）2009，JPO＆INPIT

7. 发明专利

JP2006292437A Temperature detection device 有权
标题翻译：温度检测装置
公开(公告)号：JP2006292437A
公开(公告)日：2006-10-26
申请号：JP2005110187
申请日：2005-04-06
申请人： Hamamatsu Photonics Kk , 浜松ホトニクス株式会社
发明人： OKADA SHINSUKE , ADACHI MASAYUKI
IPC分类号： G01J5/28 , G01J5/60 , H05B6/12
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a miniaturizable and inexpensive temperature detection device capable of performing easily optical adjustment or assembly. SOLUTION: In this temperature detection device 10, a temperature detection element 11 is equipped in a casing 110 with a substrate 120, an optical system 130, an InGaAs photodiode 141, an Si photodiode 142 and a signal processing part 150. Each light receiving surface of the InGaAs photodiode 141 and the Si photodiode 142 is faced to the same side, and the InGaAs photodiode 141 is arranged on the surface of the Si photodiode 142. COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT
摘要翻译：要解决的问题：提供能够执行容易的光学调整或组装的小型化且廉价的温度检测装置。解决方案：在该温度检测装置10中，温度检测元件11装配在具有基板120，光学系统130，InGaAs光电二极管141，Si光电二极管142和信号处理部150的壳体110中。每个 InGaAs光电二极管141和Si光电二极管142的光接收表面面向同一侧，并且InGaAs光电二极管141被布置在Si光电二极管142的表面上。版权所有（C）2007，JPO＆INPIT

8. 发明专利

JP2005315592A Electric circuit unit and electric product 审中-公开
标题翻译：电气电路单元和电子产品
公开(公告)号：JP2005315592A
公开(公告)日：2005-11-10
申请号：JP2004130635
申请日：2004-04-27
申请人： Hitachi Ltd , 株式会社日立製作所
发明人： KAKITA HIROSHI
IPC分类号： G01J1/02 , G01J5/10 , G01J5/28
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a technique capable of easily realizing and capable of improving the safety of products by detecting the generation of abnormal heat of the electric products or of all over the electric circuit units.
SOLUTION: In the electric circuit unit provided with a circuit substrate mounted with 1 or ≥2 electric components, a heat detection circuit for detecting infrared rays radiated by the electric components with a infrared ray photo-transistor mounted on the circuit substrate, and the circuit substrate is covered with an opaque enclosure.
COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI
摘要翻译：要解决的问题：提供一种能够容易地实现并且能够通过检测电气产品或整个电路单元的异常热的产生来提高产品的安全性的技术。解决方案：在设置有安装有1或≥2个电气部件的电路基板的电路单元中，设置有用于检测由电气部件辐射的红外线的热检测电路，其中安装有电路基板上的红外线光电晶体管，并且电路基板被不透明的外壳覆盖。版权所有（C）2006，JPO＆NCIPI

9. 发明专利

JP3413953B2 失效
公开(公告)号：JP3413953B2
公开(公告)日：2003-06-09
申请号：JP11248794
申请日：1994-05-26
IPC分类号： G01J1/02 , B81C1/00 , G01J5/02 , G01J5/08 , G01J5/28 , H01L35/34

10. 发明专利

JP3375147B2 Semiconductor light detecting device 失效
公开(公告)号：JP3375147B2
公开(公告)日：2003-02-10
申请号：JP13364292
申请日：1992-05-26
申请人：浜松ホトニクス株式会社
发明人：雅治村松
IPC分类号： G01J1/02 , G01J3/26 , G01J3/36 , G01J5/02 , G01J5/28

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