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1. 发明专利

JP4398478B2 An electron gun having an electron beam system and the rotatable structure used for this 有权
公开(公告)号：JP4398478B2
公开(公告)日：2010-01-13
申请号：JP2007023358
申请日：2007-02-01
申请人：株式会社ニューフレアテクノロジー
发明人：ロドニー・ケンダール , 智彦阿部
IPC分类号： H01J37/067 , H01J37/305 , H01L21/027
CPC分类号： H01J37/065 , H01J3/021 , H01J3/027 , H01J37/067 , H01J49/08 , H01J2237/061 , H01J2237/26 , H01J2237/28

2. 发明专利

JP6346965B2 飛行時間質量分析計有权
公开(公告)号：JP6346965B2
公开(公告)日：2018-06-20
申请号：JP2016575356
申请日：2015-12-04
申请人：コリアベーシックサイエンスインスティチュート
发明人：ヤン、モ , キム、スンヨン , キム、ヒョンシク , チョン、ワンソプ
IPC分类号： H01J43/24 , H01J49/08 , H01J49/06 , H01J49/14 , H01J43/08 , G01N27/62 , H01J49/40
CPC分类号： H01J49/40 , H01J43/10 , H01J43/246 , H01J49/08 , H01J49/142 , H01J49/147

3. 发明专利

JP2017107816A 熱電子放出用フィラメント、四重極質量分析計、及び残留ガス分析方法审中-公开
公开(公告)号：JP2017107816A
公开(公告)日：2017-06-15
申请号：JP2015242477
申请日：2015-12-11
申请人：株式会社堀場エステック
发明人：笹井浩平 , 池山俊広 , 酒井利彰
IPC分类号： H01J49/42 , H01J1/15 , H01J49/14
CPC分类号： H01J1/146 , H01J49/08 , H01J49/4215 , H01J9/042
摘要：【課題】長寿命を担保できる熱電子放出用フィラメントを提供すること、及びこの熱電子放出用フィラメントを使用した質量分析計の分析精度を向上すること。【解決手段】電流が流れる芯材211Aと、前記芯材211Aの表面を覆うように形成された電子放出層211Bとを具備する熱電子放出用フィラメント211であって、前記電子放出層211Bがガスを実質的に遮断する緻密さを有することを特徴とする。【選択図】図3

4. 发明专利

JP2018517241A フーリエ変換質量分析計审中-公开
公开(公告)号：JP2018517241A
公开(公告)日：2018-06-28
申请号：JP2017555624
申请日：2016-04-20
申请人：ディーエイチテクノロジーズデベロップメントプライベートリミテッド
发明人：ヘイガー, ジェイムズウォルター
IPC分类号： G01N27/62 , H01J49/42
CPC分类号： H01J49/38 , H01J49/08 , H01J49/4205
摘要：四重極が、イオンで充填され、イオンは、圧力およびガス流動を四重極内で印加することによって冷却される。イオンは、DC電圧およびRF電圧を四重極の四重極ロッドに、1つまたはそれを上回るDC電圧を四重極の複数の補助電極に、かつDC電圧およびRF電圧を四重極の端部における出射レンズに印加することによって、四重極内にトラップされる。イオンは、コヒーレント励起を四重極ロッドのうちの少なくとも2つのロッド間に印加することによって、充填および冷却後、コヒーレントに発振される。コヒーレントに発振するイオンは、複数の補助電極の1つまたはそれを上回るDC電圧のうちの1つまたはそれを上回る電圧を変化させ、出射レンズのDC電圧を変化させることによって、出射レンズを通して検出のための破壊的検出器に軸方向に吐出される。

5. 发明专利

JP2017525095A 飛行時間質量分析計有权
公开(公告)号：JP2017525095A
公开(公告)日：2017-08-31
申请号：JP2016575356
申请日：2015-12-04
申请人：コリアベーシックサイエンスインスティチュート , コリアベーシックサイエンスインスティチュート
发明人：モヤン、 , モヤン、 , スンヨンキム、 , スンヨンキム、 , ヒョンシクキム、 , ヒョンシクキム、 , ワンソプチョン、 , ワンソプチョン、
IPC分类号： H01J49/40 , G01N27/62 , H01J43/08 , H01J43/24 , H01J49/06 , H01J49/08 , H01J49/14
CPC分类号： H01J49/40 , H01J43/10 , H01J49/08 , H01J49/142
摘要：飛行時間質量分析計は、電子ビームを受容してイオンを放出するイオン化部と、イオン化部に前記電子ビームを注入する冷電子供給部と、イオン化部から放出されたイオンを感知するイオン検出部と、イオン化部と前記イオン検出部を連結するイオン分離部と、を含むが、冷電子供給部は紫外線を受容して電子ビームを放出するマイクロチャネルプレート(Microchannel Plate)を含み、イオン化部から放出されたイオンはイオン分離部を通過してイオン検出部に到達し、イオン分離部は直管(straigt tube)状である。

6. 发明专利

JP2005502067A Apparatus and method for mass spectrometry of element 有权
标题翻译：空值
公开(公告)号：JP2005502067A
公开(公告)日：2005-01-20
申请号：JP2003527764
申请日：2002-09-10
申请人：ヴァリアンオーストラリアピーティーワイ.エルティーディー.
发明人： KALINITCHENKO IOURI
IPC分类号： G01N27/62 , H01J49/06 , H01J49/10 , H01J49/26
CPC分类号： H01J49/08
摘要：【課題】多原子および二重荷電イオン干渉を減衰させる質量分析計および質量分析方法を提供する。
【解決方法】電子母集団を形成して、元素試料イオンと干渉イオンとを含む粒子ビームを前記電子母集団に通過させて干渉イオンが優先的にイオン−電子再結合とそれによる解離とを行うようにし、それによって多数の干渉イオンを除去する。ＩＣＰ−ＭＳ２２に電子母集団３４，３６を提供する手段３０，３２は、電気コイルのような磁界手段または電子発生装置である。電子母集団は、電子数密度（＞１０
11 ｃｍ―
3 〜１０
14 ｃｍ―
3 ）、低圧（＜１０Ｔｏｒｒ）の領域における遊離電子エネルギー（＞０．０１ｅＶ〜＜５ｅＶ）を有しており、電子母集団を通過するイオンの通路長さが所定の長さ（１〜４ｃｍ）の場合、解離再結合プロセスにより干渉イオンは優先的に減衰される。
【選択図】図２
摘要翻译：通过建立电子群减少多原子和双电荷离子干扰的质谱仪和质谱法，通过该质谱仪将含有元素样品离子和干扰离子的粒子束通过，使得干扰离子优先进行离子电子重组并因此解离以除去大量的干扰离子。用于在ICP-MS（22）中提供电子群体（34或36）的装置（30或32）可以包括诸如电线圈或电子产生装置的磁场装置。电子群体具有电子数密度（> 10×10 -3 cm -3至10 14 cm -3 -3 / ），在低压（<10Torr）的区域中的自由电子能量（> 0.01eV至<5eV），使得通过电子群体的离子的预定路径长度（1-4cm），干扰离子将优先通过解离复合过程减弱。离子束（40）然后通过质量分析器（42），并且通过离子检测器（44）检测已经根据其质荷比分离的离子。

7. 发明专利

JP4958258B2 Gas analyzer 有权
公开(公告)号：JP4958258B2
公开(公告)日：2012-06-20
申请号：JP2006073916
申请日：2006-03-17
申请人：株式会社リガク , 浜松ホトニクス株式会社
发明人：智士大竹 , 忠有井 , 恵樹松浦 , 義博高田
IPC分类号： G01N27/62 , H01J49/10
CPC分类号： G01N27/64 , H01J49/08 , H01J49/147 , H01J49/162
摘要： A plurality of molecular components contained in a gas are to be ionized together at the same time by the PI method. For example, a plurality of molecular components contained in a gas generated at a certain instant are accurately analyzed in real-time based on the PI method. A gas analyzer includes a gas conveyor 4 that conveys a gas generated from a sample S in a sample chamber R0 to an analysis chamber R1, an ionizer 19 that ionizes the gas, a quadrupole filter 21 that separates ions for each mass-to-charge ratio, and an ion detector 22 that detects the separated ions. The ionizer 19 has an ionizing region provided near a gas outlet of the gas conveyor 4 and a lamp 33A that applies light to the ionizing region. Since the lamp 33A emits light having an light directivity lower than that of laser light and traveling in a spreading manner, the gas having entered the ionizing region in the ionizer 19 receives light irradiation in a wide range, and a plurality of gas components therein are ionized.

8. 发明专利

JP2010501986A Mass spectrometer 有权
公开(公告)号：JP2010501986A
公开(公告)日：2010-01-21
申请号：JP2009525884
申请日：2007-07-27
申请人：インフィコンゲゼルシャフトミットベシュレンクテルハフツング
发明人：ナップ，ボルフラム , ブエスト，マーティン
IPC分类号： H01J49/10 , G01N27/62 , H01J49/06 , H01J49/42
CPC分类号： H01J49/08 , H01J49/147 , H01J49/16
摘要：本発明は、電子（２１）を放出するための陰極装置（６）と、中性粒子（２０）の供給用の入口（１４）と接続しており、中性粒子（２０）のイオン化のために陰極装置（６）と作動接続している反応帯（３）と、反応帯（３）の作動領域と連通するように配置されているイオン抽出構造（４）と、検出システム（１２）へイオン（２２）を案内するための手段と、質量分析装置を真空にするための手段とを含む質量分析装置に関する。ここでは陰極装置（６）はエミッタ面（７）を有する電解放出陰極を含み、このエミッタ面（７）とわずかに間隔をあけて電子の抽出のための抽出グリッド（９）が配置されており、これはエミッタ面（７）を実質的に覆っている。エミッタ面（７）は、管状の構造が構成されるように、少なくとも部分的に中空部（１３）を取り囲んでいる。

9. 发明专利

JP4164027B2 Apparatus and method for mass spectrometry of element 有权
标题翻译：空值
公开(公告)号：JP4164027B2
公开(公告)日：2008-10-08
申请号：JP2003527764
申请日：2002-09-10
申请人：ヴァリアンオーストラリアピーティーワイ.エルティーディー.
发明人： KALINITCHENKO IOURI
IPC分类号： G01N27/62 , H01J49/06 , H01J49/10 , H01J49/26
CPC分类号： H01J49/08

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