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1. 发明专利

JP6407127B2 電子制御装置及び電子制御方法审中-公开
公开(公告)号：JP6407127B2
公开(公告)日：2018-10-17
申请号：JP2015217550
申请日：2015-11-05
申请人：日立オートモティブシステムズ株式会社
发明人：窪田暁仁 , 湯浅康司 , 新井敏央
IPC分类号： G06F11/27 , G01R31/28 , G06F11/22
CPC分类号： G01R31/3187 , G01R31/31724 , G06F11/20 , G06F11/27

2. 发明专利

JP6295113B2 自己診断装置及び自己診断方法有权
公开(公告)号：JP6295113B2
公开(公告)日：2018-03-14
申请号：JP2014052945
申请日：2014-03-17
申请人：ルネサスエレクトロニクス株式会社
发明人：大内正英
IPC分类号： G06F11/22
CPC分类号： G06F11/27

3. 发明专利

JP2016091134A 半導体装置、及び半導体装置の信頼性テスト方法审中-公开
标题翻译：半导体器件和半导体器件可靠性测试方法
公开(公告)号：JP2016091134A
公开(公告)日：2016-05-23
申请号：JP2014222151
申请日：2014-10-31
申请人：株式会社メガチップス
发明人：菅原崇彦
IPC分类号： G01R31/28 , G06F21/60 , G06F12/16
CPC分类号： G06F11/27 , G06F11/2205
摘要：【課題】通信データの暗号化によるセキュリティ機能が実装された半導体装置を対象として、テストコストを削減できるとともに、セキュリティ性、テスタビリティ、及び信頼性をいずれも向上することが可能な半導体装置を得る。【解決手段】半導体記憶装置1は、複数の処理部を有するメモリコントローラ12を備え、複数の処理部には、メモリコントローラ12が送受信する信号に対して暗号化及び復号化を実行する暗号・復号処理部21が含まれ、暗号・復号処理部21は、テスター装置2から所定のテストコマンドを受信することにより、暗号・復号処理部21の信頼性テストを実行するセルフテスト処理部34を含む。【選択図】図4
摘要翻译：要解决的问题：提供通过加密通信数据具有安全功能的半导体器件，并且能够降低测试成本并提高安全性，可测试性和可靠性。解决方案：半导体存储设备1包括存储器控制器12，其包括多个处理单位。多个处理单元包括用于加密和解密由存储器控制器12发送和接收的信号的加密和解密处理单元21.加密和解密处理单元21包括用于进行加密的可靠性测试的自检处理单元34 和解密处理单元21，通过从测试装置2接收规定的测试命令。选择的图示：图4

4. 发明专利

JP2015176402A 自己診断装置及び自己診断方法有权
标题翻译：自诊断装置和自诊断方法
公开(公告)号：JP2015176402A
公开(公告)日：2015-10-05
申请号：JP2014052945
申请日：2014-03-17
申请人：ルネサスエレクトロニクス株式会社
发明人：大内正英
IPC分类号： G06F11/22
CPC分类号： G06F11/27
摘要：【課題】多様な要求に対応した木目細かな自己診断処理の実行スケジュールを設定すること。【解決手段】自己診断装置は、複数の機能ブロックと、複数の機能ブロックの中から選択された一部の機能ブロックの集合である複数の処理単位と、各処理単位の自己診断処理の開始条件と、を記憶する記憶部と、各処理単位の開始条件に基づいて自己診断処理を開始する処理単位を選択し、当該選択した処理単位内の各機能ブロックについて自己診断処理を実行する自己診断部と、を備える。【選択図】図1
摘要翻译：要解决的问题：响应于各种要求设置详细的自诊断处理的执行时间表。解决方案：一种自诊断装置，包括：存储单元，用于存储多个功能块;多个处理单元，从多个功能块中选择的功能块的一部分的集合以及每个处理单元的自诊断处理的开始条件; 以及自诊断单元，被配置为基于每个处理单元的开始条件来选择开始自诊断处理的处理单元，以对所选择的处理单元中的每个功能块执行自诊断处理。

5. 发明专利

JP5009191B2 Image forming apparatus, h / w self-diagnosis setting method, program and recording medium 有权
公开(公告)号：JP5009191B2
公开(公告)日：2012-08-22
申请号：JP2008048779
申请日：2008-02-28
申请人：株式会社リコー
发明人：高広八百山
IPC分类号： B41J29/46 , G03G21/00 , G03G21/14 , G06F3/12 , H04N1/00
CPC分类号： G06K15/00 , G06F11/0733 , G06F11/079 , G06F11/27
摘要： A hardware self-diagnosing method for performing a hardware self-diagnosis of an image forming apparatus includes reading a set value stored in a memory unit of the image forming apparatus; performing the hardware self-diagnosis of the image forming apparatus in a detailed diagnosis mode at intervals determined by the set value stored in the memory unit; and performing the hardware self-diagnosis of the image forming apparatus in a simplified diagnosis mode in between the intervals at which the hardware self-diagnosis is performed in the detailed diagnosis mode. The set value may be a period of time or a number of recording media outputted by the image forming apparatus.

6. 发明专利

JP2012504808A Method for use in a computerized storage system comprising one or more replaceable units for managing testing of one or more replaceable units, apparatus, and program (to manage the testing of replacement units computerized storage system comprising a replaceable unit) 有权
公开(公告)号：JP2012504808A
公开(公告)日：2012-02-23
申请号：JP2011529553
申请日：2009-10-01
申请人：インターナショナル・ビジネス・マシーンズ・コーポレーションInternational Business Maschines Corporation
发明人：カシュマン、ポール、ニコラス , ショート、ジョナサン、ウィリアム、ルイス , セトル、ジョナサン、イアン , マッカーシー、ティモシー、フィンバル , ムーア、ロデリック、ガイ
IPC分类号： G06F3/06 , G06F11/18
CPC分类号： G06F11/0727 , G06F11/27
摘要： A method, apparatus and software is disclosed, for use in a computerised storage system comprising one or more replaceable units, for managing testing of one or more replacement units, where the storage system is automatically placed in a testing mode in response to a given unit being replaced and if testing fails the storage system automatically fails back to a service mode.

7. 发明专利

JP2008059690A Semiconductor device and test method 审中-公开
标题翻译：半导体器件和测试方法
公开(公告)号：JP2008059690A
公开(公告)日：2008-03-13
申请号：JP2006236116
申请日：2006-08-31
申请人： Toshiba Corp , 株式会社東芝
发明人： IIZUKA YOSHIKAZU
IPC分类号： G11C29/12 , G01R31/28 , G11C29/14
CPC分类号： G11C29/56 , G06F11/27 , G11C29/26 , G11C29/56008 , G11C2029/2602
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a semiconductor device outputting test data while testing a memory by BIST at an actual specification frequency.
SOLUTION: The semiconductor device includes: a plurality of memory cells; a plurality of memory circuits 30a to 30n each including memories 32a to 32n having a plurality of input/output circuits accessible to each of the memory cells; and a built-in self test circuit 10 performing a quality test of a plurality of memories. The plurality of memory circuits 30a to 30n each include input/output selectors 38a to 38n sequentially outputting to the built-in self test circuit 10 the data signal read from each of the plurality of memory cells via the object input/output circuit selected by sequentially selecting the plurality of input/output circuits.
COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT
摘要翻译：要解决的问题：提供在实际规格频率下通过BIST测试存储器的输出测试数据的半导体器件。解决方案：半导体器件包括：多个存储单元; 多个存储电路30a至30n，每个存储器电路30a至30n包括具有可由每个存储单元访问的多个输入/输出电路的存储器32a至32n; 以及执行多个存储器的质量测试的内置自检电路10。多个存储电路30a至30n均包括输入/输出选择器38a至38n，其经由经由所选择的对象输入/输出电路依次向内置自检电路10输出从多个存储单元中的每一个读取的数据信号选择多个输入/输出电路。版权所有（C）2008，JPO＆INPIT

8. 发明专利

JP2007066246A Self-diagnostic system and method of controller 审中-公开
标题翻译：自我诊断系统及控制器方法
公开(公告)号：JP2007066246A
公开(公告)日：2007-03-15
申请号：JP2005254863
申请日：2005-09-02
申请人： Hitachi Ltd , 株式会社日立製作所
发明人： ENDO HIROMICHI , YAMADA TSUTOMU , MASUKO NAOYA , UMEHARA TAKASHI
IPC分类号： G06F11/22 , G06F12/16
CPC分类号： G06F11/27
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a controller which strikes a balance between the reliability of safety control and the sufficient throughput of an original control task without damaging the reliability of the safety control even in complicated diagnostic technique.
SOLUTION: This self-diagnostic system has a diagnostic area assignment means 31 for making a inactive area 26 which is not used in the control task 22a during execution of a main processor of a memory 20 into a diagnosis permission area independently of the main processor 10 and a diagnosis execution means 32 for executing diagnosis by a predetermined sequence to the diagnosis permission area assigned by the diagnostic area assignment means independently of the main processor, selects an object area for diagnosis segmented from the diagnosis permission area and executes the diagnosis in the respective diagnostic cycles by the diagnosis execution means.
COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT
摘要翻译：要解决的问题：即使在复杂的诊断技术中，即使在安全控制的可靠性与原始控制任务的足够的吞吐量之间达到平衡，也不会损害安全控制的可靠性，提供一种控制器。解决方案：该自我诊断系统具有诊断区域分配装置31，用于在将存储器20的主处理器执行到独立于诊断许可区域的同时，将无效区域26用于控制任务22a 主处理器10和诊断执行装置32，用于按照预定顺序执行诊断区域分配装置所分配的诊断允许区域，独立于主处理器，从诊断许可区域中选择诊断对象区域，并执行诊断在诊断执行装置的各诊断周期中。版权所有（C）2007，JPO＆INPIT

9. 发明专利

JP2005004765A Smart card including jtag test controller and related method 审中-公开
标题翻译：智能卡包括JTAG测试控制器及相关方法
公开(公告)号：JP2005004765A
公开(公告)日：2005-01-06
申请号：JP2004171135
申请日：2004-06-09
申请人： Stmicroelectronics Inc , エスティーマイクロエレクトロニクス,インコーポレイテッド STMicroelectronics,Inc
发明人： LEAMING TAYLOR J
IPC分类号： G01R31/28 , G01R31/3185 , G06F11/22 , G06K7/00 , G06K19/07
CPC分类号： G01R31/318555 , G01R31/3025 , G01R31/31719 , G06F11/267 , G06F11/27 , G06K7/0013 , G06K7/0095 , G06K7/10465 , G06K19/07 , G06K19/07733
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an integrated circuit for a smart card having improved test performance and to provide a related method. SOLUTION: According to the present invention, the integrated circuit for a smart card includes a transceiver which communicates with a host device and a joint test action group (JTAG) test controller for carrying out at least one test operation. Further, the integrated circuit can include a processor which allows the JTAG test controller to start the at least one test operation based on the reception of at least one test request from the host device via the transceiver. More specifically, the processor can convert the at least one test request into JTAG data for the JTAG test controller. Namely, the integrated circuit enables communications between the host device and the JTAG controller via a system bus without the need for a dedicated JTAG test access port (TAP) typically required for accessing the JTAG controller. COPYRIGHT: (C)2005,JPO&NCIPI
摘要翻译：要解决的问题：提供具有改进的测试性能的智能卡的集成电路并提供相关方法。解决方案：根据本发明，用于智能卡的集成电路包括与主机设备和用于执行至少一个测试操作的联合测试动作组（JTAG）测试控制器通信的收发器。此外，集成电路可以包括处理器，其允许JTAG测试控制器基于经由收发器从主机设备接收至少一个测试请求来开始至少一个测试操作。更具体地，处理器可以将至少一个测试请求转换为用于JTAG测试控制器的JTAG数据。也就是说，集成电路通过系统总线实现主机设备和JTAG控制器之间的通信，而不需要通常需要访问JTAG控制器的专用JTAG测试访问端口（TAP）。版权所有（C）2005，JPO＆NCIPI

10. 发明专利

JP3590338B2 A portable electronic device 有权
公开(公告)号：JP3590338B2
公开(公告)日：2004-11-17
申请号：JP2000271686
申请日：2000-09-07
申请人：株式会社東芝
发明人：量一栗山
IPC分类号： G06F12/16 , G06F11/22 , G06F11/27 , G06F11/273 , G06K19/07 , G06K19/073
CPC分类号： G06K7/0095 , G06F11/27 , G06F11/2733 , G06K19/073

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