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1. 发明专利

JP2013250251A Test program 有权
标题翻译：测试程序
公开(公告)号：JP2013250251A
公开(公告)日：2013-12-12
申请号：JP2012127527
申请日：2012-06-04
申请人： Advantest Corp , 株式会社アドバンテスト
发明人： TAWARA YOSHIFUMI , ARISAWA AKIHIRO , SUZUKI TAKEHISA
IPC分类号： G01R31/28
CPC分类号： G06F11/2733 , G01R31/2834 , G01R31/31907 , G01R31/31912 , G06F11/263
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a test program of a tester that can easily and properly test various kinds of test devices.SOLUTION: A test program controls tester hardware 100. The tester hardware 100 is configured so that at least part of its function can be changed according to configuration data 306 that is stored in a rewritable nonvolatile memory 102. This test program is composed of a combination of a control program and a test algorithm module, and includes the functions of: receiving an instruction for selecting a test item, which is specified by a user, out of test items corresponding to the test algorithm module that is held in a storage device 206; receiving test conditions that are required for executing the selected test item; and controlling the tester hardware so that a signal is supplied to a test device according to a test algorithm and the test conditions and a signal from the device under test is received.
摘要翻译：要解决的问题：提供可以容易且适当地测试各种测试设备的测试仪的测试程序。解决方案：测试程序控制测试仪硬件100.测试仪硬件100被配置为使得其功能的至少一部分可以根据存储在可重写非易失性存储器102中的配置数据306进行更改。该测试程序由控制程序和测试算法模块的组合组成，并且包括以下功能：接收用于选择测试项目的指令，由用户指定的与保存在存储装置206中的测试算法模块相对应的测试项目; 接收执行所选测试项目所需的测试条件; 并且控制测试仪硬件，使得根据测试算法将信号提供给测试设备，并且接收测试条件并接收来自被测器件的信号。

2. 发明专利

JP4972244B2 Easy automatic test system for software is used at low cost 失效
公开(公告)号：JP4972244B2
公开(公告)日：2012-07-11
申请号：JP50287199
申请日：1998-06-04
申请人：テラダイン・インコーポレーテッドTeradyne Incorporated
发明人：デシュパンデ，プラディープ・ビー , プロスカウアー，ダニエル・シー
IPC分类号： G01R31/28 , G01R31/319 , G06F11/22
CPC分类号： G01R31/31912

4. 发明专利

JP2007010663A Method and device for providing constitution of hardware resource specified in test template 审中-公开
标题翻译：用于提供在测试模板中指定的硬件资源构成的方法和装置
公开(公告)号：JP2007010663A
公开(公告)日：2007-01-18
申请号：JP2006178140
申请日：2006-06-28
申请人： Agilent Technol Inc , アジレント・テクノロジーズ・インクAgilent Technologies, Inc.
发明人： ZHOU ZHENGRONG , DESAI ASHISH , SMITH JASON L
IPC分类号： G01R31/28 , G06F11/22
CPC分类号： G01R31/2834 , G01R1/025 , G01R31/31912
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an improved method and device for providing a constitution of a hardware resource specified in a test template. SOLUTION: Command execution makes a machine: (1) display a selection tool 312 of an ATE (automatic test device) test template (102); (2) display a default parameter of a selected test template 314 (104) when a user selects the test template 314 from the ATE test template selection tool 312; and (3) provide the user with an access to a tool 402 for enabling the user to constitute at least one hardware resource specified by the test template 314 (106). COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT
摘要翻译：要解决的问题：提供一种用于提供测试模板中指定的硬件资源的构造的改进的方法和装置。
解决方案：命令执行使机器：（1）显示ATE（自动测试设备）测试模板（102）的选择工具312; （2）当用户从ATE测试模板选择工具312选择测试模板314时，显示所选测试模板314（104）的默认参数; 和（3）向用户提供对工具402的访问以使用户能够构成由测试模板314（106）指定的至少一个硬件资源。版权所有（C）2007，JPO＆INPIT

5. 发明专利

JP2006237365A Method and program for managing semiconductor characteristics evaluation device 审中-公开
标题翻译：用于管理半导体特性评估装置的方法和程序
公开(公告)号：JP2006237365A
公开(公告)日：2006-09-07
申请号：JP2005051212
申请日：2005-02-25
申请人： Agilent Technol Inc , アジレント・テクノロジーズ・インクAgilent Technologies, Inc.
发明人： ISHIZUKA KOJI
IPC分类号： H01L21/66 , H01L21/02
CPC分类号： G01R31/31908 , G01R31/2831 , G01R31/2834 , G01R31/31912
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a testing device for facilitating management and reuse of a test program of a semiconductor characteristics evaluation device, of set data and test result data, in wafer development for a plurality of projects, or its management program.
SOLUTION: A data management method is for the semiconductor characteristics evaluation device 10 including a control unit 12, a memory 60, and input/output parts 13, 14 and 15. The management method includes steps of: selecting a work space containing the test program for testing a plurality of wafer types; storing the test results as a history in the selected work space; and searching for a desired test result from the history of the stored test results.
COPYRIGHT: (C)2006,JPO&NCIPI
摘要翻译：要解决的问题：提供一种用于促进半导体特性评估装置的测试程序，设定数据和测试结果数据的管理和再利用的测试装置，用于多个项目的晶片开发或其管理程序。解决方案：数据管理方法用于包括控制单元12，存储器60以及输入/输出部分13,14和15的半导体特性评估装置10.管理方法包括以下步骤：选择包含用于测试多个晶片类型的测试程序; 将测试结果作为历史存储在所选择的工作空间中; 并从存储的测试结果的历史中搜索期望的测试结果。版权所有（C）2006，JPO＆NCIPI

6. 发明专利

JP3364390B2 Inspection equipment 失效
公开(公告)号：JP3364390B2
公开(公告)日：2003-01-08
申请号：JP26514996
申请日：1996-09-14
申请人：東京エレクトロン株式会社
发明人：秀明田中 , 祐一阿部
IPC分类号： G01R31/00 , G01R31/28 , G01R31/319 , H01L21/66
CPC分类号： G01R1/025 , G01R31/2851 , G01R31/2893 , G01R31/31912

7. 发明专利

JP5833502B2 テストプログラム有权
标题翻译：测试程序
公开(公告)号：JP5833502B2
公开(公告)日：2015-12-16
申请号：JP2012127527
申请日：2012-06-04
申请人：株式会社アドバンテスト
发明人：田原善文 , 有澤明宏 , 鈴木武久
IPC分类号： G01R31/28
CPC分类号： G06F11/2733 , G01R31/31907 , G01R31/2834 , G01R31/31912

9. 发明专利

JP2007522453A Acquisition method, determination method, display method, test method, the capture device, determining device, a display device and test equipment 审中-公开
公开(公告)号：JP2007522453A
公开(公告)日：2007-08-09
申请号：JP2006552114
申请日：2004-12-23
申请人：レクロイコーポレーションLecroy Corporation
发明人：ローランドギャンパー， , ローレンス，スティーブンサラント， , ケニス，ウィリアムジョンソン， , ギルスリッター，
IPC分类号： G01R13/32 , G01R13/00 , G01R13/02 , G01R31/319 , G06F17/50 , H04L12/24 , H04L12/26 , H04L12/40
CPC分类号： G01R13/029 , G01R13/0209 , G01R13/0245 , G01R13/0254 , G01R31/31912 , G06F17/5036 , H04L41/22 , H04L43/00 , H04L43/045 , H04L43/16
摘要：【課題】プロトコール層でデータを解釈し、それから基礎のアナログ信号の分析を可能にする方法及び装置の提供。
【解決手段】シリアル・バス上でアナログ波形を捕捉するための方法および装置であって、前記方法は、所定のデジタル・データ・シーケンスを指定する段階と、シリアル・データ・バスで運ばれるシリアル・データ信号を復号する段階と、前記復号済みシリアル・データ信号を前記所定のデジタル・データと比較する段階と、前記復号済みシリアル・データ信号の部分が前記所定のデジタル・データと一致すると判定される場合、前記復号済みシリアル・データ信号の一致部分に対応する前記シリアル・データ信号の部分に目印をつける段階とを備える。
【選択図】図１８

10. 发明专利

JP2006308583A User interface for selecting sampling parameter of logic analyzer to which data receiver belong to group having threshold value common in channel in group 审中-公开
标题翻译：用于选择逻辑分析仪的采样参数的用户接口，以便数据接收器在组内通道中具有阈值通量
公开(公告)号：JP2006308583A
公开(公告)日：2006-11-09
申请号：JP2006114365
申请日：2006-04-18
申请人： Agilent Technol Inc , アジレント・テクノロジーズ・インクAgilent Technologies, Inc.
发明人： NYGAARD JR RICHARD A
IPC分类号： G01R13/28
CPC分类号： G01R31/31912 , G01R1/025 , G01R31/3171
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To find a group of sampling parameters optimum to a set of signals. SOLUTION: In this graphical user interface, channels sharing restricted sampling parameters are related to some signal set, and one or a plurality of the channels are provided with both a first screen (58) represented as one belonging to one or a plurality of groups and a second screen (64) including eye diagram measurement control for measuring eye diagrams of the channels. The second screen includes both a synthetic eye diagram of each group continuously to the use of the eye diagram measurement control and cursors (85-88) located above the synthetic diagram for indicating sampling parameters recommended for each channel of the group (84). COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT
摘要翻译：要解决的问题：找到一组最适合一组信号的采样参数。解决方案：在该图形用户界面中，共享限制采样参数的信道与一些信号集有关，并且一个或多个信道被提供有表示为属于一个或多个信号的一个的第一屏幕（58）和包括用于测量通道眼图的眼图测量控制的第二屏幕（64）。第二屏幕包括连续使用眼图测量控件的每组的合成眼图和位于合成图上方的光标（85-88），用于指示针对组的每个通道推荐的采样参数（84）。版权所有（C）2007，JPO＆INPIT

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