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2. 发明专利

JP2014006213A Luminescence measuring apparatus 有权
标题翻译：发光测量装置
公开(公告)号：JP2014006213A
公开(公告)日：2014-01-16
申请号：JP2012143686
申请日：2012-06-27
申请人： Hitachi High-Technologies Corp , 株式会社日立ハイテクノロジーズ
发明人： NODA HIDEYUKI , OKANOJO MASAHIRO
IPC分类号： G01N21/76 , C12M1/34 , G01N21/77
CPC分类号： G01N21/76 , C12M1/34 , G01J1/0252 , G01N2201/0231 , G01N2201/1211 , G02B7/008 , H01L31/024
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a weak luminescence detecting device, in luminescence measurement, capable of: preventing dark current values or dark current pulse numbers from reducing and from fluctuating relative to temperatures; capturing luminescence signals at a high solid angle; and detecting with high sensitivity luminescence having no directivity such as chemiluminescence or bioluminescence.SOLUTION: A luminescence measuring apparatus comprises: a plate-like member for holding a holder for a container storing a sample; a luminescence detection part for detecting luminescence in the sample; a temperature control part for controlling temperature of the luminescence detection part; and an air blowing part for blowing air to a luminescence receiving surface of the luminescence detection part.
摘要翻译：要解决的问题：为了提供在发光测量中的弱发光检测装置，其能够：防止暗电流值或暗电流脉冲数量相对于温度的降低和波动; 捕获高立体角的发光信号; 并且检测不具有方向性的高灵敏度发光，例如化学发光或生物发光。解决方案：发光测量装置包括：用于容纳储存样品的容器的保持器的板状构件; 用于检测样品中的发光的发光检测部分; 用于控制所述发光检测部的温度的温度控制部; 以及用于将空气吹送到发光检测部的发光接收表面的吹风部。

3. 发明专利

JP2013545094A Apparatus and methods for generating optical pulses from a led light absorption in the gas sensor 有权
公开(公告)号：JP2013545094A
公开(公告)日：2013-12-19
申请号：JP2013535514
申请日：2011-10-28
申请人：ガス・センシング・ソリューションズ・リミテッドGas Sensing Solutions Ltd.
发明人：マクレガー，カルム・ジョン , ギブソン，デスモンド・ロバート
IPC分类号： G01N21/35
CPC分类号： G01N21/61 , G01J11/00 , G01N21/274 , G01N21/3504 , G01N2201/0696 , G01N2201/1211 , G01N2201/127
摘要： An optical absorption gas sensor for detecting an analyte gas comprises a gas sample receiving chamber, at least one light emitting diode (LED) and a photodiode or other photosensor. A plurality of light pulses are generated by passing pulses of current through the at least one LED. The current through the at least one LED is measured a plurality of times during each pulse and taken into account when generating a compensated output signal. The transfer ratio between LED current and photodiode output signal is calculated a plurality of times during each pulse. An ADC measures the LED and photodiode currents alternately. The LED pulses are generated by inductor discharge flyback and the period of time for which current is supplied to the inductor prior to each pulse is selected so that the photodiode output current is at an optimal region within the input range of the ADC. At least the temperature of the at least one LED is measured and taken into account when generating the compensated output signal. Thus, rather than providing especially careful control of the LED pulses, the pulses are measured, enabling a simpler, lower power circuit which is tolerant of variations in temperature to be provided.

4. 发明专利

JP2011059134A Optical scanning system with thermally compensated light emitting diode 审中-公开
标题翻译：具有热补偿发光二极管的光学扫描系统
公开(公告)号：JP2011059134A
公开(公告)日：2011-03-24
申请号：JP2010288958
申请日：2010-12-24
申请人： Applied Biosystems Llc , アプライドバイオシステムズリミテッドライアビリティーカンパニー
发明人： OLDHAM MARK F , MIRCHANDANI VINOD L , HOSHIZAKI JON A , KING HOWARD G , SLUIS JOHANNES P , BOEGE STEVEN J
IPC分类号： G01N21/64 , F21V9/16 , G01N21/01
CPC分类号： G01N21/64 , F21K9/00 , F21K9/64 , F21V29/54 , F21V29/677 , F21V29/74 , F21Y2115/10 , G01J3/0286 , G01J3/10 , G01N21/645 , G01N21/6452 , G01N2021/6439 , G01N2201/06113 , G01N2201/062 , G01N2201/0638 , G01N2201/1211 , G05D23/1919 , G05D23/20
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method and system for performing sample assay to produce and measure optical responses and signatures. SOLUTION: According to various embodiments, a system is provided that includes one or more LEDs (111), a temperature sensor (118) and a temperature regulator (122). The temperature sensor can thermally-contact the LED (111), can measure operating temperature, and also can generate operating temperature signal. The temperature regulator can receive the operating temperature signal of the LED to adjust operating temperature based on its received operating temperature signal. According to various embodiments, there is provided a method for irradiating a reaction area (108) with excitation beam. The method may include a step for providing a system (100) containing the LED (111) and the reaction area (108). COPYRIGHT: (C)2011,JPO&INPIT
摘要翻译：要解决的问题：提供用于进行样品测定以产生和测量光学响应和特征的方法和系统。解决方案：根据各种实施例，提供了一种包括一个或多个LED（111），温度传感器（118）和温度调节器（122）的系统。温度传感器可以热接触LED（111），可以测量工作温度，并且还可以产生工作温度信号。温度调节器可以接收LED的工作温度信号，以根据其接收到的工作温度信号调整工作温度。根据各种实施例，提供了一种用于用激发光束照射反应区域（108）的方法。该方法可以包括用于提供包含LED（111）和反应区域（108）的系统（100）的步骤。版权所有（C）2011，JPO＆INPIT

5. 发明专利

JP2010512536A Sensor concentration detector includes a temperature compensation function 审中-公开
公开(公告)号：JP2010512536A
公开(公告)日：2010-04-22
申请号：JP2009540935
申请日：2007-12-10
申请人：コーニンクレッカフィリップスエレクトロニクスエヌヴィ
发明人：ケステレン，ハンスウェーファン
IPC分类号： G01N21/00 , G01N29/00 , G01N29/02
CPC分类号： G01N21/1702 , G01N21/274 , G01N21/3504 , G01N2201/1211
摘要：サンプル混合物内のサンプルの濃度を検出するサンプルセンサ２００であって、光源１０１、検出器素子、処理セクション１０６及びパラメータ測定手段を含む。光源１０１は、サンプルの分子を励起させる光ビーム１１３を生成する。検出器素子は、サンプルの励起された分子の量を検出し、前記量を指示する検出器電流を供給する。処理セクション１０６は、検出器素子１０３に接続され、濃度を表す出力信号１０９を生成するために前記検出器電流を処理する。処理セクション１０６は、出力波長以外の、光源１０１の温度依存パラメータの少なくとも１つの測定値に基づいて、光源１０１の温度依存波長シフトを補償するよう構成された温度補償モジュール１１２を含む。パラメータ測定手段は、前記少なくとも１つの測定値を得る。

6. 发明专利

JP2008521005A System and method for self-referencing a sensor micrometer sized deep flow chamber 有权
公开(公告)号：JP2008521005A
公开(公告)日：2008-06-19
申请号：JP2007543132
申请日：2005-11-09
申请人：コーニングインコーポレイテッド
发明人：エイケサダ，マーク , エイチフォンテイン，ノーマン , マズムデル，プランティク , ジェイモズディー，エリック , キユエン，ポー
IPC分类号： G01N21/27 , G01N33/543 , G01N37/00
CPC分类号： G01N21/7743 , G01N21/05 , G01N21/276 , G01N21/553 , G01N2021/0346 , G01N2021/058 , G01N2201/108 , G01N2201/1211 , G01N2201/1217 , G01N2201/127 , G01N2201/12723 , G01N2201/128 , Y10T436/117497 , Y10T436/2575
摘要： A system and method are described herein for self-referencing a sensor that is used to detect a biomolecular binding event and/or kinetics which occur in a sample solution flowing along side a reference solution in a micron-sized deep flow channel.

7. 发明专利

JP2008519266A Equipped with a thermal compensation type light-emitting diode, the optical scanning system 审中-公开
标题翻译：空值
公开(公告)号：JP2008519266A
公开(公告)日：2008-06-05
申请号：JP2007539342
申请日：2005-11-03
申请人：アプレラコーポレイション
发明人：マークエフ．オールダム， , ハワードジー．キング， , ヨハネスピー．スルイス， , スティーブンジェイ．ボージェ， , ジョンエー．ホシザキ， , ビノドエル．ミルシャンダニ，
IPC分类号： G01N21/64 , F21V9/16 , G01N21/01 , G01N21/78
CPC分类号： G01N21/64 , F21K9/00 , F21K9/64 , F21V29/54 , F21V29/677 , F21V29/74 , F21Y2115/10 , G01J3/0286 , G01J3/10 , G01N21/645 , G01N21/6452 , G01N2021/6439 , G01N2201/06113 , G01N2201/062 , G01N2201/0638 , G01N2201/1211 , G05D23/1919 , G05D23/20
摘要：本発明は、サンプルアッセイを実行し、光応答および符号定数を産出および計測するための方法およびシステムに関する。様々な実施形態によると、１つ以上のＬＥＤ（１１１）と、温度センサ（１１８）と、温度調整器（１２２）とを含むシステムが提供される。前記温度センサは、前記ＬＥＤ（１１１）に熱的接触し得、動作温度を計測し得、また動作温度信号を生成し得る。前記温度調整器は、前記ＬＥＤの動作温度信号を受信し、その動作温度信号に基づいて動作温度を調整し得る。様々な実施形態によると、反応領域（１０８）に励起ビームを照射するための方法が提供される。前記方法は、ＬＥＤ（１１１）および反応領域（１０８）を含むシステム（１００）を提供するステップを含み得る。
摘要翻译：用于目标样品的热补偿光学扫描的方法和光学系统。本发明还涉及用于进行样品测定以及用于产生和测量光学响应和特征的方法和系统。

8. 发明专利

JP2007248086A Flaw inspection device 审中-公开
标题翻译： FLAW检查设备
公开(公告)号：JP2007248086A
公开(公告)日：2007-09-27
申请号：JP2006068479
申请日：2006-03-14
申请人： Hitachi High-Technologies Corp , 株式会社日立ハイテクノロジーズ
发明人： CHIKAMATSU SHUICHI , NOGUCHI MINORU , AIKO KENJI
IPC分类号： G01N21/956 , G02B21/00 , H01L21/66
CPC分类号： G01N21/9501 , G01N21/94 , G01N2021/8822 , G01N2201/1211 , G01N2201/1218
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To solve the problem that the depth of a focus becomes shallow because a fine flaw detection sensitivity is enhanced by raising a detection magnification in a flaw inspection device, an image forming position is shifted by environmental fluctuations and flaw detection sensitivity becomes unstable.
SOLUTION: The flaw inspection device is equipped with an XY stage loaded with a substrate to be inspected to perform scanning in a predetermined direction and a mechanism for correcting the change of an image forming position with respect to a change in temperature and atmospheric pressure in order to hold an image forming state to the best state in a system for obliquely illuminating the flaw on the substrate to be inspected to detect the same by the detection optical system arranged above the substrate to be inspected.
COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT
摘要翻译：解决问题：为了解决由于通过提高探伤装置中的检测倍率而提高精细的探伤灵敏度而使焦点的深度变浅的问题，图像形成位置由于环境波动和缺陷而偏移检测灵敏度变得不稳定。解决方案：瑕疵检查装置配备有载置有要检查的基板的XY台，以沿预定方向进行扫描，以及用于校正图像形成位置相对于温度和大气变化的变化的机构压力，以便在用于倾斜照射待检查的基板上的缺陷的系统中将图像形成状态保持在最佳状态，以通过布置在要检查的基板上方的检测光学系统检测图像形成状态。版权所有（C）2007，JPO＆INPIT

9. 发明专利

JP2017538112A 吸光度および蛍光に基づく水処理パラメータの決定审中-公开
公开(公告)号：JP2017538112A
公开(公告)日：2017-12-21
申请号：JP2017523366
申请日：2015-10-19
申请人：ホリバインスツルメンツインコーポレイテッドHoriba Instruments Incorporated , ホリバインスツルメンツインコーポレイテッドHoriba Instruments Incorporated
发明人：アダムマシューギルモア , アダムマシューギルモア
IPC分类号： G01N21/64 , G01N21/27 , G01N33/18
CPC分类号： G01N21/645 , C02F1/004 , C02F1/008 , C02F1/52 , C02F5/02 , C02F2001/007 , C02F2209/008 , C02F2209/02 , C02F2209/06 , C02F2209/07 , C02F2209/08 , C02F2209/11 , C02F2209/20 , C02F2209/21 , G01J3/36 , G01J3/42 , G01J3/4406 , G01N21/274 , G01N33/18 , G01N33/1806 , G01N33/1826 , G01N2021/6421 , G01N2021/6482 , G01N2021/6484 , G01N2021/6491 , G01N2201/1211
摘要：水処理パラメ−タを決定するコンピュ−タ実行方法は、励起波長に応じて放出される第1ピ−ク発光波長と少なくとも第2ピ−ク発光波長とを含む水試料の蛍光発光スペクトルの測定をコンピュ−タにより受信し、水試料の励起波長で得た吸光度測定をコンピュ−タにより受信し、第1ピ−ク発光波長に対する第2ピ−ク発光波長との測定比あるいは少なくとも第1ピ−ク発光波長と第2ピ−ク発光波長を含む複数のピ−ク発光波長の測定の和との測定比のいずれかをコンピュ−タにより決定し、少なくとも測定比と吸光度測定との結合に基づき水処理パラメ−タの値をコンピュ−タにより算出することを含む。【選択図】図9

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