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1. 发明专利

JP2018527573A 生体高分子またはナノ粒子のような粒子を検出する方法および装置审中-公开
公开(公告)号：JP2018527573A
公开(公告)日：2018-09-20
申请号：JP2018512247
申请日：2015-09-07
申请人：マツクス−プランク−ゲゼルシヤフトツールフエルデルングデルヴイツセンシヤフテンエーフアウ , MAX−PLANCK−GESELLSCHAFT ZUR FOeRDERUNG DER WISSENSCHAFTEN E.V.
发明人：サンドグダール,ヴァヒード , ピリアリク,マレク , ケーニヒ,カタリーナ
IPC分类号： G01N21/45 , G01N27/447 , G01N30/60 , G01N30/74 , G01N21/17
CPC分类号： G01N27/44721 , G01N15/1434 , G01N15/1459 , G01N15/1484 , G01N21/45 , G01N21/51 , G01N21/53 , G01N27/44791 , G01N27/44795 , G01N30/6095 , G01N30/74 , G01N2015/0038 , G01N2015/145 , G01N2015/1493 , G01N2030/8813
摘要：個々の粒子によって生成された一連の単一光散乱事象として、例えば、電荷、サイズ、形状、密度等の特定の特徴に基づいて粒子を分離した後で、粒子(1)、例えばタンパク質を検出する方法が記載されている。粒子(1)は分離経路(11)に沿って互いに分離される。粒子は粒子の特徴に応じて標的側における特定の到達時間を有する。検出工程は、検出領域(30)において結合されまたは通過する個々の粒子で散乱された光の干渉計検出を含む。例えば粒子(1)のサイズ、質量、形状、電荷または親和性等の特定の粒子特徴を得るために、散乱光信号のパラメータ、例えば干渉計コントラストが分析される。さらに、粒子(1)を検出するよう構成された検出装置(100)が記載されている。【選択図】図1

2. 发明专利

JP2018042563A マイクロ流体システム内のインビトロ進化审中-公开
公开(公告)号：JP2018042563A
公开(公告)日：2018-03-22
申请号：JP2017224810
申请日：2017-11-22
申请人：メディカルリサーチカウンシル , Medical Research Council , プレジデントアンドフェローズオブハーバードカレッジ
发明人：アンドリュー・グリフィス , デイビッド・ウェイツ , ダーレン・リンク , アン・クンホ , ジェローム・ビベット
IPC分类号： C12Q1/68 , C12N15/09
CPC分类号： B01F3/0807 , B01F5/0646 , B01F5/0647 , B01F5/0655 , B01F13/0062 , B01F13/0071 , B01F13/0076 , B01J19/0046 , B01J2219/00466 , B01J2219/00468 , B01J2219/005 , B01J2219/0052 , B01J2219/00545 , B01J2219/00576 , B01J2219/00657 , B01J2219/00722 , B01L3/502746 , B01L3/502753 , B01L3/502776 , B01L3/502784 , B01L2200/0636 , B01L2200/0673 , B01L2300/0654 , B01L2300/0816 , B01L2300/0864 , B01L2300/0867 , B01L2400/0415 , B01L2400/0487 , C12N15/1058 , C12N15/1075 , C12P21/00 , C12Q1/6874 , G01N15/1459 , G01N15/1484 , G01N2015/149
摘要：【課題】所望の活性を有する遺伝子産物をコードする1つ以上の遺伝要素を単離するための方法であって、(a)遺伝要素をマイクロカプセルに区画化する工程;(b)所望の活性をもつ遺伝産物を発現する遺伝要素を選別する工程、を含む方法であって、少なくとも1つの工程がマイクロ流体制御下にある方法を提供すること。【解決手段】所望の活性を有する遺伝子産物をコードする1つ以上の遺伝要素を単離するための方法であって、(a)遺伝要素をマイクロカプセルに区画化する工程;(b)所望の活性をもつ遺伝産物を発現する遺伝要素を選別する工程、を含む方法であって、少なくとも1つの工程がマイクロ流体制御下にある方法を見いだした。【選択図】なし

3. 发明专利

JP2018507386A レンズフリーイメージングを実行するための装置および方法审中-公开
公开(公告)号：JP2018507386A
公开(公告)日：2018-03-15
申请号：JP2017530065
申请日：2015-12-28
申请人：アイメック・ヴェーゼットウェー , IMEC VZW
发明人：ドリース・フェルクライセ , ポル・ファン・ドルぺ , グザヴィエ・ロッテンベルク , トム・クラース , リヒャルト・スタール
IPC分类号： G01N21/17 , G01N21/01 , G01N21/05 , G02B6/122 , G02B6/124 , G02B21/36
CPC分类号： G02B6/34 , G01N15/1436 , G01N15/1484 , G02B6/12 , G02B2006/12107 , G03H1/0443 , G03H2001/0447
摘要：本発明は、フォトニック集積回路(2)を備えるイメージング装置(1)に関する。このフォトニック集積回路は、光信号(5)を導くための集積導波路(4)と、集積導波路(4)に光学的に結合され、光ビーム(9)として光信号(5)を導波路(4)の面外に導くように構成された光カプラ(8)と、流体媒体に浸漬された対象物(12)を収容するためのマイクロ流体チャネル(98)とを備える。マイクロ流体チャネルは、装置の動作中に、光ビームによって対象物を照射することができるように構成される。集積回路はさらに、光ビーム(9)によって照射された対象物(12)を撮像するように位置決めされる少なくとも1つのイメージング検出器(11)を備える。本発明はさらに、対応する撮像方法に関する。

4. 发明专利

JP2017538970A 光カプラ审中-公开
公开(公告)号：JP2017538970A
公开(公告)日：2017-12-28
申请号：JP2017533460
申请日：2015-12-28
申请人：アイメック・ヴェーゼットウェーImec Vzw , アイメック・ヴェーゼットウェーImec Vzw
发明人：グザヴィエ・ロッテンベルク , トム・クラース , ドリース・フェルクライセ
IPC分类号： G02B6/124 , G02B6/122 , G02B6/13 , G02B6/34
CPC分类号： G02B6/34 , G01N15/1434 , G01N15/1456 , G01N15/1484 , G01N2015/0065 , G01N2015/1006 , G01N2015/144 , G01N2015/149 , G02B6/0061 , G02B6/124 , G02B6/24 , G02B27/22 , G02B27/2292
摘要：集積導波路(4)から到来する光信号(5)を自由空間内にアウトカップリングさせるための光カプラは、複数のマイクロ構造体(202)を備えている。複数のマイクロ構造体(202)の形状と位置は、光信号(5)が光カプラ(8)内で伝搬するときに光信号(5)の減衰を補償し、かつ、光信号(5)が自由空間内で伝搬する光信号(5)の出力分布(201)を所定の目標出力分布に一致させるように適合している。複数のマイクロ構造体は、それぞれ光散乱中心を構成し、不均一な数密度分布に従って、光カプラの上に配置されている。

9. 发明专利

JPWO2015056516A1 粒子分取装置、粒子分取方法及びプログラム审中-公开
公开(公告)号：JPWO2015056516A1
公开(公告)日：2017-03-09
申请号：JP2015542551
申请日：2014-09-10
申请人：ソニー株式会社
发明人：洋介村木 , 洋介村木 , 史高大塚 , 史高大塚 , 泰信加藤 , 泰信加藤
IPC分类号： G01N15/14
CPC分类号： G01N15/1404 , B01L3/0268 , B01L3/502723 , B01L3/502776 , B01L2200/0652 , B01L2400/0439 , G01N15/1425 , G01N15/1436 , G01N15/1459 , G01N15/1484 , G01N2015/0065 , G01N2015/1006 , G01N2015/1081 , G01N2015/142 , G01N2015/149
摘要：分取対象の粒子の大きさが均一でない場合でも、効率よく分取することが可能な粒子分取装置、粒子分取方法及びプログラムを提供する。粒子分取装置に、流体ストリームを発生するオリフィスから吐出された液滴の少なくとも一部に電荷を付与する荷電部と、この荷電部で液滴に付与する荷電量を調整する荷電制御部とを設ける。そして、荷電制御部を、液滴に含まれる粒子の大きさに応じて荷電量を調整する構成にする。

10. 发明专利

JP2016191715A マイクロチップ型光学測定装置及び該装置における光学位置調整方法有权
标题翻译：微型光学测量装置和光学位置调节方法
公开(公告)号：JP2016191715A
公开(公告)日：2016-11-10
申请号：JP2016133041
申请日：2016-07-05
申请人：ソニー株式会社
发明人：村木洋介 , 大塚史高
IPC分类号： G01N37/00 , G01N15/14
CPC分类号： G05B19/27 , G01N15/1434 , G01N15/1484 , G06N7/005 , G01N2015/1452
摘要：【課題】レーザの光軸に対するマイクロチップの位置調整を自動で高精度に行うことが可能なマイクロチップ型光学測定装置を提供すること。【解決手段】流路内を通流する微小粒子にレーザを照射して発生する光を検出する照射検出部と、前記照射検出部に対する前記流路の相対位置を変更可能である位置調整部と、前記光の検出強度に応じて前記位置調整部を制御する制御部と、を備え、前記照射検出部は、前記位置調整部により変更された複数の検出位置にてそれぞれ光を検出し、前記制御部は、前記複数の検出位置及び前記複数の検出位置で検出された前記光の検出強度の積算値又は平均値に基づき予め設定された確率分布における分布パラメータを算出し、前記分布パラメータに基づき前記積算値又は前記平均値が最大となる位置を特定する微小粒子測定装置を提供する。【選択図】図1
摘要翻译：要解决的问题：提供一种能够在激光束的光轴上自动且高精度地执行微芯片的位置调整的微芯片型光学测量装置。解决方案：微粒测量装置包括：照射检测单元，用于检测产生的光通过用激光束照射在通道中流动的微粒; 位置调整单元，其能够改变所述通道相对于所述照射检测单元的相对位置; 以及控制单元，用于根据光的检测强度来控制位置调整单元。照射检测单元检测由位置调整单元改变的多个检测位置的光，并且控制单元计算基于多个检测位置预先设定的概率分布中的分布参数和积分值或平均值在多个检测位置检测到的光的检测强度，并基于分布参数识别积分值或平均值最大的位置。图1

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