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1. 发明专利

JP6447506B2 粒子分取装置及び粒子分取方法有权
公开(公告)号：JP6447506B2
公开(公告)日：2019-01-09
申请号：JP2015542551
申请日：2014-09-10
申请人：ソニー株式会社
发明人：村木洋介 , 大塚史高 , 加藤泰信
IPC分类号： G01N15/14

2. 发明专利

JP6354749B2 微小粒子分析装置、微小粒子分析方法、プログラム及び微小粒子分析システム有权
公开(公告)号：JP6354749B2
公开(公告)日：2018-07-11
申请号：JP2015505379
申请日：2014-02-19
申请人：ソニー株式会社
发明人：村木洋介
IPC分类号： G01N15/14 , G01N21/64
CPC分类号： G01N15/1429 , G01N15/1459 , G01N21/6486 , G01N2015/1006 , G01N2015/149 , G01N2021/6421 , G01N2201/06113 , G01N2201/12

3. 发明专利

JP6304034B2 微小粒子分取装置、微小粒子分取方法及びプログラム有权
公开(公告)号：JP6304034B2
公开(公告)日：2018-04-04
申请号：JP2014537419
申请日：2013-11-19
申请人：ソニー株式会社
发明人：大塚史高 , 村木洋介
IPC分类号： G01N15/14
CPC分类号： G01N15/1425 , B07C5/3422 , G01N15/1427 , G01N15/1459 , G01N15/1463 , G01N21/27 , G01N2015/1006 , G01N2015/1406 , G01N2015/1481 , G01N2015/149

4. 发明专利

JP5782135B2 微小粒子分取装置及び微小粒子分取装置における位置制御方法有权
标题翻译：为微粒分选装置和微颗粒分选装置的位置控制方法
公开(公告)号：JP5782135B2
公开(公告)日：2015-09-24
申请号：JP2013547043
申请日：2013-02-04
申请人：ソニー株式会社
发明人：橋本学治 , 辻明子 , 村木洋介 , 畑本耕平
IPC分类号： C12M1/26 , C12M1/34 , G01N1/00 , G01N15/14
CPC分类号： G01N15/1425 , G01N15/14 , G01N15/1459 , B01L3/502761 , G01N2015/149 , Y10S209/908

5. 发明专利

JP6311312B2 微小粒子測定装置及び微小粒子測定装置における送液方法有权
公开(公告)号：JP6311312B2
公开(公告)日：2018-04-18
申请号：JP2013556441
申请日：2013-06-10
申请人：ソニー株式会社
发明人：村木洋介
IPC分类号： G01N37/00 , G01N1/00 , G01N15/14
CPC分类号： B01L3/502 , G01N15/1404 , G01N15/1459 , G01N2015/1006 , G01N2015/1409 , G01N2015/1413 , G01N2015/149

6. 发明专利

JP6256537B2 マイクロチップ型光学測定装置及び該装置における光学位置調整方法有权
公开(公告)号：JP6256537B2
公开(公告)日：2018-01-10
申请号：JP2016133041
申请日：2016-07-05
申请人：ソニー株式会社
发明人：村木洋介 , 大塚史高
IPC分类号： G01N37/00 , G01N15/14
CPC分类号： G05B19/27 , G01N15/1434 , G01N15/1484 , G01N2015/1452 , G06N7/005

7. 发明专利

JP2015212709A 微小粒子分取装置及び微小粒子分取装置における位置制御方法有权
标题翻译：麦克风分配装置和微控制器装置中的位置控制方法
公开(公告)号：JP2015212709A
公开(公告)日：2015-11-26
申请号：JP2015141353
申请日：2015-07-15
申请人：ソニー株式会社
发明人：橋本学治 , 辻明子 , 村木洋介 , 畑本耕平
IPC分类号： G01N15/14
CPC分类号： G01N15/1425 , G01N15/14 , G01N15/1459 , B01L3/502761 , G01N2015/149 , Y10S209/908
摘要：【課題】回収容器を自動で正確に位置合わせする微小粒子分取装置を提供すること。【解決手段】微小粒子を含む液滴の通過領域の少なくとも一部を撮像するカメラと、前記カメラで撮像された画像に基づき、前記液滴を回収容器が受け入れるよう前記液滴と前記回収容器との位置関係を調整する制御部と、を備える微小粒子分取装置を提供する。【選択図】図1
摘要翻译：要解决的问题：提供一种能够自动且精确地调整收集容器的位置的微粒分选装置。解决方案：微粒分选装置包括：照相机，其捕获包含微粒的液滴的至少部分通过面积的图像 ; 以及控制单元，其调整液滴和收集容器之间的位置关系，使得收集容器基于由照相机拍摄的图像接收液滴。

8. 发明专利

JP6597762B2 マイクロチップ型光学測定装置及び該装置における光学位置調整方法有权
公开(公告)号：JP6597762B2
公开(公告)日：2019-10-30
申请号：JP2017235407
申请日：2017-12-07
申请人：ソニー株式会社
发明人：村木洋介 , 大塚史高
IPC分类号： G01N37/00 , G01N15/14

9. 发明专利

JP6136843B2 粒子分取装置、粒子分取方法及びプログラム有权
公开(公告)号：JP6136843B2
公开(公告)日：2017-05-31
申请号：JP2013216633
申请日：2013-10-17
申请人：ソニー株式会社
发明人：村木洋介 , 藤巻敦男 , 大塚史高 , 加藤泰信
IPC分类号： G01N15/14
CPC分类号： G01N15/1425 , B03C7/003 , G01N15/14 , G01N2015/0065 , G01N2015/1081 , G01N2015/149

10. 发明专利

JP2016191715A マイクロチップ型光学測定装置及び該装置における光学位置調整方法有权
标题翻译：微型光学测量装置和光学位置调节方法
公开(公告)号：JP2016191715A
公开(公告)日：2016-11-10
申请号：JP2016133041
申请日：2016-07-05
申请人：ソニー株式会社
发明人：村木洋介 , 大塚史高
IPC分类号： G01N37/00 , G01N15/14
CPC分类号： G05B19/27 , G01N15/1434 , G01N15/1484 , G06N7/005 , G01N2015/1452
摘要：【課題】レーザの光軸に対するマイクロチップの位置調整を自動で高精度に行うことが可能なマイクロチップ型光学測定装置を提供すること。【解決手段】流路内を通流する微小粒子にレーザを照射して発生する光を検出する照射検出部と、前記照射検出部に対する前記流路の相対位置を変更可能である位置調整部と、前記光の検出強度に応じて前記位置調整部を制御する制御部と、を備え、前記照射検出部は、前記位置調整部により変更された複数の検出位置にてそれぞれ光を検出し、前記制御部は、前記複数の検出位置及び前記複数の検出位置で検出された前記光の検出強度の積算値又は平均値に基づき予め設定された確率分布における分布パラメータを算出し、前記分布パラメータに基づき前記積算値又は前記平均値が最大となる位置を特定する微小粒子測定装置を提供する。【選択図】図1
摘要翻译：要解决的问题：提供一种能够在激光束的光轴上自动且高精度地执行微芯片的位置调整的微芯片型光学测量装置。解决方案：微粒测量装置包括：照射检测单元，用于检测产生的光通过用激光束照射在通道中流动的微粒; 位置调整单元，其能够改变所述通道相对于所述照射检测单元的相对位置; 以及控制单元，用于根据光的检测强度来控制位置调整单元。照射检测单元检测由位置调整单元改变的多个检测位置的光，并且控制单元计算基于多个检测位置预先设定的概率分布中的分布参数和积分值或平均值在多个检测位置检测到的光的检测强度，并基于分布参数识别积分值或平均值最大的位置。图1

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