专利快速检索-快速检索全球专利，免费商用专利数据库-IPRDB

1. 发明专利

KR20210033021A KR20210033021A - Interferometry using the superposition of searchable interference of electromagnetic fields 审中-公开
公开(公告)号：KR20210033021A
公开(公告)日：2021-03-25
申请号：KR1020217004523A
申请日：2018-07-16
申请人： 막스-플랑크-게젤샤프트 츄어 푀르더룽 데어 비쎈샤프텐 에.파우.
发明人： 요아킴 푸페자 , 페렌츠 크라우스 , 테레사 부베를
IPC分类号： G01B9/02 , G01J3/02 , G01J3/453 , G01N21/45
CPC分类号： G01B9/02 , G01B9/02027 , G01J3/0205 , G01J3/0208 , G01J3/0224 , G01J3/4535 , G01N21/45
摘要： 이중 빔 경로 간섭계를 가지며, 전자기장의 수색성 간섭 중첩을 위한 간섭계 장치는 입력 빔을 적어도 하나의 편향 거울을 포함하는 제1 간섭계 암(A1)을 따라 전파하는 제1 빔과 적어도 하나의 편향 거울을 포함하는 제2 간섭계 암(A2)을 따라 전파하는 제2 빔으로 나누기 위해 배치된 빔 분리기와 제1 및 제2 빔을 보강 출력과 상쇄 출력으로 재결합하기 위한 빔 결합기를 포함하되,
상기 제1 및 제2 간섭계 암은 동일한 광학 경로 길이를 가지고,
상기 빔 분리기 및 빔 결합기의 반사 표면은 제2 간섭계 암과 비교하여 제1 간섭계 암에서, 하나의 추가적인 프레넬 반사가 광학적으로 밀한 매질에서 제공되고, 제1 및 제2 빔의 전자기장의 전파는 빔 결합기에 의해 재결합될 때, 상쇄 출력에 대한 두 간섭계 암의 기여도 사이에 파장 독립적인 π의 위상차가 되도록 배치되며,
상기 제1 간섭계 암은 제1 및 제2 간섭계 암에서 색 분산과 프레넬 손실의 균형을 맞추기 위해 배치된 균형 투과 구성을 포함한다.
아울러, 간섭 측정 장치 및 간섭 측정 방법을 개시한다.

2. 发明专利

JPWO2014132379A1 フーリエ変換赤外分光光度計有权
标题翻译：傅立叶变换红外光谱仪
公开(公告)号：JPWO2014132379A1
公开(公告)日：2017-02-02
申请号：JP2015502644
申请日：2013-02-28
申请人：株式会社島津製作所
发明人：福田　久人 , 久人福田
IPC分类号： G01J3/45 , G01J3/02 , G01J3/42
CPC分类号： G01J3/4535 , G01J3/0264 , G01J3/027 , G01J3/0275 , G01J3/0289 , G01J3/108 , G01J3/12 , G01N21/35 , G01N2021/3595
摘要：付属品の装着による干渉条件の変化の影響を受けず、測定精度が高いフーリエ変換赤外分光光度計を提供する。本発明に係るフーリエ変換赤外分光光度計は、付属品20を着脱自在に装着可能な試料室2と干渉光学系が共通のベース上に設けられたフーリエ変換赤外分光光度計であって、付属品20が試料室2内に装着された際に、該付属品20に付された付属品情報を読み取る付属品情報読取手段22と、付属品情報読取手段22で読み取られた付属品情報に基づいて、付属品20毎の重量の相違などに起因して変化する、干渉光学系の設定条件を変更する設定条件変更手段(制御部30)とを備えることを特徴とする。
摘要翻译：而不会受到造成装配，以提供高的测量精度傅里叶变换红外分光光度计配件的干扰条件的变化。根据本发明傅里叶变换红外分光光度计，提供一种傅里叶变换红外分光光度计可拆卸样品室2和能够安装被设置在共同的基座组件20的干涉光学系统，当附件20被附接到样品室2中，附件信息读取装置22读取附连到附件20附件信息，由附件信息读取装置读取的附件的信息装置22 基于由于在每个附件20的重量差这样的变化，其特征在于它包括：设置条件变更用于改变干涉光学系统（控制部30）的设置条件的装置。

3. 发明专利

JP5774316B2 干渉計のステップ走査システムおよび方法有权
标题翻译：步骤扫描系统和干涉仪的方法
公开(公告)号：JP5774316B2
公开(公告)日：2015-09-09
申请号：JP2011005030
申请日：2011-01-13
申请人：アジレント・テクノロジーズ・インク , AGILENT TECHNOLOGIES, INC.
发明人：デイヴィッドビー.ジョンソン , アンソニーボンド
IPC分类号： G01B9/02 , G01J3/45
CPC分类号： G01J3/4535

5. 发明专利

JP2014523517A Spectral device 有权
公开(公告)号：JP2014523517A
公开(公告)日：2014-09-11
申请号：JP2014508750
申请日：2012-04-26
申请人：フォスアナリティカルアグシャセルスガーッブFoss Analytical A/S
发明人：フォルケンベルク，ヤコブ , ラルセン，ハンス
IPC分类号： G01J3/45
CPC分类号： G01J3/45 , G01J3/4535
摘要：入射光放射を反射ビーム経路をたどる反射ビームと透過ビーム経路をたどる透過ビームに分割するビームスプリッター（４０）を有する走査干渉計（４０，４２，４４）と、基準ビームを先ずビームスプリッター（４０）の第１表面（４０'）に入射するように第１伝播経路（６２）に沿って干渉計（４０，４２，４４）に発射する単色光放射源（５２）と、発散観測ビーム（６４）を先ずビームスプリッター（４０）の第１表面（４０'）に入射し、次に第１表面（４０'）において基準ビームと重なるように第２伝播経路（６６）に沿って干渉計（４，６，８）に発射する観測光放射源（４６）とを備え、両放射光源（５２；４６）が第１表面（４０'）に初めてかつ同時に入射したときに協力して、それぞれ、第１伝播経路（６２）と第２伝播経路（６６）沿いの２つのビームの伝播方向間に、観測ビーム６４の発散半角（α）より大きい第１の角（θ）を形成することを特徴とする分光装置（３８）。
【選択図】図４

6. 发明专利

JPWO2012056776A1 分光器におけるチルト補正方法审中-公开
公开(公告)号：JPWO2012056776A1
公开(公告)日：2014-03-20
申请号：JP2012540713
申请日：2011-07-26
申请人：コニカミノルタ株式会社
发明人：原　吉宏 , 吉宏原
IPC分类号： G01J3/45 , G01J9/02
CPC分类号： G01J3/45 , G01J3/0208 , G01J3/0237 , G01J3/4535 , G02B26/0858
摘要：分光測定前の粗調工程では、移動鏡を移動させ(#11)、移動鏡での反射光と固定鏡での反射光との干渉光を4分割センサで受光したときの各分割素子の出力を合算して、干渉光のコントラストの変化を検出するとともに(#12)、そのコントラストの変化に基づいて、両反射光の相対的なチルト量を検知して(#13)、初期のチルト誤差を補正する(#14)。一方、分光測定前の微調工程では、両反射光の干渉光を4分割センサで受光したときの各分割素子の出力の位相差に基づいて、両反射光の相対的なチルト量およびチルト方向を検知して初期のチルト誤差を補正する。

7. 发明专利

JPWO2011135943A1 光路補正装置、干渉計およびフーリエ変換分光分析装置有权
公开(公告)号：JPWO2011135943A1
公开(公告)日：2013-07-18
申请号：JP2011525763
申请日：2011-03-17
申请人：コニカミノルタ株式会社
发明人：小坂　明 , 明小坂 , 広瀬　悟 , 悟広瀬 , 原　吉宏 , 吉宏原
IPC分类号： G01J3/45 , G01B9/02
CPC分类号： G01J3/4535 , G01J3/02 , G01J3/0202 , G02B26/0858
摘要：光路補正装置(31)は、反射ミラーと、回動部材(51)と、変位部材としての圧電素子(52)と、連結部材(56)とを有している。回動部材(51)は、反射ミラーを支持する支持面(51a1)を有し、回動中心(P)を中心として回動可能である。圧電素子(52)は、回動部材(51)に対して反射ミラーとは反対側に設けられ、回動部材(51)との間隔が変化する方向に伸縮可能である。連結部材(56)は、圧電素子(52)の伸縮方向に垂直な端面(52S)と回動部材(51)とを連結する。連結部材(56)は、上記伸縮方向から見たときに、圧電素子(52)の伸縮を回動部材(51)に伝達する作用領域(56a)を有している。この作用領域(56a)は、圧電素子(52)の端面(52S)よりも狭く、かつ、端面(52S)における回動中心(P)に近い部分的な領域(52S1)と対応している。

8. 发明专利

JP2013130488A Sample gas analyzer and program for sample gas analyzer 有权
标题翻译：样品气体分析仪和样品气体分析仪程序
公开(公告)号：JP2013130488A
公开(公告)日：2013-07-04
申请号：JP2011280640
申请日：2011-12-22
申请人： Horiba Ltd , 株式会社堀場製作所
发明人： ITAYA TAKAHIRO , NAKATANI SHIGERU
IPC分类号： G01N21/3504 , G01N21/35
CPC分类号： G01N21/3504 , G01J3/027 , G01J3/4535 , G01N2021/3595 , G01N2201/129
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To compatibly achieve interference influence reduction and measurement error reduction in quantitative analysis of one or a plurality of measurement object components.SOLUTION: An analyzer 100 quantitatively analyzes one or the plurality of measurement object components in a sample using an optical spectrum obtained by irradiating the sample with light, and library data to be used in multivariable analysis is switched between a first generation condition from generation start of a sample gas to the lapse of prescribed time and a second generation condition after the lapse of the prescribed time. Under the first generation condition, the plurality of measurement object components are quantitatively analyzed using first library data for which interference influence of measurement non-object components is corrected. Under the second generation condition, the plurality of measurement object components are quantitatively analyzed using second library data for which the interference influence of the measurement non-object components is not corrected.
摘要翻译：要解决的问题：兼容地实现一个或多个测量对象部件的定量分析中的干扰影响减少和测量误差减少。解析：分析器100使用光谱定量分析样本中的一个或多个测量对象分量通过用光照射样品获得，并且在多变量分析中使用的文库数据在从样品气体的产生开始到经过规定时间的第一代条件和经过规定时间后的第二代条件之间切换。在第一代条件下，使用用于校正测量非对象分量的干扰影响的第一库数据对多个测量对象分量进行定量分析。在第二代条件下，使用未校正测量非对象分量的干扰影响的第二库数据对多个测量对象分量进行定量分析。

9. 发明专利

JP2012505421A Process and equipment to restore the narrow band signal that randomly sampled 有权
公开(公告)号：JP2012505421A
公开(公告)日：2012-03-01
申请号：JP2011531422
申请日：2009-09-01
申请人：サントル・ナシオナル・デテュード・スパシアル(セ・エヌ・ウ・エス)Centre National D’Etudes Spatiales(Cnes)
发明人：カンソ、エロディ , クリストフ、エマニュエル , ロサック、アラン
IPC分类号： G01J3/45
CPC分类号： G01J3/4535 , G01J3/453 , G01J3/4531 , G01J3/457
摘要：第１の態様によれば、本発明は、不規則なサンプリングを生成する機器によって取得された狭帯域信号の復元プロセスであって、２つのサンプル列が同じサンプリング周期で取得され、該２つの列は、サンプリング誤差が双方の列にわたって同一又は準同一であるように互いに対してオフセットされる、プロセスに関する。第２の態様によれば、本発明は、本発明の第１の態様によるプロセスを実行するように構成される機器に関する。

10. 发明专利

JP2011527418A Spectral light coherence tomography (soct) 有权
公开(公告)号：JP2011527418A
公开(公告)日：2011-10-27
申请号：JP2011517036
申请日：2009-07-10
申请人：オプトポル・テクノロジー・スプウカ・アクツィイナOPTOPOL Technology S.A.
发明人：トマス・バイラセヴスキー , マチェイ・ヴォイトコヴスキー , マチェイ・スクルモヴスキー
IPC分类号： G01N21/17
CPC分类号： G01B9/0201 , A61B3/102 , G01B9/02078 , G01B9/02091 , G01B2290/35 , G01J3/4535 , G01N21/4795 , G02B26/105 , G02B27/40
摘要：本発明は、光ビームに対する走査可能な光学的遅延を発生させる装置、及びこの走査可能な光学的遅延を発生させる装置を参照アーム（１５）に有するフーリエ領域光干渉性断層撮影法のための装置に関する。光ビームは、旋回可能に駆動されるミラー（１０）の方に指向させられ、そこから固定ミラー（１２）へ反射され、そこから、逆に反射されて参照アーム（５）に沿って戻される。レンズ光学系（９）は、旋回可能に駆動されるミラー（１０）の幾つかの旋回位置において精密な光学的配列を確かなものとするように設けられている。

你已经成功收藏专利！

检索式保存成功!

IPRDB

热门服务

关于我们

友情链接

联系方式