会员体验
专利管家(专利管理)
工作空间(专利管理)
风险监控(情报监控)
数据分析(专利分析)
侵权分析(诉讼无效)
联系我们
交流群
官方交流:
QQ群: 891211   
微信请扫码    >>>
现在联系顾问~
热词
    • 7. 发明专利
    • 基板の加工方法
    • 基板加工方法
    • JP2015023092A
    • 2015-02-02
    • JP2013148763
    • 2013-07-17
    • キヤノン株式会社Canon Inc
    • MINAMI SEIKOSAKAI TOSHIYASU
    • H01L21/3065B81C1/00
    • B81C1/00587B81B2201/052B81C1/00087B81C2201/0132H01L21/3065H01L21/30655H01L21/31116
    • 【課題】反応性イオンエッチングによって形成する貫通穴の開口寸法を微細化した場合でも、開口の広がりを抑制できる基板の加工方法を提供すること。【解決手段】反応性イオンエッチングによって基板に貫通穴を形成する基板の加工方法であって、第一の層と前記第一の層を覆う第二の層とを第一の面側に有する基板を用意する工程と、用意した基板に、前記第一の面の反対側の面である第二の面から反応性イオンエッチングを行い、前記基板に第一の面から第二の面までを貫通する貫通穴を形成し、前記反応性イオンエッチングを前記第一の層に到達させる工程と、を有し、前記第二の層は前記第一の層よりも前記反応性イオンエッチングに対するエッチングレートが低い層であることを特徴とする基板の加工方法。【選択図】図1
    • 要解决的问题:即使当通过反应离子蚀刻形成的通孔的开口尺寸小型化时,也可提供能够抑制开口扩展的基板的处理方法。解决方案:一种用于形成基板的处理方法 通过反应离子蚀刻在基板中的通孔包括制备具有第一层的第一层和覆盖第一侧上的第一层的第二层的基板的步骤,以及在如此制备的基板中形成通孔的步骤, 通过在与第一表面相对的一侧上从第二表面进行反应离子蚀刻,使得反应离子蚀刻到达第一层,从而第二面到第二面。 第二层的反应离子蚀刻的蚀刻速率低于第一层的蚀刻速率。
    • 8. 发明专利
    • Manufacturing method of nozzle plate
    • 喷嘴板的制造方法
    • JP2013188968A
    • 2013-09-26
    • JP2012057638
    • 2012-03-14
    • Fujifilm Corp富士フイルム株式会社
    • TAKAHASHI HIDEJI
    • B41J2/135
    • H01L21/30604B41J2/14233B41J2/1433B41J2/162B41J2/1628B41J2/1629B41J2/1631B41J2/1632B41J2/1642B41J2/1645B41J2/1646B81B2201/052B81C1/00626H01L21/30608
    • PROBLEM TO BE SOLVED: To reduce errors of magnitudes of openings of straight parts when forming the straight parts and tapered parts on silicon substrates different in plane directions, respectively.SOLUTION: A laminated substrate 53 formed by laminating a first active layer 23 whose plane direction is and a second active layer 24 whose plane direction is is formed at one face side of a BOX layer 51. A frame-shaped mask pattern layer 60a having a mask opening 60b is formed in a position in which a nozzle 12 on the second active layer 24 should be formed. Straight parts 20 of the nozzle 12 are formed in the mask opening 60b by forming a non-penetration hole 70 reaching one face of the BOX layer 51. A non-masked portion 24a of the second active layer 24 and the internal face of the non-penetration hole 70 are cover with thermal oxide films 72. An exposed portion 24b is formed on the second active layer 24 by removing the mask pattern layer 60a. Tapered parts 21 of the nozzle 12 are formed by crystal-anisotropy etching the second active layer 24 from the exposed portion 24b.
    • 要解决的问题:分别在平面方向上形成硅基板上的直线部分和锥形部分时减小直线部分开口的大小的误差。解决方案:层叠基板53,其层叠第一有源层23,其平面方向 是<111>,并且平面方向为<100的第二有源层24形成在BOX层51的一个正面侧。具有掩模开口60b的框状掩模图案层60a形成在其中 应形成第二有源层24上的喷嘴12。 通过形成到BOX层51的一个面的非贯通孔70,在掩模开口60b中形成喷嘴12的直线部分20.第二有源层24的非掩模部分24a和非绝缘部分 穿透孔70覆盖有热氧化膜72.通过去除掩模图案层60a,在第二有源层24上形成暴露部分24b。 通过从暴露部分24b蚀刻第二有源层24的晶体各向异性形成喷嘴12的锥形部分21。