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    • 3. 发明专利
    • 単結晶の引上げ方法
    • 提高单晶的方法
    • JP2015124127A
    • 2015-07-06
    • JP2013270641
    • 2013-12-27
    • 株式会社SUMCO
    • 中村 剛四ッ井 拓也
    • C30B30/04C30B15/22
    • 【課題】水平磁場の中心位置を熱遮蔽体の鉛直方向の位置のずれ量に応じて調整することにより、引上げられる単結晶の品質のバラツキを低減する。 【解決手段】本発明は、CZ炉10のルツボ13に入れた原料をヒータ19により加熱して融液16にし、この融液に水平磁場を印加しかつ融液から引上げられる単結晶11外周面を熱遮蔽体46が包囲した状態で単結晶を引上げる方法である。ヒータによるルツボ内の融液の加熱状態でCZ炉での最初の単結晶の引上げ前に熱遮蔽体の初回位置を測定し、この初回位置を基準として水平磁場の中心位置33をその設定位置に合せ、ヒータによるルツボ内の融液の加熱状態でCZ炉での2本目以降の単結晶の引上げ前又は引上げ中に熱遮蔽体が上記初回位置からずれた量を測定し、このずれ量に応じて水平磁場の中心位置を調整する。 【選択図】図1
    • 要解决的问题:通过根据热屏蔽体的垂直位置偏移的量调节水平磁场的中心位置来降低提升的单晶的质量变化。解决方案:提供了一种方法, 将放置在CZ炉10的坩埚13中的原料放入单晶中,由加热器19加热成熔体16,在熔融体施加水平磁场的同时,从熔体中提升的单晶11具有 在热屏蔽体46包围的外周表面上,在CZ炉中第一次提升单晶体之前测量热屏蔽体的初始位置,同时坩埚中的熔体被加热器加热,中心位置 根据初始位置将水平磁场的33设定为设定位置,并且在l或之前测量热屏蔽体与初始位置的偏移量 如果在坩埚中的熔体被加热器加热的同时在CZ炉中连续施加单晶,则基于偏移量来调整水平磁场的中心位置33。