专利快速检索-快速检索全球专利，免费商用专利数据库-IPRDB

1. 发明专利

JPWO2014133018A1 分光光度計及び分光光度測定方法有权
标题翻译：分光光度计和分光光度法
公开(公告)号：JPWO2014133018A1
公开(公告)日：2017-02-02
申请号：JP2015502961
申请日：2014-02-26
申请人：大塚電子株式会社
发明人：久志白岩 , 久志白岩
IPC分类号： G01J3/02 , G01J3/36
CPC分类号： G01J3/0264 , G01J1/44 , G01J3/02 , G01J3/0232 , G01J3/0262 , G01J3/2803 , G01J3/42 , G01J2001/4406 , G01J2001/444 , G01J2001/448
摘要：分光光度計であって、受光した光を電気信号に変換して出力する光検出部と、複数のゲインアンプと複数のADコンバータを含み、前記光検出部からの出力信号を、前記複数のゲインアンプを用いて複数のゲインで増幅するとともに、前記複数のADコンバータを用いてデジタル信号に変換して、複数の光量データとして出力する回路部と、前記回路部からの各光量データが飽和したか否かを判定する飽和判定部と、前記飽和判定部の判定結果に応じて、前記複数の光量データのうち一部または全部の光量データを用いて前記受光した光の測定結果を算出する測定結果算出部と、を含むことを特徴とする。
摘要翻译：分光光度计，用于将所接收的光转换成电信号，包括：多个增益放大器和多个AD转换器，从光检测单元的输出信号的光检测单元，其中所述多个增益通过使用放大器放大多个增益，并使用所述多个AD转换器，用于输出多个光量的数据的电路部分中的数字信号，或转换，从所述电路部分中的光量数据是饱和的一饱和度确定单元确定是否，根据所述判断结果的饱和判断单元，所述测量并用的一部分，或者光量数据中的所有多个光量数据的结果来计算所接收的光的测定结果计算单元，其特征在于它包括：a。

2. 发明专利

JP5479543B2 Optical characteristic measurement device 有权
公开(公告)号：JP5479543B2
公开(公告)日：2014-04-23
申请号：JP2012160527
申请日：2012-07-19
申请人：大塚電子株式会社
发明人：和明大久保 , 久志白岩
IPC分类号： G01J1/02
CPC分类号： G02B17/00 , G01J1/0214 , G01J1/04 , G01J1/0407 , G01J1/0425 , G01J3/0218 , G01J3/0254 , G01J3/0262 , G01J3/505 , G01J2001/0481 , G01J2001/4252 , G02B5/08

3. 发明专利

JP5184842B2 Coloring film thickness measurement method and apparatus 有权
公开(公告)号：JP5184842B2
公开(公告)日：2013-04-17
申请号：JP2007213720
申请日：2007-08-20
申请人：大塚電子株式会社
发明人：久志白岩
IPC分类号： G01B11/06

4. 发明专利

JP6255380B2 分光光度計及び分光光度測定方法有权
公开(公告)号：JP6255380B2
公开(公告)日：2017-12-27
申请号：JP2015502961
申请日：2014-02-26
申请人：大塚電子株式会社
发明人：久志白岩 , 久志白岩
IPC分类号： G01J3/02 , G01J3/36
CPC分类号： G01J3/0264 , G01J1/44 , G01J3/02 , G01J3/0232 , G01J3/0262 , G01J3/2803 , G01J3/42 , G01J2001/4406 , G01J2001/444 , G01J2001/448

5. 发明专利

JPWO2014020660A1 光学測定装置有权
标题翻译：光学测量装置
公开(公告)号：JPWO2014020660A1
公开(公告)日：2016-07-11
申请号：JP2014527834
申请日：2012-07-30
申请人：大塚電子株式会社
发明人：大久保　和明 , 和明大久保 , 久志白岩 , 久志白岩
IPC分类号： G01J1/00
CPC分类号： G01J1/06 , G01J1/0223 , G01J1/0403 , G01J1/0488 , G01J1/4257 , G01J2001/4247
摘要：光学測定装置(1)は、一方の平面に第1の開口(10)を有するとともに、他方の平面に第2の開口(18)を有する、中空の円筒状部材(2)と、円筒状部材の中心軸である第1の軸に沿って円筒状部材を回転させるための回転機構(52,54)と、第1の軸上であって、かつ照射される光が第1の開口を通じて円筒状部材の内部に入射する位置である測定位置に、光源(30)を配置するための支持部(20,22)と、円筒状部材の内部に配置され、光源から第1の開口を通じて入射する光を反射する第1の反射部(12)と、円筒状部材の内部の光を反射して、当該光を、第2の開口を通じて、第1の軸に沿って円筒状部材の外部へ伝搬させるための第2の反射部(14)と、第1の反射部で反射した光を第2の反射部へ入射させるための、少なくとも1つの第3の反射部(16)とを含む。
摘要翻译：光学测量装置（1）具有在一个平面上，并具有第一开口（10），具有在其它平面中的第二开口（18），中空的圆柱形件（2），所述筒状部件气缸和旋转机构的筒状构件沿第一轴线旋转是一个中心轴（52，54），一在第一轴，并且光通过第一开口照射测量位置是进入所述乔构件的内部，用于布置所述光源（30）和（20，22）布置在所述筒状部件内的支撑部分的位置处，并通过从光源的第一开口进入第1反射部，用于反射的光（12），沿第一轴传播反射的圆柱形构件，所述光的光的内侧，通过第二开口，所述圆筒形构件的外侧包括用于使，用于施加由第1反射部与第二反射部反射的光的第二反射部件（14），至少一个第三反射部（16）。

6. 发明专利

JP5217046B2 Optical characteristic measuring device and an optical characteristic measuring method 有权
公开(公告)号：JP5217046B2
公开(公告)日：2013-06-19
申请号：JP2008142625
申请日：2008-05-30
申请人：大塚電子株式会社
发明人：勉水口 , 弘幸佐野 , 久志白岩
IPC分类号： G01N21/27

7. 发明专利

JP4358848B2 Evaluation method for a color filter using an aperture variable inspection optical system 有权
公开(公告)号：JP4358848B2
公开(公告)日：2009-11-04
申请号：JP2006234057
申请日：2006-08-30
申请人：大塚電子株式会社
发明人：賢司中村 , 久志白岩
IPC分类号： G01M11/00 , G02B5/00 , G02B5/20 , G02F1/13 , G02F1/1335
CPC分类号： G02B21/086 , G01N21/25 , G02B5/201

你已经成功收藏专利！

检索式保存成功!

IPRDB

热门服务

关于我们

友情链接

联系方式