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    • 9. 发明专利
    • 半導体装置
    • JP2019145829A
    • 2019-08-29
    • JP2019082858
    • 2019-04-24
    • ローム株式会社
    • 松原 弘招糟谷 泰正
    • H01L25/07H01L25/18H01L23/50
    • 【課題】 絶縁耐圧の向上を図った半導体装置を提供する。 【解決手段】 第1ダイパッド21、第2ダイパッド22、第1半導体素子(制御素子111)、第2半導体素子(駆動素子112)、絶縁素子12、第1ワイヤ(第2ボンディングワイヤ712)および第2ワイヤ(第3ボンディングワイヤ713)を備え、一方向(第2方向Y)に直交する断面において、絶縁素子12につながる前記第1ワイヤの一端が絶縁素子12に対してなす角度は、前記第1半導体素子につながる前記第1ワイヤの他端が前記第1半導体素子に対してなす角度よりも大であり、前記一方向に対して直交する断面において、絶縁素子12につながる前記第2ワイヤの一端が絶縁素子12に対してなす角度は、前記第2半導体素子につながる前記第2ワイヤの他端が前記第2半導体素子に対してなす角度よりも大であり、前記第1ワイヤが前記第2ワイヤよりも短い。 【選択図】 図7