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    • 4. 发明专利
    • 発光デバイス
    • 一种发光器件
    • JP2017038076A
    • 2017-02-16
    • JP2016208006
    • 2016-10-24
    • エルジー イノテック カンパニー リミテッド
    • リー, ジョン−ラムジョン, イン−クォンヨー, ミュン チョル
    • H01L33/38H01L33/32
    • H01L33/12H01C7/006H01C7/008H01L27/0802H01L28/20H01L33/0025H01L33/007H01L33/0079H01L33/0095H01L33/06H01L33/32H01L33/36H01L33/38H01L33/40H01L33/44H01L33/62Y10S438/958Y10S438/977
    • 【課題】GaNをベースにした縦形態のデバイスを提供する。 【解決手段】発光デバイスは、下から順に、金属支持層156と、p型コンタクト層150と、p型半導体層、能動層126及びn型半導体層を含む半導体構造と、n型コンタクト層160と、金属パッド層とを含み、半導体構造の側面を覆い且つn型コンタクト層の上面を覆わない不活性層162を含む。金属支持層はNiを含み、p型コンタクト層はPtを含み、半導体構造はGaNを含み、n型コンタクト層はTi及びAlを含み、金属パッド層はAuを含み、不活性層はSiO2を含む。半導体構造の厚さは5μm未満であり、p型半導体層はn型半導体層よりも厚く、半導体構造においてp型半導体層が占める厚さの割合は60%より高い。半導体構造の幅はp型、n型コンタクト層の幅よりも広く、p型コンタクト層の幅はn型コンタクト層の幅よりも広い。半導体構造の上面と下面は表面粗さが異なる。 【選択図】図15
    • 为了提供垂直形式,其中GaN基的装置。 一种发光器件,包括:在从底部,包括有源层126和n型半导体层,n型接触层的金属支撑层156,p型接触层0.99,p型半导体层,和一半导体结构顺序160 和金属衬垫层包括钝化层162不覆盖在盖和半导体结构的n型接触层的顶侧。 金属支承层含有Ni,p型接触层包含Pt,半导体结构包括的GaN的n型接触层包括Ti和Al,金属衬垫层包含Au,惰性层包括SiO 2 。 半导体结构的厚度小于5微米,p型半导体层比所述n型半导体层更厚,由p型半导体层中的半导体结构所占据的厚度的比率是高于60%。 半导体结构的宽度为p型,比n型接触层的宽度宽,在p型接触层的宽度比所述n型接触层的宽度宽。 上部和半导体结构的表面粗糙度的下表面是不同的。 .The 15