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1. 发明专利

JP2014219386A 電流測定装置有权
标题翻译：电流测量装置
公开(公告)号：JP2014219386A
公开(公告)日：2014-11-20
申请号：JP2014065384
申请日：2014-03-27
申请人：マレクシステクノロジーズエヌヴィー , Melexis Technologies Nv , マレクシステクノロジーズエヌヴィー
发明人： RACZ ROBERT , MATHIEU ACKERMANN , CHEN JIAN
IPC分类号： G01R15/20
CPC分类号： G01R19/0092 , G01R15/20 , G01R15/207 , G01R33/07
摘要：【課題】第1の電流導体を備えた基板および第2の電流導体を備えた電流センサを有する電流測定装置を提供すること。【解決手段】電流測定装置は、第1の電流導体(3)を備えた基板(2)および第2の電流導体(5)を備えた電流センサ(4)を有する。電流センサ(4)は、基板(2)の第1の電流導体(3)の上に取り付けられている。第2の電流導体(5)は、測定される電流の供給および放電に用いられる第1および第2の電気端子リード(7、8)に一体に取り付けられて形成されている。電流センサ(4)は、第2の電流導体(5)の基板(2)に面した側に取り付けられた磁場センサ(11)を備えた半導体チップ(10)をさらに有する。磁場センサ(11)は、半導体チップ(10)の表面に対して平行に、かつ第2の電流導体(5)に対して垂直に延在する磁場の成分に応答する。第2の電流導体(5)は、第1の電流導体(3)の上に、この第1の電流導体に対して平行に延在する。【選択図】図1
摘要翻译：要解决的问题：提供一种电流测量装置，其具有包括第一电流导体和包括第二电流导体的电流传感器的基板。解决方案：电流测量装置具有包括第一电流导体（3）的基板（2）和包括第二电流导体（5）的电流传感器（4）。电流传感器（4）安装在基板（2）的第一电流导体（3）上。第二电流导体（5）通过一体地安装到用于供给和放电待测电流的第一和第二电端子引线（7和8）而形成。电流传感器（4）还具有半导体芯片（10），其包括安装在面向第二电流导体（5）的基板（2）的一侧的磁场传感器（11）。磁场传感器（11）响应涉及与半导体芯片（10）的表面并行并且垂直于第二电流导体（5）延伸的磁场分量。第二电流导体（5）在第一电流导体（3）上延伸，与第一电流导体平行。

2. 发明专利

JP2014174170A Current sensor 有权
标题翻译：电流传感器
公开(公告)号：JP2014174170A
公开(公告)日：2014-09-22
申请号：JP2014042399
申请日：2014-03-05
申请人： Melexis Technologies Nv , マレクシステクノロジーズエヌヴィー
发明人： RACZ ROBERT , CHEN JIAN , MATHIEU ACKERMANN
IPC分类号： G01R15/20 , G01R33/02 , G01R33/07 , H01L21/60 , H01L43/04 , H01L43/06
CPC分类号： G01R1/0416 , G01R15/20 , G01R15/202 , G01R15/207 , H01L2924/0002 , H01L2924/00
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a compact and low-cost current sensor.SOLUTION: A current sensor includes: a plastic package 7; a conductor 3 having a built-in first electric terminal 4 and second electric terminal 5, to which a current to be measured is supplied and discharged; third electric terminals 6; and a semiconductor chip 1 which has at least one magnetic field sensor 2 that reacts to a magnetic field component generated by a current that flows through the conductor 3 and runs vertically with respect to an active surface of the semiconductor chip 1. The first electric terminal 4 and second electric terminal 5 are arranged on a first side of the package 7, and the third electric terminals 6 are arranged on a side opposite to the first side of the package 7. The semiconductor chip 1 is mounted as a flip chip. The semiconductor chip 1 includes: first bumps 8 that are electrically connected with the third terminals 6; and second bumps 9 that are located on the conductor 3 and are electrically separated from the semiconductor chip 1 via an insulating layer.
摘要翻译：要解决的问题：提供一种紧凑且低成本的电流传感器。解决方案：电流传感器包括：塑料封装7; 具有内置第一电端子4和第二电端子5的导体3，供给和放电要测量的电流; 第三电端子6; 以及半导体芯片1，其具有至少一个磁场传感器2，该磁场传感器2对由流过导体3的电流产生的磁场分量作出反应，并相对于半导体芯片1的有效表面垂直延伸。第一电极 4和第二电端子5布置在封装7的第一侧上，并且第三电端子6布置在与封装7的第一侧相对的一侧。半导体芯片1作为倒装芯片安装。半导体芯片1包括：与第三端子6电连接的第一凸块8; 和第二凸起9，其位于导体3上并且经由绝缘层与半导体芯片1电隔离。

3. 发明专利

JP2012247420A Device for measuring current flowing through electric cable 有权
标题翻译：通过电缆测量电流流动的装置
公开(公告)号：JP2012247420A
公开(公告)日：2012-12-13
申请号：JP2012118269
申请日：2012-05-24
申请人： Melexis Technologies Nv , マレクシステクノロジーズエヌヴィー
发明人： RACZ ROBERT , PETER KRUMMENACHER
IPC分类号： G01R15/20
CPC分类号： G01R15/20
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a current sensor which can shield an external interference field effectively and can be attached in a simple manner.SOLUTION: A device for measuring a current flowing through an electric cable comprises a printed circuit board 2, a magnetic field sensor 3 and a ferromagnetic component 4. The ferromagnetic component 4 comprises two tongues 9A and 9B whose front faces 10 are disposed opposite of each other and are separated by an air gap and further comprises at least two feet 8, with the tongues 9A and 9B and/or the feet 8 being bent off. A cable 1 is guidable through an opening 13 which is enclosed by the ferromagnetic component 4. The ferromagnetic component 4 and the magnetic field sensor 3 are mounted on a surface 5 of the printed circuit board 2. The magnetic field sensor 3 is sensitive to a magnetic field extending in parallel to the surface 5 of the printed circuit board 2. The tongues 9A and 9B of the ferromagnetic component 4 extend in parallel to the surface 5 of the printed circuit board 2.
摘要翻译：要解决的问题：提供能够有效地屏蔽外部干扰场并能够以简单的方式附接的电流传感器。解决方案：用于测量流过电缆的电流的装置包括印刷电路板2，磁场传感器3和铁磁部件4.铁磁部件4包括两个舌片9A和9B，其前表面10设置彼此相对并且由气隙分开，并且还包括至少两个脚8，舌部9A和9B和/或脚8被弯曲。电缆1可通过由铁磁部件4包围的开口13引导。铁磁部件4和磁场传感器3安装在印刷电路板2的表面5.磁场传感器3对于磁性元件4的舌片9A和9B平行于印刷电路板2的表面5延伸。（C）2013， JPO＆INPIT

4. 发明专利

JP2012173287A Stress sensor for measuring mechanical stresses in semiconductor chip and stress compensated hall sensor 有权
标题翻译：用于测量半导体芯片和应力补偿霍尔传感器中的机械应力的应力传感器
公开(公告)号：JP2012173287A
公开(公告)日：2012-09-10
申请号：JP2012026648
申请日：2012-02-09
申请人： Melexis Technologies Nv , マレクシステクノロジーズエヌヴィー
发明人： HUBER SAMUEL , LAVIL ARNAULT , WOUTER LETEN , CHRISTIAN SCHOTT
IPC分类号： G01L1/18 , G01R33/07 , H01L29/84 , H01L43/06
CPC分类号： G01R33/0082 , G01D3/0365 , G01L1/2262 , G01L1/2281 , G01L1/2293 , G01L5/162
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a stress sensor for measuring mechanical stresses in a semiconductor chip, which compensates for sensitivity variations by a simple method.SOLUTION: A stress sensor has four integrated resistors Rto Rintegrally arranged on an operation surface 3 of a semiconductor chip 2. The integrated resistors Rto Rform a Wheatstone bridge, in which the resistors Rand Rarranged on one opposite sides are p-type resistors and the resistors Rand Rarranged on the other opposite sides are n-type resistors.
摘要翻译：要解决的问题：提供用于测量半导体芯片中的机械应力的应力传感器，其通过简单的方法补偿灵敏度变化。解决方案：应力传感器具有四个集成电阻器R 1 到一体地布置在操作表面3上的R 4 集成电阻器R 1 到R 4 形成惠斯通电桥，其中电阻器R 1 和R 4 是p型电阻器，电阻器R 2 并且在另一个相对侧上布置的R 3 是n型电阻器。版权所有（C）2012，JPO＆INPIT

5. 发明专利

JP2019028060A ＬＩＤＡＲシステムのサンプルホールド回路审中-公开
公开(公告)号：JP2019028060A
公开(公告)日：2019-02-21
申请号：JP2018115968
申请日：2018-06-19
申请人： MELEXIS TECHNOLOGIES NV
发明人： DARRELL LIVEZEY
IPC分类号： G01S7/487
摘要：【課題】従来手法は、距離測定において十分な精度を得るために必要なデータを収集するために、いくつかのサンプル実行を必要とする。【解決手段】本発明は、サンプルホールド回路に関し、並列に配設され、かつ、それぞれがバッファと、1つ以上のサンプルホールドセルと、を含む、サンプルホールドブロックを備える、複数のサンプルホールド分岐を備え、前記サンプルホールド回路は、適応可能な時間遅延を設定して、各サンプルホールドブロックのサンプリング及びサンプリング位相を可能にするように配設されたクロック及びタイミング回路をさらに備えることを特徴とし、少なくとも1つのサンプルホールドブロックの時間遅延は、1サンプリングクロック周期よりも大きな値に設定することができる。【選択図】図2

6. 发明专利

JP2017090337A 変位検出装置及びＥＧＲセンサ审中-公开
公开(公告)号：JP2017090337A
公开(公告)日：2017-05-25
申请号：JP2015223085
申请日：2015-11-13
申请人：メレキシステクノロジーズエヌヴィ , Melexis Technologies Nv , メレキシステクノロジーズエヌヴィ
发明人： YOSHITANI TAKUMI
IPC分类号： G01B7/00 , G01D5/14
摘要：【課題】磁気制御による駆動部を採用した場合にも、駆動対象の位置を磁気センサにより検出する変位検出装置及びEGRセンサを提供する。【解決手段】EGRセンサである検出部10は、駆動部30によってソレノイド32により駆動されて一の方向に変位するバルブ22とロッド21を介して接続されて、一の方向に変位する磁石12と、磁石12の形成する磁場の磁束密度の変化を一の方向に直交する方向で検出するホールIC11とを有する。【選択図】図1

7. 发明专利

JP2019090799A シースセンサの誤差補償审中-公开
公开(公告)号：JP2019090799A
公开(公告)日：2019-06-13
申请号：JP2018208830
申请日：2018-11-06
申请人： MELEXIS TECHNOLOGIES NV
发明人： VIKTOR KASSOVSKI , KOSTADIN BOBCHEV , IVAN LESICHKOV
IPC分类号： G01K15/00 , G01K7/02 , G01K7/16
摘要：【課題】シースセンサのシースの特性に起因するシースセンサの測定誤差を判定及び/又は補償する回路を提供する。【解決手段】回路は、シースセンサにおいてセンサ要素の一対のセンサ信号リード線に接続するための第1及び第2の端子と、端子間の測定された電圧差を示す測定信号を生成するための電圧測定回路と、回路は、第1及び第2の状態の間の電気的接続を制御可能にスイッチングし、第1の端子が、第1及び第2の基準電圧のそれぞれに接続されるスイッチングユニットと、第1の端子からスイッチングユニットを通って流れる測定された電流を示す補正信号を生成するための補正測定回路と、第1及び第2の状態における測定及び補正信号を受信するためのコントローラとを備える。コントローラは、測定誤差を示す誤差値及び/又は測定誤差に対して補正されるセンサ読み出し値を計算するために適合される。【選択図】図1

8. 发明专利

JP2014078226A Method for addressing participant element of bus system 审中-公开
标题翻译：解决总线系统参与元件的方法
公开(公告)号：JP2014078226A
公开(公告)日：2014-05-01
申请号：JP2013206566
申请日：2013-10-01
申请人： Melexis Technologies Nv , メレクシス・テクノロジーズ・ナムローゼフェンノートシャップ
发明人： MARC LAMBRECHTS
IPC分类号： G06F13/14 , B60R16/023
CPC分类号： G06F13/4063 , H04L12/403 , H04L61/2038 , H04L2012/40234
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To guarantee assignment of an address to an addressable participant element even in the case of variance in supply voltage, number of participant elements on a bus, etc.SOLUTION: A method for addressing each of a plurality of addressable participant elements 116 in a bus system 110 comprising a control unit 112, a bus 114, and the addressable participant elements 116 connected to the bus comprises: a step a) of pre-selecting at least a first number (N1) of participant elements; a step b) of selecting a second number (N2) of participant elements from the pre-selected participant elements; and a step c) of assigning one or more addresses to them; and a step of repeating the steps a) to c). The selection and pre-selection are performed based on current sources CS1 and CS2, specific threshold values, and measurement error. The bus system 110 and an addressable device 116 are also claimed.
摘要翻译：要解决的问题：即使在电源电压变化，总线上的参与元件数量等的情况下，也可以保证将地址分配给可寻址参与者元素。解决方案：一种用于寻址多个可寻址参与者元素中的每一个的方法包括：总线系统110，其包括控制单元112，总线114和连接到总线的可寻址参与者元件116，包括：步骤a）预先选择参与者元素的至少第一数量（N1）从预先选择的参与者元素中选择参与者元素的第二数目（N2）的步骤b）以及向其分配一个或多个地址的步骤c）以及重复步骤a）至c）的步骤。基于电流源CS1和CS2，特定阈值和测量误差进行选择和预选。还要求总线系统110和可寻址装置116。

9. 发明专利

JP2012204836A Vertical hall sensor and method for producing vertical hall sensor 审中-公开
标题翻译：垂直霍尔传感器和垂直霍尔传感器的制造方法
公开(公告)号：JP2012204836A
公开(公告)日：2012-10-22
申请号：JP2012062768
申请日：2012-03-19
申请人： Melexis Technologies Nv , X-Fab Semiconductor Foundries Ag , エックス−ファブ・セミコンダクター・ファウンダリーズ・アーゲー , マレクシステクノロジーズエヌヴィー
发明人： CHRISTIAN SCHOTT , PETER HOFMANN
IPC分类号： H01L43/06 , H01L43/14
CPC分类号： H01L43/065 , G01R33/077 , H01L43/14
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a vertical Hall sensor integrated in a semiconductor chip (1) and a method for production thereof.SOLUTION: The vertical Hall sensor has an electrically conductive well (2) of a first conductivity type, which is embedded in an electrically conductive region (3) of a second conductivity type. Electrical contacts (4) are arranged along a straight line (6) on a planar surface (5) of the electrically conductive well (2). The electrically conductive well (2) is generated by means of high-energy ion implantation and subsequent heating, so that it has a doping profile which either has a maximum located at a depth Tfrom the planar surface (5) of the electrically conductive well (2), or is essentially constant up to a depth T.
摘要翻译：要解决的问题：提供集成在半导体芯片（1）中的垂直霍尔传感器及其制造方法。解决方案：垂直霍尔传感器具有嵌入在第二导电类型的导电区域（3）中的第一导电类型的导电孔（2）。电触头（4）沿着导电孔（2）的平坦表面（5）上的直线（6）布置。通过高能离子注入和随后的加热产生导电孔（2），使得其具有位于深度T 1 导电孔（2）的平坦表面（5），或者基本上恒定直到深度T 2 。版权所有（C）2013，JPO＆INPIT

10. 发明专利

JP2019095443A 低ドリフト赤外線検出器审中-公开
公开(公告)号：JP2019095443A
公开(公告)日：2019-06-20
申请号：JP2018214645
申请日：2018-11-15
申请人： MELEXIS TECHNOLOGIES NV
发明人： CARL VAN BUGGENHOUT , KAREL VANROYE
IPC分类号： G01J1/02 , H01L35/32
摘要：【課題】低ドリフト赤外線検出器を提供する。【解決手段】IR放射を測定するための半導体デバイス100であって、少なくとも1つのセンサ画素10と、前記IR放射から遮蔽された、加熱器23を備える少なくとも1つの基準画素20と、制御部50であって、センサ画素を加熱していない間に加熱器に電力を適用することによって応答性を測定し、加熱されていない画素の第1の出力信号および加熱された画素の第1の基準出力信号を測定し、加熱器への適用された電力の尺度の、および第1の出力信号と第1の基準出力信号との間の差の関数として応答性を得、前記基準画素およびセンサ画素の温度が実質的に同じになるまで冷却期間を適用し、センサと基準出力信号との間の差に基づいて、応答性を使用してこの差を変換することによって、IR放射を示す出力信号を生成するために適合された制御部50と、を備える。【選択図】図1

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