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1. 发明专利

JP6277207B2 光学測定装置有权
公开(公告)号：JP6277207B2
公开(公告)日：2018-02-07
申请号：JP2015557638
申请日：2014-01-16
申请人：パイオニア株式会社 , 株式会社パイオニアFA
发明人：望月学 , 藤森昭一
IPC分类号： G01M11/00 , G01J3/46 , G01J1/00
CPC分类号： G01J1/0228 , G01J1/4228 , G01J3/50 , G01J2001/4252

2. 发明专利

JPWO2015107657A1 光学測定装置有权
公开(公告)号：JPWO2015107657A1
公开(公告)日：2017-03-23
申请号：JP2015557639
申请日：2014-01-16
申请人：パイオニア株式会社 , 株式会社パイオニアFa
发明人：望月　学 , 望月　　学 , 昭一藤森 , 昭一藤森
IPC分类号： G01J1/04 , G01J1/00 , G01J1/02 , G01M11/00
CPC分类号： G01J3/50 , G01J1/0228 , G01J1/4228 , G01J2001/4252
摘要：発光素子の光学特性の測定で信頼性の高い測定結果が得られる簡単な構成の光学測定装置を提供する。光学測定装置は、発光素子が発光した光を減衰する光減衰器と、前記光減衰器が減衰した光の光学特性を測定する測定器と、前記発光素子が発光した光の光量に基づいて、前記光減衰器の減衰量を設定する制御部と、を備える。

3. 发明专利

JP6082758B2 光量測定装置有权
标题翻译：光强度测量装置
公开(公告)号：JP6082758B2
公开(公告)日：2017-02-15
申请号：JP2014554011
申请日：2012-12-28
申请人：パイオニア株式会社 , 株式会社パイオニアFA
发明人：藤森昭一 , 望月学
IPC分类号： G01J1/00 , G01R31/26 , G01R1/067 , H01L21/66 , H01L33/00 , G01M11/00
CPC分类号： G01J1/0403 , G01J1/0219 , G01J2001/4252

4. 发明专利

JPWO2014103022A1 光量測定装置有权
标题翻译：光强度测量装置
公开(公告)号：JPWO2014103022A1
公开(公告)日：2017-01-12
申请号：JP2014554011
申请日：2012-12-28
申请人：パイオニア株式会社 , 株式会社パイオニアFa
发明人：昭一藤森 , 昭一藤森 , 望月　学 , 望月　　学
IPC分类号： G01M11/00 , G01J1/00 , G01R1/067 , G01R31/26 , H01L21/66 , H01L33/00
CPC分类号： G01J1/0403 , G01J1/0219 , G01J2001/4252
摘要：簡単な構成で効率的かつ、実装された状態に近い高精度な測定を実現できる光量測定装置を提供する。光量測定装置1は、放射状に光を発光するLED101を載置するテーブル10と、LED101の端子102に接触し電力を供給して、LED101を発光させるプローブ20と、LED101から発光された光を受光し、その光量を測定するフォトディテクタ30とを有し、プローブ20がテーブル10に対して近接および離間する方向に移動可能に形成されており、プローブ20がテーブル10に対して近接する方向に移動することによって、プローブ10は端子102に接触し、フォトディテクタ30における測定は、プローブ20をテーブル10に向けて移動させた移動量に対して端子102からプローブ20が受ける反力が飽和状態となった領域で行われる。
摘要翻译：高效，以简单的结构，提供一种能够实现高精度的测定靠近安装状态的光量测定装置。光量测定装置1包括一个表10用于放置（LED101）径向发射光，以将电力提供与LED101的终端102，探针20以接触用于发射LED101，接收来自LED101发出的光和，以及用于测量的光的量的光检测器30中，探针20被形成为可移动的方向朝向和远离工作台10离，的方向移动探针20靠近表10 通过，探头10是与终端102，在光检测器30测得的接触，其中探针20从终端102接收相对于朝向探针20移动到台10的移动量的反作用力变为饱和区它是在执行。

5. 发明专利

JP2016130714A 測定装置及び位置合わせ方法审中-公开
标题翻译：测量装置和校准方法
公开(公告)号：JP2016130714A
公开(公告)日：2016-07-21
申请号：JP2015005772
申请日：2015-01-15
申请人：パイオニア株式会社 , 株式会社パイオニアFA
发明人：望月学 , 清水寿治 , 小西環 , 市川美穂 , 藤森昭一
IPC分类号： G01R31/26 , G01R31/28 , G01B11/00 , G01B21/00
摘要：【課題】交換前後で計測ステージの位置合わせを好適に実行することが可能な測定装置を提供する。【解決手段】測定装置100は、計測ステージ3Mと、基準ステージ3Sと、テーブル30とを備える。計測ステージ3Mは、LEDチップ50が載置されるステージであり、基準ステージ3Sは、計測ステージ3Mの位置合わせを行うためのステージである。テーブル30は、計測ステージ3Mと基準ステージ3Sとのいずれかを測定位置に移動させる。そして、計測ステージ3Mは、基準ステージ3Sが測定位置に存在するときの位置と、計測ステージ3Mが測定位置に存在するときの位置とが一致するように、位置合わせが行われる。【選択図】図1
摘要翻译：要解决的问题：提供一种测量装置，其能够优选地在更换之前和之后对准测量台。解决方案：测量装置100包括测量台3M，参考台3S和工作台30.将LED芯片50放置在测量阶段3M。参考阶段3S用于对准测量阶段3M。台30将任何测量台3M和基准台3S移动到测量位置。测量装置对准测量台3M，使得当测量台3M存在于测量位置时，参考台3S存在于测量位置处的参考台3S的位置与测量台3M的位置匹配。图示：图 1

6. 发明专利

JPWO2014020768A1 光量測定装置及び光量測定方法有权
标题翻译：光量测量设备和光量测量方法
公开(公告)号：JPWO2014020768A1
公开(公告)日：2016-07-11
申请号：JP2014527933
申请日：2012-08-03
申请人：パイオニア株式会社 , 株式会社パイオニアFa
发明人：昭一藤森 , 昭一藤森 , 望月　学 , 望月　　学
IPC分类号： G01M11/00 , G01J1/00 , H01L33/00
CPC分类号： G01J1/0242 , G01J1/0266 , G01J1/0414 , G01J2001/4252
摘要：簡単な構成で高速かつ高精度な測定を実現できる光量測定装置を提供する。光量測定装置3は、放射状に光を発光する発光ダイオード101を載置するテーブル103と、発光ダイオード101に電力を供給して発光ダイオード101を発光させるためのプローブ針109と、記発光ダイオード101から発光された光を受光し、その光量を測定する受光モジュール1と、を備える。テーブル103は、正反射面の反射平面を具備する略一様な平板形状の反射板103bを有し、発光ダイオード101は、反射板103bの反射平面上に載置される。
摘要翻译：提供光量测量设备，它能够实现高速和高精度的测量以简单的结构。光量测量设备3，用于安装径向发射光的发光二极管101的表103，以及用于使所述发光二极管101的光通过从串行发光二极管101供给电力的发光二极管101的探针109 接收所发射的光包括光接收模块1用于测量的光的量，一个。表103具有镜面反射面的反射面大致均匀平板的反射板103b的，将发光二极管101的光被安装在反射板103b的反射面。

7. 发明专利

JPWO2013145132A1 半導体発光素子用の測定装置および半導体発光素子用の測定方法有权
标题翻译：测量方法为测量装置和用于半导体发光元件的半导体发光元件
公开(公告)号：JPWO2013145132A1
公开(公告)日：2015-08-03
申请号：JP2014507101
申请日：2012-03-27
申请人：パイオニア株式会社 , 株式会社パイオニアFa
发明人：望月　学 , 望月　　学 , 昭一藤森 , 昭一藤森
IPC分类号： G01M11/00 , G01J1/00
CPC分类号： G01J1/0266 , G01J1/0425 , G01J3/0218 , G01J3/0289 , G01J3/504 , G01J2001/067 , G01J2001/4252 , H01L33/0079
摘要：各角度の波長と発光量を同時に測定することが可能な半導体発光素子用の測定装置を提供する。LED101用の測定装置3は、LED101用の測定装置3は、LED101半導体発光素子が放射する光を受光するフォトディテクタ105と、LED101とフォトディテクタ105との距離を変更可能な距離変更手段と、LED101が放射する光のうち一方向の光の波長又は強度を測定可能な測定部120と、を有し、測定部120は、距離変更手段によってLED101とフォトディテクタ105との距離が変化しても、フォトディテクタ105が受光する光の最外周ラインの光を受光する。
摘要翻译：提供了一种能够在同一时间测量每个角度的波长和发光量的半导体发光器件的测量装置。对于LED101测量装置3用于LED101测量装置3包括光电检测器105 LED101半导体发光元件接收的光发射，并且能够改变距离改变的装置的LED101和光检测器105，LED101辐射之间的距离具有单向可测量测量单元120米的波长或光，测量单元120的光的强度，即使在LED101和由距离光检测器105之间的距离变化改变装置，光电检测器105 用于接收光的最外线的光被接收。

8. 发明专利

JPWO2012039057A1 レーザ加工装置有权
公开(公告)号：JPWO2012039057A1
公开(公告)日：2014-02-03
申请号：JP2011517708
申请日：2010-09-24
申请人：パイオニア株式会社 , 株式会社パイオニアFa
发明人：望月　学 , 望月　　学 , 満板持 , 満板持 , 浩義廣田 , 浩義廣田
IPC分类号： B23K26/046 , B23K26/064
CPC分类号： B23K26/0057 , B23K26/0063 , B23K26/0604
摘要：レーザ加工装置(1)は、加工対象物に加工を行うための第1レーザ光(L1)を照射する第1照射手段(31)と、第2レーザ光L2を照射する第2照射手段(21)と、加工対象物の表面(S1)又は裏面(S2)に第1レーザ光の集光部である第1集光部(F1)を形成することで加工を行う第1集光手段(33)と、加工対象物の所定の位置に第2レーザ光の集光部である第2集光部(F2)を形成する第2集光手段(24)と、加工対象物において反射される第2レーザ光の反射光(L3)を受光する受光手段(26)と、受光手段に受光される第2レーザ光の反射光に基づいて、第2集光部の位置を決定するフォーカスサーボ手段(27)、(24a)と、第2集光部の位置に基づいて決定される位置に第1集光部を形成するように第1集光手段の動作を制御する制御手段(33a)とを備え、第1集光手段の開口数が第2集光手段の開口数よりも大きい。

9. 发明专利

JP4919240B2 Component transfer apparatus and method 有权
公开(公告)号：JP4919240B2
公开(公告)日：2012-04-18
申请号：JP2011527085
申请日：2010-04-13
申请人：パイオニア株式会社 , 株式会社パイオニアFa
发明人：寿治清水 , 昭一藤森 , 秀憲青木
IPC分类号： H01L21/67 , H01L21/52 , H01L21/68
CPC分类号： H01L21/68 , H01L21/67144 , H01L21/6838

10. 发明专利

JP4906128B2 Camera unit inspection equipment, and the camera unit inspection method 有权
公开(公告)号：JP4906128B2
公开(公告)日：2012-03-28
申请号：JP2008552988
申请日：2007-01-12
申请人：パイオニア株式会社 , 株式会社パイオニアFa
发明人：秀穂三宅 , 明間野 , 芳紀飯島
IPC分类号： G01M11/00 , G01M11/02 , G03B43/00 , H04N17/00
CPC分类号： G03B43/00

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