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1. 发明专利

JP6277207B2 光学測定装置有权
公开(公告)号：JP6277207B2
公开(公告)日：2018-02-07
申请号：JP2015557638
申请日：2014-01-16
申请人：パイオニア株式会社 , 株式会社パイオニアFA
发明人：望月学 , 藤森昭一
IPC分类号： G01M11/00 , G01J3/46 , G01J1/00
CPC分类号： G01J1/0228 , G01J1/4228 , G01J3/50 , G01J2001/4252

2. 发明专利

JP6082758B2 光量測定装置有权
标题翻译：光强度测量装置
公开(公告)号：JP6082758B2
公开(公告)日：2017-02-15
申请号：JP2014554011
申请日：2012-12-28
申请人：パイオニア株式会社 , 株式会社パイオニアFA
发明人：藤森昭一 , 望月学
IPC分类号： G01J1/00 , G01R31/26 , G01R1/067 , H01L21/66 , H01L33/00 , G01M11/00
CPC分类号： G01J1/0403 , G01J1/0219 , G01J2001/4252

3. 发明专利

JP2016130714A 測定装置及び位置合わせ方法审中-公开
标题翻译：测量装置和校准方法
公开(公告)号：JP2016130714A
公开(公告)日：2016-07-21
申请号：JP2015005772
申请日：2015-01-15
申请人：パイオニア株式会社 , 株式会社パイオニアFA
发明人：望月学 , 清水寿治 , 小西環 , 市川美穂 , 藤森昭一
IPC分类号： G01R31/26 , G01R31/28 , G01B11/00 , G01B21/00
摘要：【課題】交換前後で計測ステージの位置合わせを好適に実行することが可能な測定装置を提供する。【解決手段】測定装置100は、計測ステージ3Mと、基準ステージ3Sと、テーブル30とを備える。計測ステージ3Mは、LEDチップ50が載置されるステージであり、基準ステージ3Sは、計測ステージ3Mの位置合わせを行うためのステージである。テーブル30は、計測ステージ3Mと基準ステージ3Sとのいずれかを測定位置に移動させる。そして、計測ステージ3Mは、基準ステージ3Sが測定位置に存在するときの位置と、計測ステージ3Mが測定位置に存在するときの位置とが一致するように、位置合わせが行われる。【選択図】図1
摘要翻译：要解决的问题：提供一种测量装置，其能够优选地在更换之前和之后对准测量台。解决方案：测量装置100包括测量台3M，参考台3S和工作台30.将LED芯片50放置在测量阶段3M。参考阶段3S用于对准测量阶段3M。台30将任何测量台3M和基准台3S移动到测量位置。测量装置对准测量台3M，使得当测量台3M存在于测量位置时，参考台3S存在于测量位置处的参考台3S的位置与测量台3M的位置匹配。图示：图 1

4. 发明专利

JP2016131230A 突上げ装置及び突上げ方法审中-公开
标题翻译：推压装置和推压方法
公开(公告)号：JP2016131230A
公开(公告)日：2016-07-21
申请号：JP2015005749
申请日：2015-01-15
申请人：パイオニア株式会社 , 株式会社パイオニアFA
发明人：望月学 , 清水寿治 , 小西環 , 市川美穂
IPC分类号： H01L21/67
摘要：【課題】素子に損傷を与えることなく、シートから素子をピックアップする。【解決手段】突上げ装置は、シート上に配置された素子をピックアップするものであり、素子を突き上げるピンと、そのピンを移動する制御部と、素子を吸着する吸着ノズルとを備える。制御部の制御下で素子をピンで突上げ、吸着ノズルで吸着して素子をシートからピックアップする。素子をピンで突き上げる際、制御部はピンが素子に接触する直前にピンの移動速度を遅くする。【選択図】図2
摘要翻译：要解决的问题：从片材中拾取元件而不会对元件造成损害。解决方案：上推装置用于拾取布置在片材上的元件，并且包括用于向上推动元件的销，用于移动销的控制部分和用于吸取元件的吸嘴。该元件在控制部分的控制下由销向上推动，并且该元件被吸嘴吸引以从片材中拾起。当元件被引脚向上推时，控制部分在引脚与元件接触之前立即减慢了引脚的移动速度。图2：

5. 发明专利

JP5789681B2 電子部品実装装置および電子部品実装方法有权
公开(公告)号：JP5789681B2
公开(公告)日：2015-10-07
申请号：JP2013554119
申请日：2012-01-17
申请人：パイオニア株式会社 , 株式会社パイオニアFA
发明人：望月学 , 坂田義昭 , 清水寿治 , 長谷川弘和 , 渡部貢司 , 須永誠寿郎 , 荘一成 , 小坂浩之
IPC分类号： H05K13/08 , H05K13/04
CPC分类号： H01L21/67144

6. 发明专利

JP6277206B2 光学測定装置有权
公开(公告)号：JP6277206B2
公开(公告)日：2018-02-07
申请号：JP2015557637
申请日：2014-01-16
申请人：パイオニア株式会社 , 株式会社パイオニアFA
发明人：望月学 , 藤森昭一
IPC分类号： G01J1/00 , G01J3/50 , G01J1/02 , G01M11/00 , G01J1/06
CPC分类号： G01J1/0242 , G01J3/0254 , G01J3/0289 , G01J3/505 , G01J2001/4252

7. 发明专利

JP6118801B2 光量測定装置及び光量測定方法有权
公开(公告)号：JP6118801B2
公开(公告)日：2017-04-19
申请号：JP2014527933
申请日：2012-08-03
申请人：パイオニア株式会社 , 株式会社パイオニアFA
发明人：藤森昭一 , 望月学
IPC分类号： G01J1/00 , H01L33/00 , G01M11/00
CPC分类号： G01J1/0242 , G01J1/0266 , G01J1/0414 , G01J2001/4252

8. 发明专利

JP2017005222A ピックアップ装置审中-公开
标题翻译：拾取装置
公开(公告)号：JP2017005222A
公开(公告)日：2017-01-05
申请号：JP2015120862
申请日：2015-06-16
申请人：パイオニア株式会社 , 株式会社パイオニアFA
发明人：清水寿治 , 望月学 , 藤森昭一 , 小西環 , 市川美穂
IPC分类号： H01L21/67
摘要：【課題】電子部品の裏面に粘着剤などが残らないように、シートから電子部品をピックアップする。【解決手段】ピックアップ装置において、開口上に素子が位置するようにシートが第1ステージ上に配置され、素子はシートの下側から第2ステージにより支持される。第2ステージの載置面は素子よりも小さいので、素子はその一部が第2ステージにより支持され、それ以外の領域では支持されていない状態となる。そして、シートに対して圧力を加えることにより、シートが素子から部分的に引き剥がされる。この状態で、吸着ノズルが素子を吸引してピックアップする。【選択図】図1
摘要翻译： A作为电子部件的后表面不残留粘合剂等，拾取从片材中的电子组件。所述的拾取装置，片材上的开口位于被设置在所述第一阶段的元件，元件由从所述板的下侧的第二阶段的支持。由于第二级的安装表面小于所述元件，所述元件被部分地由所述第二阶段中，未在其他区域中所支持的状态支撑。然后，通过将压力施加到片材，片材被部分地从元件剥离。在这种状态下，吸嘴通过抽吸元件拾取。点域1

9. 发明专利

JP5813861B2 半導体発光素子用の測定装置および半導体発光素子用の測定方法有权
标题翻译：测量方法为测量装置和用于半导体发光元件的半导体发光元件
公开(公告)号：JP5813861B2
公开(公告)日：2015-11-17
申请号：JP2014507101
申请日：2012-03-27
申请人：パイオニア株式会社 , 株式会社パイオニアFA
发明人：望月学 , 藤森昭一
IPC分类号： G01J1/00 , G01M11/00
CPC分类号： G01J1/0266 , G01J1/0425 , G01J3/0218 , G01J3/0289 , G01J3/504 , G01J2001/067 , G01J2001/4252 , H01L33/0079

10. 发明专利

JP5745104B2 電子部品移送装置および電子部品移送方法有权
标题翻译：如何电子元件移动设备和电子元件移动
公开(公告)号：JP5745104B2
公开(公告)日：2015-07-08
申请号：JP2013554117
申请日：2012-01-17
申请人：パイオニア株式会社 , 株式会社パイオニアFA
发明人：望月学 , 坂田義昭 , 清水寿治 , 長谷川弘和 , 渡部貢司 , 須永誠寿郎 , 荘一成 , 小坂浩之
IPC分类号： H05K13/04
CPC分类号： H01L21/67144

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