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    • 8. 发明专利
    • Of low standard deviation high resistance value divided poly-p resistor
    • JP2006515466A
    • 2006-05-25
    • JP2004568037
    • 2003-12-17
    • フェアチャイルド セミコンダクター コーポレイション
    • オルソン,ジェイムス,マイケル
    • H01L27/04H01L21/02H01L21/3205H01L21/822H01L21/8249H01L23/52H01L27/06H01L27/08
    • H01L28/20H01L21/8249H01L27/0635H01L27/0802
    • 本発明は、二層のポリシリコンから構成されている抵抗器構造に関する。 本質的な装置は、専用に付着されるか、又は双極性相補形金属酸化物半導体の流れにおけるベースエピ成長のような存在する工程ステップの部分として形成される上部層を利用して形成される。 このポリ層は、打ち込み線量を適切にスケーリングすることにより又はその場ドープ法により比較的高い面抵抗(310Ω/cm
      2 (1平方インチ当たり2000Ω)を超える)をもって製造することができる。 本発明において、この層は100 nm(1000 Å)以下の厚みとなるように構成されている。 この厚みをもって形成されているこのような抵抗器は、より厚い層をもって製造されている抵抗器と比較して、抵抗がより良好な標準偏差を示すことが実証されている。 加えて、細長い形状に製造される実用的な抵抗器は、その形状に5つの屈曲部が組み込まれている場合に、抵抗がより良好な標準偏差を明確に示す。 抵抗器の端部は、すでに工程手順の部分である付着とともに自己整合法において、底部ポリ層の付加により形成される。 端部の結果、本質的な抵抗器の本体は単一のポリ層から形成され、一方、端部は2つの層から生成される。 これらの端部は、標準的な珪化物及び接触子のエッチング処理が、特別な配慮を必要とすることなく、構造体に加えられるのに十分な厚みを有する。 加えて、専用の又はすでに使用可能なインプラントが抵抗器の端部に組み込まれ、ポリシリコンから珪化物へのオーミック接触を確実とし、又は接触子金属が実現される。 これらのステップは、安定した、低抵抗の、オーミック端部接触子を有し、容易に製造される抵抗器構造を作り出し、及び310Ω/cm
      2 (1平方インチ当たり2000Ω)を超える本質的な抵抗器を作り出すことを可能とする。
    • 9. 发明专利
    • Selectable output edge rate control
    • 可选输出边缘速率控制
    • JP2003017987A
    • 2003-01-17
    • JP2002150088
    • 2002-05-24
    • Fairchild Semiconductor Corpフェアチャイルド セミコンダクター コーポレイション
    • KLEIN CHRISTIANMISKE MYRON J
    • H03K5/12H03K17/16
    • H03K17/164
    • PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an apparatus and method for selecting and controlling an edge slew rate of an output signal of an integrated circuit. SOLUTION: A circuit employing current starved pull-up and pull-down transistors is configured so as to connect current sources 4, 10, 12, 14 to an output transistor stage 8 via each transistor. The current of the current sources 4, 10, 12, 14 is selected so that the current starved transistors provide a known voltage edge rate characteristic as a function of the current sources 4, 10, 12, 14 and parameters of the transistor 8. Two additional current sources or more provide a current in parallel with the 1st current source when being enabled, resulting in selectively accelerating the controlled edge rate characteristic according to the enabled current source. The enabled input is provided to each additional current source so as to selectively control a faster or slower edge rate characteristic. A reference voltage is used to decide the parameter of the transistors and the current of the current sources. MOSFET transistors are adopted for the transistors of this circuit.
    • 要解决的问题:提供一种用于选择和控制集成电路的输出信号的边沿压摆率的装置和方法。 解决方案:采用电流衰减上拉和下拉晶体管的电路被配置为经由每个晶体管将电流源4,10,12,14连接到输出晶体管级8。 选择电流源4,10,12,14的电流,使得当前的饥饿晶体管提供作为电流源4,10,12,14以及晶体管8的参数的函数的已知电压边缘速率特性。两个 额外的电流源或更多电流源在启用时提供与第一电流源并联的电流,导致根据使能的电流源选择性地加速受控边沿速率特性。 将启用的输入提供给每个附加电流源,以便选择性地控制更快或更慢的边缘速率特性。 参考电压用于决定晶体管的参数和电流源的电流。 该晶体管采用MOSFET晶体管。