专利快速检索-快速检索全球专利，免费商用专利数据库-IPRDB

71. 发明专利

JP2009175127A Waveform information acquisition apparatus and waveform information acquisition method 有权
标题翻译：波形信息获取装置和波形信息获取方法
公开(公告)号：JP2009175127A
公开(公告)日：2009-08-06
申请号：JP2008287755
申请日：2008-11-10
申请人： Canon Inc , キヤノン株式会社
发明人： ITSUJI TAKEAKI , KASAI SHINTARO
IPC分类号： G01N21/35 , G01N21/3586
CPC分类号： G01N21/3581
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an apparatus and a method for acquiring a temporal waveform of a propagating terahertz wave by changing a propagation velocity of the terahertz wave. SOLUTION: This waveform information acquisition apparatus has a generating part for generating a terahertz wave; a propagating part for propagating the terahertz wave generated by the generating part; a detecting part for detecting waveform information of the terahertz wave; a first delay part for changing the propagation velocity of the terahertz wave; and a control part for controlling the first delay part to change the propagation velocity of the terahertz wave in the propagating part. The waveform information acquisition apparatus acquires information on the temporal waveform of the terahertz wave detected by the detecting part. COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT
摘要翻译：要解决的问题：提供一种通过改变太赫兹波的传播速度来获取传播的太赫兹波的时间波形的装置和方法。解决方案：该波形信息获取装置具有用于产生太赫兹波的产生部分; 用于传播由发生部产生的太赫兹波的传播部分; 用于检测太赫兹波的波形信息的检测部分; 用于改变太赫兹波的传播速度的第一延迟部分; 以及用于控制第一延迟部分以改变传播部分中的太赫兹波的传播速度的控制部分。波形信息获取装置获取由检测部检测出的太赫兹波的时间波形的信息。版权所有（C）2009，JPO＆INPIT

72. 发明专利

JP2009512865A Electromagnetic wave sensor having a bandwidth of terahertz 审中-公开
公开(公告)号：JP2009512865A
公开(公告)日：2009-03-26
申请号：JP2008537077
申请日：2006-10-24
申请人：テールズ
发明人：クザルニ、ロマン , シルトリ、カルロ , ドルフィ、ダニエル
IPC分类号： G01N21/35 , G01J1/02
CPC分类号： G01J3/42 , G01N21/3581
摘要：本発明の分野は高周波の電磁波検出に関するものである。本発明は非常に広範囲の帯域幅に適用され得るが、好適な適用範囲はテラヘルツの周波数領域である。
本検出装置の核心は、検出されるべきテラヘルツ信号の強さに依存する光学領域における吸収係数を有する、いわゆる活性物質（１００）を含む。光プローブ（２００）を用いて吸収係数の変動を測定することにより、従ってテラヘルツ信号の強さは決定される。この手段により、測定がもはや技術的問題を引き起こさない周波数領域において、周波数変換が行なわれる。半導体又は量子井戸材料を用いて、この活性物質に適したアンテナ（１０１）を持つことにより、検出器の感度を著しく改善することが可能である。
この場合、テラヘルツのセンサーのマトリックス又はモジュールを作成することもまた可能であり、それによりテラヘルツのイメージングあるいはテラヘルツの分光学が実行されることを可能にする。
【選択図】図７

73. 发明专利

JP4209766B2 Terahertz electromagnetic wave reflection measurement device 有权
公开(公告)号：JP4209766B2
公开(公告)日：2009-01-14
申请号：JP2003437003
申请日：2003-12-26
申请人：潤一西澤
发明人：潤一西澤 , 建須藤
IPC分类号： G01N21/35 , G01N21/3581
CPC分类号： G01N21/3581

74. 发明专利

JP4183735B1 Material distribution measurement device 有权
公开(公告)号：JP4183735B1
公开(公告)日：2008-11-19
申请号：JP2007268413
申请日：2007-10-15
申请人：国立大学法人岡山大学
发明人：啓二塚田 , 利彦紀和
IPC分类号： G01N21/64 , G01N21/00 , G01N21/35 , G01N21/3577 , G01N21/3581 , G01N27/26 , G01N37/00
CPC分类号： G01N21/3581 , B01L3/502715 , G01N21/3577
摘要：【課題】溶液の化学反応を行うマイクロ流路内の物質の反応分布もしくは物質の濃度分布を検出する装置を提供する。
【解決手段】溶液中の物質の反応分布もしくは濃度分布を計測する物質分布計測装置１であって、半導体２３上に作製される絶縁体２２上に物質感応膜２１を作製した物質検出プレート５と、該物質検出プレート５上に溶液の流路１２を形成する流路形成部６と、前記溶液の電位を安定させる手段と、前記半導体２３側から流路１２側にパルスレーザー光９を照射する手段と、前記パルスレーザー光９を物質検出プレート５に対して２次元的に走査させる手段と、パルスレーザー光９を物質検出プレート５に照射することで発生するパルス電磁波の振幅強度を計測する手段と、前記振幅強度より、被検出物質を定性的もしくは定量的に計測して流路内の溶液中の物質の反応分布もしくは濃度分布を得る手段を備え、物質感応膜２１が流路１２の内壁面の一部を構成した。
【選択図】図４

75. 发明专利

JP4183546B2 Terahertz wave optical system 有权
公开(公告)号：JP4183546B2
公开(公告)日：2008-11-19
申请号：JP2003107885
申请日：2003-04-11
申请人：有限会社パックス , 独立行政法人理化学研究所
发明人：弘昌伊藤 , 泰亜南出 , 朗人工藤
IPC分类号： G02B1/04 , G01N21/35 , G01N21/3581 , G02B5/08 , G02B5/30 , H01S1/02
CPC分类号： G01N21/3581 , G02B1/04 , C08L65/00

76. 发明专利

JP2008275595A Image forming device and method 有权
标题翻译：图像形成装置和方法
公开(公告)号：JP2008275595A
公开(公告)日：2008-11-13
申请号：JP2008070499
申请日：2008-03-19
申请人： Canon Inc , キヤノン株式会社
发明人： SHIODA MICHITOKU , ONOUCHI TOSHIHIKO , SEKIGUCHI RYOTA
IPC分类号： G01N21/27 , G01N21/35 , G01N21/3563 , G01N21/3581
CPC分类号： G01B15/00 , G01N21/3581
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an image forming device and an image forming method that can acquire an image of a measured object with relatively simple configuration in a short time. SOLUTION: In the image forming device, electromagnetic wave generated by an electromagnetic wave generator 1 is emitted to the measured object 3 through a spatial modulation means 2 for spatially modulating a signal intensity. An electromagnetic wave 10 from the measured object 3 is measured by an electromagnetic wave detecting means 4, and its measurement signal is processed by a signal processing section 5 using a reference signal synchronized with the signal intensity modulated by the spatial modulation means 2. The image is formed by an image acquisition section 7. COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT
摘要翻译：要解决的问题：提供一种能够在短时间内以相对简单的结构获取测量对象的图像的图像形成装置和图像形成方法。解决方案：在图像形成装置中，由电磁波发生器1产生的电磁波通过空间调制装置2发射到测量对象3，用于对信号强度进行空间调制。来自被测量物体3的电磁波10由电磁波检测装置4测量，其测量信号由信号处理部分5使用与由空间调制装置2调制的信号强度同步的参考信号进行处理。图像由图像获取部分7形成。版权所有（C）2009，JPO＆INPIT

77. 发明专利

JP2008228278A Deflection device and imaging apparatus 有权
标题翻译：偏转装置和成像装置
公开(公告)号：JP2008228278A
公开(公告)日：2008-09-25
申请号：JP2008014334
申请日：2008-01-25
申请人： Canon Inc , キヤノン株式会社
发明人： KASAI SHINTARO
IPC分类号： H01Q15/14 , H01Q15/23
CPC分类号： G02B26/0808 , G01N21/3581
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To perform beam deflection continuously or intermittently even for a terahertz wave with comparatively long wavelength by a tabular object with comparatively small occupied volume.
SOLUTION: A deflection device includes a tabular object 10 for transmitting or reflecting an electromagnetic wave, a drive unit M for driving the tabular object so as to rotate or perform a translation motion, and an electromagnetic wave irradiation unit. The electromagnetic wave irradiation unit radiates an electromagnetic wave on the tabular object 10 so that an irradiation area extending in a direction intersecting a direction of the rotation or translation motion of the tabular object 10 is formed. The deflection device is characterized in that, in order to change a direction of transmission or reflection of an electromagnetic wave radiated on the irradiation area by the rotation or translation motion of the tabular object 10, a plurality of grooves 11 extending in an in-plane direction of the tabular object 10 is provided in a section of the tabular object 10 along a longitudinal direction of the irradiation area. The plurality of grooves 11 is formed so that intervals of the plurality of grooves 11 which passes through the irradiation area are changed by the rotation or translation motion of the tabular object 10.
COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT
摘要翻译：要解决的问题：即使对于具有较小占用体积的平板状物体，甚至对具有较长波长的太赫兹波也连续地或间歇地进行光束偏转。解决方案：偏转装置包括用于传送或反射电磁波的平板状物体10，用于驱动平板状物体以便旋转或执行平移运动的驱动单元M和电磁波照射单元。电磁波照射单元在平板状物体10上照射电磁波，从而形成在与片状物体10的旋转或平移运动的方向相交的方向上延伸的照射区域。偏转装置的特征在于，为了通过平板状物体10的旋转或平移运动来改变辐射区域上辐射的电磁波的透射或反射的方向，多个槽11在平面内延伸片状物体10的方向沿着照射区域的长度方向设置在片状物体10的一部分。多个槽11形成为使得穿过照射区域的多个槽11的间隔由于平板状物体10的旋转或平移运动而改变。（C）2008，JPO＆INPIT

78. 发明专利

JP2008224449A Device for measuring totally reflected terahertz wave 有权
标题翻译：用于测量全反射的TERAHERTZ波的装置
公开(公告)号：JP2008224449A
公开(公告)日：2008-09-25
申请号：JP2007063878
申请日：2007-03-13
申请人： Hamamatsu Photonics Kk , 浜松ホトニクス株式会社
发明人： YASUDA TAKASHI , KAWADA YOICHI , TAKAHASHI HIRONORI , AOSHIMA SHINICHIRO
IPC分类号： G01N21/35 , G01N21/3563 , G01N21/3586
CPC分类号： G01N21/3581 , G01N21/552
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a device for measuring a totally reflected terahertz wave, which can be made small in size. SOLUTION: The device 1 for measuring the terahertz wave is constituted so as to acquire the data of a measuring target S by a total reflection measuring method using a terahertz wave and equipped with a light source 1, branch part 12, chopper 13, light path length difference adjusting part 14, polarizer 15, beam splitter 17, terahertz wave generation element 20, internal total reflection prism 31, terahertz wave detection element 40, 1/4 wavelength plate 51, polarizing separation element 52, photodetector 53A, photodetector 53B, differential amplifier 54 and lock-in amplifier 55. The internal total reflection prism 31 is the so-called stigmatic prism and has an incident surface 31a, an emitting surface 31b and a reflecting surface 31c. The terahertz wave generation element 20 is integrally provided to the incident surface 31a of the internal total reflection prism 31, and the terahertz wave detection element 40 is integrally provided to the emitting surface 31b of the internal total reflection prism 31. COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT
摘要翻译：要解决的问题：提供一种可以使尺寸变小的用于测量全反射太赫兹波的装置。解决方案：用于测量太赫兹波的装置1构成为通过使用太赫兹波的全反射测量方法获取测量对象S的数据，并配备有光源1，分支部12，斩波器13 光路长度差调整部14，偏振片15，分光器17，太赫兹波发生元件20，内部全反射棱镜31，太赫兹波检测元件40，1/4波长板51，偏光分离元件52，光电检测器53A，光电检测器 53B，差分放大器54和锁定放大器55.内部全反射棱镜31是所谓的柱状棱镜，具有入射面31a，发射面31b和反射面31c。太赫兹波生成元件20一体地设置在内部全反射棱镜31的入射面31a上，太赫兹波检测元件40一体地设置在内部全反射棱镜31的出射面31b上。（C）2008，JPO＆INPIT

79. 发明专利

JP2008164594A Detecting method using electromagnetic wave, and detection device 有权
标题翻译：使用电磁波的检测方法和检测装置
公开(公告)号：JP2008164594A
公开(公告)日：2008-07-17
申请号：JP2007308254
申请日：2007-11-29
申请人： Canon Inc , Institute Of Physical & Chemical Research , キヤノン株式会社 , 独立行政法人理化学研究所
发明人： YONEYAMA HARUKO , YAMASHITA MASATSUGU , ONOUCHI TOSHIHIKO , KASAI SHINTARO
IPC分类号： G01N21/27 , G01N21/35 , G01N21/3586 , G01N21/552 , G01N33/68
CPC分类号： G01N21/3581 , G01N21/3563
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a detection method and a device capable of detecting a state change of a material by using a terahertz wave, regardless of existence of a characteristic vibration spectrum of a frequency band of the terahertz wave. SOLUTION: This detection device has a specimen holding part for holding a material 8, irradiation means 1, 6, detection means 1, 7, a calculation means and an evaluation means. The irradiation means 1, 6 irradiate the terahertz wave to the material 8 held by the specimen holding part. The detection means 1, 7 detect the terahertz wave transmitted from or reflected by the material 8. The calculation means determines frequency dependence of a property of the material 8 to the irradiated terahertz wave, and calculates a slope of a straight line or a slope of a straight line obtained by straight-line approximation of the frequency dependence of the property of the material 8. The evaluation unit evaluates the state change of the material by comparing a previously-obtained slope of a straight line of the frequency dependence of the property of the material in a standard state with the slope of the straight line of the material 8 calculated by the calculation means. COPYRIGHT: (C)2008,JPO&INPIT
摘要翻译：要解决的问题：提供一种检测方法和能够通过使用太赫兹波检测材料的状态变化的装置，而不管太赫兹波的频带的特征振动谱是否存在。解决方案：该检测装置具有用于保持材料8的检体保持部分，照射装置1,6，检测装置1,7，计算装置和评估装置。照射装置1,6将太赫兹波照射到由样本保持部保持的材料8上。检测装置1,7检测由材料8发送或反射的太赫兹波。计算装置确定材料8的性质与照射的太赫兹波的频率依赖性，并计算直线的斜率或斜率通过对材料8的性质的频率依赖性的直线近似获得的直线。评估单元通过将先前获得的频率依赖性的直线的斜率与该材料的性质的频率依赖性进行比较来评价材料的状态变化该材料处于标准状态，其具有由计算装置计算的材料8的直线的斜率。版权所有（C）2008，JPO＆INPIT

80. 发明专利

JP4104075B2 Calorie measurement method and object of the calorie measuring device of the object 有权
公开(公告)号：JP4104075B2
公开(公告)日：2008-06-18
申请号：JP2005067738
申请日：2005-03-10
申请人：株式会社ジョイ・ワールド・パシフィック , 青森県
发明人：克之三浦 , 英夫小田桐 , 浩之小野 , 隆裕沢 , 憲光花松
IPC分类号： G01N21/35 , G01N21/359
CPC分类号： G01N21/3581 , G01G19/4146 , G01N21/3563 , G01N21/4738 , G01N33/02 , G01N2021/151 , G01N2201/0618 , G01N2201/067 , G01N2201/0696 , G01N2201/1293

你已经成功收藏专利！

检索式保存成功!

IPRDB

热门服务

关于我们

友情链接

联系方式