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61. 发明专利

JP5996204B2 帯状の電池素材の搬送装置および搬送方法有权
标题翻译：输送装置和输送的带状电池材料的方法
公开(公告)号：JP5996204B2
公开(公告)日：2016-09-21
申请号：JP2012028366
申请日：2012-02-13
申请人：日産自動車株式会社 , オートモーティブエナジーサプライ株式会社
发明人：石松慎司 , 奈須敬司 , 日比野孝次 , 山元芳朗
IPC分类号： H01M2/14 , B65H26/08 , B65H16/08 , B65H23/06 , H01M4/04
CPC分类号： B65G35/04 , B65H19/1852 , B65H20/24 , B65H23/06 , B65H26/08 , G01B11/14 , G01B21/08 , H01M10/0409 , B65H2301/44921 , B65H2301/4493 , B65H2301/4606 , B65H2301/4622 , B65H2301/4631 , B65H2405/4225 , B65H2406/31 , B65H2408/2171 , B65H2511/114 , B65H2511/142 , B65H2511/512 , B65H2557/51 , B65H2801/72 , H01M10/0525

62. 发明专利

JP2016070691A 形状測定装置および形状測定方法有权
标题翻译：形状测量装置和形状测量方法
公开(公告)号：JP2016070691A
公开(公告)日：2016-05-09
申请号：JP2014197019
申请日：2014-09-26
申请人：株式会社神戸製鋼所 , 株式会社コベルコ科研
发明人：甘中将人 , 田原和彦 , 松岡英毅 , 森岡哲隆 , 綱木英俊
IPC分类号： G01B21/20 , G01B11/06 , G01B21/08
CPC分类号： G01B21/08 , G01B21/20 , G01B11/06 , G01B7/02 , G01B7/06
摘要：【課題】本発明は、測定部自体の振動による影響を低減することによって、より高精度に被測定物の形状を測定できる形状測定装置および該方法を提供する。【解決手段】本発明の形状測定装置Mは、測定対象の被測定物SPを介して互いに対向するように配置され、被測定物SPまでの距離をそれぞれ測定する第1および第2距離センサ1−1、1−2と、第1および第2距離センサ1−1、1−2それぞれにおける対向方向の変位をそれぞれ測定するための第1および第2加速度センサ2−1、2−2および前処理部4と、第1および第2距離測定結果に基づいて、第1および第2変位測定結果で補正した被測定物SPにおける前記対向方向に沿った厚さを被測定物SPの形状として求める形状演算部72とを備える。【選択図】図1
摘要翻译：要解决的问题：提供一种形状测量装置及其方法，通过减少由测量单元本身的振动引起的影响，可以以更高的精度测量测量对象的形状。解决方案：一种形状测量装置根据本发明的M包括：第一和第二距离传感器1-1,1-1，用于测量经由测量对象SP相对测量和放置的测量对象SP的距离; 第一和第二加速度传感器2-1,2-2和预处理单元4，用于测量第一和第二距离传感器1-1,1-2中的每一个的相对方向上的位移; 以及形状计算单元72，用于根据第一和第二距离测量结果，将测量对象SP沿着通过第一和第二位移测量结果校正的相对方向的厚度作为测量的形状对象SP.SELECTED图：图1

63. 发明专利

JP5847428B2 測定プローブ有权
公开(公告)号：JP5847428B2
公开(公告)日：2016-01-20
申请号：JP2011096925
申请日：2011-04-25
申请人：ヘルムート・フィッシャー・ゲーエムベーハー・インスティテュート・フューア・エレクトロニク・ウント・メステクニク
发明人：ヘルムート・フィッシャー
IPC分类号： G01B7/06 , G01B21/08
CPC分类号： G01B7/10 , G01B21/08 , G01B7/001 , G01B7/105

64. 发明专利

JP2015526693A ＰＥＣＶＤ皮膜の検査方法审中-公开
标题翻译： PECVD膜的检查方法
公开(公告)号：JP2015526693A
公开(公告)日：2015-09-10
申请号：JP2015511708
申请日：2013-05-09
申请人：エスアイオーツー・メディカル・プロダクツ・インコーポレイテッド
发明人：ジョン・ティー・フェルツ , トーマス・イー・フィスク , ロバート・エス・エイブラムス , ジョン・ファーガソン , ジョナサン・アール・フリードマン , ロバート・ジェイ・パンボーン , ピータ・ジェイ・サゴナ , クリストファー・ヴァイカルト
IPC分类号： G01B21/02 , C23C16/42 , C23C16/50
CPC分类号： G01N21/8422 , A61B5/15003 , A61B5/150229 , A61B5/150236 , A61B5/150244 , A61B5/150274 , A61B5/150351 , A61B5/150992 , A61B5/153 , A61B5/154 , A61M5/3129 , A61M2005/3131 , C23C16/50 , C23C16/52 , G01B21/08 , G01G19/00 , G01G19/414 , G01N15/082 , G01N2021/8427 , G01N2033/0096 , G01N2201/06113
摘要：被覆プロセスの成果物を検査するための方法が提供される。特定の実施形態においては、被覆表面から被覆表面の近傍のガス空間への少なくとも1つ揮発性種の放出が測定され、この結果が、同じ試験条件下で測定された少なくとも1つの基準物の結果と比較される。PECVD皮膜を検知及び識別するための微量天秤での秤量方法も開示される。したがって、皮膜の存在又は欠如、及び/又は皮膜の物理的及び/又は化学的特性が特定されうる。この方法は、任意の被覆物品、例えば、容器を検査するのに有用である。有機ケイ素化合物前駆体から作製された、特にバリア皮膜のPECVD皮膜の検査への、その適用もまた開示される。
摘要翻译：提供了一种用于检查涂层过程的产物的方法。在某些实施方案中，从涂覆的表面释放到涂覆的表面的气体空间的附近的至少一个挥发性物质进行测定，该结果的结果，这是在相同的测试条件下测量的至少一个参考对象它与比较。在微量天平称重法来检测和识别PECVD涂层还公开。因此，存在或不存在的涂层的，和/或涂层的物理和/或化学性质可以被识别。任何涂覆的制品，例如，用于检查容器有用的方法。从有机硅化合物前体制成，特别是对阻挡膜的PECVD涂覆的检查，其应用也被公开。

65. 发明专利

JP2013170097A Calculation method for height position of silicon melt surface, pulling method for silicon single crystal and silicon single crystal pulling device 有权
标题翻译：硅胶表面高位置计算方法，硅单晶和硅单晶拉丝装置拉拔方法
公开(公告)号：JP2013170097A
公开(公告)日：2013-09-02
申请号：JP2012034694
申请日：2012-02-21
申请人： Shin Etsu Handotai Co Ltd , 信越半導体株式会社
发明人： MASUDA NAOKI , YANAGIMACHI TAKAHIRO
IPC分类号： C30B29/06 , C30B15/26
CPC分类号： C30B15/26 , C30B15/20 , C30B29/06 , G01B11/0608 , G01B11/08 , G01B21/08 , Y10T117/1008 , Y10T117/1012
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method for calculation of the precise height position of a silicon melt surface, during a silicon single crystal pulling procedure.SOLUTION: There is provided a calculation method for the height position of a silicon melt surface, when a CZ silicon single crystal pulling procedure is performed. Using CCD camera which is mounted at arbitrary angle against silicon single crystal, a first crystal diameter is measured from a fusion ring located at the boundary between the silicon melt and the silicon single crystal. A second crystal diameter is measured by two sets of CCD camera which are set in parallel positions with each other toward both ends of the crystal diameter of the silicon single crystal. From the difference between the first crystal diameter and the second crystal diameter, the height position of the silicon melt surface in a crucible during silicon single crystal pulling can be calculated.
摘要翻译：要解决的问题：提供一种在硅单晶拉制程序期间计算硅熔体表面的精确高度位置的方法。解决方案：提供了一种硅熔体表面的高度位置的计算方法，当执行CZ硅单晶拉制程序。使用与硅单晶以任意角度安装的CCD照相机，从位于硅熔体和硅单晶之间的边界处的熔融环测量第一晶体直径。通过两组CCD照相机测量第二晶体直径，其彼此平行地位于硅单晶的晶体直径的两端。从第一晶体直径和第二晶体直径之间的差异可以计算硅单晶拉制期间坩埚中硅熔体表面的高度位置。

66. 发明专利

JP2013002276A Road paving machine having layer thickness measuring apparatus 有权
标题翻译：具有厚度测量装置的路面摊铺机
公开(公告)号：JP2013002276A
公开(公告)日：2013-01-07
申请号：JP2012134613
申请日：2012-06-14
申请人： Joseph Voegele Ag , ヨゼフフェゲーレアーゲー
发明人： DENNIS HANFLAND , WEISER RALF
IPC分类号： E01C19/48
CPC分类号： G01B21/08 , E01C19/48 , E01C23/01
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a road paving machine which allows the layer thickness of a newly laid road pavement to be recorded as accurately and practically as possible.SOLUTION: In order to determine the distance between sensors 2 and a point 8 on the surface of a flat plane 4, the sensors 2 perform distance measurement to the flat plane 4 at an interval. One of the two sensors 2 defines a coordinate system 6. A layer thickness measuring apparatus 1 allows the distance to the plane 4 as a vector, which is measured by the sensor 2 to define the coordinate system 6, to be added to the displacement of the coordinate system 6 defined by one sensor relative to the flat plane 4 caused by the travel of a road paving machine. A first vector 9 is thus determined. The layer thickness measuring apparatus 1 determines the layer thickness of a laid material by using the first vector 9 together with a second vector 7.
摘要翻译：要解决的问题：提供一种允许新铺设的道路路面的层厚度尽可能准确和实际地记录的道路铺路机。解决方案：为了确定传感器2和平面4的表面上的点8之间的距离，传感器2以一定间隔对平面4进行距离测量。两个传感器2中的一个限定了坐标系6.层厚度测量装置1允许距离平面4作为向量，由传感器2测量以定义坐标系6，以被添加到位移由一个传感器相对于平面4限定的坐标系6由道路铺路机的行进引起。因此确定第一矢量9。层厚度测量装置1通过使用第一矢量9与第二矢量7一起确定铺设材料的层厚度。版权所有：（C）2013，JPO＆INPIT

67. 发明专利

JPWO2010103991A1 テープ検査装置有权
公开(公告)号：JPWO2010103991A1
公开(公告)日：2012-09-13
申请号：JP2011503786
申请日：2010-03-04
申请人：日本たばこ産業株式会社
发明人：伸一兵頭 , 伸一兵頭 , 規夫鈴木 , 規夫鈴木 , 豊水荒川 , 豊水荒川
IPC分类号： G01B21/08 , A24C5/20 , G01B11/06
CPC分类号： G01B21/08
摘要：テープ検査装置は、無端状テープ(T)の走行経路(L)に配置された駆動ローラ(42)と、この駆動ローラ(42)の近傍に配置された厚さ測定器(44)とを備え、厚さ測定器(44)は、駆動ローラ(42)とピンチローラ(45)との間に挟み込まれた状態の無端状テープ(T)の厚さを測定する。

68. 发明专利

JP5019930B2 Radiation tomographic image acquisition device 有权
公开(公告)号：JP5019930B2
公开(公告)日：2012-09-05
申请号：JP2007099382
申请日：2007-04-05
申请人：富士フイルム株式会社
发明人：昇彦柏木
IPC分类号： A61B6/02
CPC分类号： G01B21/08 , A61B6/502 , A61B6/542 , A61B6/544 , G01B15/025

69. 发明专利

JP2011232340A Measurement probe 有权
标题翻译：测量探头
公开(公告)号：JP2011232340A
公开(公告)日：2011-11-17
申请号：JP2011096925
申请日：2011-04-25
申请人： Helmut Fischer Gmbh Inst Fuer Elektronik & Messtechnik , ヘルムート・フィッシャー・ゲーエムベーハー・インスティテュート・フューア・エレクトロニク・ウント・メステクニク
发明人： FISCHER HELMUT
IPC分类号： G01B21/08 , G01B7/06
CPC分类号： G01B7/10 , G01B7/001 , G01B7/105 , G01B21/08
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a measurement probe capable of inspecting a coating inside a cavity or determining a thickness of the coating of the cavity or a region which is only insufficiently accessible by a non-destructive method.SOLUTION: A measurement probe 11 for non-destructive measurement of a thickness of a thin layer especially inside a cavity 26 which is accessible by an opening part or on a bent surface comprises a measurement head 17 comprising a sensor element and a contact spherical cap assigned to the sensor element on a surface 27 to be inspected of the cavity 26 and a holding element 12 for positioning and guiding the measurement probe 11 along the surface 27 on the surface 27 to be measured. Thus, a guide bar 16 which is long and easily bent elastically is disposed on the holding element 12 and can move at least one of the measurement head 17 on the edge facing the holding element 12 against the guide bar 16.
摘要翻译：要解决的问题：提供一种能够检查空腔内的涂层或确定空腔的涂层的厚度的测量探针或仅通过非破坏性方法不能获得的区域。解决方案：用于非破坏性地测量薄层厚度的测量探针11，特别是在腔26内部，其可由开口部分或弯曲表面接近，测量头11包括测量头17，测量头17包括传感器元件和触点分配给待检查空腔26的表面27上的传感器元件的球形盖和用于沿测量表面27上的表面27定位和引导测量探针11的保持元件12。因此，弹性地长而容易地弯曲的导向杆16设置在保持元件12上，并且能够使测量头17中的至少一个在与保持元件12相对的导向杆16上移动。版权所有：（C）2012，JPO＆INPIT

70. 发明专利

JP4437010B2 Filling and packaging bags of thickness detection device 有权
公开(公告)号：JP4437010B2
公开(公告)日：2010-03-24
申请号：JP2003087133
申请日：2003-03-27
申请人：大成ラミック株式会社
发明人：正樹熊谷 , 敏明長澤
IPC分类号： B65B9/10 , G01B5/06 , B65B9/00 , B65B57/10
CPC分类号： G01B11/0691 , G01B21/08

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