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41. 发明专利

JP6428779B2 ガス濃度検出装置审中-公开
公开(公告)号：JP6428779B2
公开(公告)日：2018-11-28
申请号：JP2016540187
申请日：2015-07-31
申请人：株式会社村田製作所
发明人：大串直輝 , 伊藤重夫
IPC分类号： G01N21/3504 , G01N21/61
CPC分类号： G01J3/427 , G01J3/0235 , G01J3/28 , G01J3/32 , G01J5/34 , G01J2005/0048 , G01J2005/068 , G01N21/274 , G01N21/314 , G01N21/3504 , G01N33/0006 , G01N33/004

42. 发明专利

JP2018515753A ハイパースペクトル・イメージングのためのシステムおよび方法审中-公开
公开(公告)号：JP2018515753A
公开(公告)日：2018-06-14
申请号：JP2017552063
申请日：2016-03-07
申请人：マサチューセッツインスティテュートオブテクノロジー
发明人：ニールカントエムバルダン , ショウナンダン , ジファチー , アンジェラエムベルチャー
IPC分类号： G01N21/64 , G01N21/65 , A61B1/00 , A61B1/045 , G01N21/359 , G01N21/3563 , G01J3/46 , G01N21/17
CPC分类号： A61B5/0071 , A61B5/0075 , A61B5/0091 , A61B5/7232 , A61B2576/00 , A61B2576/02 , G01J3/0213 , G01J3/18 , G01J3/2823 , G01J3/32 , G01J3/36 , G01J3/4406 , G01N21/64 , G01N33/22 , G01N2021/6421 , G01N2201/12 , G02B21/361
摘要：方法、および対応するシステムは、ハイパースペクトル画像データ内の複数の波長スペクトルバンド成分を識別するステップであって、スペクトルバンド成分は、相互に異なる画像コントラストのソースに対応する、ステップを含むことができる。各それぞれのスペクトルバンド成分に対応する強度画像を計算することができ、その後に、各スペクトルバンド成分について、それぞれの相互に異なる画像コントラストのソースに基づいて、バンド間画像を形成するためにそれぞれの強度画像を組み合わせるステップが続く。強度画像は、ハイパースペクトル画像または超拡散画像とすることができる。超拡散イメージングは、ハイパースペクトル測定を使用して識別された各スペクトルバンド成分について実施することができる。各スペクトルバンド成分に対応するスペクトル位置画像およびスペクトル幅画像を計算し、ターゲットの表面内側の特徴物の深さを決定するために使用することができる。拡散幅画像を超拡散画像データから計算し、深さを決定するために使用することができる。

43. 发明专利

JP6255992B2 分光測定システム、分光モジュール、及び、位置ズレ検出方法有权
公开(公告)号：JP6255992B2
公开(公告)日：2018-01-10
申请号：JP2013270763
申请日：2013-12-27
申请人：セイコーエプソン株式会社
发明人：佐野朗 , 長手隆 , 櫻井和▲徳▼ , 廣久保望
IPC分类号： G01J3/36 , G01J3/26
CPC分类号： G01J3/2823 , G01J3/0202 , G01J3/0235 , G01J3/027 , G01J3/0272 , G01J3/0289 , G01J3/0291 , G01J3/26 , G01J3/28 , G01J3/32

44. 发明专利

JP6244945B2 電子機器有权
公开(公告)号：JP6244945B2
公开(公告)日：2017-12-13
申请号：JP2014014088
申请日：2014-01-29
申请人：セイコーエプソン株式会社
发明人：多津田哲男 , 荒崎真一
IPC分类号： G01J3/36 , G01J3/51 , G02B26/00 , H04N9/04 , G03B11/00 , G03B15/00 , G01J3/26
CPC分类号： G01J3/2823 , G01J3/26 , G01J3/28 , G01J3/32 , G01J3/51

45. 发明专利

JP2017207407A 測光装置审中-公开
公开(公告)号：JP2017207407A
公开(公告)日：2017-11-24
申请号：JP2016100887
申请日：2016-05-19
申请人：株式会社トプコンテクノハウス
发明人：井崎雄三
IPC分类号： G01J3/50 , G01J1/04 , G02B5/28 , G01J3/26
CPC分类号： G01J1/0437 , G01J1/44 , G01J3/0229 , G01J3/0262 , G01J3/26 , G01J3/2803 , G01J3/32 , G01J3/465 , G01J3/506 , G01J3/51 , G01J3/524 , G01J2001/4247 , G01J2003/123
摘要：【課題】低輝度から高輝度までを高精度で且つ短時間に測光することのできる測光装置を提供すること。【解決手段】ディスプレイ(2)のような測定対象の光を測定する測光装置(1)であって、干渉フィルタ(20X、20Y、20Z)とLVF(21)の異なる2種類のフィルタと、これら干渉フィルタ及びLVFを支持する円板(22)と、測定対象からの光を干渉フィルタ及びLVFに順次走査させるよう円板を回転駆動するモータ(23)と、干渉フィルタを介した光及びLVFを介した光を電気信号に変換する受光部(13)と、受光部により変換された干渉フィルタを介した光の電気信号及びLVFを介した光の電気信号に基づき測光情報を出力する測光制御部(14)と、を備える。【選択図】図2

46. 发明专利

JP5959513B2 分光画像撮影装置有权
标题翻译：光谱图像拍摄装置
公开(公告)号：JP5959513B2
公开(公告)日：2016-08-02
申请号：JP2013521521
申请日：2012-06-05
申请人：オリンパス株式会社
发明人：森下弘靖
IPC分类号： G01J3/51 , G01J3/26
CPC分类号： G01J3/0205 , G01J3/26 , G01J3/32 , G01J3/36 , H04N9/097

47. 发明专利

JP5955661B2 分光測定装置、分光測定用具、分光測定方法およびプログラム有权
标题翻译：光谱仪光谱仪，分光测定方法以及程序
公开(公告)号：JP5955661B2
公开(公告)日：2016-07-20
申请号：JP2012139417
申请日：2012-06-21
申请人：アークレイ株式会社
发明人：大久保章男 , 中村勤
IPC分类号： G01N21/27
CPC分类号： G01N21/274 , G01J3/0267 , G01J3/027 , G01J3/10 , G01J3/32 , G01J3/42 , G01N21/31 , G01N21/78

48. 发明专利

JP5919728B2 分光測定装置有权
公开(公告)号：JP5919728B2
公开(公告)日：2016-05-18
申请号：JP2011235357
申请日：2011-10-26
申请人：セイコーエプソン株式会社
发明人：西村晃幸 , 廣久保望
IPC分类号： G02B5/28 , G02B26/00 , G01J3/26
CPC分类号： G01J3/42 , G01J3/027 , G01J3/0297 , G01J3/26 , G01J3/32 , G02B26/001 , G01J2003/2879

49. 发明专利

JP2015125082A 光学モジュール、電子機器、及び光学モジュールの駆動方法有权
标题翻译：光学模块，电子设备和驱动光学模块的方法
公开(公告)号：JP2015125082A
公开(公告)日：2015-07-06
申请号：JP2013270760
申请日：2013-12-27
申请人：セイコーエプソン株式会社
发明人：趙丹俊 , 多津田哲男 , 荒崎真一
IPC分类号： H04N5/238 , H04N5/232 , G01J3/26
CPC分类号： G01J3/027 , G01J3/0205 , G01J3/26 , G01J3/2803 , G01J3/2823 , G01J3/32 , G01J2003/2826
摘要：【課題】測定時間を短縮可能な光学モジュール、電子機器、及び光学モジュールの駆動方法を提供する。【解決手段】分光測定装置1は、入射光から所定の波長の光を選択し、かつ出射する出射光の波長を変更可能な波長可変干渉フィルター5と、グローバルシャッター方式で、出射光の露光により電荷を蓄積し、蓄積された電荷に応じた検出信号を出力する撮像素子11と、撮像素子11に電荷を蓄積させる受光期間と、蓄積された電荷をリセットするスタンバイ期間とを設定する撮像素子制御手段(受光制御部22)と、波長可変干渉フィルター5において、出射光の波長変更駆動を制御する分光制御手段(フィルター駆動部21)と、を備え、撮像素子制御手段は、スタンバイ期間の長さを波長変更に要する駆動時間以上に設定し、分光制御手段は、スタンバイ期間の開始時点で波長変更駆動を開始させる。【選択図】図1
摘要翻译：要解决的问题：提供能够减少测量时间的光学模块，电子设备和驱动光学模块的方法。解决方案：光谱测量装置1包括：用于选择光的波长可变干涉滤光器5 具有规定波长的入射光，能够改变发射的发射光的波长; 用于通过使用全局快门方法曝光发射光来累积电荷并输出与累积电荷相对应的检测信号的图像捕获元件11; 摄像元件控制单元（光接收控制单元22），用于设定由摄像元件11蓄积电荷的光接收时段和累积电荷复位的待机期间; 以及用于控制波长可变干涉滤光器5中的发射光的波长可变驱动的光谱控制装置（滤波器驱动单元21）。图像捕获元件控制装置将待机周期的长度设置为波长可变的驱动时间更改或更多。光谱控制装置使得波长变化驱动器在待机时段开始时开始。

50. 发明专利

JP2013092474A Spectrometer 有权
标题翻译：光谱仪
公开(公告)号：JP2013092474A
公开(公告)日：2013-05-16
申请号：JP2011235357
申请日：2011-10-26
申请人： Seiko Epson Corp , セイコーエプソン株式会社
发明人： NISHIMURA AKIYUKI , HIROKUBO NOZOMI
IPC分类号： G01J3/26 , G02B5/28 , G02B26/00
CPC分类号： G01J3/42 , G01J3/027 , G01J3/0297 , G01J3/26 , G01J3/32 , G01J2003/2879 , G02B26/001
摘要： PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a spectrometer capable of quickly measuring a spectrum.SOLUTION: A spectrometer 1 comprises: a wavelength variable interference filter 5 comprising a fixed substrate having a fixed reflective film, a movable substrate having a movable reflective film and an electrostatic actuator for changing a gap amount of an inter-reflective-film gap between the fixed reflective film and the movable reflective film; a detector 11 for detecting light intensity of light taken out by the wavelength variable interference filter 5; a voltage setting section 21 and a voltage controller 15 for applying an analog voltage continuously varying to the electrostatic actuator; a voltage monitoring section 22 for monitoring the voltage applied to the electrostatic actuator; and a light intensity acquiring section 24 for acquiring the light intensity detected by the detector 11 when the voltage monitored by the voltage monitoring section 22 becomes a predetermined voltage to be measured.
摘要翻译：要解决的问题：提供能够快速测量光谱的光谱仪。解决方案：光谱仪1包括：波长可变干涉滤光器5，其包括具有固定反射膜的固定基板，具有可移动反射膜的可移动基板和用于改变相互反射膜间隙量的静电致动器固定反射膜与可动反射膜之间的间隙; 用于检测由波长可变干涉滤光器5取出的光的光强度的检测器11; 电压设定部21和电压控制器15，用于对静电致动器施加连续变化的模拟电压; 用于监视施加到静电致动器的电压的电压监视部分22; 以及光强度获取部24，用于当由电压监视部22监视的电压成为要测量的预定电压时，获取由检测器11检测到的光强度。版权所有（C）2013，JPO＆INPIT

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