基本信息:
- 专利标题： 分光測定装置
- 专利标题（英）：Spectroscopic measurement device
- 申请号：JP2011235357 申请日：2011-10-26
- 公开(公告)号：JP5919728B2 公开(公告)日：2016-05-18
- 发明人： 西村 晃幸 , 廣久保 望
- 申请人： セイコーエプソン株式会社
- 申请人地址： 東京都新宿区新宿四丁目1番6号
- 专利权人： セイコーエプソン株式会社
- 当前专利权人： セイコーエプソン株式会社
- 当前专利权人地址： 東京都新宿区新宿四丁目1番6号
- 代理人： 特許業務法人樹之下知的財産事務所
- 主分类号： G02B5/28
- IPC分类号： G02B5/28 ; G02B26/00 ; G01J3/26
公开/授权文献:
- JP2013092474A Spectrometer 公开/授权日：2013-05-16